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核心参数
产地类别： 国产
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一、概述
SE-m 是一款针对半导体行业定制的微区图形结构测量的专用型光谱椭偏仪，其采用 1 超小微光斑探测测量技术， 2 定制超快测量速度等技术。可应用透明各类衬底上的减反膜、导电膜等薄膜的n/k/d测量，完美适用于微区图形的各种光学参数解析。
二、特色功能
■ 可定制光斑尺寸，最小可达30um；
■ 超快测量，单次测量时间小于0.5秒 ；
■ 系列配置灵活，支持功能定制设计；
■ 结构紧凑，更适应在线集成测量。
三、测量实例
微区图形结构测量
四、应用场景
应用于光学常数测量，完美适用于各类光学薄膜等镀膜检测应用。
颐光科技椭偏仪SE-VF的工作原理介绍
椭偏仪SE-VF的使用方法?
颐光科技SE-VF多少钱一台?
椭偏仪SE-VF可以检测什么？
椭偏仪SE-VF使用的注意事项？
颐光科技SE-VF的说明书有吗？
颐光科技椭偏仪SE-VF的操作规程有吗？
颐光科技椭偏仪SE-VF报价含票含运吗？
颐光科技SE-VF有现货吗？
更多
平板显示测量应用解决方案
通过颐光系列椭偏仪可以快速准确表征LED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等重要参数，确保材料以及产品的品质。此外采用集成式在线监测装备系统PMS支持定制，可快速准确完成产品的测量任务之同时完美整合到生产工艺流程中，大幅度降低企业生产成本并提高生产效率，确保产品的市场竞争力，实现企业价值最大化。
电子/电气
2020/06/23
IC行业纳米测量应用解决方案
ME-L系列椭偏仪非常适用于纳米级光栅的结构周期、线宽、线高、侧壁角、粗糙度等几何形貌信息的测量与分析，并能快速一次性完成其多个重要参数测量。同时支持定制化整合于工艺流程实现实时在线监测，大幅度提升企业的整合生产效率。
电子/电气
2020/06/24
武汉颐光科技有限公司
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