光学膜厚仪

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型号

MFS-TR-P

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产地

港澳台

实密国际贸易（上海）有限公司

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核心参数

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仪器简介：

适用样品：光学镀膜(如SiO2, NOx, ITO, ZnO, CuO 等on玻璃、压克力、PET and Silicon wafer)、GaN on Sapphire、彩色滤光片、Solar cell、偏光片等。样品形状可以使平滑、粗糙、平面和曲面的，可以根据需要选择合适的样品台。

检测功能：薄膜厚度、穿透率、反射率、色度

技术参数：

检测功能：薄膜厚度、穿透率、反射率、色度
波长范围：380-1000nm
膜厚精度：1nm
厚度范围：300-400,000 Angstrom (依样品不同而异)
检测速度：1-3 sec
检测平台：10cm×10cm手动式XY滑台
光源：卤素灯380-1700nm
适用样品：光学镀膜(如SiO2, NOx, ITO, ZnO, CuO 等on玻璃、压克力、PET and Silicon wafer)、GaN on Sapphire、彩色滤光片、Solar cell、偏光片等。样品形状可以使平滑、粗糙、平面和曲面的，可以根据需要选择合适的样品台。