薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix

                                                                 薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix

产品简介：

薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 

技术参数：

测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 

分辨率 0.1μm （1μm可选） 

测试速度 1～25次/min 

测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 

精度 ±＜0.3μm 

测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 

接触面积 球形接触  

电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 

外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg

薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品标准：

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T  6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

产品应用：

薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

产品特征：

·测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 

·可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 

·嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 

·标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求

·触控屏操作界面 

·7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 

·进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 

·内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 

·标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 

·严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

·高精度测厚传感器，精度高重现性好 

·可采用标准厚度计量工具标定、检验 

·多种测试量程可选

·实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

产品配置：

·标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 

·配种砝码、非标测量头、自动进样装置

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