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QUANTAX EDS 系统拥有最佳能量分辨率、最大数据处理能力及最佳几何结构。
最佳能量分辨率可确保轻元素和低能量的高效分析
新一代 Slim-line 探测器技术能在低束流下实现更高的计数率
超高数据处理能力实现最快速测量
可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一软件中
敢为人先!
X射线显微分析是一种在电子显微镜中经常用到的测量固体样品、薄膜、微粒化学成分的分析技术。该技术应用一种能量色散X射线光谱仪(EDS)能同时探测和分析低至Be的所有元素。该技术从一个微米级的样品区域获得元素信息,提供低至0.1%质量百分数的检出限,这些特性使得X射线显微分析成为最灵敏的分析方法之一。
布鲁克电制冷能谱仪独一无二的X-Flash硅漂移探测器(SDD)与顶级的Hybrid 脉冲处理技术相结合能获得最佳的能量分辨率和比常规Si(Li)探测器快十倍的测量速度。
布鲁克电制冷能谱仪配有界面友好、功能强大的ESPRIT软件。该软件标配中、英文界面。应用该软件可进行无标样定量分析,和有标准定量分析,或二种方法结合使用。另外,还可进行点、线、面分析,线扫描,面分布,超级面分布,相分析,颗粒分析,钢铁分析,枪击残留物分析等等。
QUANTAX ESPRIT软件包
直观的图形用户界面显示了所有对分析者而言重要的信息,分析人员一目了然,并可以立即进入最常用的功能。
简单的操作理念和直观的向导,集成的 "助手"功能,完整的在线帮助,使初学者能很快熟悉分析系统。
该软件交互式、循序渐进式的谱图评价程序对分析者而言尤其重要,尤其是对于非常复杂的分析任务来说。而且,该软件包集成了全球最新修订扩展的原子数据库,一些重要的基本参数有助于提高定性和定量分析的精度。
该分析软件的高效性、灵活性和透明性使用户能很快信服并对之满意。
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