MDPlinescan 在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测仪
MDPlinescan 在线晶圆片/晶锭点扫或面扫检测仪

¥80万 - 100万

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Freiberg Instruments

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MDPinlinescan

--

欧洲

  • 金牌
  • 第7年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

产品介绍▼

各种不同的样品,从单晶硅到多晶硅,从生长的晶片到加工过的晶片,都可以通过MDPlinescan使用少子寿命测量进行检测。

 

MDPlinescan是一个易于集成的OEM单元,可集成到各种自动化的检测线。关键的测量参数是实时的载流子寿命扫描。

 

样品通常由测量头下的传送带或机器人系统来输送。应用实例从晶锭到晶圆的检测,每个晶圆的测量速度小于一秒。

 

该仪器有许多专门应用可能性。由于其易于集成,只需要以太网连接和电源即可。例如,电池生产线上的来料质量检查是最常用的一种应用方向,同样,钝化和扩散后的工艺质量检查也能用到此款产品。

图片 1.png


特性▼

允许单片调查

配方的基础测量

监控材料质量、工艺的完整性和稳定性

 

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优势▼

μ-PCD或稳态激发条件下测量少数载流子寿命和电阻率是这个工具的重点。

用于集成在生产线的多晶或单晶硅晶圆,包括材料制备,和各种工艺处理阶段。

小尺寸和标准的自动化接口使集成变得容易。优势是长时间的可靠性和测量结果的高精度。
                                        

图片 2.png

 

技术参数▼

样品种类

多晶或单晶晶元片, 晶锭,晶胞

样品尺寸

大约50 x 50 mm2

电阻率

0.2 - 103 Ohm cm

电导类型

p, n

材质

硅晶圆,部分或完全加工晶圆,化合物半导体等

测量属性

载流子的少子寿命

硬件接口

ethernet

大小

174 x 107 x 205 mm, 重量: 3 kg

电源

24 V DC, 2 A


相关方案

  • 近年来碳化硅材料的质量有了很大的提高,在大功率器件中碳化硅已成为硅的竞争对手。由于碳化硅是一种宽带隙半导体,与硅相比,它有许多优点。少数载流子寿命是关系半导体器件性能的基本参数之一,特别是SiC在高压器件中的应用。因此,有必要进行寿命检测,以获得某一器件的顶配性能。

    半导体 2022-06-15

  • 近年来碳化硅材料的质量有了很大的提高,在大功率器件中碳化硅已成为硅的竞争对手。由于碳化硅是一种宽带隙半导体,与硅相比,它有许多优点。少数载流子寿命是关系半导体器件性能的基本参数之一,特别是SiC在高压器件中的应用。因此,有必要进行寿命检测,以获得某一器件的顶配性能。

    半导体 2022-06-15

售后服务承诺

保修期: 面议

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 面议

免费仪器保养: 面议

保内维修承诺: 面议

报修承诺: 面议

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Freiberg Instruments其他半导体检测仪MDPinlinescan的工作原理介绍

其他半导体检测仪MDPinlinescan的使用方法?

Freiberg InstrumentsMDPinlinescan多少钱一台?

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其他半导体检测仪MDPinlinescan使用的注意事项?

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Freiberg Instruments其他半导体检测仪MDPinlinescan的操作规程有吗?

Freiberg Instruments其他半导体检测仪MDPinlinescan报价含票含运吗?

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