X-射线荧光光谱仪
X-射线荧光光谱仪

¥300万 - 500万

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ARL QUANT’X

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美洲

  • 金牌
  • 第7年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

新型 ARL QUANT'X EDXRF 光谱仪

更高效、更易于操作、拥有更多的功能,为各个应用领域的制造商和研究人员提供最先进的仪器,帮助解决最具挑战性的分析任务。


分析技术优势如下:

快速分析氟(F)到铀(U)之间的元素
UniQuant™ 专利技术,卓越的无标样多元素同时分析技术
元素的浓度范围从 < 1 ppm 到 100%
多语言支持
多元素同时测量时间10-60秒
可选 TRACEcom,能够轻松与LIMS 交互
可选多种进样器
优异的机械耐久性,可保证长时间无故障运行
使用 CCD 相机进行样品成像
设计紧凑,可以轻松移动
可调的X射线光斑直径1- 15 mm,以便适应不同样品大小
低噪音,得益于得益于智能控温风扇
高性能电制冷硅漂移探测器(SDD
全面的自定义和现场应用方法建立功能
多功能 XRF 应用软件
易于安装,更易于维护
薄膜厚度测量和镀层分析



得益于客户意见和专家建议,ARL QUANT'X EDXRF 光谱仪已经发展成一整套完善的设备,其强大的设计包含经验证的硬件和全面的软件,所有软硬件都由预先安装的应用程序或现场方法开发应用提供支持。同时,经验丰富且及时响应的服务组织将确保仪器的正常运行。借助赛默飞世尔科技在数十个 XRF 成功应用中积累的丰富专业知识,分析人员可以集中精力解决每一个分析挑战。


小样品分析


可编程孔径转换器选项适用于小样品的常规分析,与孔径范围为 5mm至35mm的样品盒匹配使用(其中29mm为标准孔径,其它可选孔径为:5、10、15、20、25、35mm)。


点分析
渗透样品表面,获取更多完整的组分信息。
• 利用机载摄像机选择,进行微区分析
•X 射线聚集光斑直径为 1.5mm 或 0.5mm
• 集成 UniQuant 无标样分析软件包,实现全定量分析

• 适用于珠宝、法证和 R&D 应用的小样品分析


成像
ARL PERFORM′X 具有可精调的 X 射线成像能力,提供复杂非均质表面
的全元素可视化信息。分析人员可识别和表征元素的浓度、夹杂物和梯
度,而这些信息往往无法通过其它分析手段获取。
• 构建样品内详细的元素分布组分图像
• 绘制并叠加直径为 1.5mm 或 0.5mm 的光斑
• 低至 0.1mm 步长的高分辨率,用于改进过程和解决难题
• 集成 UniQuant 无标样分析软件包,实现全定量分析

• 适用于多种行业的材料工程应用


售后服务承诺

保修期: 面议

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 面议

免费仪器保养: 面议

保内维修承诺: 面议

报修承诺: 面议

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