四探针电阻率测试仪

长输管道电感探针腐蚀测量仪ZRX--2200

1．概述： ZRX--2200测量仪是应用电感探针技术测量定制的挂片厚度，从而分析计算挂片 的腐蚀率。zrx-2200能够连续实时测量挂片的腐蚀厚度，测量间隔最小30秒，通过实时监测挂片的腐蚀厚度，可以快速计算出挂片的腐蚀率。ZRX-2200广泛适用于长输管道、石油、化工、电力等领域实验室腐蚀速率的检测与监测，腐蚀防护对策的评价以及缓蚀药剂的评定与筛选等；与传统挂片实验相比可得到更全面、更迅捷的腐蚀与腐蚀控制信息。也被广泛的用于实验室缓蚀剂快速评定，多种介质腐蚀性测量，含水油、气等的腐蚀性测量。 2. 技术指标： （1）AD 转换分辨率：24bit （2）挂片厚度：0.25mm~0.75mm （3）腐蚀分辨率：0.001um @0.25mm （4）腐蚀率测量范围 0.0000～10.0000mm/a （5）腐蚀率测量精度 0.0001mm/a （6）采样间隔：30 秒~1 小时 （7）温度测量：-50℃~+200℃, 分辨率 0.1℃ （8）显示：7 寸 24bit 彩色 IPS 电容触摸屏 （9）时钟：时钟精度为±5ppm，误差

标准GB1410橡胶表面体积电阻率测定仪表面体积电阻率测定仪数字高阻计微电流计号HAD-ST121

一、 符合标准及适用范围： 二、 完全符合国家标准GB1410－2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、表面电阻系数和表面电阻试验方法，ASTM D257 绝缘材料的直流电阻或电导试验方法　等标准要求。本仪器配不同的测量电极（夹具）可以测量不同材料（固体、粉体或液体）的体积电阻率和表面电阻率或电导率。本仪器除能测电阻外，还能直接测量微弱电流。 二、技术指标 1、电阻测量范围： 0.01×104Ω ～1×1018Ω。 2、电流测量范围： 2×10-4A～1×10-16A 3、显 示 方 式：液晶、电阻、电流双显示 4、内置测试电压： 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V（任意切换） 5、基本准确度：2% (*注) 6、使用环境： 温度：0℃～40℃，相对湿度

KDK-KDY-1低阻型四探针检测仪方阻仪四探针电阻率检测仪采用GBT 1552-1995

KDK-KDY-1低阻型四探针检测仪方阻仪四探针电阻率检测仪采用GBT 1552-1995 仪器采用GB/T 1552-1995硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 （2）范围：电阻率10-5～10+3欧姆·厘米，分辨率为10-5欧姆·厘米 方块电阻10-4～10+4欧姆/□，最小分辨率为10-4欧姆/□ （3）可测量材料：半导体材料硅锗棒、块、片、导电薄膜等 可准确测量的半导体尺寸：直径≥20㎜ 可测量的半导体尺寸：直径≥8㎜ （4）测量方式：平面测量。 （5）电压表：双数字电压表，可同时观察电流、电压变化 A.量程0~19.999 mV B.基本误差±(0.004%读数+0.01%满度) C.灵敏度：1uV D输入阻抗﹥1000MΩ E 4 1/2位数字显示，0～19999 （6）恒流源： A.电流输出：直流电流0.003～100 mA连续可调，有交流电源供给 B.量程：10uA，100uA，1 mA，10 mA，100 mA五档 C.恒流源精度：各档均≤±0.05% （7）四探针测试探头 A.探头间距1.59㎜ B.探针机械游率：±0.3% C.探针直径0.8㎜ D.探针

KDY-1B便携式电阻测试仪便携式电阻率仪测试仪结构及原理

KDY-1B便携式电阻测试仪便携式电阻率仪测试仪结构及原理 便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。 本仪器按照半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法有关规定设计。 它主要由电器测量部份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。 为减小体积，本仪器用同一块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由高精宽的恒流源提供，随时可进行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分选材料也可以用来作产品检测。对1～100Ω·cm标准样片的测量误差不超过±5%，在此范围内达到国家标准二级机的水平。 2、测试仪结构及原理 测试主机由主机板、前面板、后背板及机箱组成，数字表、测试电流换档开关、电阻率/方阻转换开关、校准/测量变换开关以及电流调节电位器均装在前面板上。后背板上只装有电源插座、电源开关、保险管及四探针连接插座。机箱底板上字装了主机板。前后面板与主机板之间的联接均采用接插件，便于拆卸维修。 技术参数： 测量范围： 可测量电阻率：0.1～1999Ω·cm。 可测方块电阻： 1