2020/06/23 17:32
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产品配置单:
ME-L 穆勒矩阵光谱椭偏仪
型号: ME-L
产地: 湖北
品牌: 颐光科技
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SE-VF 光谱椭偏仪
型号: SE-VF
产地: 湖北
品牌: 颐光科技
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方案详情:
行业背景
2009年-2014年,全球平板显示行业收入从921.12亿美元增长至1,310亿美元,产值规模不断扩大,已经成为产值超过千亿美元的成熟产业。全球平板显示产业经过快速发展阶段后,预计随后近十年,全球平板显示市场的增长将趋于平缓。经过近几年的技术发展,OLED屏幕终于成了业界追逐的新焦点。
OLED材料具有全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、无视角限制、响应速度快、工作范围宽、易于实现柔性显示和3D显示等诸多优点,因此被业界认为是最有发展前景的新型显示技术之一。OLED目前主要应用在手机,但由于电视尺寸大部分集中在大尺寸上,因此成为OLED未来产值增长最主要的驱动力。
面临挑战
OLED技术目前相对还不成熟,存在拼缝、成品率、成本高等问题,所以短期内对LED显示屏不构成威胁。这样势必加大OLED电致发光材料的研发投入,以及生产工艺的流程控制,降低成本,来增加产品的市场竞争力。因此会涉及到OLED电致发光层的各项重要指标需要有效测量,确保其材料质量;在OLED生产工艺中涉及到工艺控制整合,这样一方面确保产品的品质,另一方面降低生产成本,从而提高产品竞争力以及企业的生产整合效率。
解决方案
过ME-L穆勒矩阵椭偏仪可以同时快速准确测量OLED电致发光层中多层膜的膜厚和光学常数等;采用集成ME-L穆勒矩阵椭偏仪的在线监测装备系统PMS可快速准确完成产品的测量任务之外,可完美整合到生产工艺流程中。
通过下图可获取不同测量点所对应波长位置的完整的吸收系数K值
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薄膜光伏测量应用解决方案
通过ME/SE系列椭偏仪可以快速准确表征光伏薄膜的厚度、光学常数等;确保材料以及产品的品质。此外采用集成ME-L/SE-L在线监测装备系统PMS可快速准确完成产品的测量任务之外,可完美整合到生产工艺流程中,大幅度提高企业生产效率,带来更大企业价值。
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2020/06/24
IC行业纳米测量应用解决方案
ME-L系列椭偏仪非常适用于纳米级光栅的结构周期、线宽、线高、侧壁角、粗糙度等几何形貌信息的测量与分析,并能快速一次性完成其多个重要参数测量。同时支持定制化整合于工艺流程实现实时在线监测,大幅度提升企业的整合生产效率。
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2020/06/24