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核心参数
产地类别： 国产
光谱范围： 380-1000nm 210-1650nm 193-1650nm 210-2500nm
光斑尺寸： 200*500um 100*250um 40*80um
入射角： 45°-90°,自动变角
测量速度： ≦15s(单点)
样品尺寸： 4-12英寸
膜厚测量准确度： 0.5nm@100nm标片
测量重复性： ≦0.005nm
一、概述
ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的投入，具备 1 全穆勒矩阵测量技术， 2 双旋转补偿器同步控制技术，3 超级消色差补偿器设计技术，4 纳米光栅表征测量技术 等技术。可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。
■ 双旋转补偿器(DRC)配置一次测量全部穆勒矩阵16个元素；
■ 配置自动变角器、五维样件控制平台等优质硬件模块；
■ 软件交互式界面配合辅助向导式设计，易上手、操作便捷；
■ 丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力
二、产品特点
■ 采用氘灯和卤素灯复合光源，光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)；
■ 可实现穆勒矩阵数据处理，测量信息量更大，测量速度快、数据更加精准；
■ 基于双旋转补偿器设计，一次测量获得全穆勒矩阵16个元素，相对传统光谱椭偏仪可获取更加全面量测信息；
■ 颐光核心技术确保在宽光谱范围内，提供优质稳定的各波段光谱；
■ 数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料；
■ 集成对纳米光栅的分析，可同时测量分析纳米结构周期、线宽、线高、侧壁角、粗糙度等几何形貌信息。
使用颐光科技椭偏仪系列产品，（部分）提及并标注“Eoptics Technology”文献信息： ✽ "Atomic-level chemical reaction promoting external quantum efficiency of organic photomultiplication photodetector exceeding 108% for weak-light detection." Science Bulletin(2023). 影响因子:18.9，单位：太原理工大学，通讯作者：崔艳霞 等 ✽ "La-doped PMN–PT transparent ceramics with ultra-high electro-optic effect and its application in optical devices." Journal of Advanced Ceramics(2023). 影响因子:16.89，单位：华中科技大学集成电路学院，通讯作者：傅邱云 等 ✽ "Giant in-plane optical and electronic anisotropy in tellurene: a quantitative exploration." Nanoscale(2022). 影响因子:7.79，单位：华中科技数字装备制造国家重点实验室，通讯作者：谷洪刚，刘世元 等 ✽ "Utilization of Trapped Optical Modes for White Perovskite Light-Emitting Diodes with Efficiency over 12%." Joule (2021). 影响因子:39.8，单位：华南理工大学，通讯作者：彭俊彪，叶轩立 等 ✽ "Delocalization of exciton and electron wavefunction in non-fullerene acceptor molecules enables efficient organic solar cells."Nature Communications(2020). 影响因子:17.7，单位：华南理工大学，通讯作者：叶轩立，曹镛 等 ✽ "Enhanced light emission of quantum dot films by scattering of poly(zinc methacrylate) coating CdZnSeS/ZnS quantum dots and high refractive index BaTiO3 nanoparticles." ACS Nano (2020). 影响因子:18.9，单位：南方科技大学，通讯作者：孙小卫 等 ✽ "24.1% External Quantum Efficiency of Flexible Quantum Dot Light-Emitting Diodes by Light Extraction of Silver Nanowire Transparent Electrodes." Advance Optical Materials (2018). 影响因子:10.5，单位：武汉光电国家研究中心，通讯作者：胡彬，王磊 等 ✽ "Heat-Insulating Multifunctional Semitransparent Polymer Solar Cells." Joule (2018). 影响因子:39.8，单位：华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室，通讯作者：叶轩立，黄飞 等 ✽ "Layer-Dependent Dielectric Function of Wafer-Scale 2D MoS2." Advance Optical Materials (2018). 影响因子:10.5，单位：华中科技数字装备制造国家重点实验室，通讯作者：刘世元 等 ✽ "Ellipsometric study of the complex optical constants of a CsPbBr3 perovskite thin film." Journal of Materials Chemistry C(2017). 影响因子:8.06，单位：山东大学，通讯作者：连洁 等 ✽"High-Performance Polymer Tandem Solar Cells Employing a New n-Type Conjugated Polymer as an Interconnecting Layer." Advance Materials(2016). 影响因子:32.08，单位：华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室，通讯作者：叶轩立，黄飞 等 |
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技术参数
颐光科技椭偏仪ME-L的工作原理介绍
椭偏仪ME-L的使用方法?
颐光科技ME-L多少钱一台?
椭偏仪ME-L可以检测什么？
椭偏仪ME-L使用的注意事项？
颐光科技ME-L的说明书有吗？
颐光科技椭偏仪ME-L的操作规程有吗？
颐光科技椭偏仪ME-L报价含票含运吗？
颐光科技ME-L有现货吗？
更多
平板显示测量应用解决方案
通过颐光系列椭偏仪可以快速准确表征LED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等重要参数，确保材料以及产品的品质。此外采用集成式在线监测装备系统PMS支持定制，可快速准确完成产品的测量任务之同时完美整合到生产工艺流程中，大幅度降低企业生产成本并提高生产效率，确保产品的市场竞争力，实现企业价值最大化。
电子/电气
2020/06/23
IC行业纳米测量应用解决方案
ME-L系列椭偏仪非常适用于纳米级光栅的结构周期、线宽、线高、侧壁角、粗糙度等几何形貌信息的测量与分析，并能快速一次性完成其多个重要参数测量。同时支持定制化整合于工艺流程实现实时在线监测，大幅度提升企业的整合生产效率。
电子/电气
2020/06/24
企业名称
武汉颐光科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
91420100077720022F
成立日期
2013-09-24
注册资本
1000
经营范围
光机电一体化、机械、电子、激光、仪器仪表、自动化控制、计算机软件技术及产品的开发、研制、生产、技术服务、测试服务、技术咨询及销售；光机电产品、仪器仪表、计算机及配件、机电零配件、光学零配件的零售与批发；机电零部件、光学零配件的加工；货物进出口、技术进出口、代理进出口（不含国家禁止或限制进出口的货物及技术）。（依法须经审批的项目，经相关部门审批后方可开展经营活动）
武汉颐光科技有限公司
公司地址
武汉市东湖高新区金融港四路10号6号楼
客服电话
公司名称： 武汉颐光科技有限公司
公司地址： 武汉市东湖高新区金融港四路10号6号楼 联系人： 颜猛 邮编： 430223 联系电话： 400-860-5168转4689
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