椭振光量仪

高精度紫外波段偏振态测量（斯托克斯参数测量）系统（180nm-200nm）深紫外偏振态测量仪 光刻机偏振态测量仪 193nm偏振态测量仪Hinds公司长期以来致力于偏振态测量研究，在紫外波长（180nm-200nm）范围内基于双PEM（光弹调制器）的偏振测量系统为量化光的斯托克斯参数提供无与伦比的精度与灵敏度。该科研级高精度stokes测量系统可实现每秒超100组标准化斯托克斯参数集获取。一次测量生成4个斯托克斯参数。该系统在光学元件表征、光学系统光束输出表征、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等方面具有广泛的应用。该系统采用了Hinds公司自研光弹性调制器(PEM)技术，提供了目前超高水平的偏振测量。此外，PEM提供高速操作，根据所需波长在37至100khz之间调制。PEM光弹调制器基于谐振调制，该系统能够提供完整的斯托克斯测量没有移动部件，因此在精度和重复性方面高出市面现有偏振态测量系统一个数量级。本系统可根据用户使用需求定制波长，除可见光外可实现紫外波段光的偏振态及完整斯托克斯参数测量。 深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品参数（波长范围：180nm-200nm）：斯托克斯参数准确误差：1%斯托克斯参数灵敏度：0.0005重复率：3σ≤0.01（波长范围：200nm-400nm）：斯托克斯参数准确误差：0.5%斯托克斯参数灵敏度：0.0005重复率：3σ≤0.0035深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品应用QC测试和测量表征材料医药开发和质量控制光学旋转电信设备制造业SOP、DOP测量天文测量自由空间和光纤的选择测量光谱应用更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

ERM100 应用测量保偏(PM)光纤的消光比(ER)保偏光纤与接头插销对准保偏光纤与激光光源对准ERM100是基于旋转偏光技术的消光比测量仪。这款台式装置可以快速简单地测量保偏光纤的消光比。它方便易用，可以用于需要对准保偏光纤的多种应用中。如何工作ERM100消光比测量仪包含一个旋转偏振片，和后面一个可以产生光电流的探测器。一般来说，光电流在时间上将是直流偏置的正弦函数。通过同时分析直流偏置和调制深度，消光比测量仪可以确定线偏振的程度，从而获得消光比。优点这款台式仪器简单易用，是任何保偏光纤的对准应用测量装置。通过前面板的一系列按钮和LCD显示屏，可以进行快速调节和测量。任何保偏对准任务均可以有效完成。ERM100是工厂校准的，可以测量消光比，偏心角和功率。它也可以通过USB连接电脑进行控制。设备包含LabVIEW™，LabWindows™/CVI™，MSVC和Borland C的驱动。ERM100配备FC/PC接头。需要其他类型的接头请联系技术支持。发货信息每个单元包括测量仪，USB电缆，包含LabVIEW™和LabWINDOWS™CVI驱动程序套装的软件CD，和操作手册。应用：保偏对准ERM100消光比测量仪可用于对准保偏光纤的光轴。保偏光纤的入射光必须是线偏振的，并且平行于光纤的主光轴的方向耦合，以保持线偏振。ERM100提供了一种便利的方式来实现这种对准。根据光源，光纤对准有以下两种不同的方法。宽带光源（SLED）由于这些光源的波长相关双折射特性，只需变化耦合角，直到找到具有最大消光比的最优角。窄带光源（激光二极管）对于窄带光源，波长相关的双折射特性可忽略不计。为了得到保偏光纤消光比的可靠值，必须分析偏振态的快轴和慢轴之间的所有相移。所以测量过程中，在调节耦合角的同时，可以对光纤施加应力（应力双折射）。对于最优角，最大消光比值应该稳定，并且与光纤上的应力无关。典型应用线偏振光进入保偏光纤的最佳耦合接头插销的最佳对准制作尾纤（激光二极管到保偏光纤的对准）窄带光源的消光比测量

偏振测量仪PAX5710-T系列由USB接口TXP5004机箱、 PAX5710系列模块和外置偏振探头组成。该系统配置了笔记本电脑，并包括所有连接探头和电脑的接线。测量波长范围可以通过添加模块和探头方便地进行扩展。另外，Thorlabs还提供光纤耦合形式的偏振测量仪PAX5720系列，该系列的探头内置。 应用：自由空间或光纤光偏振测量消光比测量偏振度测量作为PMD5000系统中偏振测量单元琼斯（Jones）和米勒（Mueller）矩阵测量 指标：输入功率范围：-60dBm~10dBm方位角精度：0.25o椭率角精度：0.25o归一化Stokes参数精度：S1,S2,S30.005偏振度精度：± 0.5%波长范围：VIS系列: 400-700nmIR1系列: 700-1000nmIR2系列: 1000-1350nmIR3系列: 1300-1700nm最大测量速率：333次/秒光纤输入接口：FC/PC（或根据客户要求）自由空间输入：&Phi 3mm，发散角3mrad模拟界面：输出：S1,S2,S3,功率/dBm，DOP（Stokes矢量）输入：触发数字界面：输出：S1,S2,S3,功率,方位角,椭率,功率比,相位差热机时间：15min工作温度范围：5-40oC 消光比测试仪基于旋转偏振器技术的消光比测量仪。该台式设备提供了快速而简便的测量保偏光纤消光比的方法，可用于保偏光纤的调节等。 应用：保偏光纤消光比测量保偏光纤到连接器的调节保偏光纤到光源的调节 指标：波长范围800-1700 nm最大消光比40 dBER精度*0.5 dBER分辨率0.1 dB角度精度*0.5° 角度分辨率0.1° 动态范围&dagger 50 dB (-40 ～ +10 dBm)工作温度5 to 40 ° C输入电压100V, 115V, 230V +15%/-10%所有参数在23 ± 5° C 、相对湿度 45 ± 15%有效* 输入功率 -30 dBm&dagger 动态范围依赖特定波长 OZ optics公司消光比测试仪特点：测量达40dB消光比内置RS232接口宽波长范围：400-1000nmVIS，850-1650nmIRER分辨率 0.01dB，角度分辨率0.3oER测量准确读1dB，角度准确度0.5o测量达2W连续光功率便携式设计记录模式，可连续测量连接头可换低成本，CE认证应用：光通讯器件制造自动调节质量控制和测量产品开发器件或系统故障排除 标准产品指标1： 型号ER-100-IRER-100-1290/1650-ER=40ER-100-VIS波长范围850-1650nm1290-1650nm400-700nm600-1000nm 2消光比范围30dB 850-1290nm35dB 1290-1650nm40dB 1290-1650nm30dB动态范围47dB40dB消光比准确度± 1dB消光比分辨率0.01dB角度准确度3± 0.5o角度分辨率0.3o刷新频率（ER）2.7Hz刷新频率（相对功率）650Hz输入功率450uW~1.0mW通讯接口RS232电源5通用50/60 Hz 110/220V AC/DC适配器尺寸65 x 90 x 184 mm重量0.48 kg工作温度-10° ~ 50° C存放温度-30° ~ 60° C存放湿度90%1.测试条件，1550nm线形偏振光源，热机30min，温度23± 2° C2.根据所选择的400-700nm或600-1000nm接头3.高精度的FC连接头4.无衰减器，带衰减器可进行高功率测量，其波长需要指定。5.标准设备为北美供电标准，其他需单独购买

超宽带偏振态测量仪美国Meadowlark Optics公司在精密偏振控制和测量方面一直保持长期优势和信誉，超宽带偏振测量仪（Broad Wavelength Polarimeter）结合了Meadowlark Optics公司的液晶可变相位延迟器技术和偏振技术，具有超宽带、高精度及无运动部件等特点。液晶偏振态测量仪因为没有旋转的波片、马达或其它运动部件，不存在磨损问题和由于机械运动而导入振动源的问题，可以大大提高偏振态测量的精度与一致性。Keyword:偏振态测量仪，Polarimeter，Liquid Crystal Polarimeter，液晶偏振态测量仪，SOP，DOP，偏振度，偏振态，偏振态测定仪系统，偏振态测量系统，偏振测量仪，LCPM，偏振分析仪，偏振态分析仪Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪可直接通过计算机的USB接口进行控制，为测量的速率和便捷性提供了保障，这款偏振测量仪在计算机的控制下每秒的测量10次可量化偏振态的斯托克斯（Stokes）参数，同时将偏振态图形化地显示成庞加球（Poincaré Sphere）、偏振椭圆（Polarization Ellipse）或者运行图；Meadowlark Optics的偏振测量仪控制软件采用独特算法，其提供了高精度和多功能校正；可以说Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪是一套便携精密和紧凑（小体积）的偏振态测量系统。 邦加球：偏振椭圆：运行图：Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪的偏振度测量精度≤1%，斯托克斯矢量的分辨率为0.001，工作频率为10Hz，波长的校正精度为±3nm，在保证测量精度的情况下可对光功率为1μW的光波实现偏振态的测量；由于液晶材料对温度比较敏感，为了保证PMI工作的稳定性，该超宽带偏振测量仪配有温度控制选项，以实现实时实地的恒温状态。Meadowlark Optics超宽带偏振测量仪有可见光（450-1100nm）和近红外（900-1700nm）两种版本，及光纤耦合和自由光路两种不同配置。优势：超宽带（450-1100nm和900-1700nm可选）无运动部件偏振度测量精度≤1%斯托克斯矢量分辨率0.001偏振态跟踪LabVIEW VI程序库简易化操作界面光纤和自由光路输入方式可选可测量功率为1μW的光波偏振态规格：订购信息：可选配件：尺寸：

SK010PA-IR偏振测量仪 ----高精度全自动保偏光纤偏振态测量系统SK010PA是一款通用型偏振分析仪，该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态（SOP），并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑，即插即用，可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量，软件操作简单、功能强大。在激光束耦合到保偏光纤的偏振对准应用中，SK010PA偏振分析仪提供优化光源入射偏振方向与光纤偏振轴对齐程序，并测量该过程产生的消光比（PER）。上述过程通过连续测量出射偏振状态期间，并使光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转，保证出射偏振态尽可能接近庞加莱球面圆心。此外，SK010PA还可用于对准和量化延迟光学器件，如带有1/4波片的光纤准直器等。光纤偏振态测量仪产品特性：确定偏振状态 （SOP），包括所有四个斯托克斯参数、PER（偏振消光比）、偏振度 （DOP）、椭圆度等。USB 2.0 供电设备（控制、数据传输和电源）在庞加莱球面上显示SOP或偏振椭圆用于保偏光纤评估和偏振对准的特殊程序与用于自由光束应用的微型工作台系统、导轨或笼式系统兼容，包括兼容光纤应用的 FC APC 适配器光纤偏振态测量仪应用领域：耦合保偏光纤偏振对准 理想情况下，保偏光纤能保持耦合到光纤中的光的线性偏振态，然而在实际中，保偏光纤会在很小程度上影响偏振态，如温度、机械应力导致的弯曲和扭转等，这会使光纤出口处出现轻微的椭圆偏振。如下图所示。 SK010PA偏振测量仪提供将光源的入射偏振方向与光纤的偏振轴对齐以及测量由此产生的偏振消光比（PER） 的程序。保偏单模光纤在两种垂直的原理状态下引导耦合辐射，即光纤偏振轴（也称为慢轴和快轴）如下左图所示。 光纤耦合辐射的偏振消光比PER是耦合到光纤两个偏振轴的光功率电平之间的比值。偏振分析仪用于通过旋转光源的输入偏振轴来优化光源偏振轴与光纤偏振轴的偏振对准，见下右图。对于两个偏振轴，传播速度不同。当线偏振辐射没有精确耦合到这些状态之一时，辐射会分成两个垂直分量，分别耦合到光纤的偏振轴上。在光纤出口处，传播速度的差异会导致相移，这也取决于光纤的长度。如果该相移小于激光源的相干长度，则辐射会重新组合为椭圆偏振态。如果激光源的相干长度小于相移，则新出现的辐射部分去偏振。偏振分析仪支持两种情况的调整。SK010PA所测的SOP可在庞加莱球上可视化展示，如下图所示。在该图中，线性 SOP 位于球体的赤道上，圆极化状态位于球体的两极。偏振维持光缆输出端的预期偏振态可能会略微偏离赤道。该表示法中的倾斜角即为椭圆度 η，偏振维持光缆的偏振维持性由椭圆度 η 来表征。圆的半径表示对准的质量，对齐良好的保偏光纤状态为数据圆会收敛到一个点，即圆的中心，通常也位于庞加莱球的赤道上。测量过程分为如下两步：1、初始对准的测量 该过程首先在温度改变或小心弯曲光纤时记录出口极化状态，以引起出口极化波动。然后，一个圆圈自动拟合到数据点上，并显示平均值和PER（min）。在所示示例中，庞加莱球面上的圆具有较大的半径。2、通过反馈进行实时调整，并对优化后的对准进行测量在连续测量出射偏振态期间，光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转。当出射偏振态尽可能接近庞加莱球面的圆心时，达到接近对准。颜色编码的对数条形图有助于找到min距离。然后进行第二次测量，揭示光纤优化偏振对准的参数。自由光路测量 偏振分析仪也可以用来在自由光束的应用中设置并定义一个的明确的偏振状态。对于这类测量，激光光轴与偏振分析仪的对准是必不可少的。偏振测量仪与微工作台、使用四连杆连接的40mm笼系统或轨道系统等兼容。1/4波片调整SK0101PA偏振分析仪可用于校准和量化延迟光学器件，例如集成四分之一波片的光纤准直器。对于这些准直器，通过旋转四分之一波片来调整输出偏振。到达极值时设置圆偏振光，右旋圆偏振光位于北极，左旋偏振光位于南极。光纤偏振态测量仪技术参数：光纤偏振态测量仪配置选项：光纤偏振态测量仪交付标准：SK010PA红外线USB连接线用于 FC-APC FC-PC 光纤连接器的适配器后装式适配器 PA-AP-M4操作软件： SKPolarizationAnalyzer for WINDOWS7， WINDOWS 10， WINDOWS Vista/XP （32/64 bit）DLL更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。1主要特点1. 液晶调制技术，无机械转动部件，重复性，信噪比高2. 技术成像系技术，所有样品均可成像，对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.3. 反射式微光斑，覆盖全谱段，利于非均匀样品图案化样品测试4. 全自动集成度高，安装维护简便5. 一键式操作软件，快速简单6. 自动MAPPING扫描，分析样品镀膜均匀性2技术参数1. 光谱范围：450-1000 nm2. 多种微光斑自动选择3. 光斑可视技术，可观测任何样品表面4. 自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向自动调节 Z轴高度35mm5. 70度角入射6. CCD探测器相关推荐椭圆偏振光谱入门手册——测量膜厚、光学常数的强大工具您可了解：1. 椭圆偏振光谱的概念及应用领域2. 适用的样品及可获取的信息3. 常见的椭偏仪类型及优势分析4. 测量、数据分析时的常见问题

德国Sentech光伏测量仪器RT Inline，薄膜反射和透射的在线监测系统 反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作为内部参考测量。利用FTPadv Expert软件可以方便地进行层沉积过程的在线监测。软件接口可用于与主机的数据通信。 高速薄膜测量借鉴内部参考技术，不需要在单独的位置上进行外部参考测量。这保证了连续多点薄膜测量的速度。 多探头装置多达7个传感器探头由一个控制器驱动，为均匀性监测提供了具有成本效益的解决方案。 SENTECH先进软件易于使用、基于配方的FTP软件包括一个大型的预定义应用数据库，这些应用符合研发以及生产环境中的质量控制要求。 RT inline 薄膜测量系统是为沉积过程的在线质量控制而设计的。该方法基于SENTECH著名的薄膜厚度探针FTPadv，用于测量反射率和薄膜厚度。它分别工作在420～1050 nm、2000～2500 nm的光谱范围内。可以分析光滑和纹理结构的TCO薄膜、CdS薄膜、a-Si、μ-Si、CIGS和CdTe吸收膜。 通过RT inline，可以无损伤地监测大型玻璃基板或塑料线圈上TCO、吸收层和缓冲层沉积的均匀性。薄膜厚度和反射率测量是通过固定安装的传感器探头在玻璃基板上方从沉积设备传送到下一个工艺期间进行的。 一个控制器可以操作多达7个传感器，使得RT inline测量仪器具有成本效益、灵活性和生产性的结果。选配的超声传感器控制探头和玻璃平台之间的距离，以排除错误的测量结果。 SENTECH配方驱动的FTP软件FTPadv Expert包括预定义的即用应用程序综合包。它提供了一个选配的软件接口，用于将数据从测量仪器传输到主机。因此，可以通过来自主机或传送的信号手动或自动进行薄膜测量。 使用SENTECH SENresearch光谱椭偏仪开发的配方可以直接传输到RT inline中。基于这样的光谱数据，甚至可以在线测量复杂的层叠膜。

产品特点： ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45～90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300～800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650（H）×400（D）×560（W）mm重量约50kg

产品特点： ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45～90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300～800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650（H）×400（D）×560（W）mm重量约50kg

一、概述 ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的投入，具备 1 全穆勒矩阵测量技术， 2 双旋转补偿器同步控制技术，3 超级消色差补偿器设计技术，4 纳米光栅表征测量技术 等技术。可应用于各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析。■ 双旋转补偿器(DRC)配置一次测量全部穆勒矩阵16个元素；■ 配置自动变角器、五维样件控制平台等优质硬件模块；■ 软件交互式界面配合辅助向导式设计，易上手、操作便捷；■ 丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力二、产品特点■ 采用氘灯和卤素灯复合光源，光谱覆盖紫外到近红外范围 (193-2500nm)；■ 可实现穆勒矩阵数据处理，测量信息量更大，测量速度快、数据更加精准；■ 基于双旋转补偿器设计，一次测量获得全穆勒矩阵16个元素，相对传统光谱椭偏仪可获取更加全面量测信息；■ 颐光核心技术确保在宽光谱范围内，提供优质稳定的各波段光谱；■ 数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料；■ 集成对纳米光栅的分析，可同时测量分析纳米结构周期、线宽、线高、侧壁角、粗糙度等几何形貌信息。使用颐光科技椭偏仪系列产品，（部分）提及并标注“Eoptics Technology”文献信息：✽ "Atomic-level chemical reaction promoting external quantum efficiency of organic photomultiplication photodetector exceeding 108% for weak-light detection." Science Bulletin(2023).影响因子:18.9，单位：太原理工大学，通讯作者：崔艳霞 等✽ "La-doped PMN–PT transparent ceramics with ultra-high electro-optic effect and its application in optical devices." Journal of Advanced Ceramics(2023).影响因子:16.89，单位：华中科技大学集成电路学院，通讯作者：傅邱云 等✽ "Giant in-plane optical and electronic anisotropy in tellurene: a quantitative exploration." Nanoscale(2022).影响因子:7.79，单位：华中科技数字装备制造国家重点实验室，通讯作者：谷洪刚，刘世元 等✽ "Utilization of Trapped Optical Modes for White Perovskite Light-Emitting Diodes with Efficiency over 12%." Joule (2021).影响因子:39.8，单位：华南理工大学，通讯作者：彭俊彪，叶轩立 等✽ "Delocalization of exciton and electron wavefunction in non-fullerene acceptor molecules enables efficient organic solar cells."Nature Communications(2020).影响因子:17.7，单位：华南理工大学，通讯作者：叶轩立，曹镛 等✽ "Enhanced light emission of quantum dot films by scattering of poly(zinc methacrylate) coating CdZnSeS/ZnS quantum dots and high refractive index BaTiO3 nanoparticles." ACS Nano (2020).影响因子:18.9，单位：南方科技大学，通讯作者：孙小卫 等✽ "24.1% External Quantum Efficiency of Flexible Quantum Dot Light-Emitting Diodes by Light Extraction of Silver Nanowire Transparent Electrodes." Advance Optical Materials (2018).影响因子:10.5，单位：武汉光电国家研究中心，通讯作者：胡彬，王磊 等✽ "Heat-Insulating Multifunctional Semitransparent Polymer Solar Cells." Joule (2018).影响因子:39.8，单位：华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室，通讯作者：叶轩立，黄飞 等✽ "Layer-Dependent Dielectric Function of Wafer-Scale 2D MoS2." Advance Optical Materials (2018).影响因子:10.5，单位：华中科技数字装备制造国家重点实验室，通讯作者：刘世元 等✽ "Ellipsometric study of the complex optical constants of a CsPbBr3 perovskite thin film." Journal of Materials Chemistry C(2017).影响因子:8.06，单位：山东大学，通讯作者：连洁 等✽ "High-Performance Polymer Tandem Solar Cells Employing a New n-Type Conjugated Polymer as an Interconnecting Layer." Advance Materials(2016).影响因子:32.08，单位：华南理工大学发光材料与器件国家重点实验室，通讯作者：叶轩立，黄飞 等应用领域显示面板｜新型显示材料解决方案集成电路｜IC集成电路检测解决方案光伏行业｜光伏薄膜测量解决方案玻璃盖板｜玻璃盖板测量解决方案LED行业｜LED芯片测量应用解决方案科学研究｜新材料以及理论模型研究可选配件温控台Mapping模块真空气泵透射夹具技术参数

核磁共振含油率测量仪专业用于含油作物及其加工物进行油量检测。核磁共振含油率测量仪是依照国家标准GB/T15690（油籽含油量核磁共振测定法1995年）研发出来的油量检测设备。更多核磁共振含油率测量仪报价详情请联系托普云农！功能特点：1、效率高：每次对样品测量只需30秒，极大提高了工作效率。2、安全、环保：核磁共振法测试只需要消耗40W的电能，仅仅只相当于一个灯泡的能耗，而且不需要别的辅助材料就可以进行，是真正的无损、无污染、低炭、环保的新型设备。3、节省费用：投入一台核磁共振油量检测仪，每年可提升产出率10%，可节省大量的水费、电费、乙醚费用、人工费用、抽提仪器费用。4、精度高、稳定性好：软件自动进行频率调节，逐步提示指导操作流程，采用频率自锁定技术，无需人工调节，操作简便，减少人为误差，提高测量精度。5、彩色液晶屏，鼠标加键盘，电脑式操作，软件自动进行频率调节，可将数据通过U盘拷出后在电脑中打印结果，软件通过U盘升级。 测试品种：大豆、油菜籽、芝麻、玉米、棉籽、葵花籽、花生、小麦、桐籽等油料作物及其饼，粕的含油量。 技术参数：式样容积：40ml样品含有量范围：0.1%~100%测量准确度：+0.2%测量稳定度：+0.1%电源：220V,50Hz额定功率：≤40W

JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪的详细资料： 公司长期致力于跨行业、多学科的综合性精密仪器开发，为专业的客户定制小批量的特殊产品，在公司的其它产品序列中，有许多型号也是客户定制的。JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪主要性能JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪用来测量钢笔、圆珠笔等笔帽从笔体上滑脱时的强力，采用特制的全自动握持夹头来加固笔帽和笔体，测量隔距和拉伸速度可调，可适用不同的测试标准。传感器的精度达量程的千分之一。同时可在线采集记录强力数据。JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪含税价格：（不含配套电脑，含仪器主机、实验操作软件、标配组件、大陆地区送货上门安装调试培训、一年保修服务）。JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪配套电脑：JQ06B型笔帽滑脱强力测量仪，必须有配套电脑方能使用，如选择由供方提供配套电脑，需向供方另付4000元/台，品牌电脑原厂三年上门保修。如用户自配或利用原有电脑，要求：32位的操作系统，一个USB口，一个空的COM口（RS232串口）。上海中晨简介 上海中晨数字技术设备有限公司获2019年度国家科技进步二等奖。公司依托国内高校和科研单位，广泛采用国内外有关专家的新科技成果，着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。本公司产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校和科研院所，而且还包括苹果、3M、西部数据WD、富士康、三星电子、日月光、HOYA光学、友达光电、飞利浦、LG化学等一大批跨国企业，以及中石油、中石化、中海油、华为、比亚迪、宁德时代、京东方、隆基股份、欣旺达、德赛电池、合力泰、长电科技、华天科技、天合光能、长信科技、OPPO、VIVO、宁夏东方、水晶光电、彩虹控股、威远生化等上市公司，及国内的海关、防疫检验、质量监督检验所、博物馆、医疗机构等政府事业单位，产品远销美国、日本、韩国、巴西、马来西亚、泰国、印度、印度尼西亚、新加坡、智利和我国香港、澳门、台湾地区等。 公司研发和生产接触角测量、表界面张力测量、Zeta电位测量、LB膜界面测量、单纤维测量、束纤维测量、织物测量、显微测量、试验机定制等八大系列60多种专业仪器，拥有其软、硬件自主知识产权，能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利。 中晨的注册商标“powereach”意为“力量源于每个人”，体现了上海中晨“以人为本、员工和用户是公司很大的财富”的核心价值观和企业文化。

Horiba 相位调制型椭圆偏振光谱仪 UVISEL Plus基于最新的电子设备，数据处理和高速单色仪，FastAcqTM技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集，双单色仪系统可达到0.1-2 nm。AutoSoft软件界面以工作流程直观为特点，使得数据采集分析更加简便，易于非专业人员上手操作。速度提升1.5倍UVISEL Plus集成了最新的FastAcqTM快速采集技术，可在3分钟以内实现高分辨的样品测试（190-2100 nm），校准仅需几分钟。灵敏度提升2倍基于25年经验，UVISEL Plus相位调制椭偏仪提供纯正有效的偏振调制，可用于各种样品的精确测量，最新的FastAcqTM速采集技术使得测试灵敏度提高至原有的两倍，从而能获得面薄膜和纳米级低衬度衬底样品的更多信息。灵活拓展UVISEL Plus椭偏仪模块化设计，可灵活拓展，以适应的应用及预算需求。相较于其他供应商，UVISEL Plus统的可升级性能将更好的满足您未来的应用需求。卓越的性能UVISEL Plus基于相位调制技术，相位调制与高质量消色差光学设计的特有结合提供了无可匹的膜厚测试效果。• 信号采集过程无移动部件• 光路中无增加元件• 高频调制 50 kHz• 测试全范围的椭偏角，Ψ (0-90，Δ (0-360)规格项目内容光谱范围UVISEL Plus：190 - 885 nmUVISEL Plus NIR：190 - 2100 nm光源75 W 氙灯标准光斑尺寸 3 mm (90º)手动平台150 mm, 手动调节高度 (20 mm) 和倾斜角入射角手动：55º - 90º，步长5ºFUV-VIS范围高灵敏度光电倍增管检测器&低杂散光NIR范围InGaAs检测器

Harshaw TLD 3500手动热释光测量仪食品专，用其应用广泛具有吸附硅酸盐的商品（新鲜水果蔬菜、脱水水果蔬菜、香辣调味料、茶黑胡椒、牛至、红辣椒粉、红椒、孜然芹、芹菜种子、牙买加椒、黑芝麻、胡荽、生姜、、欧芹、月桂、芥末、桂皮、干香菇、干萝卜、乌龙茶、普洱茶、大麦茶、虾、螃蟹、土豆、草莓、鳄梨、蘑菇、番木瓜果、芒果、中草药等）在辐照的过程中储存的能量，通过控制加热分离出来的硅酸盐、测定其热释光的强度，可以判断该商品是否已经经过辐照。技术性能指标:（1）单位：nC, gU, mrad, mrem, mGy, Gy, μSv, mSv, Sv（2）温度范围：15oC-600 oC（3）升温速率：1oC/s -50oC/s（4）温度稳定性：+1oC（5）系统稳定性：+0.005%（6）操作温度：15~40℃主要特点：（1）加热温度可达600度；（2）所有参数通过软件设定；（3）系统操作简单快捷；（4）采用专门的分析软件；（5）内置QC诊断；（6）该方法满足欧盟EN1788-2001和日本的标准方法；（7）高灵敏度，可以检测小于1KGy的辐照剂量；（8）粉末TLD测量元件，适合辐照食品检测；（9）由热电偶监控的盘加热，确保温度重复性。技术参数配置：（1）LiF Mg Ti热释光剂量元件；（2）样品杯；（3）测量软件和计算软件；（4）X光辐照器 （备选）；（5）TLD 3500热释光辐照食品检测仪；（6）辐照食品检测用高温样品加热盘；（7）电脑；（8）激光打印机。Harshaw TLD 3500手动热释光测量仪食品专用，这款仪器不论是配置、性能指标还是特点都与其他类似的测量仪是不同的，此款测量仪功能齐全，应用广泛，并且符合热释光辐照食品检测的标准。可导入发光曲线，通过计算输出分析结果。可以同时分析多个样品的发光曲线。符合热释光辐照食品检测标准，并可通过重新设定相应参数满足其它标准。

仪器简介：关于微派克 成立于1995年的德国微派克(Mikropack GmbH)公司，是欧洲领先的仪器以及设备的生产商和供应商。产品主要是用于生物科技，光谱，通信和薄膜应用等方面的光纤和电子机械元件。光纤光谱产品线包括光源，光测量和校准系统。微排克同时还致力于生产用于薄膜测量的产品，如NanoCalc-2000(光谱反射测量仪)，SpecEl-2000(光谱椭偏仪)和PlacCala-2000与ProCess-2000(等离子监测，过程控制系统) 。微派克是英国豪迈国际有限公司的子公司。技术参数：SpecEL-2000-VIS from微派克 (Mikropack) 是一款操作便捷的台式光谱椭偏仪，主要应用于薄膜测量。它具有经济实用、小巧、便利和拥有便捷的样品支架以及一键化操作等特点。SpecEL-2000-VIS适用于测量平整和半透明的样品，例如晶圆和玻璃片。 光谱椭偏仪测量光的相位和振幅的相对变化而不是传统的绝对光强(反射测量法)。因此这项技术不同于参考测量法，可以同时得到多重参数。高速测量保证系统可以在5－15秒内得到样品厚度，同时也可得到反射系数(n)和吸收率(k)与波长(450-900nm)之间的函数。 SpecEL-2000仅有标准椭偏仪价格的一半，却包括了一个集成的宽光谱光源，导光器件，起偏器，样品台，检偏器，增强光学元件和微型线阵列CCD光谱仪。整个系统的外形尺寸仅有52× 33× 24cm，入射光的角度固定在70度。 对于不同的层状和衬底样品，SpecEL可以测量的层厚在0.1nm到8um之间，精度达到1nm。随系统还有一套以32位的Windows平台操作软件，它具有强大的功能并能提供各种模型，例如Cauchy，OJL，Tauc-Lorentz，Drude，EMA和不同的振荡器。这套软件同时存储了特定的测试模式，减少了烦琐的反复测量和重复工作。 可以选择高分辨率的组件，将照射到样品上的光斑尺寸从2× 4mm缩小到200× 400um。还有其他可以选择的组件，例如2维绘图附件，参照晶圆和各种按需定制的解决方案。

高速率微型偏振测量仪PolSNAP是一款紧凑的偏振测量仪，来自Hinds Instruments 公 司，数据采集速率为每秒2000个样本，从而得以每秒快速确 定4个Stokes矢量。光学系统，驱动电子和检测电子都集成在 一起，因此它很容易进入你的光学设置，这样你就可以确定 你的光源或光学的偏振，对激光进行质量控制，或确定你的 光学的偏振保持能力。该偏振测量仪生成所有四个Stokes参 数，并以三种不同的方式图形化地显示它们。重复度降低到 0.06%，精度在1%以内。特点 ：⚫ 内部光学系统，驱动电路和检测电路 ⚫ 无额外控制器件 ⚫ 小尺寸-手掌大小 ⚫ USB直连 ⚫ 采样速率：2000 samples/s应用：⚫ 自由空间和光纤偏振测量 ⚫ 偏振度和偏振测量的状态 ⚫ 光学组件对齐 ⚫ 光纤偏振测量 ⚫ 激光偏振状态

光弹性系数测量仪姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：光弹性系数是材料的特性常数 主要是透明材料在受力后，会出现各项异性产生双折射现象。通过光弹性系数以及双折射测量，可以获得材料内部残余应力(Mpa)的值昊量光电提供的设备通过高精密应力双折射测量，可以实现对设备实时应力双折射值（nm）观测采集。于此同时，光弹性系数测量仪 通过高精度加压加力装置，同时获得外部压力（Mpa), 从而获得材料在一定压力下，对应光程差转换常数(nm/Mpa）光弹性系数测量仪产品通过共径干涉仪和基于傅立叶分析法，实现以速度快，精度高，不受振动和空气波动等干扰等特点的双折射测量，系统采用高稳定激光光源（2mw），实现优化化光学元件配置，实现长期几乎免维护时间光弹性系数测量仪参数:变形方式：拉伸/压缩测量样品尺寸：用于拉伸试验：10 x 80 mm用于压缩测试：Φ20mm，薄15mm厚度：0.3 至 15 毫米驱动系统：步进电机左右螺杆同时驱动拉伸压缩距离：100 毫米称重传感器：额定 50 N（可更换为 200 N、1000 N）恒温层控温：室温-200℃温控精度：±1℃光弹性系数测量仪可测量内容：光学特性 光弹性常数、双折射机械性能弹性模量（杨氏模量）、断裂强度通过这些测量，可以进行弹性区域的形态分析以及拉伸特性和取向特性的分析。 光弹性系数测量仪补充基本原理:让具有双折射的样品通过两频正交线偏振光（STZL 振荡光），使其主轴与偏振面重合。每个偏振分量通过样品的速度在样品的“双折射快轴”和“慢相”方向之间不同。因此，通过样品后，会出现“相位差”。通过使用光学外差干涉法检测相位差，可以高精度地定量测量样品的双折射量。外差干涉法测量双折射：通过叠加两个频率略有不同的波，可以观察到等于频率差异的“拍频”。从这个拍品中提取必要的信息称为外差法。由于光也是一种波，它自然会产生“频率“从“光学节拍”中提取信息称为光学外差干涉法。在调音中，我们经常使用音叉。考虑用它来调整你的吉他。一开始，如果在琴弦松动的情况下拨动琴弦同时使音叉发出声音，将分别听到琴弦的声音和音叉的声音。当琴弦逐渐拉紧时，整体听起来像是一个声音，但如果仔细聆听，您会发现声音以非常快的周期重复强弱（状态 1）。随着琴弦进一步拉紧，声音强度的周期逐渐变长（状态 2），最终声音的强度完全消失（状态 3）。这种声音的强度称为“节拍”。当两种声音（波）的频率不同时，感觉节拍就是不同的频率。当音叉音与弦音的频差较大时（状态1），节拍周期快（节拍频率大）。随着两个声音之间的频率差变小（状态 2），节拍周期变慢（节拍频率变小）。这样，两波重叠就产生了“拍”，拍的频率就等于两波的频率差。在这种情况下，音叉的频率是恒定的，因此如果将其视为参考信号，则可以通过拍频来区分（=检测）琴弦的频率，即声音的周期强度。在光的情况下，会发生与声音相同的现象。也就是说，当两种频率略有不同的光叠加时，就会产生与不同频率相等的光拍。这种称为“光节拍”，而光节拍的频率有时简称为“节拍频率”。光节拍被检测为光强度的周期性变化（明暗变化）。如果您向两个光之一提供一些信息，该信息将相应地出现在光学节拍中。这里的信息意味着为光的振幅、相位和频率提供某种信号。换句话说，当一个光具有某些信息时，可以在该光上叠加另一个“参考”光（这称为参考光）并从光拍频信号中提取信息。这种信号检测方法称为“光外差干涉法”。光学外差干涉测量具有以下特点。通过使用锁定放大器等检测信号，可以进行高精度、高灵敏度的测量。当信号信息仅为相位信息时，不受干扰引起的信号光强度波动的影响。它不受不同频率的信号分量（一般是噪声）的影响。通过增加参考光的强度，可以检测到微弱的信号。等等通过相关计算公式最终可以获得待测双折射：主轴方向的同时测量：但是，在上述方法中，（1）必须事先获得样品的双折射主轴方向，（2）主轴方向必须与振荡STZL 的偏振面... 因此，在围绕光轴旋转STZL振荡光的偏振面的同时检测相位差，同时获得双折射量及其主轴方向。为了使偏振面绕光轴旋转，我们利用了半波片的“将发射偏振面旋转了入射偏振面与波片主轴夹角的两倍”的特性。该图显示了使用光学外差法同时测量双折射量及其主轴方向的光学系统。在这种光学外差干涉仪中，STZL 振荡光的两个偏振分量通过完全相同的光路，从光源到光电探测器。因此，扰动的影响——例如振动和空气波动——将影响完全相同的两个极化分量。结果，由这些干扰引起的所有噪声分量都被抵消了，而光差拍信号根本不受影响。一般的光学干涉仪都需要实验设备来去除振动和空气波动，但根据这种测量方法，这种设备是不需要的。这是进行光学测量的一大优势。辅助信息：双折射当光从空气进入透明材料时，光在边界处发生弯曲。换句话说，行进方向发生了变化。这是由于空气和透明材料的不同特性。在我们周围的环境中，当我们进入浴缸或游泳池时，我们可以通过让我们的手臂看起来弯曲在水面上来体验它，水中的东西看起来比实际更近或更大。当光以这种方式进入不同的物质（例如，从空气到水）时，光传播的方向发生弯曲，称为“光的折射”。那么光为什么会折射呢？原因是光通过材料时，其通过的速度不同。从感官上来说，我们可以理解，在水中行走和在陆地上行走，在陆地上的速度要快得多。由于水的密度比空气大，阻力相应增加，所以你不能走得快。粗略地说，你可以用同样的方式来思考光。“当光线穿过致密的材料时，通过的速度会变慢。”如下图A所示，尝试将手腕浸入水中。然后，如果像 b 一样将手移向黄色箭头，由于水的阻力，手会自然弯曲。那时，手背会略微朝下。其实光行进的方向可以用这种方向来表示。在光的情况下，手背的方向称为“波前”。换句话说，当光线进入折射率高的地方时，光线的波阵面由于其电阻而弯曲，结果光线的行进方向发生弯曲。这就是光的折射。折射度因物质而异，每一种都有唯yi的值。

作物夹角测量仪由托普云农研发生产，作物夹角测量仪可自动生成数据列表，包含测量时间，图片，作物夹角、作物茎粗等信息，节约数据整理时间。作物夹角测量仪详情请联系托普云农！作物夹角测量仪功能特点：1.超轻便手持式设计，方便田间和室内测量使用；2.大屏幕彩色手触摸屏，安卓系统，6400万像素；3.测量速度快，拍照3秒即出结果，可先拍照后批量处理；4.手动修正功能强大，手动触摸屏幕进行修正，使结果更准确；5.手机和作物之间固定距离设置，重复性拍摄角度无差异；6.压板和转轴柄一体式连接，方便固定作物茎部，减少风吹草动对作物角度拍摄的影响；7.环境适应性广，无需做遮光处理，可以在离体或活体情况下测量作物夹角和茎粗数据；8.自动调节白平衡，不受天气、光照等环境条件的影响；9.数据查看多样化：拍照分析后即可查看测量结果，也可在历史记录中查看数据报表，可导成EXECL格式，并可分享至微信、QQ和钉钉；10.自动生成数据列表：测量时间，图片，作物夹角、作物茎粗等信息，节约数据整理时间；11.作物夹角适用的作物：水稻、小麦、油菜；作物茎粗对各种作物的茎粗都适合测量。技术参数：1.外形尺寸：307*140*80mm；2.底板材料：黑色双面细磨砂亚克力；3.背景材质：白色磨砂PVC防水纸；4.测量范围：作物夹角：0-180°；作物茎粗：0-52mm；5.测量误差：作物夹角≤±1°；作物茎粗：≤±1mm；6.图像分辨率：2400×1080；7.电池：4500mAh续航时间8h以上；8.配置：作物夹角测量仪背景装置1件，测量主机1台，充电器1台。

高精度偏振态测量（斯托克斯量测量）系统紫外~近红外 高精度斯托克斯量测量系统 利用光弹调制器技术，Hinds公司的科研级高精度偏振态量测量系统可以获得比一般偏振测量一高出一个数量级的精度（Stokes parameter sensitivity: 0.0001）。速度上，也可以从一秒钟10组（40个）斯托克斯量提升到100组（400个斯托克斯量）。波段上，除了可见光波段，该套测量系统还可以用在紫外/深紫外/近红外及中远红外系统的使用斯托克斯测量系统，偏振测量系统，偏振测量仪，椭偏仪，偏振态测量仪，偏振分析仪，偏振态分析仪利用光弹调制器技术，Hinds 公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪可以获得比一般偏振测量一高出一个数量级的精度（Stokes parameter sensitivity: 0.0001）。速度上，Hinds 公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪也可以从一秒钟10组（40个）斯托克斯量提升到每秒100组（400个斯托克斯量）。波段上，Hinds公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪除了可将光波段，该套测量系统还可以用在紫外/深紫外/近红外及中远红外系统的使用总的来说，Hinds公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪为有高精度，高速度需求的偏振态测量需求提供了全套解决方案。产品参数：1. Wavelength Range: 400 – 700 nm 可拓展到深紫外至 中远红外 （130 nm to 18 um）2. Stokes parameter accuracy: better than 1%3. Stokes parameter sensitivity: 0.00014. Fiber compatible options available5. 探测强度：皮瓦 产品应用：1. 质检测量2. 材料测量3. SOP and DOP4. 天文探测5. 光纤偏振态探测

Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，实现2.5D和3D复合测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。测量界面Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。高度测量Novator中图激光扫描3D光学影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量Novator二次元影像测量仪搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

货期：30天 品牌：北斗仪器 型号：CA200P产地：广东东莞 名称：制药型光学接触角测量仪 接触角（Contact angle）是指在气、液、固三相交点处c作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ，是润湿程度的量度。是现今表面性能检测的主要方法。采用光学成像的原理-图像轮廓分析方式测量样品表面的接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等。主要由光源、注射单元、样品台、采集系统、分析软件等组成。设备采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。测量方法 接触角测量仪可以用来研究药物与不同材料表面之间的相互作用的接触，这对于药物的溶解性、吸附性以及药物管道等方面都具有重要的意义。可用于制药/仿制药/微针药物等行业的研究。1.药物溶解性测试：用来研究药物在固体载体上的溶解性和湿润性，这对于药物制剂的研发和优化非常重要。2.药物释放性能评估：制药过程中，药物需要从固体药物制剂中释放出来。帮助评估药物颗粒或载体材料的湿润性，从而影响药物释放的速率和方式。3.药物吸附性能研究：用于研究药物在固体表面的吸附行为，这对于药物传递、释放和稳定性的理解至关重要。4.药物晶体学研究：药物晶体的形态和结构与药物的性能和稳定性密切相关。可以帮助了解晶体表面的湿润性和晶体与溶液之间的相互作用。5.药物包覆和涂层研究：制药领域常常需要对药物颗粒进行包覆或涂层处理，以改善其生物利用度或稳定性。接触角测量可以用来评估涂层的湿润性和附着性能。设备整体参数型号CA200P名称制药型光学接触角测量仪类型制药型机身材质航空铝输入电源220V 50-60Hz功率10W仪器尺寸约655mm（W）*180mm(L)* 500mm(H)仪器重量约14KG样品平台系统左右X移动手动：行程30mm,精度0.1mm前后Y移动手动：行程50mm,精度0.1mm上下Z移动手动：行程30mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整，摄像头水平调整（配送专业级XY水平仪）样品台尺寸130*150mm（可定制）可放置最大样品200（W）*∞(L)*30(H)mm样品台材质航空铝注射系统注液移动行程Y行程：40mm Z行程：35mm，精度0.1mm（针头对中及液滴转移）滴样控制移动行程：60mm,精度：0.01mm滴样方式自动滴样速度0.01-25ul/s滴液精度0.01ul加液方式自动（配送5ml玻璃烧杯加液）微量进样器容量：500ul（全自动液位实时检测）针头标配0.5mm不锈钢针头（可替换）10个、超疏水针头0.25mm（可替换）10个采集系统相机日本SONY原装进口高速工业级芯片(Onsemi行曝光)镜头0.7x-4.5x传感器类型1/2.7英寸全局扫描CMOS分辨率1280×1024焦距±2.5mm可调图像拍摄方法单张、间隔、连续拍摄间隔时间500-3600000ms视频录制方式录像、回播、合成清晰度测量全自动软件对焦最大拍摄速度400帧/s光源系统光源美国进口工业级蓝色冷光源（有效避免因光源散发热量蒸发液滴）组合方式采用日本进口石英扩散膜使得亮度更均匀，液滴轮廓更清晰使用寿命5万小时以上亮度调节PWM无极调节+软件调节亮度识别通过北斗独家算法自动识别亮度保证最佳亮度光源波长465nm功率1W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法等测量软件CA V2.0静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法（static contact angle）自动拟合法（ms级别一键全自动拟合，不存在人工误差）、三点拟合、五点拟合、自动测量（包括圆拟合法/斜圆拟合法（Circle method/ Oblique Circle）、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse)、B-Snake拟合法、凹凸面测量等动态接触角测量（Dynamic contact angle）前进角（Advancing angle），后退角（receding angle），滞后角（hysteresis angle）(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°＜θ＜180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法，OWRK法，Zisman法，EOS法，Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法（软件中预装37种液体数据库，可自行建立液体性能参数）数据可直接调入用于表面能估算，液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位mJ/m² 表界面张力测量方法自动拟合+手动拟合精度0.01 mN/m测量范围0.1mN/m-2000mN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 mN/m单位mN/m审计追踪修改与编辑禁止记录导出格式PDF溯源系统标配入口单独是否可关闭禁止权限分级角色试验员、技术员、管理员自定义定时登出可自定义时间权限编辑允许权限状态激活与冻结用户管理标配用户数量99个众所皆知，软件是一台仪器的灵魂所在，组成系统的硬件虽为测量提供了基础，但只有在软件的支持下，才能完美地实现硬件的功能，充分发挥其潜力，使系统的总体功能和性能如虎添翼。本公司研发定制的CA 2.0静/动态接触角测量软件+表面能测量软件专用测控软件自2010年开始就面向客户提供使用，经过多年来各行业客户的使用反馈、使用要求、国家标准和国外标准的融合，已经达到一个很成熟稳定的状态。拥有自主知识产权的软件控制系统（行业内极少），在对以后软件升级，新标准更换的时候起到一个很大的优势。软件著作权静动态接触角测量软件版权声明：广东北斗精密仪器有限公司拥有光学静动态接触角分析测量仪CA 2.0软件的所有知识产权，本计算机程序受版本法/著作权法和国际公约保护，未经书面授权擅自传播本程序部分或者全部可能遭受严厉的民事刑事制裁，并将在法律允许的范围内受到最大可能的起诉测试报告1.精细机械：系统的框架选用高质量的进口高强度氧化保护铝型材并烤漆处理，所有的其它主要组件也都是由铝合金，不锈钢和铜合金通过精密制作而成。保证仪器极强的稳定性。2.精密定位：系统所有的线性移动单元，包括三维样品台（xy-轴），(Z-轴)注射器/针头的移动调节，均是由直线铜齿条和精密燕尾槽驱动，确保传动平稳、轻松和精细。3.配置齐全的进样器与针头选择：提供数十种不同规格的进样器供使用者选择，如不同规格（25ul/50ul/100ul/250ul/500ul/1000ul….）,不同材质（气密玻璃进样器/塑料进样器），不同品牌（Hamilton/boli….）以满足不同客户需求。提供各种规格（10-34#）以及不同材质（不锈钢/聚四氟乙烯/pp挠性针头）以及特殊针头（弯曲针头），可用于常规接触角测量，也可用于超疏水、超亲水、高粘度等特殊液体的进样、液滴转移等。4.成像系统：采用了行曝光（Rolling Shutter）高分辨率CMOS图像传感器配合pomeas0.7-4.5远心轮廓镜头。保证最佳的成像效果。同时亮度连续数字可调的高强度背光冷光源为成像提供了均匀的背景照明。优质镜头和高分辨率相机能够以理想的尺寸和亮度在图像中显示出液滴，即使是非常小的液滴。5.领 先 的 软 件 平 台 ：软 件 是 整 个 测 量 系 统 的 灵 魂 和大 脑 。 CA 2.0软件 为用户 提 供 了 范 围 广 泛 的功 能 和 特 性 ，而 且 其 中 的 许 多 项目 在 这 一 领 域 均是 出类拔萃 。作 为 一 光 学 方 法 ，测 量 的 精 度 取 决于 成 像 的 质 量 和 后 着 的 处 理 、 分析 和 计 算 方 法 。 其 中 采 用 的 亚 像 素 （ sub-pixel） 液 滴 坐标 检 测 ，自 动 液 /固 /流 -三 相 接 触 线 识 别 ， 液 滴 全 轮 廓 分析 ，和 基 于 连 续 信 息 反 馈 的 液 滴 监 视 功能 等构成了 软 件 的 核 心 组 件 ， 而且 这 一 切 又 都 能 实 时 完成。具备双边接触角自动测量快速拟合功能，分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况。6.软件自动生成报告，其中涵盖word、excel、PDF图文、谱图等多种数据报告。7.基线自动倾斜功能，可修正由于样品倾斜或机台倾斜时的差异。8.分级管理系统，权限管理。分实验员与管理员。避免人为数据的改动影响测试结果。9.具备双边接触角测量快速拟合功能，更全面量分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况；10.动态拍摄、视频快速测试数据，可以连续性记录测试接触角的变化，再由软件自动批量拟合；11.具备历史数据库功能，记录每一次的测试结果，可追溯历史测试结果。1.usb2.0数字CCD摄像头 1个2.连续变倍光学系统 1个3.手动加样系统 1套4.手动CCD倾斜系统 1套5.表界面分析测量系统应用软件 1套6.说明书纸质一份及说明书电子版 1份7.保修卡及合格证1份8.亲水进样针10个，疏水进样针10个9.500ul进样器1个10.电源线及数据线1条11.XY专用水平仪1个配置清单物料名称数量规格描述主机框架1高强度进口欧标航空铝合金结构搭配模块化设计相机1USB2.0接口， SONY 1/1.8" MT9M001 Rolling shutter CMOS，分辨率H1280×V1024，帧率80fps镜头1对焦距离90mm光源1日本CCS工业级深度定制单波长LED轮廓冷光源，120个密集光源点，配合美国进口柔光板与均光板，亮度连续可调，12V安全电压支撑脚1铝合金+减震胶垫结构，配合减震系统，可调节机台水平与防震效果俯仰调整滑台1螺杆控制，调整范围±1°滴液驱动模块1电机驱动，超细牙丝杆转动，移动行程60mm，导程1mm，重复定位精度±0.01μl滴液升降模块1旋钮驱动，丝杆转动，重复定位精度±1mm样品台升降滑台1齿轮齿条控制，移动行程30mm，分辨率0.1mm样品台平移滑台1齿轮齿条控制，移动行程X30×Y50mm，分辨率0.1mm固定件和连接件1AL6061铝合金数控加工而成，表面烤漆处理控制器1微机控制系统，发送指令控制滴液系统电气控制单元1集成了包括电路、电位器、开关、电源等测量软件1包括接触角测量、表面张力测量、表面能估算和润湿性分析微量进样器1500uL，分辨率0.001ul耗材1亲水进样针，疏水进样针,500ul进样器电脑（选配）1如下配置物料名称品牌物料名称品牌CPU英特尔i3处理器鼠标键盘力拓主板英特尔H61主板机箱金和田内存华硕 8G DDR3 1600电源长城硬盘七彩虹 250G显示器HUYINIUDA 19寸(电脑为选配件 客户可以自配)

XY-T2000压力风速风量仪 （皮托管+微压计）XY-T2000压力风速风量仪 （皮托管+微压计）数字式微压计主要适用于2000Pa压力范围内气体总压、静压，和差压的测量，配上皮托管隆拓数字式微压计便可测量管道的风速，还可以根据风速计算风量。XY-T2000数字式微压计广泛应用于气体、液体的正压、负压和差压的测量。是各环境监测站、实验室、医药卫生、建筑空调供暖、无尘室测试或标定压力的理想仪器。技术参数：1、压力范围：压力范围：0～±2000Pa/3000pa/5000pa/8000pa/10Kpa/20 Kpa...99KPa〖注：特殊规格可定做〗2、风速范围：≤60m/s3、风量范围：≤99999m3/h4、最大过载能力：≤200％FS5、准确度等级： 0.5FS%/1.0FS%6、分辨率：0.1pa/1Pa/10pa7、预热时间： 5～15min8、电 源: DC4.5V（3节5号碱性电池）9、重 量：＜0.3kg10．外形尺寸： 70×150×30mm 特点:1、大屏幕双排中文液晶显示,示值国际单位指示。2、压力、风速、风量数值直读，及环境温度显示。 3、可手动设置皮托管系数、空气密度、风管面积等变量。 4、进口微压传感器、超低功耗微电脑、高性能仪表集成放大器。5、全触摸按键、数字调零、背光控制。6、根椐测定工况存储和查阅9组测量数据。

仪器简介：在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。技术参数：规格与主要技术指标： 测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm； 折射率范围：1-10 测量最小示值：&le 1nm 入射光波长：632.8nm 光学中心高：80mm 允许样品尺寸：&phi 10-&phi 140mm，厚度&le 16mm 偏振器方位角范围：0° - 180° 读取分辨率为0.05° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为：± 1nm和± 0.01 主机重量：25kg 入射角连续调节范围：20° - 90° 精度为0.05° 主要特点：仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点； 光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高； 仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件，方便用户使用。

Sch?fter+Kirchhoff公司成立于50年前，主要进行高质量投影和望远镜的专业光学设计。基于生产和开发能力，Sch?fter+Kirchhoff公司在激光测量和光电传感领域建立了良好的声誉。目前，Sch?fter+Kirchhoff主要有三个主要的产品线，包括线扫描相机系统，激光器以及光纤光学器件。 激光、光速整形准直耦合器件和系统激光二极管和激光器线阵扫描相机 偏正态测量仪SK010PA-… SK010PA系列偏振分析仪是一款通用型的偏振分析设备系列，它可以用来对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。适用于保偏光纤耦合，波片调整，偏振测试等应用。 主要特点：测量消光比（PER）测量偏振度（DOP）测量偏振态（SOP）实时显示偏振状态以及线性极化部分的摆动轴USB2.0接口用于通信和供电可以调节相干光源的高低测量结果可以记录和保存 可以校准极化零相位，也可以重置到出厂设置 支持LabVIEW VI-library 和 DLL 二次开发兼容microbench自由空间光路应用含FC－APC配置，适用光纤光路 主要参数：功率范围：0.01-50mW精度：η：0.4o，?：0.4o，消光比（PER）精度：0.5dB偏振度（DOP）精度：5%偏振态（SOP）精度：±0.2°在邦加球上自由空间光斑尺寸：max.4mm 采样速率：15Hz光纤适配器：FC-APC（标准），FC-PC，DIN AVIO，ST可选传感器尺寸：2.85x2.85mm2尺寸：40x70x82（wxlxh） 分析软件SKPolarimeter

中图仪器SJ5180系列长度激光测量仪采用高精度激光测量系统、精密研磨导轨、高精度温度环境补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，能够检定精密量具、精密量规，如块规、环规、塞规、卡规、螺纹规、花键规、表类、尺类。还可以检测各种精密工件内外尺寸，如齿轮、花键、校对棒、非标量规等，具有通用性强的特点。产品应用SJ5180系列长度激光测量仪能实现各种长度参数的高精度测量，具有精度高、操作便携、稳定性强、功能齐全实用等优点。仪器主要功能1、标配功能：检测量块&块规：（0.1~1000mm）；光滑环规：φ5~φ200mm（壁厚≤50 mm，高度≤50mm）、光滑塞规：φ1~φ220mm；螺纹环规：M5~M200（螺距0.8~4mm）螺纹塞规：M1~M220（螺距0.25~5.5mm）；光滑卡规：内卡5~200mm，外卡1~300mm千分尺校对杆：25~1000mm；塞尺：0.02~1mm针规：φ0.1~φ10mm三针：0.118~6.585mm；两点内径千分尺：25~1000mm；2、可选配功能：小型光滑环规：φ0.8~φ5mm；螺纹环规：规格M3~M4（螺距0.5~0.7mm）、M200~M450（螺距4.5~6mm）；光滑锥度环规：φ5~φ200mm（厚度≤50mm）；光滑锥度塞规：φ5~φ60mm（长度10~100mm）；φ60~φ200mm（长度≤50mm）；螺纹锥度环规：M5~M200mm（厚度≤50mm）；螺纹锥度塞规：M5~M60mm（长度10~100mm）；M60~ M200mm（长度≤50mm）；锯齿螺纹、梯形螺纹：M3~M450（螺距0.5~6mm）；花键环塞规/花键及标准齿轮（跨棒距测量）：内φ10~φ450mm，外φ5~φ450mm，模数0.8~6mm；外径千分尺示值误差手动校准：25~1000mm；数显及游标卡尺示值误差手动校准：75~1000mm；深度千分尺示值误差手动校准：0~25、25~50、50~75mm；三爪内径千分尺手动校准：φ6~φ200mm；表类（百分表、千分表、杠杆表手动校准）；数显半径规手动校准：R5~R700mm；轴承内外圈锥度、沟槽底径内外径及沟槽宽度、精密零部件的长度尺寸，内外径尺寸测量；高精度、高稳定性1)高精度激光测量系统，线性测量精度达到0.5PPM，分辨力达到0.01μm，测量精度高；2)精密研磨导轨系统，导轨直线度高，导轨材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作；3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆，保证测试数据的真实采集；4)采用大理石基座，保证了在头座及五轴工作台的移动过程中不会产生变形以及仪器不受外界震动干扰，保证了仪器的稳定可靠；5)采用紧凑型摩擦驱动结构，保证了头座移动过程中的稳定性。高性能五轴工作台1)X,Y,Z三轴采用高性能交叉滚子导轨：摩擦力小，稳定性好，承载高； 2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构，方便客户更好地找到三个轴的拐点； 3)Z轴可配置数显装置，用于螺距显示。高性能螺纹环规测量装置SJ5180系列长度激光测量仪配置高性能螺纹环规测量装置，可测量小螺纹环规，同时可完成小光滑环规检测；测量力为电子测力，由软件选择测力大小； 部分技术指标型号SJ5180-1000测量范围外尺寸直接：0~1020mm内尺寸比对：5~900mm测力0.1N、0.3N、0.5N、1~10N手动连续可调测量最大中径环规200mm 、塞规250mm五轴工作台型号ST-30.1（标配）Z轴0~50mmY轴±25mm负载50㎏台面尺寸350mm×125mm仪器重量180㎏仪器尺寸2000mm×400mm×450mm环境条件参考环境温度：（20±1）℃以内，温度变化不超过0.2℃/h。相对湿度控制在20%～60%。校准室内应无影响测量的灰尘、震动、噪音、气流、腐蚀性气体和较强磁场。校准实验室应符合精密仪器实验室振动等级标准，环境振动≤0.03mm/s；如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

国彪超声振幅测量仪 测振仪 振动幅度 超声波位移产品介绍 国彪超声波振幅测量测振仪是一种专门用于超声波振幅测量的设备。用于超声波塑料焊接、点焊、切割、声化学、细胞破碎等设备的输出振幅测量，也可单独测量超声波换能器、超声波变幅杆、工具头的输出振幅。 超声波振动部分接触到超声波振幅测量仪的测试杆时测试杆会进行伸缩运动，通过高精密传感器的测量把振幅显示在显示器上。超声波振幅指超声波焊接设备的振幅，通常频率在10kHz~60kHz之间，振幅在1μm~200μm之间，由于频率高、振幅小测量难度也较大，对测量精度提出了很高的要求。常用的测试手段对它无能为力，故很难测量。一般只能用激光测振仪进行测量，能得到较好的结果。但激光测振设备价格昂贵，操作复杂。生产单位和专业的研究设计单位都很少使用。 众所周知，对任何超声波焊接而言，无论是超声波塑料焊接，还是超声波金属焊接，都可以用四个参数来进行描述。换句话说，超声波焊接的效果只取决于四个参数，即频率、时间、压力、振幅。其中前面的三个参数，控制、调整和显示都很方便，设备生产者和设备用户都比较了解，给予了足够的重视，也是设备日常操作中的调节参数。超声波振动的振幅(位移量)是超声波设备的关键指标，也是最难测量和最难理解的一个物理量。除了专家学者，不要说设备的使用者，甚至连大部分的设备生产者，也对它不甚关心。我们统计了绝大部分的超声波随机设备使用说明书，很少有关于超声波振幅的说明，包括振幅的物理意义、振幅的控制与调整、振幅与焊接质量的关系。 超声波振动的振幅直接代表了超声波输出能量的大小，也关系到相关材料的强度和整机的使用寿命。无论对于生产超声波设备的厂家或是使用超声波设备的用户，怎么强调它的重要性都不为过。产品优势 1.清华大学和中科院声学所联合研发的技术。: 2.我们的PV60A/70A系列产品自2001年推向市场至今已经15年，在行业内数千家客户使用，已经成为事实上的超声波行业测量标准。 3.15年来，两百多家高校研究所在使用我们的仪器，因为高校研究所往往拥有20万以上进口安捷伦的仪器4294A,我们的仪器曾无数次地和进口的安捷伦的仪器做过测试比对，事实证明我们的仪器的测试结果是完全可信的。4.我们的仪器已经被很多德国，美国的超声应用企业选用为测试仪器，仪器是把关产品质量的关键，如果选择中国制造的仪器，是必须建立在充分信任的基础之上的。性能优点1、数字显示。2、和相对测量。3、超大显示屏可作360°旋转。4、 任意位置可清零5、任意位置可进行公制和英制转化。6、模拟指针可显示变化趋势。7、自动关机和手动关机。8、数据输出通过选配连接线直接传送给电脑进行数据处理。

梅特勒托利多SevenMulti pH计|多功能测量仪（S40K)主要特点：开创性的模块组合设计理念，一表多用，测量功能随时拓展超大液晶显示屏，背光显示双通道同时测量及显示自动/手动/时间间隔三种终点方式，对于不同样品可选择终点方式可设定时间间隔采集数据自动和手动两种温度补偿方式，补偿温度范围为-30至130℃通过RS232或USB接口连接电脑和打印机可外接条形码读码器输入样品ID与全自动样品转换器连接，可一次性完成9个样品测量完全符合GLP规范可通过LabX系统控制及连接LIMS系统梅特勒托利多SevenMulti pH计|多功能测量仪（S40K)技术参数：pH测量范围 -2.000 - 20.000pH分辨率 0.001/0.01/0.1精度 ±0.001pHmV测量范围 -1999.9 - 1999.9精度 ±0.1mV温度范围 ATC：-5 - 130℃；MTC：-30 - 130℃接入S40K 构成双通道pH/pH测量仪表 上海楚柏实验室设备有限公司为您提供实验室整体解决方案（实验室设计，实验室家具，仪器，耗材，试剂等….）可电话咨询：

中图仪器SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪集光、机、电、计算机等技术于一体，利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。在机床领域中的应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿在计量检定领域的应用1、测长机检定传统的测长机示值误差主要采用量块进行校准，受环境因素影响较大，校准条件要求高，且量程大于1m的测长机需要分段校准，效率低，而使用激光干涉仪进行校准，不仅可以提高效率，还可通过环境补偿单元对空气温度、压力、湿度和材料温度进行补偿，提高校准精度。2、三坐标测量机示值误差测量随着三坐标测量机技术的更新和发展，使用传统的量块、球板等已经难以满足大型三坐标测量机的检测要求，激光干涉仪测量准确度高，测量范围大，测量数据丰富，适合测量三坐标各项几何误差。3、位移传感器检定利用SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪对位移传感器检定成为发展趋势,其特点是测量精度高、反应速度快、易于数字化测量。在测量中设计一个精密导轨,将反射镜同被测传感器放在一起同步检测,从而形成对比，位移传感器自动检定系统与SJ6000激光干涉仪(标准)对定长位移进行测试对比,得出往复测试实验结果。4、影像仪定位精度测量影像仪传统检测方法采用线纹尺比对法进行，存在着检测精度低、测量系统误差大、成因分析功能缺失、改善方向不精准、 检测效率低下等问题。使用激光干涉仪可以对影像仪的定位误差进行快速检测，对测量数据进行运算分析，利用软件生产补偿文件快速实施二维平面多点位补偿，可大大降低设备制造过程中的精度检测难度、提升检测效率及补偿效率。

由贝拓科学自主研发生产的高温接触角测量仪HTC，用于研究材料在高温状态下熔体与其相应的基底材料间的接触角变化规律。高温接触角测量仪HTC对于高熔点材料能实现高真空或惰性气体保护气氛下的表界面性能测试，而对于低熔点材料能现实升降温过程中的收缩、变形、融化、润湿、铺展及凝固行为进行图像化、定量化表征。仪器特点● 温度可选：2200℃、1650℃、1200℃，30级程序控温 ● 接触角测量范围：0~180°，精度0.1°● 可搭配惰性气体（氩气、氮气...）保护或高真空（6.67*10-7Pa）环境● 高速高分辨率工业相机，采集速度≥220帧/秒，全程连续图像记录● 智能图像分析及数据处理软件：自动连续计算高温熔体接触角θ● 470nm蓝光光源，亮度连续可调● 一体化设计更符合人体工学主要功能● 可静态测量液/固接触角，也可动态测量接触角随时间或温度变化规律 ● 通过获取相关参数，计算熔体表面张力，评估熔体对基体材料的湿润性 ● 可实现对一些固体材料的参数测量（如烧结温度、软化温度、熔点等） ● 可测量、记录不同形状的样品在烧结过程中的变化情况● 可实现对上述参数在室温到2200℃温区内测量，通过30段程序设置可实现对复杂热处理工艺的过程分析特点和优势1. 高温稳定性：高温接触角测量仪通常具有良好的温度控制能力，可以在高温环境下保持稳定的温度，以便进行准确的测量。2. 宽温度范围：该仪器通常能够适应不同的温度范围，包括常温到高温范围，满足不同材料的测试需求。3. 实时观察：高温接触角测量仪配备显微镜和图像处理软件，可以实时观察和记录液滴形成和变化的过程，提供更详细的数据分析。4. 自动化测量：部分高温接触角测量仪具有自动化测量功能，可以进行自动的液滴形成和接触角测量，提高测试效率和准确性。5. 数据分析和导出：高温接触角测量仪通常配备分析软件，可以对测量结果进行数据处理、图像分析和导出，方便后续的数据分析和报告生成。总之，高温接触角测量仪是一种重要的表面性质测试设备，可以在高温条件下评估材料的润湿性能和界面相互作用。它的准确测量、可视化观察和数据分析功能，帮助研究人员和工程师深入理解材料的表面性质和液体与固体之间的相互作用，从而指导材料设计和应用开发。技术参数型号HTC1200HTC1650HTC2200高温炉膛温度范围室温～1200℃室温～1650℃室温～2200℃长期使用温度室温～1150℃室温～1600℃室温～2150℃测温电偶温度探头B型电偶红外测温测温精度±1℃±3℃±5℃温度控制 软件编程，30段温度设定触摸屏编程，30段温度设定触摸屏编程，30段温度设定升温速率≤15K/min12～15K/min≤50K/min加热体电阻丝硅钼棒感应线圈炉膛材质石英高纯刚玉高纯刚玉保温材料微晶氧化铝纤维微晶氧化铝纤维+气溶胶微晶氧化铝纤维+气溶胶样品尺寸5*5*5mm5*5*5mm5*5*5mm成像系统光学系统工业连续放大镜头 0.7-4.5X，12mm可调焦距相机速度视频速度227帧/秒，160万像素光源高功率蓝光LED光源，可连续调节光亮度接口USB3.0接口接触角分析接触角测试范围0°-180°接触角分析方法5种常用拟合方法软件系统视频录相功能点击录制自动保存整个测量过程为视频文件连续测量测量间隔时间可调，实时记录，连续测量接触角平均值计算左右接触角值分别计算与比较功能，软件自动求取平均接触角温度控制设置自定义温度控制，最高可设30段控温其他配件气体纯化机、真空泵、冷浴、惰性气体气氛保护

Harshaw TLD 5500热释光测量仪操作模式简单筛查模式——根据内置设定的阈值及时间参数，将样品放入样品室后只需轻轻按一下开始（start）按钮，15秒即可给出结果。筛查模式无需连接电脑。非常适合对常规样品的例行快速检测。仪器特点:1：能自动读取高达50个剂量元件2：线性升温曲线3：加热曲线包括预热和读出后退火周期4：热气式加热，温度可达600 ℃5：光电倍增管冷却器，可降低光电倍增管的噪声，提高稳定性6：测量质量保证7：自动本底扣除8：易于操作，维护和保养9：建立校正软件技术规格:1：性能：每次装50个剂量元件2：周期：用标准TTP30秒/片3：发光探测系统：动态范围：7个数量级4：预热时间：30分钟5：线性：偏差小于1%6：暗电流：相对小于50 mGy (Cs-137)7：剂量元件加热系统：方法：气体加热线性升温 (TTP)8：高压：范围从500 V-1 200 V9：稳定性：±0.005%10：单位：nC, gU, mrad, mrem, mGy, Gy, μSv, mSv, Sv11：可靠性：平均无故障运行时间 (MTBF)10,000小时12：内置自测和诊断功能13：操作温度范围：0-40 ℃14：贮存温度范围：-10-60 ℃应用领域：1：考古和地质年代测定；2：已发事故剂量测量；3：辐射食品检测；4：荧光研究。仪器优点：1：节省开支——由于无需样品前处理及试剂，日常检测费用很低。2：携带方便——便于现场测量或不同实验室之间共用。3：样品无需前处理——绝大多数样品（粉状和颗粒）取样后放入培养皿中即可测量。4：适用面广——绝大多数的食品均可检测，是所有辐照食品检测方法中适用最广的一种。5：清洁环保——无需任何化学试剂。6：操作简单——仅需15-60秒就可得到结果。7：精度——以辐照过的草药和香料为例，一次检测正确率在95%以上。Harshaw TLD 5500热释光测量仪与电脑连接使用——当与电脑连接使用时，可以通过软件自定义测量参数（例如测量时间、阈值和数据记录条件等等），可以获得样品具体的光子计数，可以测定暗计数（无光刺激时样品室的光子计数率）、空室计数（无样品时的计数率，以了解样品室是否污染），以及光电倍增管灵敏度测试等等。并可以对筛查结果不确定的样品进行校正PSL测定等等。