老化测试系统

AEHR 老化测试系统


1. 老化测试系统ABTS-L


1) 高可靠性老化测试系统
2) 可作环境测试的同时进行Functional Test
3) 可同时支持Logic和Memory类IC老化测试;最大可Up to 72slots
4) 1个Driver Board对应一个Zone
5) 可同时测试多种产品,最大可有320 I/0Channel;N+1的模块化电源设计, 如果其中任一电源损坏,备用电源自动切换工作,独立的可配置的CPB电源板设计
6) 可提供纯净的电源供给BIB给客户应用,同时还非常省电, 电路板和电源都可以进行热拔插更换
7) 有High power类应用配置
8) 可客制化配置
9) 可支持高达100瓦/Device,72组/BIB电源供给客户应用,且开放接口可供客户自行制作BIB!
    
2. 老化测试系统ABTS-Mini
配置同ABTS-L,应用于应用量比较少的场合
例如实验室,标准6Slots,可Up to 12Slots


3. 老化测试系统ABTS-Double Mini
配置同ABTS-Mini
为两台MINI叠加
有2个温度区,应用于多温度需求
标准12slots,可Up to 24slots.