四探针测试系统(for 300/450mm wafer)
四探针测试系统(for 300/450mm wafer)

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AIT

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SR5000N

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其他

  • 银牌
  • 第16年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

方块电阻测量范围: 1mΩ/sq~2MΩ/sq

方阻测量精度: ≤0.5%

电阻率测量范围: 10uΩ.cm~200KΩ.cm

电阻率测量精度: ≤0.5%

基板尺寸: Φ300或210*210mm

测试电流范围: 5nA~160mA

测试电流精度: ±0.5%

产品简介:

SR5000N是一款用于测量硅片和太阳能电池片的面电阻和电阻率的系统。该系统是为便于个人计算机操作而设计的,具有多种数据分析、绘图等功能.


技术参数:

- Z大可测样品尺寸:Φ300mm 或 210×210mm

面电阻测量:1mΩ/sq ~ 2MΩ/sq

- 测量模式 : 接触式 4-探针

电阻率测量:10.0 μΩ·cm ~ 200.0 KΩ·cm

- 测量模式 : 接触式 4-探针 (需输入厚度)


软件系统:

- Recipe 测试:根据使用者设定的 Recipe 直接测试 

- 标准测试:ASTM、SEMI 

- Pattern 测试:49,81,121,225 点等 

- 数据分析:2D、3D、数据图谱、统计等

- 数据 & mapping 可打印


主要特点:

- X,R,Z轴全自动控制系统

- 自动& 手动范围可选

- 通过PC进行控制

- 更大尺寸(Φ450mm 或 315 x 315mm)可选


售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 1次,根据需要可再协商

免费仪器保养: 根据需要可协商

保内维修承诺: 24小时响应

报修承诺: 24小时响应

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AIT四探针测试仪SR5000N的工作原理介绍

四探针测试仪SR5000N的使用方法?

AITSR5000N多少钱一台?

四探针测试仪SR5000N可以检测什么?

四探针测试仪SR5000N使用的注意事项?

AITSR5000N的说明书有吗?

AIT四探针测试仪SR5000N的操作规程有吗?

AIT四探针测试仪SR5000N报价含票含运吗?

AITSR5000N有现货吗?

四探针测试系统(for 300/450mm wafer)信息由南京伯奢咏怀电子科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于四探针测试系统(for 300/450mm wafer)报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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