薄膜材料热学性能超快测量系统

 日本PicoTherm公司的系列产品——薄膜材料热学性能超快测量系统是和日本产业技术综合研究所 (AIST) 联合开发的。其中 NanoTR 和 PicoTR 系列产品基于新的脉冲光热反射法，是市面上能够对亚微米别(10nm-10μm)的薄膜材料(金属、陶瓷、介电)的热学性质(多层膜中每层膜的热扩散系数、边界热阻等)进行测量的设备。公司另外还有一款基于激光闪光法测量热电材料的比热、热扩散系数、电阻以及塞贝克系数等热电性质的设备 FlashTE，可供您选择。     纳秒脉冲光热反射法 金属:1µm－20µm 薄膜材料厚度：陶瓷: 300nm－5µm 有机物:30nm－2µm   皮秒脉冲光热反射法 金属:100nm－900nm 薄膜材料厚度：陶瓷: 10nm－300nm  有机物:10nm－100nm  薄膜材料的热学性质测量  可以测量多层膜中每层膜的热扩散系数、边界热阻等。超快测量速度  利用先进的信号处理技术，NanoTR能在1分钟内实现超快测量。同时具有RF和FF模式  NanoTR/PicoTR系列产品能同时结合RF(Rear heating - Front detection)和FF(Front heating - Front detection)模式，从而能够对各种材料的样品进行测量。高精度测量  光热反射法是一种直接测量方法，由此得到的薄膜材料热扩散系数的精度高，可信度强。标准  在标定处理上，NanoTR/PicoTR系列产品遵循标准。  光热反射法原理 用光热反射法可测量薄膜材料的热扩散系数。由于材料表面的反射率随着表面温度的变化而变化，样品正面的温度变化可以通过反射光强度的变化来观测。通过光电二管可以探测光源的反射光强，从而得到样品正面的温度。测量数据 光热反射系数信号曲线——RF模式(Rear heating Front detection，背面加热正面探测)  光热反射系数信号曲线——FF模式(Front heating Front detection，正面加热正面探测)