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当前位置: 卓立汉光 > X射线探测装置 > 闪烁晶体的光谱、寿命、成像、光产额测量

闪烁晶体的光谱、寿命、成像、光产额测量

品牌: 卓立汉光
产地: 北京
型号: X射线探测器
样本: 下载
报价: ¥30万 - 200万
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产品介绍

近年来,钙钛矿型闪烁体及钙钛矿型 X 射线直接探测器被广泛研究及报道。在发光闪烁体层面,钙钛矿纳米晶闪烁体通过溶液即可制得,成本极低,且具备全色彩可调谐辐射发光的特点。在直接探测层面,铅卤钙钛矿材料因其具备较大的原子序数、高吸收系数等优点,在 X 射线直接探测领域同样表现出非常优异的性能。

卓立汉光能够提供基于 X 射线的稳态发光光谱,荧光寿命,瞬态光谱以及 X 射线探测成像的相关测量方案。能够提供全套涵盖 X 射线激发源、光谱仪、稳态及瞬态数据处理、成像测量(CMOS 成像,单像素成像,TFT 面阵成像)、辐射剂量表、辐射安全防护等,辐射防护防护满足国标《低能射线装置放射防护标准》(GBZ115-2023)。

如下陈述我们几种测量方案及相关配置明细

( 一 ) 稳态光谱及荧光寿命采集

  • 基于皮秒 X 射线和 TCSPC 测量原理的方法

  • 纳秒脉冲 X 射线

  •  稳态和寿命测量数据

( 二 ) X 射线探测成像

  • X 射线探测成像光路图

  • X 射线探测成像及脉冲 X 射线实现光电流衰减测量

  • TFT 集成的面阵 X 射线成像

  •  成像测量结果

( 三 ) 技术参数

稳态光谱及荧光寿命采集

基于皮秒X 射线和TCSPC 测量原理的方法

包含:皮秒脉冲激光器、光激发X 射线管、TCSPC 或条纹相机。

由皮秒脉冲激光器激发“光激发X 射线管”发射出X-ray 作用于样品上,样品发射荧光,经光谱仪分光之后,由探测器探测光信号,数据采集器读取数据。

皮秒X 射线测量荧光寿命原理图

纳秒脉冲X 射线

150KV 纳秒脉冲X 射线

* 安全距离要求:a:3 米,b:6 米,c:30 米

稳态和寿命测量数据

NaI 样品在管电压50KeV,不同管电流激发下的辐射发光光谱

纳秒X 射线激发的荧光衰减曲线

X 射线探测成像

X 射线探测成像光路图

X 射线探测成像及脉冲X 射线实现光电流衰减测量

TFT 集成的面阵X 射线成像


TFT 传感芯片规格


TFT 读取系统规格

成像测量结果

CMOS 成像实物图

分辨率指标:TYP39 分辨率卡的X 射线图像。测试1mm 厚的YAG(Ce) 时,分辨率可以优于20lp/mm

 

手机充电头成像测试


密码狗成像测试

技术参数

稳态X 射线激发发光测量

光源  

能量:4-50KV,功率:0-50W 连续可调,靶材:钨靶,铍窗厚度 200μm

样品位置辐射剂量:0-25Sv/h

光路

透射和反射双光路,可切换

光谱范围

200-900nm(可扩展近红外)

监视器

内置监视器方便观察样品发光,可拍照

快门

可控屏蔽快门,辐射光源最大功率下,关闭快门,样品位置辐射剂量小于

10uSv/h

辐射防护

满足国标《X 射线衍射仪和荧光分析仪卫视防护标准》(GBZ115-2023)

样品支架

配备粉末、液体、薄膜样品架

成像测量模块

成像面积:直径20mm(可定制更大面积:120mm×80mm)

成像耦合光路附件,样品测试夹具

相机参数:颜色:黑白,分辨率:20MP, 5472 (H) x 3648 (V),

像元尺寸:2.4μm×2.4μm,量子效率:84%@495nm,暗电流:0.001e-/pixel/s,

制冷温度:-15℃,成像分辨率:优于20lp/mm

瞬态X 射线激发发光测量

光源

皮秒脉冲X 射线源

纳秒脉冲X 射线源*

405nm ps 激光二极管:波长:100Hz-100MHz 可调,

峰值功率:400mW@ 典型值,脉冲宽度:<100ps

光激发X 射线光管:辐射灵敏度:QE10%(@400nm),靶材:钨,

操作电压:40KV,操作电流:10μA@ 平均值,50μA@ 最大值

电压:150KV

脉冲宽度:50ns

重复频率:10Hz

平均输出剂量率:2.4mR/pulse

数据采集器

TCSPC 计数器

条纹相机(同时获得光谱和寿命)

示波器


瞬时饱和计数率:100Mcps

时间分辨率(ps):16/32/64/128/

256/512/1024/…/33554432

通道数:65535

死时间:< 10ns

支持稳态光谱采集

数据接口:USB3.0

最大量程:1.08μs @16ps,

67.1μs@1024ps,

2.19s@33554432ps

 

光谱测量范围:200-900nm

时间分辨率:<=5ps,

( 最小档位时间范围+ 光谱仪光路系统)

探测器:同步扫描型通用条纹相机ST10

测量时间窗口范围:500ps-100us

( 十档可选)

工作模式:静态模式,高频同步模式以及

低频触发模式;

系统光谱分辨率:<0.2nm@1200g/mm

单次成谱范围:>=100nm@150g/mm

静态(稳态)光谱采集,

瞬态条纹光谱成像及荧光寿命曲线采集

模拟带宽:500 MHz

通道数:4+ EXT

实时采样率:5GSa/s( 交织模式),

2.5GSa/s( 非交织模式)

存储深度:250Mpts/ch( 交织模式),

125 Mpts/ch( 非交织模式)

 

寿命尺度

500ps-10μs

100ps-100μs

 100ns-50ms

X 射线探测成像

方式

CMOS 成像

单像素探测器

TFT 集成的面阵探测器

配置

成像耦合光路附件,样品测试夹具

相机参数:

颜色:黑白

分辨率:20MP, 5472 (H) x 3648 (V)

像元尺寸:2.4μm×2.4μm

量子效率:84%@495nm

暗电流:0.001e-/pixel/s

制冷温度:-15℃

XY 二维电动位移台:

XY5050:

行程:X 轴50mm,Y 轴50mm,重复定

位精度1.5μm,水平负载4Kg;

XY120120:

行程:X 轴120mm,Y 轴120mm,重复

定位精度3μm,水平负载20Kg

TFT 阵列传感芯片

(可提供直接型和间接型芯片):

背板尺寸(H×V×T):

44.64×46.64×0.5 mm,

有源区尺寸(H×V):32×32mm,

分辨率(H×V):64×64,

像素大小:500×500μm

TFT 读出系统:

成像规格:

解析度:64 行×64 列,

数据灰阶:支持256 灰阶显示,

数据通信方式:WIFI 无线通讯,

数据显示载体:手机/ 平板(Android 9.0

以上操作系统、6GB 以上运行内存)

辐射剂量

测定辐射计量表

探测器:塑料闪烁体, Ø30x15 mm

连续长期辐射:50 nSv/h ... 10 Sv/h

连续短期辐射:5 μSv/h ... 10 Sv/h

环境剂量当量测量范围:10 nSv ... 10 Sv

连续的短时辐射响应时间:0.03 s

相对固有误差:连续和短期辐射:±15% 最大

137 Cs 灵敏度:70 cps/(μSv·h-1 )

剂量率变化0.1 to 1 μSv/h 的反应时间 ( 精度误差 ≤ ±10%) < 2 s


光产额测量方案

闪烁晶体的光产额(也称为光输出或光子产额)是指晶体在受到电离辐射(如γ 射线、X 射线或粒子)激发后,发射光子(通常是可见光)的数量。光产额通常以每单位能量沉积产生的光子数来表示,单位可以是光子/MeV。

光产额是衡量闪烁晶体性能的重要参数之一,它是衡量闪烁体材料性能的重要指标之一,也直接关系到该材料在实际应用中的灵敏度和效率。常见的闪烁晶体包括碘化钠(NaI),碘化铯(CsI),和氧化镧掺铈(LaBr3)等。不同的晶体材料会有不同的光产额,这取决于其发光机制、能带结构、以及材料的纯度和缺陷等因素。研究闪烁体材料的光产额对于提高其性能、拓展其应用具有重要的意义。

一些常见闪烁晶体的光产额值如下:

碘化钠(NaI(Tl)):约38,000 photons/MeV

氯化铯(CsI(Tl)):约54,000 photons/MeV

氧化铈掺杂的氧化镧(LaBr3):约63,000 photons/MeV

钇铝石榴石掺杂铈离子(YAG:Ce):约14,000 photons/MeV

光产额越高,意味着该晶体能够在相同的能量沉积条件下产生更多的光子,从而在探测器中生成更强的信号,通常也会导致更好的能量分辨率。

卓立汉光提供一整套包含同位素源、屏蔽铅箱(被测器件及光路)、光电倍增管、高压电源、闪烁体前置放大器、谱放大器、多道分析仪及测试软件,实现闪烁体的光产额测量。

同位素源

Na-22(或  Cs-137 可选),屏蔽铅箱(被测器件及光路),充分保证测试人员安全

 

 

光电倍增管

 

 

光谱范围:160-650nm,有效面积:46mm 直径,上升时间:≤ 0.8ns

 

 

高压稳压电源

 

 

提供:0-3000V

 

 

闪烁体前置放大器 :

上升时间< 60ns

积分非线性≤ ±0.02%

计数率:250 mV 参考脉冲的增益偏移 <0.25%,同时应用 65,000/ 秒的 200 mV 随机脉冲的额外计 数速率,

前置放大器下降时间:信号源阻抗为 1 MΩ,则下降时间常数为 50 μs

 

 

谱放大器

高性能能谱,适合所有类型的辐射探测器(Ge、Si、闪烁体等) 积分非线性(单极输出): 从 0 到 +10V<0.025%

噪声:增益 >100 时,等效输入噪声 <5.0uV rms;手动模式下,增益> 1000 时,等效输入噪声

<4.5uV rms;或者自动模式下,增益 >100 时,等效输入噪声 <6.0uV rms

温度系数(0 到 50° C)单极输出:增益为 <+0.005%/'C,双极输出:增益为 <+0.07%/'C,直流电 平为 <+30μV/° C

误差:双极零交叉误差在 50:1 动态范围内 <±3 ns

增益范围:2.5-1500 连接可调,增益是 COARSE(粗调)和 FINE GAIN(微调增益)的乘积。

单极脉冲形状:可用开关为 UNIPOLAR(单极)输出端选择近似三角形脉冲形状或近似高斯脉冲形状。

配置专用 3kv 高压电源

 

 

2K 通道多道分析仪

ADC: 包括滑动标度线性化和小于 2us 的死区时间,包括存储器传输 积分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内≤士  0.025%。 差分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内小于士 1%。 增益不稳定性 :< 士 50 ppm/° C

死区时间校正 : 根据 Gedcke-Hale 方法进行的延长的实时校正。 USB 接口 :USB 2.0 到 PC 的数据传输速度最高可达 480Mbps

操作电脑

/

 

 

光学平台

 

 

尺寸:1500*1200*800mm

台面 430 材质,厚度 200mm,带脚轮。固有频率:7-18Hz,整体焊接式支架

售后服务
保修期: 1年
是否可延长保修期:
现场技术咨询:
免费培训: 提供免费操作培训
免费仪器保养: 1年免费保修服务人为造成的损坏除外
保内维修承诺: 提供724小时的维修服务响应
报修承诺: 最短72小时内更换零配件修复故障货物
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卓立汉光X射线探测装置X射线探测器的工作原理介绍

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型号:OmniFluo-FLIM系列

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工商信息

企业名称

北京卓立汉光仪器有限公司

企业信息已认证

企业类型

有限责任公司(法人独资)

信用代码

91110112102387306K

成立日期

1999-07-19

注册资本

5000万元

经营范围

生产、维修光谱仪及附件、光谱测量系统、精密位移台、光学调整架、光学平台;技术服务;技术检测(不含技术认证);技术推广;销售光谱仪及附件、光谱测量系统、精密位移台、光学调整架、光学平台;货物进出口、技术进出口、代理进出口;出租办公用房;委托加工光谱仪及附件、精密位移台、光学调整架、光学平台;租赁光学仪器专用设备。(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本区产业政策禁止和限制类项目的经营活动.)

联系方式
北京卓立汉光仪器有限公司为您提供卓立汉光X射线探测装置X射线探测器,卓立汉光X射线探测器产地为北京,属于X射线探测装置,除了闪烁晶体的光谱、寿命、成像、光产额测量的参数、价格、型号、原理等信息外,还可为您提供OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统,卓立汉光客服电话400-628-5299,售前、售后均可联系。
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公司名称: 北京卓立汉光仪器有限公司

公司地址: 北京市中关村科技园区通州园金桥产业基地环科中路16号,联东U谷中试区68号B座 联系人: 市场部 邮编: 101102 联系电话: 400-628-5299

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