3月15日,昆明理工大学资产管理处组织专家组,对飞行时间二次离子质谱仪(TOF.SIMS-5)进行验收。在逐一核实设备部件,配件型号、数量,质量分析器的动态离子能量扩展技术(EDR)后,专家组认为,该设备安装齐全,设备性能和EDR指标均已达到合同指标,通过终极验收。同时,专家组在设备的维护和管理、设备性能的开发利用等方面提出了一些意见和建议。截止目前,学校单价500万元以上的仪器设备已达到5台套。
飞行时间二次离子质谱仪(TOF.SIMS-5)主要用于矿物表面深度剖析、表面化学药剂吸附层厚度、表面微量组分、表面有机物吸附推测、表面3D表征及成像等表面微观研究。在进一步熟练设备操作和性能后,TOF.SIMS-5将正式投入使用,在矿物加工工程、矿物学、材料学、生命科学等专业的实验教学与科研工作中发挥积极作用。
[来源:昆明理工大学]
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