椭振光量仪

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椭振光量仪相关的厂商

  • 深圳市达宏美拓密度测量仪器有限公司是一家为全行业提供密度测量解决方案的专业公司;其主营品牌Daho Meter『达宏美拓』,专业生产制造电子密度仪。Daho Meter『达宏美拓』是行业中成立时间较早,专业的密度测试仪品牌,自成立以来,始终专注于密度测试领域的研究与创新;其范围涵盖:固体、多孔性固体、粉末、液体、液体浓度等与密度相关的测试领域。达宏美拓从成立至今,一直强调以专业、技术、品质、服务的核心竞争力;要赢得市场,就要服务好客户,要服务好客户就要有专业的技术,过硬的产品品质,与及时专业周到的服务。至目前,达宏美拓在国内设立了东莞、北京、深圳、杭州等4处客户服务中心与售后服务中心;于2013年8月在东莞成立了密度检测实验室,皆在进一步提升服务客户的质量与检测水准;于2016年通过ISO9001:2015质量管理体系认证。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 武汉国量仪器有限公司专业做拉力机、强力仪、透气仪、万能材料试验机。本公司与华中科技大学、武汉大学、中国地质大学等多家院所合作,公司生产的:橡胶塑料检测仪器,金属板材检测仪器,电线电缆检测仪器,金属管材棒材检测仪器,皮革拉链检测仪器,无纺布检测仪器,土工材料综合试验机,纺织品检测仪器,土工建材检测仪器,纱线纤维检测仪器等专用试验机系列。是实验室对产品进行分析和检测的必备仪器。 公司地处“光谷”科技新区,西邻众多大学院所,北倚磨山楚城及风景优美的东湖风景区。是集科研、开发、生产和销售为一体的高新技术企业。.多年以来,国量仪器牢固树立“诚信立本、质量立业、服务立誉”的经营理念,坚持市场、研发、资本、人才、管理和文化相结合的发展模式,以市场为导向,以行业发展和企业需求为出发点,借鉴ERP标准成本管理体系和全面质量管理体系,向管理要效率,向成本要效益。 公司依托“光谷”科技优势,广聚行业精英,汇集了一批优秀的研发、资本运营和现代化企业管理的人才。倡导科研兴业,集中优势资源,打造企业核心竞争力,推动产品向系列化、数字化方向发展。目前,产品齐全,结构合理,智能控制,性能稳定,遍及企业、质检、商检、科研院校,并远销海外。   科技引领高度,专注成就梦想,合作赢得空间,国量仪器愿与海内外朋友携手合作,互惠互利,共同发展,竭诚为广大客户提供高性价比的产品和服务。
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椭振光量仪相关的仪器

  • 高精度紫外波段偏振态测量(斯托克斯参数测量)系统(180nm-200nm)深紫外偏振态测量仪 光刻机偏振态测量仪 193nm偏振态测量仪Hinds公司长期以来致力于偏振态测量研究,在紫外波长(180nm-200nm)范围内基于双PEM(光弹调制器)的偏振测量系统为量化光的斯托克斯参数提供无与伦比的精度与灵敏度。该科研级高精度stokes测量系统可实现每秒超100组标准化斯托克斯参数集获取。一次测量生成4个斯托克斯参数。该系统在光学元件表征、光学系统光束输出表征、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等方面具有广泛的应用。该系统采用了Hinds公司自研光弹性调制器(PEM)技术,提供了目前超高水平的偏振测量。此外,PEM提供高速操作,根据所需波长在37至100khz之间调制。PEM光弹调制器基于谐振调制,该系统能够提供完整的斯托克斯测量没有移动部件,因此在精度和重复性方面高出市面现有偏振态测量系统一个数量级。本系统可根据用户使用需求定制波长,除可见光外可实现紫外波段光的偏振态及完整斯托克斯参数测量。 深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品参数(波长范围:180nm-200nm):斯托克斯参数准确误差:1%斯托克斯参数灵敏度:0.0005重复率:3σ≤0.01(波长范围:200nm-400nm):斯托克斯参数准确误差:0.5%斯托克斯参数灵敏度:0.0005重复率:3σ≤0.0035深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品应用QC测试和测量表征材料医药开发和质量控制光学旋转电信设备制造业SOP、DOP测量天文测量自由空间和光纤的选择测量光谱应用更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • ERM100 应用测量保偏(PM)光纤的消光比(ER)保偏光纤与接头插销对准保偏光纤与激光光源对准ERM100是基于旋转偏光技术的消光比测量仪。这款台式装置可以快速简单地测量保偏光纤的消光比。它方便易用,可以用于需要对准保偏光纤的多种应用中。如何工作ERM100消光比测量仪包含一个旋转偏振片,和后面一个可以产生光电流的探测器。一般来说,光电流在时间上将是直流偏置的正弦函数。通过同时分析直流偏置和调制深度,消光比测量仪可以确定线偏振的程度,从而获得消光比。优点这款台式仪器简单易用,是任何保偏光纤的对准应用测量装置。通过前面板的一系列按钮和LCD显示屏,可以进行快速调节和测量。任何保偏对准任务均可以有效完成。ERM100是工厂校准的,可以测量消光比,偏心角和功率。它也可以通过USB连接电脑进行控制。设备包含LabVIEW™,LabWindows™/CVI™,MSVC和Borland C的驱动。ERM100配备FC/PC接头。需要其他类型的接头请联系技术支持。发货信息每个单元包括测量仪,USB电缆,包含LabVIEW™和LabWINDOWS™CVI驱动程序套装的软件CD,和操作手册。应用:保偏对准ERM100消光比测量仪可用于对准保偏光纤的光轴。保偏光纤的入射光必须是线偏振的,并且平行于光纤的主光轴的方向耦合,以保持线偏振。ERM100提供了一种便利的方式来实现这种对准。根据光源,光纤对准有以下两种不同的方法。宽带光源(SLED)由于这些光源的波长相关双折射特性,只需变化耦合角,直到找到具有最大消光比的最优角。窄带光源(激光二极管)对于窄带光源,波长相关的双折射特性可忽略不计。为了得到保偏光纤消光比的可靠值,必须分析偏振态的快轴和慢轴之间的所有相移。所以测量过程中,在调节耦合角的同时,可以对光纤施加应力(应力双折射)。对于最优角,最大消光比值应该稳定,并且与光纤上的应力无关。典型应用线偏振光进入保偏光纤的最佳耦合接头插销的最佳对准制作尾纤(激光二极管到保偏光纤的对准)窄带光源的消光比测量
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  • 偏振测量仪 400-860-5168转3067
    偏振测量仪PAX5710-T系列由USB接口TXP5004机箱、 PAX5710系列模块和外置偏振探头组成。该系统配置了笔记本电脑,并包括所有连接探头和电脑的接线。测量波长范围可以通过添加模块和探头方便地进行扩展。另外,Thorlabs还提供光纤耦合形式的偏振测量仪PAX5720系列,该系列的探头内置。 应用:自由空间或光纤光偏振测量消光比测量偏振度测量作为PMD5000系统中偏振测量单元琼斯(Jones)和米勒(Mueller)矩阵测量 指标:输入功率范围:-60dBm~10dBm方位角精度:0.25o椭率角精度:0.25o归一化Stokes参数精度:S1,S2,S30.005偏振度精度:± 0.5%波长范围:VIS系列: 400-700nmIR1系列: 700-1000nmIR2系列: 1000-1350nmIR3系列: 1300-1700nm最大测量速率:333次/秒光纤输入接口:FC/PC(或根据客户要求)自由空间输入:&Phi 3mm,发散角3mrad模拟界面:输出:S1,S2,S3,功率/dBm,DOP(Stokes矢量)输入:触发数字界面:输出:S1,S2,S3,功率,方位角,椭率,功率比,相位差热机时间:15min工作温度范围:5-40oC 消光比测试仪基于旋转偏振器技术的消光比测量仪。该台式设备提供了快速而简便的测量保偏光纤消光比的方法,可用于保偏光纤的调节等。 应用:保偏光纤消光比测量保偏光纤到连接器的调节保偏光纤到光源的调节 指标:波长范围800-1700 nm最大消光比40 dBER精度*0.5 dBER分辨率0.1 dB角度精度*0.5° 角度分辨率0.1° 动态范围&dagger 50 dB (-40 ~ +10 dBm)工作温度5 to 40 ° C输入电压100V, 115V, 230V +15%/-10%所有参数在23 ± 5° C 、相对湿度 45 ± 15%有效* 输入功率 -30 dBm&dagger 动态范围依赖特定波长 OZ optics公司消光比测试仪特点:测量达40dB消光比内置RS232接口宽波长范围:400-1000nmVIS,850-1650nmIRER分辨率 0.01dB,角度分辨率0.3oER测量准确读1dB,角度准确度0.5o测量达2W连续光功率便携式设计记录模式,可连续测量连接头可换低成本,CE认证应用:光通讯器件制造自动调节质量控制和测量产品开发器件或系统故障排除 标准产品指标1: 型号ER-100-IRER-100-1290/1650-ER=40ER-100-VIS波长范围850-1650nm1290-1650nm400-700nm600-1000nm 2消光比范围30dB 850-1290nm35dB 1290-1650nm40dB 1290-1650nm30dB动态范围47dB40dB消光比准确度± 1dB消光比分辨率0.01dB角度准确度3± 0.5o角度分辨率0.3o刷新频率(ER)2.7Hz刷新频率(相对功率)650Hz输入功率450uW~1.0mW通讯接口RS232电源5通用50/60 Hz 110/220V AC/DC适配器尺寸65 x 90 x 184 mm重量0.48 kg工作温度-10° ~ 50° C存放温度-30° ~ 60° C存放湿度90%1.测试条件,1550nm线形偏振光源,热机30min,温度23± 2° C2.根据所选择的400-700nm或600-1000nm接头3.高精度的FC连接头4.无衰减器,带衰减器可进行高功率测量,其波长需要指定。5.标准设备为北美供电标准,其他需单独购买
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椭振光量仪相关的资讯

  • 舜宇“光电振动测量仪”重大仪器项目启动
    2月28日下午,国家重大科学仪器设备开发专项项目协调推进会在余姚河姆渡宾馆三楼尊茂厅举行,标志着由舜宇集团承担的&ldquo 跨尺度三维光电振动测量仪的开发和应用&rdquo 项目全面启动实施,进入实质性研发和应用定义阶段 同时也标志着舜宇在承担国家重点、重大项目上又迈出了坚实的一步,为今后更好地参与国家重大科技工程夯实了基础。  中国工程院院士、清华大学教授金国藩,中国工程院院士、上海理工大学教授庄松林,中国工程院院士、天津大学教授叶声华,中国工程院院士、中国计量科学院研究员张钟华,中国仪器仪表学会秘书长朱险峰,科技部条财司条件处处长孙增奇,省科技厅条件与基础研究处处长王桂良,宁波科技局计划处处长张永庆以及项目相关单位的专家和领导出席会议。  国家重大科学仪器设备开发专项于2011年首次启动,强调面向市场、面向应用、面向产业化,重点支持具有市场推广前景的重大科学仪器设备开发。&ldquo 跨尺度三维光电振动测量仪的开发和应用&rdquo 项目于2013年10月经国家科技部批准立项,由舜宇集团牵头,多家产、学、研、用单位共同参与,是继&ldquo 高通量优选开发及应用&rdquo 项目后,舜宇承担的第二个国家重大科学仪器设备开发专项。该项目旨在攻克三维激光运动姿态测量、视觉多点三维振动测量、三分量振动校准等技术,通过系统集成和软件开发以及在汽车NVH测试、陀螺电机转子振动测量、数控机床动态性能识别、火炮振动测试等的应用开发,丰富仪器功能,优化技术方案,形成具有自主知识产权、功能健全、质量稳定可靠的跨尺度三维光电测振仪,为我国航空航天、兵器工业、汽车工业等精密制造领域提供测试技术支撑。同时通过产学研用的合作实践,进一步完善及优化光电振动测量产业链,以提升行业的全球竞争力,进而促进国民经济、国防和科学技术的发展。  科技部条财司条件处处长孙增奇在项目协调推进会上强调,项目的全面实施不仅是要完成国家的任务,更重要的是通过项目的执行提高参与单位的研发能力,提高行业竞争力,最终通过整个项目的实施促进我国科学仪器整个产业的健康发展,并预祝项目取得圆满成功。  省科技厅条件与基础研究处处长王桂良也对项目的全面实施表示祝贺,并提出了三点要求:一要精诚团结,开展协同创新 二要科学组织,做到分工明确 三要规范管理,保证项目顺利进行。  舜宇集团董事长王文鉴向与会领导和专家长期来对舜宇仪器事业发展的关心、帮助和支持表示衷心感谢,同时郑重承诺:一定做到资金到位、人员到位、工作到位,全力以赴推进项目的实施 一定认真落实各位领导的指示和要求,做好各项目组成员之间的协同配合,严格按照项目要求及任务书展开工作,系统推进各项目标的达成 一定努力加快项目产业化进程,并践行舜宇的&ldquo 共同创造&rdquo 理念,通过项目组成员的充分磋商,公正评价各方贡献,合理分享合作的效益与成果。他表示,舜宇一定不辜负国家所托,为中国科学仪器事业做出自己的贡献,回报国家与社会各界对我们的信任和支持。  会上,各位专家和领导听取了宋云峰博士所作的项目报告。王文鉴董事长还分别向参与项目的技术专家和用户专家颁发了聘任证书。各位专家也分别从市场宣传、应用领域、产业化、产品稳定性及可靠性等方面就项目的具体实施展开&ldquo 会诊&rdquo ,提出了许多有益的建议和意见。
  • 精密测量仪器厂商瑞霏光电完成B+轮融资,深圳高新投领投
    近日,苏州瑞霏光电科技有限公司(以下简称:瑞霏光电)完成B+轮融资,由深圳高新投领投。瑞霏光电CEO张华表示,本次融资将主要用于研发新技术、扩大产品线、提升品牌影响力以及市场拓展等方面。公开资料显示,瑞霏光电成立于2018年,是一家专注于机器视觉和三维检测技术的高新技术企业。公司旗下拥有自由曲面光学三维检测仪、晶圆薄膜应力测量仪、三维测量显微镜、外观缺陷检测仪以及精密光学镜头等产品,广泛应用于半导体晶圆、智能汽车电子系统、精密光学、AR/VR产品等高端制造生产线。深圳高新投作为知名投资机构,长期关注高新技术企业和创新型项目。本次投资瑞霏光电,是深圳高新投在机器视觉和三维检测领域的又一重要布局。深圳高新投合伙人李强表示,瑞霏光电的技术实力和市场潜力使其成为该领域的佼佼者,相信未来将为投资者带来丰厚回报。
  • 重磅发布!贝拓科学高温接触角测量仪HTC全新升级!
    贝拓科学高温接触角测量仪HTC于2022年4月全新升级发布。高温接触角测量仪HTC主要用于研究材料在高温状态下熔体与其相应的基地材料间的接触角变化规律。通过研究这些规律可以帮助优化燃烧、烘烤或涂层工艺,从而生产出更稳定的材料。仪器概述高温接触角测量仪HTC主要组成部分有:LED光源、高温腔体、石英样品仓、采集系统、软件系统五大部分组成。高温舱体加热材料样品,采集系统记录图像,软件系统通过算法分析图像并获取最终的接触角数据。全新升级1.全新的一体化设计,仪器更美观且更符合人体工学设计,让实验操作更方便快捷。2.采用了高速高分辨率工业相机,让采集的图像更清晰。3.软件系统全新升级,新增自定义控温设置,可设30段控温,不同的温度下样品形貌全程记录。4.多个温度可选1200℃、1700℃、2200℃。5.可搭配真空泵、惰性气体气氛保护、气体纯化器、冷浴等配件,丰富各种样品测量。贝拓科学总经理发表重要讲话,并表示高温接触角测量仪HTC是贝拓科学的又一里程碑之作!贝拓科学生产部工程师讲解了仪器的设计理念及结构贝拓科学研发部工程师讲解了软件的升级内容贝拓科学技术部工程师讲解了仪器操作过程及应用领域技术参数型号HTC1200HTC1700HTC2200高温炉膛温度范围室温~1200℃室温~1700℃室温~2200℃长期使用温度室温~1150℃室温~1600℃室温~2150℃测温电偶温度探头B型电偶红外测温测温精度±1℃±3℃±5℃温度控制 软件编程,30段温度设定触摸屏编程,30段温度设定触摸屏编程,30段温度设定升温速率≤15K/min12~15K/min≤50K/min加热体电阻丝硅钼棒感应线圈炉膛材质石英高纯刚玉高纯刚玉保温材料微晶氧化铝纤维微晶氧化铝纤维+气溶胶微晶氧化铝纤维+气溶胶样品尺寸5*5*5mm5*5*5mm5*5*5mm成像系统光学系统工业连续放大镜头 0.7-4.5X,12mm可调焦距相机速度视频速度227帧/秒,160万像素光源高功率蓝光LED光源,可连续调节光亮度接口USB3.0接口接触角分析接触角测试范围0°-180°接触角分析方法5种常用拟合方法软件系统视频录相功能点击录制自动保存整个测量过程为视频文件连续测量测量间隔时间可调,实时记录,连续测量接触角平均值计算左右接触角值分别计算与比较功能,软件自动求取平均接触角温度控制设置自定义温度控制,可设30段控温其他配件其他纯化机、真空泵、冷浴、惰性气体气氛保护

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  • 触针式表面粗糙度测量仪的原理

    目前,检测表面粗糙度比较常用的方法是比较法、光切法、干涉法、触针法和印模法等,而其中触针法因其测量迅速方便、测量精度高、使用成本较低等良好特性而得到广泛使用。当采用触针法对加工工件表面进行表面粗糙度测量时,探测头上的触针在被测表面轻轻划过。由于存在轮廓峰谷的起伏,所以触针将在垂直与被测轮廓表面方向上产生上下起伏的移动。这种移动量虽然非常微细,但足以被敏感的电子装置捕捉并加以放大。放大之后的信息则通过指示表或其他输出装置以数据或图形的方式输出。这就是触针式表面粗糙度测量仪的工作方式。其中,按其传感器类型可以分:电感式、压电式、光电式等;按其指示方式又可分为:积分式、连续移动式。触针式表面粗糙度测量仪由传感器、驱动箱、指示表、记录器和工作台等主要部件组织。其中电感传感器的工作原理为:传感器测杆一端装有触针(由于金刚石耐磨、硬度高的特点,触针多选用金刚石材质),触针的尖端要求曲率半径很小,以便于全面的反映表面情况。测量时将触针尖端搭在加工工件的被测表面上,并使针尖与被测面保持垂直接触,利用驱动装置以缓慢、均匀的速度拖动,当触针在被测表面拖动滑行时,将随着被测面的轮廓峰谷表面作反向上下运动,并将运动幅度放大,从而使包围在磁芯外面的两个差动电感线圈的电感量发生变化,并将触针微笑的垂直位移转化为同步成比例的电信号。

  • 【资料】影像测量仪的一些测量功能分析

    影像测量仪适用于电脑软件操作而且功能强大方便,可满足不同工件的不同需求。影像测量仪的一些测量功能如下:  1、影像测量仪能记录用户程序、编辑指令、教导执行;  2、测量仪能巨集指令,同一种工件批量测量更加方便快捷,提高测量效率;另一种是座标平移和座标摆正,同时也能提高测量效率;  3、影像测量仪还可以检测圆形物体的圆度、直线度、以及弧度;组合测量、中心点构造、交点构造,线构造、圆构造、角度构造;  4、能多点测量点、线、圆、孤、椭圆、矩形,提高测量精度;  5、测量数据直接输入到AutoCAD中,成为完整的工程图,而且测量数据可输入到Excel或Word中,进行统计分析,可割出简单的Xbar-S管制图,求出Ca,等各种参数;  6、影像测量仪有大地图导航功能、刀模具专用立体旋转灯、3D扫描系统、快速自动对焦、自动变倍镜头。  7、在影像仪下绘制的图像,可以直接保存为dxf文件,该文件可以在autocad软件中直接打开或者是导入到三维软件中;  8、影像测量仪若是在加了探针的情况下,还可以直接用探针打点然后导入到逆向工程软件做进一步处理!软件可以自由实现探针/影像相互转换!  9、平面度检测(可通过激光测头来检测产品平面度,推荐使用“七海光电”平面度检测激光测头

  • 测量流量仪表有哪些

    [table][tr][td]按原理可大致分为:速度式流量计、容积式流量计、质量流量计等按计量器具管理可以分为:强制检定流量计和非强制检定流量计。按照使用介质可分为:水、气和油的流量计。  测量流量仪表有哪些  按测量原理可分为如下几个大类:  1、力学原理:属于此类原理的仪表有利用伯努利定理的差压式、转子式;利用动量定理的冲量式、可动管式;利用牛顿第二定律的直接质量式;利用流体动量原理的靶式;利用角动量定理的涡轮式;利用流体振荡原理的旋涡式、涡街式;利用总静压力差的皮托管式以及容积式和堰、槽式等等。  2、电学原理:用于此类原理的仪表有电磁式、差动电容式、电感式、应变电阻式等。  3、声学原理:利用声学原理进行流量测量的有超声波式.声学式(冲击波式)等。  4、热学原理:利用热学原理测量流量的有热量式、直接量热式、间接量热式等。  5、光学原理:激光式、光电式等是属于此类原理的仪表。  6、原子物理原理:核磁共振式、核辐射式等是属于此类原理的仪表.  7、其它原理:有标记原理(示踪原理、核磁共振原理)、相关原理等。[/td][/tr][/table]

椭振光量仪相关的耗材

  • 台式偏振消光比测量仪
    台式偏振消光比测量仪特征:?测量高达50 dB的偏振消光比(针对特定波长范围)?非常宽的波长范围:可见波长范围为450至900 nm 对于IR波长范围,850至1650nm或1800至2400nm?±0.15 dB ER精度,zui高30 dB?±0.5°角度精度?0.01 dB ER分辨率和0.3°角度分辨率?功率测量高达2瓦?可互换的连接器适配器?记录模式,用于连续测量?USB通信接口?触摸屏显示?内置存储器,用于存储和调用功能订购信息:(1)56052ER-1000-IRFiber Optic Polarization Extinction Ratio Benchtop Meter for wavelengths from 850 nm to 1650 nm. ER = 30dB for wavelengths from 850 nm to 1290 nm and ER=35dB for wavelengths longer than 1290 nm. Receptacle is not included. Input power is up to 1 mW.(2)56055ER-1000-VISFiber Optic Polarization Extinction Ratio Benchtop Meter for wavelengths from 450 nm to 900 nm. ER 30dB over the wavelength range. Receptacle is not included. Input power is up to 1 mW.(3)56053ER-1000-1800/2400-ER=30Fiber Optic Polarization Extinction Ratio Benchtop Meter for wavelengths from 1800 nm to 2400 nm. ER = 30dB. Receptacle is not included. Input power is up to 1 mW.
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 薄膜溶解测量仪配件
    薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化,是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品,使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部,距离玻璃窗口非常接近,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据。另外,根据需要,我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer,提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具,以固定小尺寸的硅样品或3' ' ,4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同,如溶解速度的不同,它能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程,而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量,薄膜溶解测厚仪需要光滑,具有反射性的衬底,对于光学常数测量,平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的,衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量,已经成功应用于测量反射衬底(Si晶圆)上各种光滑,透明或轻度吸收薄膜的溶解过程,可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜,聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:15kg 电力要求:110/230VAC薄膜溶解测量仪应用:聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量能够以实时或离线的方式测量,反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。
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