为制药、锂电提供创新检测技术 ——仪思奇携粒度及比表面新品参展IPB2019

2019年6月，仪思奇（北京）科技发展有限公司获得了法国Cordouan Technologies和美国xigo Nanotools在中国地区的独家代理。在刚刚落幕的IPB2019期间，仪思奇（北京）科技发展有限公司携这两家公司的重磅产品——Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析仪和Xigo润湿颗粒比表面分析仪亮相，。仪器信息网在展会期间视频采访了仪思奇产品经理韩广乾，请其介绍了这两大产品的创新特色和其在制药、锂电池等主要行业领域的应用。

Vasco Kin被仪思奇方面称为纳米科学研究的“大杀器”。据韩广乾介绍，Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析仪采用了和传统动态光散射不一样的方法，无需进行样品处理，即可原位远程测定包装物及反应釜中的粒度分布及其随时间的变化。另外仪器的采集速度比动态光散射快10倍以上，时间分辨DLS的分辨率为0.2s，可用于动力学监测。该仪器在制药行业的反应检测，环境科学、功能化油墨、油田化学、锂电材料、催化剂、化妆品和食品等领域具有广泛的应用潜景。例如其可以为制药行业的反应监测和药瓶中的蛋白质聚集体纳米阶段的生成监控，甚至监控和研究中药汤剂在加热过程中的粒度变化都提供了有效的技术手段。

Xigo系列润湿颗粒比表面分析仪可以测量样品在悬浮液状态下的比表面信息，从而判断出颗粒在体系中的分散状态，这一点是传统测量比表面的气体吸附法所不能做到的。该仪器为电池隔膜用陶瓷浆料、锂电池正负极浆料、电子浆料、墨水、石墨烯和碳纳米管浆料以及原料药批次间等的质量控制，工艺处方的优化、筛选都提供了快速简便的检测手段。

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