Quantum detectors 透射电镜直接电子探测器 MerlinEM

核心参数：

探测器：500 μm 硅

探测器类型：反向偏压混合硅二极管阵列

像素尺寸：55 x 55 μm

有效探测面积：1R 单芯片：14 x14 mm2；4R/4S四芯片： 28x28 mm2

像素数：1R单芯片：256 x 256；4R/4S 四芯片：512 x 512

读出噪音 / 信噪比 (SNR) ：0，可设置阈值。信噪比：10⁷:1 。

量子检测效率 DQE，60keV：零频率下 : 1；奈奎斯特频率下: 0.45

调制传递函数 MTF，60keV：奈奎斯特频率下 >0.62 ( 决定于工作模式)

帧速( 连续)：

全幅读出(最大): 18800fps（1bit）, 3600 fps (6bit), 1800 fps (12bit), 800fps (24bit);

局部区域读出(最大)：7200fps (128x256, 6bit), 14400 fps (64x256, 6bit)

间隙时间(连续)：0 μs

动态范围：最大 24 位，每像素高达 16,777,216 计数 ;

触发器：3.3 / 5 V TTL脉冲或软件中控制 ;

能量范围：30-300keV

软件：4D STEM 软件，Labview软件和TCP/IP协议，GM3集成界面。

安装：侧插伸缩式或底部固定式。可选 NanoMEGAS 旋进电子衍射集成接口。

产品介绍：

MERLIN 直接电子探测器 (Direct Electron Detector (DED)) 是透射电子显微镜领域先进探测器的最新技术发展，它以像素化格式将电子直接探测和快速读出技术结合在一起，是适用于电子衍射、旋进 电子衍射、4D STEM 和 TEM 动态成像等应用的理想技术方案。在这种新型探测器中，每个传感器像素分别与智能芯片相连，该芯片使用阈值鉴别器将电子与背景区分开来，有效地消除了所有读出噪声。这一技术可进行积分模式成像，采集多个短曝光图像并相加在一起。更独特的是，相邻像素可以通 讯以减轻荷电共享效应，这与电子的直接检测相结合，从而产生了更高的性能。当束流能量下降至 60 keV 时，MERLIN 能提供接近理想的 DQE 和 MTF 探测器响应。

技术特点：

直接电子探测

  单电子事件的无噪声检测。

动态范围：

  高达24位计数深度，在一幅图像中呈现 1 : 1.67x107 的强度范围，是记录衍射花样的理想选择。

有效的零噪音读出

   每个像素中 2 个阈值鉴别器 , 实现零读取噪声。

电荷加和模式

  像素之间通讯设计，减轻电荷共享效应，最大限度地提高 DQE 和 MTF。

高速数据读出

  千赫兹的帧速率和连续模式下零死时间，提供了前所未有的实验灵活性， 最大限度地减少了样品漂移等的影响，实现单点曝光和“泵浦探测”动态实验。

宽能量范围和辐射耐受性

   最低 30keV 阈值，使得低能电子显微成像成为可能。

安装

   侧插伸缩式安装或底部固定式安装。可选与旋进电子衍射集成化安装