关注
已关注
已认证
粉丝量 0
400-860-5168转4058
仪器信息网认证电话，请放心拨打
布鲁克-软包电池原位XRD分析（投射）-束蕴仪器
2022/05/25 09:16
阅读：184
分享：
方案摘要：
产品配置单：
布鲁克 D8 达芬奇 X射线衍射仪
型号： D8 Advance
产地： 德国
品牌： 布鲁克
面议
参考报价
联系电话
方案详情：
采用EIGER2 R 500K二维探测器分析表征三元软包电池
软包电池由于其高效的形状和轻巧的结构，已经成为工业标准的电池设计。原位分析可以在电池循环过程中同时分析正极和负极变化，从而来判断电池的性能。本实验报告展示了采用
D8 Advance和EIGER 2 R 500K 二维探测器对三元软包电池进行原位分析的实验。
本实验采用的软包电池是由单层的三元材料(LiNixMnyCozO2) (67 µm)涂布在铝箔上 (15 µm)，隔板厚度为40 µm， 负极石墨层（82μm）涂布在铜箔上（9 µm）。电极浸泡在LiPF6 电解液中，并被包装在一个聚合物-铝的复合物袋中。软包电池被放置在衍射仪的中心，并由两个夹具夹住。整个软包电池的厚度约为920 µm。在透射模式中使用了钼靶，而不是更为常见的铜靶，从而减少了软包电池对X射线的吸收。EIGER2 R 500K的厚硅传感器非常适用于从Cr到Mo的波长，在产生高信号的同时，通过最大限度地减少电荷共享的影响来减少背底。
下载本篇解决方案：
更多
应用分享 | TOF-SIMS在光电器件研究中的应用
光伏发电新能源技术对于实现碳中和目标具有重要意义。近年来，基于有机-无机杂化钙钛矿的光电太阳能电池器件取得了飞速的发展，目前报道的光电转化效率已接近26%。
半导体
2024/07/17
应用分享 | HAXPES∣多层结构器件界面的无损深度分析案例
XPS的探测深度在10nm以内，然而对于实际的器件，研究对象往往会超过10 nm的信息深度，特别是在一些电气设备中，有源层总是被掩埋在较厚的电极之下。因此，利用XPS分析此类样品，需要结合离子刻蚀技术。
半导体
2024/07/17
应用分享 | Bruker D6 PHASER对钨薄膜进行反射率应用分析
XRR是一种方便、快速的分析单层或多层薄膜和表面的方法，是一种纳米尺度上的分析方法，同时可实现无损分析。
材料
2024/07/17
应用分享 | 原位冷冻TOF-SIMS对斑马鱼RPE组织的生物成像
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。因其免标记、高灵敏、多组分检测和高空间分辨成像等优势，为诸多生命科学问题的研究提供了重要的技术支持。
生物产业
2024/07/10
公司名称： 束蕴仪器（上海）有限公司
公司地址： 上海市松江区新桥镇千帆路288弄3号楼602室-1 联系人： 蒋健林 邮编： 201106 联系电话： 400-860-5168转4058
仪器信息网APP
展位手机站