Mono- and Multi-crystalline wafer and brick lifetime measurement device
应用范围:用于常规质量控制、精密材料研发的单晶和多晶片及晶锭的寿命测量
根据SEMI标准PV9-1110的非接触式和无损成像(μPCD / MDP(QSS))、光电导性、电阻率和p/n检查。
晶圆切割,炉内监控,材料优化等。
日常寿命测量,质量控制和检验
◆产量:>240块/天或>720片/天
◆测量速度:对于156x156x400mm标准晶锭,<4分钟
◆生产改善:1mm切割标准为156x156x400mm标准晶锭
◆质量控制:用于过程和材料的质量监控,如单晶硅或多晶硅
◆污染测定:起源于炉和设备的金属(Fe)
◆可靠性:模块化和坚固耐用的工业仪器,更高的可靠性和运行时间> 99%
◆可重复性:> 99.5%
◆电阻率:不需要经常校准
精密材料研发
铁浓度测定
陷阱浓度测定
硼氧测定
依赖于注入的测量等
特性
完全无触点无破坏的半导体特性
特殊的“表面之下”寿命测量技术
不可见缺陷的 灵敏度的可视化
自动切割标准定义
空间分辨p/n电导型变换检测
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企业名称
束蕴仪器(上海)有限公司
企业信息已认证
企业类型
信用代码
310120003388984
成立日期
2016-09-23
注册资本
500
经营范围
仪器仪表、实验室设备、机械设备及配件、机电设备及配件、电子产品、化工原料及产品(除危险化学品、监控化学品、民用爆炸物品、易制毒化学品)、一般劳防用品、玻璃制品的批发、零售,从事仪表科技、机械科技、机电科技、电子科技领域内的技术开发、技术咨询、技术转让、技术服务,一类医疗器械、仪表仪器的维修,一类医疗器械批发、零售,自有设备租赁,设计、制作各类广告,电子商务(不得从事金融业务),从事货物及技术的进出口业务。【依法须经批准的项目,经相关部门批准后方可开展经营活动】
束蕴仪器(上海)有限公司
公司地址
上海市松江区新桥镇千帆路288弄3号楼602室-1
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