胀破仪

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胀破仪相关的厂商

  • 中科朴道技术北京有限公司
    中科朴道技术（北京）有限公司（以下简称“朴道技术”）是提供无损检测产品及服务供应商。业务涉及无损检测、传感、智能控制等领域。朴道技术基于客户需求不断创新，随需而变，为客户提供安全、精准的产品及配套服务，产品应用于冶金、铁路、船舶、航空、石油等领域。 朴道技术依托中科院、清华等科研机构，拥有持续创新、结构完善的研发团队。团队技术骨干具有承担国家重大科技项目的经历，具备丰富的仪器开发经验。在密切关注市场动向、把握客户需求的基础上，朴道技术不断丰富自身的产品线，为客户提供更为精准、快捷的一站式技术服务和完善的无损检测解决方案。 朴道技术信仰“立于诚、胜于专”，以质朴之道持续专注技术创新和专业支持体系，保障客户实现高效、便捷、稳定的质量控制，服务先进制造与安全生产。有能力，可信赖。
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  • 朴泰实验仪器（上海）有限责任公司 银牌1年
    400-860-5168转4315
    【品牌介绍】“马奎尔实验室/MACQUE LABORATORY”是朴泰实验仪器（上海）有限责任公司旗下品牌，公司以市场为导向，追求产品自主创新，是集研发、生产、销售服务于一体的实验室解决方案综合服务商。公司自设立以来，始终将技术创新、产品创新作为发展战略原点，以满足客户需求为核心，根据不同应用场景的差异化需要，提供专业化、系统化、自动化的液体处理整体解决方案。目前已覆盖临床诊断、科研学术、法医疾控、食品检测与农业等多个领域。公司持续投入用于产品研发，力争突破技术瓶颈，不断积累自动化核心技术，已成功建立了自动化样本前处理平台及智能核酸提取纯化平台。 现有产品包括，全自动液体处理工作站、核酸提取设备及配套试剂、移液器、细胞培养专业设备及生物医药检验常用设备等，同时提供非标仪器设备的定制服务。公司总部位于上海，在广州设立研发中心，拥有2000多平米的独立生产基地、及质检实验室。科研技术人员来源于国内外知名院校和研究机构，具有良好的专业背景和丰富的自动化仪器设备经验以及医疗器械研发实践经验。我们的产品在每一道工序与流程都有严格质量控制，我们长期服务于全国各大科研院校、科研机构、医院、工业客户，并受到一致的好评，实现长期战略合作。秉承“至臻至诚、精益求精”的精神，我们为成为专业的仪器设备综合服务商而不懈努力！期待与您的合作！
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  • 颇尔（中国）有限公司 白金9年
    400-860-5168转2279
    颇尔公司(Pall Corporation)于1946年由颇尔博士(Dr. David B Pall)创建于美国纽约，1957年颇尔公司在纽约股票市场上市(代码:PLL),是目前世界上最大的专注于过滤、分离、纯化技术及产品研制的跨国公司。颇尔产品遍及工业及生命科学的各个领域，具有从上游研发到下游大规模生产最完善的产品线，同时拥有全球权威的除菌过滤验证能力。颇尔公司以其专业、创新的优秀品质成为全球过滤领域的领导者。颇尔公司于1993年进入中国市场，并成立全资子公司——颇尔过滤器（北京）有限公司,2008年在上海张江药谷中心成立了颇尔全球第六大生命科学技术研发中心,为中国的生物研发和制药市场提供全球领先水平的技术支持服务.Pall Corporation is the technology leader in the $48 billion global filtration, separation and purification industry. Pall has become a $2.4 billion company by solving complex fluid management challenges for diverse customers around the world. We have been called the “original clean technology company” since many of our products deliver sustainable social benefits. Revenues are almost evenly split between the Industrial and Life Sciences markets. Sales are also diverse geographically, with Asia the fastest growing region.
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胀破仪相关的仪器

  • 织物胀破强度仪 400-860-5168转6216
    织物胀破强度仪主要用途：织物胀破强度仪利用测定针织物、机织物、非织造布、层压织物及其它工艺制造织物，在标准条件或湿态下的胀破强力和胀破扩张度。符合标准：GB/T 7742、FZ/T 60019、ISO 2960、ASTM/D 3786等测试原理：通过圆形夹持器将试样夹持在可延伸的膜片上，在膜片下面施加气体压力，使膜片和试样膨胀，以恒定速度增加压力，直到试样破裂，测得胀破强力和胀破扩张度。技术特点：1、采用空气动力，符合新国标，多个测试夹头可更；2、智能触摸屏控制，中英文人机界面，支持联机通讯；3、试样加持配气动夹样系统，省力，测试时试样不滑移。技术参数：1、测量范围：0.001~2Mpa；2、弹性膜片厚度：≤2mm；3、试验面积：7.3cm² 、10cm² 、50cm² 、100cm² ；4、扩张度范围：70±0.02mm；5、加压速率：(100-500)ml/min，可分段编辑程序调节；6、测试方法：定速胀破，定压力，定扩张度三种测试方式；7、测试单位：kpa、kgf/cm、atm、mmHg、lb/in自由转换；8、输出形式：打印输出、显示输出、支持联机通讯；9、电源：AC220V，50Hz，2000W。10、胀破仪尺寸760*550*850mm1. 范围GB/T7742的本部分规定了测定织物胀破强力和胀破扩张度的方法,包括测定调湿和浸湿两种试样胀破性能的程序。注:液压法在 GB/T7742的第1部分中规定。本部分适用于针织物、机织物、非织造布和层压织物,也适用于由其他工艺制造的各种织物。现有数据表明,当压力不超过800kPa时,采用得到的胀破强力结果没有明显差异。这个压力范围包括了大多数普通服装的性能水平。对于要求胀破压力较高的特殊纺织品, 液压法更为适用。2. 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T6529 纺织品 调湿和试验用标准大气GB/T6682 分析实验室用水规格和试验方法GB/T19022 测量管理体系 测量过程和测量设备的要求3. 试验面积 （test area ）试样在圆环夹持器内的面积。3.1胀破压力 bursting pressure(pressure at burst)施加于与下垫膜片夹持在一起的试样上,直至试样破裂的最大压力。3.2胀破强力 bursting strength(strength at burst)从平均胀破压力减去膜片压力得到的压力。3.3膜片压力 diaphragm pressure在无试样的情况下,施加于膜片上使其达到试样平均胀破扩张度所需的压力。3.4胀破扩张度 bursting distension(distension at burst)试样在胀破压力下的膨胀程度,以胀破高度表示。3.5胀破高度 height at burst膨胀前试样的上表面与在胀破压力下试样的顶部之间的距离。3.6胀破时间 time to burst膨胀到试样破裂时所需的时间。4. 原理将试样夹持在可延伸的膜片上,在膜片下面施加压缩,使膜片和试样膨胀。平稳地增加直到试样破裂,测得胀破强力和胀破扩张度。5. 试样根据产品标准规定,或根据有关各方协议取样。如果产品标准中没有规定,作为示例,附录 A 中给出一个合适的选取试样部位的方法。试样应避免折叠、折皱、布边或不能代表织物的部位。使用的夹持系统一般不需要裁剪试样即可进行试验。6. 仪器6.1 胀破仪的计量确认应根据 GB/T19022进行。6.2 仪器应该能够增加气体压力以获得(20±5)s试验胀破时间,为了根据胀破时间调节气体流速,除 了仪器的主要气体控制阀之外,还需要一个指示控制阀。6.3 胀破压力大于满量程的20%时,其精度为满量程的±2%。6.4 胀破高度小于70mm 时,其精度为±1mm。试验开始时,测量隔距的零点应可调节,以适应试样厚度。6.5 试验面积应使用50cm2(直径79.8mm)。如果优先的试验面积在现有设备上不适用,或由于织物具有较大或较小的延伸性能,或有多方协议 的其他要求,也可使用100cm2(直径112.8mm)、10cm2(直径35.7mm)、7.3cm2(直径30.5mm)等其 他试验面积。6.6 夹持装置应能可靠的夹持试样,使试样在试验过程中不出现损伤、变形和滑移。夹持环应使高延 伸织物(其胀破高度大于试样直径的一半)的圆拱不受阻碍。试样夹持环的内径精确至±0.2mm,为避免试样损坏,建议夹持环与试样接触的内径边缘呈圆角。6.7 在试验过程中,安全罩应能包围夹持装置,并能清楚地观察试验过程中试样的延伸情况。6.8 膜片应符合下列要求:厚度小于2mm 具有高延伸性 膜片使用数次后,在胀破高度范围内应具有弹性(在试验过程中观察)。7. 调湿和试验用大气预调湿、调湿和试验用大气按 GB/T6529规定执行。湿态试验不要求预调湿和调湿。8. 试验步骤8.1 样品在试验前,应按第7章规定在松驰状态下调湿。在试验过程中,保持试样在第7章中规定的调湿和试验用大气中。8.2 试验面积为50cm2(见6.5)。注1:对大多数织物,特别是针织物,试验面积50cm2 是合适的。对具有低延伸的织物(根据经验或预试验),如产业用织物,推荐试验面积至少100cm2。当该条件不能满足或者不适合的情况下,如果双方协议,可使用6.5中的试验面积。 (注2:要求在相同试验面积下进行比较试验。)8.3 调节胀破仪的控制阀以使试样胀破的平均时间在(20±5)s之内。可能需要进行预试验来对控制阀进行准确设置。要记录试样从开始起拱到破裂时的胀破时间。8.4 将试样放置在膜片上,使其处于平整无张力状态,避免在其平面内的变形。用夹持环夹紧试样,避免损伤,防止在试验中滑移。将扩胀度记录装置调整至零位,根据仪器的要求固定安全罩。对试样施加压力,直到其破裂。试样破坏后,关闭主气控制阀,记录胀破压力和胀破高度。如果试样的破裂接近夹持环的边缘,则记录该情况。试样在夹持线2mm 以内发生破裂时,应舍弃此次试验结果。在织物的不同部位进行试验,至少5次有效试验。如果双方同意,也可增加试验数量。8.5 膜片压力的测定。采用与上述试验相同的试验面积以及相同的设置条件,在没有试样的条件下,膨胀膜片,直至达到有试样时的平均胀破高度。以此胀破压力作为“膜片压力”。8.6 湿态试验。湿态试验的试样放在温度(20±2)℃、符合 GB/T6682的三级水中浸渍1h,热带地区可使用 GB/T6529中规定的温度。也可用每升不超过1g的非离子湿润剂的水溶液代替三级水。将试样从液体中取出,放在吸水纸上吸去多余的水后,立即按8.2~8.5进行试验。9. 结果的计算和表示9.1 计算胀破压力的平均值,以千帕(kPa)为单位。从该值中减去膜片压力(见8.5),得到胀破强力,结果修约至三位有效数字。9.2 计算胀破高度的平均值,以毫米(mm)为单位,结果修约至两位有效数字。9.3 如果需要,计算胀破压力和胀破高度的变异系数 CV 和95%的置信区间。变异系数修约至0.1%, 置信区间与平均值的有效数字相同。10. 试验报告10.1 试验报告包括一般内容和试验结果。10.2 一般内容包括:a) 本部分的编号 b) 如果需要,试样的描述和取样程序 c) 胀破仪的型号 d) 试验面积,以平方厘米表示 e) 有效试样数量、接近夹持器的破裂数量和舍弃的试验数量 f) 胀破性能的观察情况(如:一个或两个纱线方向破坏) g) 试样状态(调湿或湿态)、与膜片接触的面 10.3 试验结果包括:a) 平均胀破强力,以千帕表示 b) 平均胀破高度,以毫米表示 c) 如果需要,相关的变异系数,以百分比表示 d) 如果需要,95%的置信区间
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    厂商： 上海程斯智能科技有限公司
    品牌： 程斯/CSI
    型号： CSI-229
    价格： 5万元
  • 气动胀破强度测试仪 400-679-1853
    PnuBurst 气动胀破强度测试仪可以提供无以伦比的测试功能。PnuBurst可以克服传统胀破测试仪的不足之处。 所有这一切都包含在这个容量为1500 kPa（200 psi）的气动测试仪中。 特点：夹取压力 - 根据标准要求调整样品夹取压力 自动流量控制 - 确保样品在标准要求的时间内达到胀破效果 隔膜校正 - 可减去仅胀破隔膜时所需的压力 激光测距 - 许多测试需要胀破点的高度 Marks&Spencer认证 - 符合M&S的要求，并将其与许多其他标准预存入软件中 循环测试软件 - 用于增加弹性织物数量的三维拉伸试验全彩触摸屏控制器使用方便，提供全套测试控制 预装标准测试夹取压力实际胀破压力的隔膜校正计算自动流量控制在正确的时间内达到胀破点多种语言 - 英语、中文、西班牙语、土耳其语多种测试杯 七种尺寸的测试杯涵盖所有主要标准。 需要订购别的尺寸 - 请告知我们。仪器可自动识别测试杯和夹持环的尺寸是否匹配，以避免偏移。测试杯和夹持环可不使用任何工具进行更换。ElastiTest弹性测试软件显示了织物在受到三维拉伸时如何保持它的弹性、强度与复原度。 用户可以通过选择如下创建自定义测试： 膨胀高度或膨胀压力 膨胀率 保持时间 释放率 复原时间 循环次数 结果显示膨胀测量（如果压力已设定）或压力测量（如果膨胀已设定）以及在复原时的织物装袋的膨胀。
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    厂商： 锡莱-亚太拉斯有限公司 SDL Atlas Ltd.
    品牌： SDLATLAS
    型号： M229P
    价格： 10万 - 30万元
  • 气压自动胀破测试仪 400-860-5168转2555
    气动自动胀破强度测试仪用途：用于测定针织、梭织、无纺布、纸张、卡板纸在气压胀破时的压力值和胀破高度。标准：ASTM D3786-06、ISO 13938-2、ISO 2758、 EDANA 80.3-99、NEXT 22 2006、 IWS TM29、GB/T7742.2：2015， Woolmark TM29特点：使用高精度压力传感器测量样品压力，使用非接触式位移传感器测量样品鼓起高度及被胀破时的高度。 高质量进口透明测试杯，外加LED照明，可以全方位观察样品的测试状态。规格：1、测试压力范围：100kPa-1500kPa（或200psi） 2、测试高度：70mm 3、测试杯尺寸：7.1cm2（直径30mm）、7.3cm2（直径30.5mm）、7.55cm2（直径31mm）、10cm2（直径35.7mm）、50cm2（直径79.8mm）、100cm2（直径113mm） 4、测试杯夹持控制方式：脚踏开关、双按钮控制以及触摸屏软件控制 12、四种测试模式可供选择：自动、手动（玛莎测试）、定位移胀破、定压力往复测试模式尺寸(长*宽*高cm) ：48*57*80重量(kg)：90 安装要求：1、电源：AC 220V 50Hz 500W2、环境：20±2℃ 、65%±4%3、操作：实验台4、气体要求：压缩空气
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    厂商： 天津尼科斯测试技术有限公司
    品牌： 尼科斯/NYX
    型号： RF 306A 1
    价格： 面议
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胀破仪相关的资讯

  • SDL Atlas推出经济、好用的PnuBurst胀破强度测试仪
    ROCK HILL, S.C. – SDL Atlas一直致力于技术创新，开发新的台式 PnuBurst测试仪器，此仪器内已预先设定好测试程序，使用便捷，非常适合只需要一般性爆破测试的客户群体，但不可代替受许多企业青眯的AutoBurst测试仪器。　　不管是公司新型号PnuBurst胀破强度测试仪，还是公司原有型号AutoBurst数字式自动胀破强度测试仪，都符合国际安全与测试标准。可用于检测梭织、无纺布、纸、纸板和薄膜，具有重复性和准确性。　　PnuBurst属于经济的台式爆破测试仪 主要采用气动爆破装置 彩色触摸屏 用户预先选择好测试要求、自动测试夹持杯尺寸和探测夹持环，然后按要求预先设定程序控制。 PnuBurst操作非常方便，爆破测试功率达到1500kPa (15bar, 217psi.) 。　　配有USB 端口、数据线和可随身带的软件，方便用户保存和分析测试数据，通过简单地观测和记录PnuBurst显示屏上的结果，就可简化日常的工作。　　对于需要更为复杂爆破测试的用户，SDL Atlas的全自动AutoBurst数字式自动胀破强度测试仪，采用传统的液压技术，功率达到6000kPa (60bar, 870psi)– 性能明显优于其他品牌同类产品。AutoBust可检测纸、服饰用纺织品、技术纺织品和其它对爆破强度要求相当重要的相关材料。　　此外关于测试夹持杯的选择，SDL Atlas的爆破测试仪可测最大面积达到直径为 70mm – 对弹性织物的精确测试至关重要。　　SDL Alta可为用户提供一站式的全面的纺织测试品、物料、消耗品及服务。我们在英国、美国、香港及中国均设有办事处，并在全球100多个国家设有代理处。SDL Atlas可以为全球各地的客户提供全方位的服务。我们的目标是为客户提供最优惠、最完善的解决方案。
    时间： 2009-10-30
    作者： 锡莱亚太拉斯
  • 上市首日“破发”和“涨停”的仪器企业盘点
    仪器仪表是人们对客观世界的各种信息进行测量、采集、分析与控制的手段和设备，是类了解世界和改造世界的基础工具。随着我国传统产业持续转型升级、新兴产业加快发展、人民生活水平不断改善，重大工程、工业装备、智能制造、生命医药、新能源、海洋工程、核电、科技研究、环境治理、检验检疫等领域对仪器仪表的需求将进一步扩大，我国仪器仪表行业迎来了前所未有的发展机遇。随着仪器仪表行业规模的不断扩大，不断有的国产仪器企业希望资本的垂青、登陆资本市场。但由于上市时的经济环境、行业状况、专利纠纷等影响，一些企业出现了首日“破发”和“涨停”等情况。对此仪器信息网对公开信息进行梳理，统计了国产仪器企业上市首日“破发”和“涨停”情况，以飨读者。（信息采自网络公开信息，统计数据可能不全，欢迎联系补充，邮箱：kangpc@instrument.com.cn）上市首日破发的企业厂商名称股票代码上市时间交易所跌幅高德红外0024142010/7/16深交所中小板2.04%天瑞仪器3001652011/1/25深交所创业板16.68%理邦仪器3002062011/4/21深交所创业板5%美亚光电0026902012/7/31深交所中小板9.71%同惠电子8335092021/1/11北交所0.63%思林杰6881152022/3/14上交所科创板23.67%新股破发中的发，是指股票的发行价格。新股破发是指股票发行上市当日就跌破发行价，在一级市场申购中签的股民也是要赔钱的。简而言之就是最新的股票跌破发行价。主要原因是多方面的，有股市大背景下的行情不好。也有本只股票盈利率不被看好。以上破发企业主要集中于12年及之前和21年之后，这可能和股市大背景有关，很难反映出其真实股价，在之后股票会逐渐回归应有的价值。这其中，理邦仪器在发行前被提起侵犯知识产权的诉讼，其上市首日的走势，反映了专利权诉讼给市场带来的短期心理影响。需要注意的是，同惠电子是在新三板精选层挂牌，而在2021年北交所成立后，精选层挂牌公司全部转为北交所上市公司，而新三板基础层、创新层依然是全国性证券场所，基础层、创新层公司仍然是非上市公众公司。上市首日涨停的企业厂商名称股票代码上市时间交易所川仪股份6031002014/8/5上交所主板三德科技3005152016/6/8深交所创业板安图生物6036582016/9/1上交所主板华大基因3006762017/7/14深交所创业板永新光学6032972018/9/10上交所主板迈瑞医疗3007602018/10/16深交所创业板钢研纳克3007972019/11/1深交所创业板力合科技3008002019/11/6深交所创业板泰林生物3008132020/1/14深交所创业板华盛昌0029802020/4/15深交所中小板涨跌停板制度源于国外早期证券市场，是证券市场中为了防止交易价格的暴涨暴跌，抑制过度投机现象，对每支证券当天价格的涨跌幅度予以适当限制的一种交易制度，规定了交易价格在一个交易日中的最大波动幅度为前一交易日收盘价上下百分之几。即规定当日交易最高价格和最低价格。在中国A股市场，股票上市首日有效申报价格不得高于发行价格的144%，即新股上市首日涨幅限制为44%。需要注意的是，关于新股上市首日涨跌幅的限制是在2014年1月1日后实行的。上交所，在盘中价格首次涨跌幅达到10%的时候，出现临时停牌30分钟，首次涨跌幅达到20%的时候，停牌当日的下午2点55分。深交所在首日收盘的时候，不是集合竞价而是集合定价，以下午2点57分成交价为定价，根据时间来对于申报进行一次性的集中交易。在新股首次涨跌幅达到10%，停牌30分钟 达到20%的时候，停牌到到当日下午2点57分。此外，科创板新股上市第一到第五个交易日没有涨跌幅限制，从第六个交易日开始，涨跌幅限制为20%，当盘中交易价格较开盘价格上涨或下跌幅度首次达到30%或60%时，会触发一次临时停牌。单次盘中临时停牌的持续时间为10分钟。科创板设立于上海证券交易所，于2019年6月13日正式开板。科创板的创立为仪器企业提供了更合适的融资渠道，诸多仪器企业赴科创板上市融资，由此在19年之后掀起了一波仪器企业的上市潮，这些企业由于前景被资本看好，在首日上市变迎来股价暴涨。在此暂不对科创板上市仪器企业做统计。股市有风险，投资需谨慎！
    时间： 2022-03-31
    作者： KPC
  • “产学研结合障碍须立法突破”
    今年两会上，全国人大代表、上海交通大学党委书记马德秀提交了一份制定《产学研合作促进法》的议案，这是我国首份制定关于产学研立法的建议。《科学时报》记者为此采访了马德秀。　　马德秀说：“从1992年起，国家经贸委、国家科委、国家教委和中国科学院等部门开始组织实施产学研联合开发工程。近年来，产学研合作活动日益活跃，合作模式不断创新，取得了长足进步。但是，从产学研的合作模式到运行机制，从利益分配原则、风险分配机制到知识产权保护，还存在着许多亟待解决的问题。尽管产学研合作的政策法律环境逐步改善，但尚未形成优化和完善的制度环境。”　　马德秀建议，有必要将《产学研合作促进法》的制定列入全国人大常委会立法的重要议程，为建立企业为主体、市场为导向、产学研相结合的技术创新体系提供强大的法律保障。　　立法时机成熟　　马德秀说，产学研合作不仅是围绕技术创新而展开的一系列经济行为的总和，也是一系列法律行为的综合，涉及到多种新的法律关系。这些法律关系或单独、依次呈现，或交叉错综呈现，往往不能通过市场行为自发解决，需要通过一系列法律制度的安排，确立必要的准则，规范和约束产学研合作行为，促进和推动产学研合作的健康、可持续发展。　　“当前，我国已具备制定《产学研合作促进法》的条件。”马德秀认为。　　马德秀举例说，我国修订后的《科学技术进步法》第三十条就明确规定：“国家建立以企业为主体，以市场为导向，企业同科学技术研究开发机构、高等学校相结合的技术创新体系，引导和扶持企业技术创新活动，发挥企业在技术创新中的主体作用。”构建和完善促进产学研合作的法律平台已列入新时期大政方针。因此，对于技术转移与科技成果转化最为有效的产学研结合创新进行法律规范十分必要。　　经过多年的探索和实践，我国产学研合作取得了长足进步，呈现出强劲发展势头，这为促进产学研合作立法创造了良好条件。　　立法突破产学研三大障碍　　“产学研结合虽是老话题，但在后危机时代的今天，应赋予更为重要的历史使命和科学内涵。”马德秀认为，制定《产学研合作促进法》就是要从立法上突破产学研的三大障碍。　　障碍一是体制机制。　　当前，我国科技成果转化率不到20%，产业化不到5%，而发达国家技术转移高达40%～50%。我国科技成果转化的最大障碍是体制机制。　　首先是产学研利益保障机制不健全。由于各类创新主体的职责和权益界定不清，对共同投入、成果分享，技术、市场、管理等风险分担的机制不健全，缺乏法律约束，导致产学研结合难以持续。　　其次是政府发挥引导与协调作用不够。产学研结合没有专门的促进政策，信息和中介服务体系不完善。政府在产学研结合的资源配置上缺乏明确导向，特别是在对多项技术集成创新和产业技术创新链的资源配置上，“贴牌”现象较多。　　再次是引导产学研结合的评价激励机制有待完善。长期以来，学术至上“一刀切”的评价标准，造成了业绩考核中轻视企业服务、项目管理中轻视横向科研的“两个不平等” 同时，企业也缺乏合作创新意识，从而制约了产学研结合的积极性。　　马德秀建议，应适时制定我国《产学研合作促进法》，确立必要的准则，以促进产学研结合的健康、可持续发展。　　障碍二是合作模式。　　离子膜是我国氯碱工业和新能源汽车的核心材料，国家曾组织攻关10年都没有获得突破。几十家单位松散地合作，都怕投入过多而吃亏，造成研发工作始终在实验室兜圈子。上海交大教授张永明在学校支持下，与民营企业东岳集团组成强大的产学研联盟，以市场为导向，完成了从实验室研究到工程化技术的重大突破，打破了美国杜邦公司的长期垄断。2005年作为山东省一号工程，迈出了官产学研用的重要一步，现已实现产业化并荣获省科技发明一等奖。　　“令人担忧的是，这样成功的例子还不多。从这个实例中我们深切感受到：产业技术创新投入高、风险大、系统性和复杂性强，要求参与单位之间形成持续稳定的合作关系。而目前‘年度性’和‘单个项目制’的产学研结合难以适应这一要求。”马德秀说。　　马德秀建议，应从三个着力点实现产学研合作模式的突破：一要聚焦产业高端，建立共性关键技术重大平台。紧紧围绕国家重大战略需求，成立官产学研用战略联盟，集中力量加强攻关，实现“抱团创新”，提升行业整体创新水平。　　二要着眼于抢占未来科技创新制高点，瞄准企业明天甚至后天的技术难题，政府给予政策或资金支持，建立企业与高校的联合研发实体。比如，在上海市的积极支持下，上海交大以全新的体制机制，以潜在的市场需求为导向，与国家电网、上海电气、新奥集团、华锐风电等，有效整合人才、技术、资本等创新要素，与闵行区共同成立上海紫竹新兴产业技术研究院。通过加强前瞻性技术研发，引领新能源等新兴产业的发展。　　三要积极扶持中小企业创新。民营科技型中小企业具有很强的市场适应性，且富有创新的激情和活力。国家要加大对科技型中小企业的政策扶持力度，完善银行信贷、担保和服务体系，以确保中小企业能够成为推进产学研合作新的生力军。　　障碍三是人才培养。　　近年来，我国科研人员数量增长较快，2007年全国研发人员达到173.6万人，仅次于美国。但适应科学前沿和产业高端创新要求的高素质人才，尤其是拔尖人才，缺口依然很大。根据国家中长期人才发展规划，到2015年，我国仅在装备制造、信息、生物技术、新材料、新能源、航空航天、海洋、环保等八大领域的急需紧缺人才，就需新增100多万人。　　“创新型科技人才，仅靠高校关起门来培养肯定不行，必须走产学研合作的道路。”马德秀认为，首先应开放办学，在教育发展的体制机制上进一步适应生产力发展、变革的新要求，加大学科链与产业链的对接。　　其次，政府要支持高校在企业建立实习训练基地，让学生在与企业的合作中开阔眼界，在实践中锻炼和提高他们发现问题、凝练问题、解决问题的能力。比如，围绕中央领导高度重视并多次批示的大型锻件技术难题，上海交大在上海电气重工设立了3个院士工作站，经过两年多的产学研合作，不仅解决了大型锻件的有无问题，突破了国外技术封锁，还培养出一批优秀的研究生。
    时间： 2010-03-15
    作者： 刘玉兰
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    [b]织物胀破测试[/b]仪指织物在一垂直平面的负荷作用下，鼓起、扩张进而破裂的时的强度和高度。胀破仪适用在梭织、针织、无纺布、纸张、板材、薄膜等产品行业。 胀破仪在检测行业也是重要的检测指标之一，目前胀破仪主要分为两种：1.种是液压胀破测试仪；2.气压胀破测试仪 他们最主要的区别就是用的介质不用，同时结果也没有可对比性。A.液压胀破测试仪主要使用的介质是甘油（85%），通过甘油的以一定的上升速率，将测试样品瞬间爆裂时的力值和高度。目前主要有类有机械式：；全自动式： 主要测试标准：ASTM D3786-06、BS 3424-6-B、ISO 13938-1、ISO 3303-B、 ERT 80-4.02、GB/T 7742.1 B.气压胀破测试仪主要是通过空气压缩机恒定速率通过测试样品的瞬间爆破力值和高度。 目前主要作为液压胀破测试仪补充型设备使用，采用该检测方法的相对还比较少。主要测试一些胀帐篷，降落伞等方面的胀破强力。 主要使用标准：ASTMD 3786 ,ISO 13938.2,ISO 2758,GB/T7742.2

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    Nalgene 6304 PolyPaper 塑料纸张?这种类型的纸张在低温下也可保持柔韧性，可随意卷曲折叠而不会破裂。且永不裂开、伸长或收缩。可以打孔装订使用，或者裁成标签封入化学或生物样品（干湿皆可），也可保存在福尔马林溶液中。PolyPaper 塑料纸张接受各种笔类书写工具、打印、平版印刷或凸版印刷*。目录编号6304-9811 产品插页为无涂层塑料纸，可用于复印机或激光打印机。目录编号6304-0811 产品中为有涂层塑料纸，可以使用铅笔书写。* 有关打印的详细信息，请阅读包装标签上的说明。订货信息：Nalgene 6304 PolyPaper 塑料纸张目录编号 6304-0811-9811页面尺寸，mm216×279216×279页面尺寸，in.8-1/2×118-1/2×11每盒数量100-每箱数量500300
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  • 热膨胀芯(TEC)光纤跳线
    热膨胀芯(TEC)光纤跳线特性热膨胀芯增大了模场直径(MFD)，便于耦合不仅更容易进行自由空间耦合，还能保持单模光纤的光学性能工作波长范围：980 - 1250 nm或1420 - 1620 nm光纤的TEC端镀有增透膜，以减少耦合损耗库存的光纤跳线：2.0 mm窄键FC/PC(TEC)到FC/PC接头2.0 mm窄键FC/PC(TEC)到FC/APC接头具有带槽法兰的?2.5 mm插芯到可以剪切的裸纤如需定制配置，请联系技术支持Thorlabs的热膨胀芯(TEC)光纤跳线进行自由空间耦合时，对位置的偏移没有单模光纤那样敏感。利用我们的Vytran® 光纤熔接技术，通过将传统单模光纤的一端加热，使超过2.5 mm长的纤芯膨胀，就可制成这种光纤。在自由空间耦合应用中，光纤经过这样处理的一端可以接受模场直径较大的光束，同时还能保持光纤的单模和光学性能(有关测试信息，请看耦合性能标签)。TEC光纤经常应用于构建基于光纤的光隔离器、可调谐波长的滤光片和可变光学衰减器。我们库存有带TEC端的多种光纤跳线可选。我们提供两种波长范围：980 nm - 1250 nm 和1460 nm - 1620 nm。光纤的TEC端镀有增透膜，在指定波长范围内平均反射率小于0.5%，可以减少进行自由空间耦合时的损耗。光纤的这一端具有热缩包装标签，上面列出了关键的规格。接头选项有2.0 mm窄键FC/PC或FC/APC接头、?2.5 mm插芯且可以剪切熔接的裸光纤。?2.5 mm插芯且可以剪切的光纤跳线具有?900 μm的护套，而FC/PC与FC/APC光纤跳线具有?3 mm的护套(请看右上表，了解可选的组合)。我们也提供定制光纤跳线。更多信息，请联系技术支持。自由空间耦合到P1-1550TEC-2光纤跳线光纤跳线镀有增透膜的一端适合自由空间应用(比如，耦合)，如果与其他接头端接触，会造成损伤。此外，由于镀有增透膜，TEC光纤跳线不适合高功率应用。清洁镀增透膜的接头端且不损坏镀膜的方法有好几种。将压缩空气轻轻喷在接头端是比较理想的做法。其他方法包括使用浸有异丙醇或甲醇的无绒光学擦拭纸或FCC-7020光纤接头清洁器轻轻擦拭。但是请不要使用干的擦拭纸，因为可能会损坏增透膜涂层。Item #PrefixTECEnd(AR Coated)UncoatedEndP1FC/PC (Black Boot)FC/PCP5FC/PC (Black Boot)FC/APCP6?2.5 mm Ferrule with Slotted FlangeScissor CutCoated Patch Cables Selection GuideSingle Mode AR-Coated Patch CablesTEC Single Mode AR-Coated Patch CablesPolarization-Maintaining AR-Coated Patch CablesMultimode AR-Coated Patch CablesHR-Coated Patch CablesStock Single Mode Patch Cables Selection GuideStandard CablesFC/PC to FC/PCFC/APC to FC/APCHybridAR-Coated Patch CablesThermally-Expanded-Core (TEC) Patch CablesHR-Coated Patch CablesBeamsplitter-Coated Patch CablesLow-Insertion-Loss Patch CablesMIR Fluoride Fiber Patch Cables耦合性能由于TEC光纤一端的纤芯直径膨胀，进行自由空间耦合时，它们对位置的偏移没有标准的单模光纤那样敏感。为了进行比较，我们改变x轴和z轴上的偏移，并测量自由空间光束耦合到TEC光纤跳线和标准光纤跳线时的耦合损耗(如右图所示)。使用C151TMD-C非球面透镜，将光耦合到标准光纤和TEC光纤。在980 nm 和1064 nm下，测试使用1060XP光纤的跳线和P1-1060TEC-2光纤跳线，同时，在1550 nm下，测试使用1550BHP光纤的跳线和P1-1550TEC-2光纤跳线。通过MBT616D 3轴位移台，让光纤跳线相对于入射光移动。下面的曲线图展示了所测光纤跳线的光纤耦合性能。一般而言，对于相同的x轴或z轴偏移，TEC光纤跳线比标准跳线的耦合损耗低。而在x轴或z轴偏移为0 μm 时，标准跳线与TEC跳线的性能相似。总而言之，这些测试结果表明，TEC光纤对光纤位置的偏移远远没有标准光纤那样敏感，同时还能在zui佳光纤位置保持相同的耦合损耗。请注意，这些测量为典型值，由于制造公差的存在，不同批次跳线的性能可能有所差异。测量耦合性能装置的示意图。上图显示了用于测量耦合性能的测试装置。1060XP标准光纤和P1-1060TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。1060XP标准光纤和P1-1060TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。11550BHP标准光纤和P1-1550TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。关于特定应用中光纤功率适用能力的深入讨论，请联系技术支持。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件，紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同，与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小，耦合单模(SM)光纤时尤其如此，因此，对于给定的功率密度，入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值：一种理论损伤阈值，一种"实际安全水平"。一般而言，理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下，可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的，但用户必须遵守恰当的适用性说明，并在使用前在低功率下验证性能。计算单模光纤和多模光纤的有效面积单模光纤的有效面积是通过模场直径(MFD)定义的，它是光通过光纤的横截面积，包括纤芯以及部分包层。耦合到单模光纤时，入射光束的直径必须匹配光纤的MFD，才能达到良好的耦合效率。例如，SM400单模光纤在400 nm下工作的模场直径(MFD)大约是?3 μm，而SMF-28 Ultra单模光纤在1550 nm下工作的MFD为?10.5 μm。则两种光纤的有效面积可以根据下面来计算：SM400 Fiber:Area= Pi x (MFD/2)2= Pi x (1.5μm)2= 7.07 μm2= 7.07 x 10-8cm2 SMF-28 Ultra Fiber:Area = Pi x (MFD/2)2= Pi x (5.25 μm)2= 86.6 μm2= 8.66 x 10-7cm2为了估算光纤端面适用的功率水平，将功率密度乘以有效面积。请注意，该计算假设的是光束具有均匀的强度分布，但其实，单模光纤中的大多数激光束都是高斯形状，使得光束中心的密度比边缘处更高，因此，这些计算值将略高于损伤阈值或实际安全水平对应的功率。假设使用连续光源，通过估算的功率密度，就可以确定对应的功率水平：SM400 Fiber:7.07 x 10-8cm2x 1MW/cm2= 7.1 x10-8MW =71mW(理论损伤阈值) 7.07 x 10-8cm2x 250 kW/cm2= 1.8 x10-5kW = 18mW(实际安全水平)SMF-28 UltraFiber:8.66 x 10-7cm2x 1MW/cm2= 8.7 x10-7MW =870mW(理论损伤阈值)8.66 x 10-7cm2x 250 kW/cm2= 2.1 x10-4kW =210mW(实际安全水平)多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果，Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大，降低了光纤端面的功率密度，因此，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。Estimated Optical Power Densities on Air / GlassInterfaceaTypeTheoretical DamageThresholdbPractical SafeLevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2a.所有值针对无终端(裸露)的石英光纤，适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。b.这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前，必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性，因其与系统有着紧密的关系。c.这是在大多数工作条件下，入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如，光纤跳线)，而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如，右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下，两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线)，而在1550 nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤，有效模场由纤芯直径确定，一般要远大于SM光纤的有效模场。因此，其光纤端面上的功率密度更低，较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变，这样，多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意，曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是，光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过，这样的应用一般需要专业用户，并在使用之前以较低的功率进行测试，尽量降低损伤风险。但即使如此，如果在较高的功率水平下使用，则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外，光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件，因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射，光在某个区域就会射出光纤，这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高，会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤，允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导，从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角，射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出，从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤，它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象，一般发生在紫外或短波长可见光，尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加，衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知，但可以采取一些列措施来缓解。例如，研究发现，羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化，其它掺杂物比如氟，也能减少光暗化。即使采取了上述措施，所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生，因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。MFD定义模场直径的定义模场直径(MFD)是对在单模光纤中传播的光的光束尺寸的一种量度。它与波长、纤芯半径以及纤芯和包层的折射率具有函数关系。虽然光纤中的大部分光被限制在纤芯内传播，但仍有极小部分的光在包层中传播。对于高斯功率分布，MFD是指光功率从峰值水平降到1/e2时的直径。MFD的测量通过在远场使用变孔径法来完成MFD的测量。在光纤输出的远场处放置一个通光孔径，然后测量强度。在光路中放置连续变小的通光孔径，测量每个通光孔径下的强度水平；然后以功率和孔径半角(或数值孔径)的正弦为坐标作图得到数据。使用彼得曼第二定义确定MFD，该数学模型没有假设功率分布的特定形状。使用汉克尔变换可以从远场测量值确定近场处的MFD大小TEC光纤跳线，980 nm - 1250 nmItem #Fiber TypeOperating WavelengthMode Field DiameteraAR CoatingbMax AttenuationcNAdCladding/Coating DiameterConnectorsJacketTECStandardTECStandardP1-1060TEC-21060XP980 - 1250 nm12.4 ± 1.0 μm6.2 ± 0.5 μm850 - 1250 nm≤2.1 dB/km @ 980 nm≤1.5 dB/km @ 1060 nm0.070.14125 ± 0.5 μm /245 ± 10 μmFC/PC (TEC) to FC/PC?3 mmFT030-YP5-1060TEC-2FC/PC (TEC) to FC/APCP6-1060TEC-2?2.5 mm Ferrule (TEC) to Scissor Cut?900 μm在1060 nm下的模场直径典型值。光纤跳线只有TEC端镀有增透膜。zui大衰减指定为没有终端且没有膨胀的光纤。由于MFD较大，光纤热膨胀芯端的数值孔径偏小。光纤TEC端的值为计算所得。产品型号公英制通用P1-1060TEC-2TEC光纤跳线，980 - 1250 nm，镀增透膜，FC/PC(TEC)到FC/PC，2 mP5-1060TEC-2TEC光纤跳线，980 - 1250 nm，镀增透膜，FC/PC(TEC)到FC/APC，2 mP6-1060TEC-2TEC光纤跳线，980 - 1250 nm，镀增透膜，?2.5 mm插芯(TEC)到裸纤，2 mTEC光纤跳线，1460 nm - 1620 nmItem #Fiber TypeOperating WavelengthMode Field DiameteraAR CoatingbMax AttenuationcNAdCladding/Coating DiameterConnectorsJacketTECStandardTECStandardP1-1550TEC-21550BHP1460 - 1620 nm19.0 ± 1.0 μm9.5 ± 0.5 μm1050 - 1620 nmRavg 0.5 dB/km @ 1550 nm0.060.13125 ± 1.0 μm /245 ± 15 μmFC/PC (TEC) to FC/PC?3 mmFT030-YP5-1550TEC-2FC/PC (TEC) to FC/APCP6-1550TEC-2?2.5 mm Ferrule (TEC) to Scissor Cut?900 μm在1550 nm下的模场直径典型值。光纤跳线只有TEC端镀有增透膜。zui大衰减指定为没有终端且没有膨胀的光纤。由于MFD较大，光纤热膨胀芯端的数值孔径偏小。光纤TEC端的值为计算所得。产品型号公英制通用P1-1550TEC-2TEC光纤跳线，1460 - 1620 nm，镀增透膜，FC/PC(TEC)到FC/PC，2 mP5-1550TEC-2TEC光纤跳线，1460 - 1620 nm，镀增透膜，FC/PC(TEC)到FC/APC，2 mP6-1550TEC-2TEC光纤跳线，1460 - 1620 nm，镀增透膜，?2.5 mm插芯(TEC)到裸纤，2 m
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