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Omega/Theta XRD Mapping面扫功能
自动Mapping面扫功能
Mapping面扫台允许使用受控的网格模式来探索整个样品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在转盘顶部容纳额外的XY定位平台。样品表面可以根据用户定义的网格进行扫描。由于样品上X射线光斑的大小，小的网格间距约为1毫米。
绘图阶段可以与Omega扫描结合起来，以获得晶体方向图，或与摇摆曲线测量结合起来，以获得表面的扭曲图。可提供用于显示和分析的软件包。
晶体的Mapping面扫功能是诊断晶体生长过程中和制造过程中出现的质量问题的一个宝贵工具
即使在单晶中，晶体取向也可以在表面上表现出微小的变化，这是由晶格缺陷引起的内部应变造成的。有序生长的薄膜也可以有一个有趣的面内取向分布。
绘制一个表面需要大量的测量。在这里，欧米茄扫描方法可以提供其速度方面的优势。图中显示的是在一个（Si，Ge）固溶体晶片上测量的取向图。较大的方向差是0.03°。同心圆是按照晶体的生长环进行的。
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企业名称
束蕴仪器（上海）有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
310120003388984
成立日期
2016-09-23
注册资本
500
经营范围
仪器仪表、实验室设备、机械设备及配件、机电设备及配件、电子产品、化工原料及产品(除危险化学品、监控化学品、民用爆炸物品、易制毒化学品)、一般劳防用品、玻璃制品的批发、零售,从事仪表科技、机械科技、机电科技、电子科技领域内的技术开发、技术咨询、技术转让、技术服务,一类医疗器械、仪表仪器的维修,一类医疗器械批发、零售,自有设备租赁,设计、制作各类广告,电子商务(不得从事金融业务),从事货物及技术的进出口业务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
束蕴仪器（上海）有限公司
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上海市松江区新桥镇千帆路288弄3号楼602室-1
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