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纳米材料的性能往往和其晶粒大小有关,而X射线衍射是测定纳米材料晶尺寸的有效方法之一。
晶粒尺寸Dhkl (可理解为一个完整小单晶的大小)可通过谢乐公示计算:
Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向
β: hkl晶面的半高宽(或展宽)
θ:hkl晶面的bragg角度
λ:入射X光的波长,一般Cu靶为1.54埃
K:常数(晶粒近似为球形,K=0.89;其他K=1)
实例 纳米TiO2晶粒尺寸14nm
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