2022-04-22 15:56
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IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型
型号: TOF-SIMS M6
产地:
品牌: IONTOF
¥ 1000万 - 2000万
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催化反应一般只发生在材料的最表层。低能离子散射谱(Low-Energy In Scattering ,LEIS)利用具有特定能量的惰性气体离子入射到样品表面,与样品表面的原子进行弹性碰撞。根据弹性散射理论,散射离子的能量分布与表面原子的原子量相关。通过对散射离子能量进行分析,就可以得到表面元素组分及表面结构的信息。低能离子散射谱所获得的信息来自样品的最表层,因而是研究表面成分、表面结构以及表面过程的强有力的手段。