仪器种类: 场发射
分辨率: STEM图像:0.071nm(有球差校正)
加速电压: 30,80,200kV
放大倍率: 50X-2,000,000
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日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。
传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。
在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室;欧洲各国;日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等;中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。
从2009年开始,中国先后购买了JEM-ARM200F进二十台,针对不同研究领域选用了不同配置。2017年6月日本电子株式会社推出了最新款的NEO ARM,采用自动球差校正软件、且低压下的分辨能力超强,适用范围进一步扩大,为材料科学研究提供了一个更全面分分析平台。
用户单位 | 采购时间 |
---|---|
三星(西安) | 2013-11-01 |
北京化工大学 | 2014-06-09 |
中国石化石油化工科学研究院 | 2013-03-20 |
上海交通大学 | 2011-12-01 |
中国科学院物理研究所 | 2011-07-31 |
产品货期: 365天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
新加坡国立大学罗健平课题组,Steve Pennycook课题组以及中山大学罗鑫课题组首次通过在高金属化学势下生长并预测出自插层的ic-2D材料,发现并预测了多种拥有铁磁序的ic-2D晶体库。通过自原子的插层,该工作将拥有范德华间隙的层状二维材料转化成全新的二维共价晶体(ic-2D),并获得传统层状二维材料很难拥有的物理学性质,比如铁磁序。 https://mp.weixin.qq.com/s/Hlw7rf_P4bTOUE9cD-s7ow
近日,中科大俞书宏院士、上海交大邬剑波、中科院物理所谷林等人在"Journal of the American Chemical Society"上发表了最新的研究成果,研究团队以在Te纳米线上的Ag离子作为研究模型,以原子尺度研究固相离子迁移过程。通过最新原位化学反应研究技术,使用JEOL JEM-ARM200F ChemTEM揭示了Ag在单层Te纳米线阵列上的各向异性迁移行为,并且Ag离子通过Te纳米结构的(101)表面嵌入。 https://mp.weixin.qq.com/s/EiP59mM60qUt2-BaAvTWXQ
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