为您推荐相似的其他
晶圆XRD的特点:
◇ 完全自动化的晶圆处理和分类系统(例如:盒到盒)。
◇ 晶体取向和电阻率测量
◇ 晶片的几何特征(缺口位置、缺口深度、缺口开口角度、直径、平面位置和平面长度)的光学测定
◇ 未抛光的晶圆和镜面的距离测量
◇ MES和/或SECS/GEM接口
全自动化的晶圆分拣
独特的Omega-scan方法:
◇ 高的精度
◇ 测量速度: < 5秒/样品
◇ 易于集成到工艺线中
◇ 典型的标准偏差倾斜度(例如:Si 100): < 0.003 °,小于< 0.001 °。
更多信息请联系我们。
保修期: 面议
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 面议
免费仪器保养: 面议
保内维修承诺: 面议
报修承诺: 面议
Freiberg Instruments其他半导体检测仪Wafer XRD200的工作原理介绍
其他半导体检测仪Wafer XRD200的使用方法?
Freiberg InstrumentsWafer XRD200多少钱一台?
其他半导体检测仪Wafer XRD200可以检测什么?
其他半导体检测仪Wafer XRD200使用的注意事项?
Freiberg InstrumentsWafer XRD200的说明书有吗?
Freiberg Instruments其他半导体检测仪Wafer XRD200的操作规程有吗?
Freiberg Instruments其他半导体检测仪Wafer XRD200报价含票含运吗?
Freiberg InstrumentsWafer XRD200有现货吗?
最多添加5台