中国国际纳米技术产业博览会

2018年10月，PHI-CHINA受邀参加第九届中国国际纳米技术产业博览会（以下简称纳博会），并在胜科纳米（苏州）有限公司举办的研讨会上发表演讲。研讨会的主题为分析测试方法的应用。PHI-CHINA的执行总监叶上远先生就“软/硬聚焦X射线源相结合的商品化XPS仪器”这一主题发表演讲，并详细介绍了PHI Quantes，PHI Quantes装备了双单色仪，分别用于产生单色化并且可扫描的Al K-Alpha 和 Cr K-Alpha X射线。两种类型的X射线都具有数十微米的空间分辨率和成像能力。当这两种X射线组合成一台XPS系统时，可为研究人员提供灵活的检测深度信息的方式，解决了一个在实际分析中常遇到的问题，即当需要分析的样品表面覆盖了太厚的污染物导致没有有效数据的问题。

PHI-CHINA自2009年起是ULVAC-PHI在中国的唯一代表。我们一直努力推广ULVAC-PHI最佳的表面分析仪器，并向所有表面分析仪器用户提供最优质的售后服务。

                纳博会晚宴