晶圆检测系统

晶圆检测系统(Wafer Inspection Systems)

成立于一九八九年，C & D Semiconductor Services,Inc.一直致力于服务全球半导体及有关工业。C & D 的服务范围服务涵盖了晶圆处理、加工、半导体制造和检验的要求，为客户提供创新、高价值、低成本尖端技术的解决方案。

V1000 显微镜加载器

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   兼容大多数显微镜和载物台
 程序驱动操作，实现晶圆加载和检测工艺自动化
   可选双尺寸兼容配置/晶圆对准/符合人体工程学的卡盒装载设计

V2000 亮光检查系统

   

   双片盒设计，三维倾斜旋转卡盘及光控检测罩为缺陷检测提供良好的测量环境
   可选双尺寸兼容配置/晶圆对准/符合人体工程学的卡盒装载设计
  

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V3000 宏观缺陷审查系统
  
   

    高级芯片检测站，适合晶圆尺寸：50mm - 200mm
    最大可配置6种光源，用宏观缺陷检测
    正面及反面缺陷检测功能
    晶圆对准/OCR/条码读取功能