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X-MaxN 的晶体尺寸从适合于微米分析的20 mm2到纳米材料分析专用150 mm2的共四种可选。尤其是150 mm2为当今晶体面积最大的探测器,分析速度至少是普通探测器的两倍。
总览
使用大面积能谱仪意味着:
晶体面积越大,X-射线计数效率越高
相同条件下,晶体面积越大:
大面积能谱仪——快速获得所有显微分析结果
优异的低能端分析性能
X-MaxN 为低能端元素的分析做了巨大的优化——无论何种尺寸,均前所未有的表现出优异的低能端分析性能
所有尺寸的能谱仪均可保证检测到Be,可获得SiLI峰的面分布
超大面积的能谱仪——均具有优异的低能端分析性能
优异的空间分辨率
高空间分辨率,X射线扩展区域更小
大面积能谱仪可以在低加速电压及低束流下采集X-射线
纳米尺度的特征可以更好的被检测到
超大面积的能谱仪——使高级的纳米分析成为可能
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