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l 各种不同的样品,从单晶硅到多晶硅,从生长的晶片到加工过的晶片,都可以通过MDPlinescan使用少子寿命测量进行检测。
l MDPlinescan是一个易于集成的OEM单元,可集成到各种自动化的检测线。关键的测量参数是实时的载流子寿命扫描。
l 样品通常由测量头下的传送带或机器人系统来输送。应用实例从晶锭到晶圆的检测,每个晶圆的测量速度小于一秒。
l 该仪器有许多专门应用可能性。由于其易于集成,只需要以太网连接和电源即可。例如,电池生产线上的来料质量检查是其最常用的一种应用方向,同样,钝化和扩散后的工艺质量检查也能用到此款产品。
特性▼
l 允许单片调查
l 配方的基础测量
l 监控材料质量、工艺的完整性和稳定性
优势▼
l 在μ-PCD或稳态激发条件下测量少数载流子寿命和电阻率是这个工具的重点。
l 用于集成在生产线的多晶或单晶硅晶圆,包括材料制备,和各种工艺处理阶段。
l 小尺寸和标准的自动化接口使集成变得容易。优势是长时间的可靠性和测量结果的高精度。
样品种类 | 多晶或单晶晶元片, 晶锭,晶胞 |
样品尺寸 | 大约50 x 50 mm2 |
电阻率 | 0.2 - 103 Ohm cm |
电导类型 | p, n |
材质 | 硅晶圆,部分或完全加工晶圆,化合物半导体等 |
测量属性 | 载流子的少子寿命 |
硬件接口 | ethernet |
大小 | 174 x 107 x 205 mm, 重量: 3 kg |
电源 | 24 V DC, 2 A |
保修期: 面议
是否可延长保修期: 否
现场技术咨询: 有
免费培训: 面议
免费仪器保养: 面议
保内维修承诺: 面议
报修承诺: 面议
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