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化学结构进行分析。
测量之后,任伺区域的质谱都可以在後数据处理时提取出来。
TOF-SIMS 中,经过反复测量和溅射,得到深层的结构。
这段期间内,所有的质谱都会被保存,完成测量后,任意深度的质谱都可以在後数据处理时提取出来。
深度概况的数据源于在深度改变时样品结构的变化,在进行完深度分析後不仅可以拥有内部的信息,
三维构筑的信息也可以得到。
提供了两种类型的标准样晶托,有直径25mm ,样晶在样晶托背面安装并固定( Back-mount) ,
能放个样品的样品托,方便对准样晶高度。也有直接在样晶托正面安装样晶,可放置和样晶托一般
用液氮冷却和用加热器加热样晶台,在-150t 200t 之间可控。样晶托上配有温度感应装置,当样晶
在进样室开始,软件即马上显示实时温度回读。另外也可以选配比较高可达600t只做加热的样晶托。
保修期: 面议
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 面议
免费仪器保养: 面议
保内维修承诺: 面议
报修承诺: 面议
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