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当前位置： 美国麦克仪器公司 > 解决方案 > 使用X光沉降粒度仪研究多孔粉末的粒径

使用X光沉降粒度仪研究多孔粉末的粒径

2015/01/16 12:37

阅读：580

分享：
应用领域：
石油/化工
发布时间：
2015/01/16
检测样品：
其他
检测项目：
浏览次数：
580次
下载次数：
20次

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参考标准：
0

方案摘要：

沉降法分析是基于Stokes原理的一种方法，提供了一种确定颗粒粒径分布的便捷方法。单个的颗粒（非多孔型）球在一种流体内进行沉降运动，沉降的速度与其粒径息息相关。SediGraph 5120就是一台使用沉降法测试颗粒粒径分布的仪器，通过测试在不同颗粒在已知性质的液体中由于重力作用而产生的不同的沉降速度来确定颗粒粒径。本文通过对非多孔型材料粒径的研究入手，对多孔型材料粉末的粒径进行了研究。

产品配置单：

分析仪器

全自动Χ光沉降粒度分析仪SediGraph Ⅲ Plus

型号： SediGraph Ⅲ Plus

产地： 美国

品牌： 麦克仪器

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