系统整合了热释电测试、漏电流测试和热刺激去极化电流测试功能
1)在高能量密度和功率电容中,漏电流对于功率损耗和热击穿意义重大;
2)依据ASTM D257测试标准,很多商用材料的电阻率在短时间(60s)低电场(<1V/um)下通常被测量;相比之下,很多电容运行电场往往>100V/um,并且电导率随电场呈指数增加;因此这些材料的数据与实际应用关联不大;
3)在高电场和高温下测量高分子薄膜的漏电流很具有挑战性:
-电流达到pA(10e-12A)量级,因此周围环境的干扰须完全被屏蔽;
-在长期高压下测试,介电液可能变得导电,因此测试须在无介电液的空气中进行,很多试样在空气中有很低的介电击穿强度,而且长时间(>1h)高电场(>100V/um)下测试就非常困难;
-高分子薄膜通常比较软,而且很容易被电极损坏,因此相当困难的测试这种样品(厚度<10um)在>100V/um电场下;
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1)pA测量单元:Keithley 6517(6514)或者类似的仪表,需配备同轴屏蔽电缆;
2)高压单元:SRS PS350 或者Trek Voltage 10kV;
3)温度范围:-184℃ to >300℃,带液氮冷去;
4)全屏蔽测试箱体,绝缘安装在腔体门内侧,便于装载样品;
5)高压加载通过弹簧加载的球电极,即保证良好的电接触,又不会损坏软的高分子薄膜样品;
6)pA电流测量已经被印证,通过<5um电容薄膜在高场(200V/um)下测试>20h无介电击穿;
7)试样大小:up to 8cm直径;
8)该系统也可用于热激发激化电流测量或者热释电电流;
9)模块化设计,测试腔室也可以用于介电和高压测试系统;
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