日本理学XRD X 射线多晶衍射仪 SmartLab

日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab

智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪，它采用了理学独创的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 技术参数

• 1、X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶

• 2、测角仪为水平测角仪

• 3、测角仪最小步进为 1/10000 度，精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）

• 4、测角仪配程序式可变狭缝

• 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）

• 6、CBO 交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带 Mirror）（理学专利）

• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)

• 8、多用途薄膜测试组件

• 9、微区测试组件、CBO-F 微区光学组件

• 10、In-Plane 测试组件（理学独有）

• 11、入射端 Ka1 光学组件

• 12、高速探测器 D/teX-Ultra（能量分辨率 20%以下）

• 13、二维面探 PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射 X 射线)

• 14、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance（专利）

•日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 主要特点智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料

可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有：

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld 定量分析

5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度

6. In-Plane 装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析