板芯片温度冲击专用测试机

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板芯片温度冲击专用测试机相关的厂商

  • 浙江扬清芯片技术有限公司(YoungChip)是一家专注于微流控芯片实验室整体解决方案的企业,技术力量雄厚,生产设备先进,检测手段齐全,产品质量过硬。公司可提供整套微流控芯片生产线, 包括CNC 数控微加工仪器、精密激光加工系统、光刻加工系统、塑料芯片注塑系统和微流控芯片热压键合系统, 可以加工生产所有材质的芯片, 如玻璃、石英、硅、PDMS 和PMMA 等。主营产品包括: ① 微流控芯片的设计、开发与加工服务; ②微流控芯片实验室组建及芯片技术培训; ③ 微流控芯片的耗材、配件及相关设备; ④ 模块化的芯片温度控制系统、流体操控系统和检测系统; ⑤ 基于微流控技术平台的POCT 快速检测系统。产品涵盖医疗生化诊断、环境监测、食品安全分析检测、化学合成等几大应用领域。目前,扬清芯片(YoungChip)已和中科院大连化学物理研究所、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、生物芯片北京国家工程研究中心(博奥生物有限公司)、中国石油勘探开发研究院、浙江省检验检疫局、广东产品质量监督检验研究院、深圳出入境检验检疫局、广州迪澳生物科技有限公司等多家单位建立了长期紧密的项目合作。
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  • 苏州汶颢芯片科技有限公司是一家留学人员回国创业的高新科技企业,集研发、生产、销售为一体,技术力量雄厚,生产设备先进,检测手段齐全,产品质量过硬。公司建立了完备的微流控芯片研发与生产中心,配置了三条微流控芯片生产线,包括数控CNC微加工仪器,软刻蚀有机芯片加工系统,光刻-掩模无机芯片加工系统,可以加工生产所有材质的芯片,如玻璃、石英、硅、PDMS和PMMA等。产品涵盖集成式通用医疗诊断芯片、集成式通用环境保护分析监测芯片、集成式通用食品安全分析检测芯片和基于微流控芯片的新能源体系四大系列数十个品种,以及各类科研类芯片,并在生物芯片和化学芯片领域一直保持技术和研发的领先地位,拥有81项知识产权,其中:已申请发明**65件、实用新型**7件,注册商标2件,登记软件著作权7件。
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  • 苏州原位芯片科技有限责任公司成立于2015年,由清华大学和中科院微电子专业人士共同创立,并获得国内顶尖VC机构千万级投资。公司专注于新型MEMS芯片与模组的研发、生产和销售。掌握40多项领先MEMS技术,拥有芯片设计、工艺开发、流片生产和测试的全流程自主研发、自主生产能力。 MEMS芯片凭借高精度、低成本、体积小的特点,拥有千亿级的广阔市场空间,公司已推出多款打破国外垄断产品,其中自主研发的氮化硅薄膜窗口产品凭借优异的薄膜洁净度和高强度,获得广大TEM和同步辐射研究人员的高度好评。公司已申请十余项发明、实用新型专利。未来还将推出多款新型MEMS芯片。 公司已与多家研究所、大学、医疗、工业、智能装备等行业的企事业单位建立了良好的合作伙伴关系。凭借国内领先的核心技术,公司成员齐心协力,致力于成为世界领先的生物MEMS技术公司。为更好的世界,提供更好的芯片!
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板芯片温度冲击专用测试机相关的仪器

  • PCB 板、电子芯片高低温测试上海伯东代理美国 inTEST 高低温循环测试机 ATS-545-M 应用于 PCB 板、电子芯片高低温测试。PCB板、电子芯片在出厂前需要进行环境测试,模拟PCB板在气候环境下操作及储存的适应性,已确保其在极端环境下也可正常工作。上海伯东代理的 Temptronic ThermoStream 高低温测试机可以精准快速的实现 PCB 板和电子芯片等电子元件的高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击试验 Thermal stock 、老化试验、可靠性试验等。Temptronic ThermoStream ATS-545 M 高低温测试机,温度测试范围:-80°C 至 +225°C,每秒可快速升温/降温 18°C,与传统高低温试验箱对比,inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势:1、变温速率更快2、温控精度:±1℃;3、实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块),可单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击;传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。上海伯东版权所有,翻拷必究!
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  • 上海伯东 inTEST-Temptronic thermostream 高速温度测试机应用于半导体芯片温度测试上海伯东客户某国际半导体厂商选用 inTEST-Temptronic ATS-710-M高速温度测试机用于半导体芯片的温度冲击和温度循环测试,inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供循环测试温度:-80°C 至+225°C,每秒可快速升温/降温 18 °C,成功完成芯片的温度循环测试,疲劳失效测试。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理,全权负责其新品销售和售后维修服务。inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode,温度显示精度:±1°C (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)上海伯东客户现场图片:鉴于信息保密,更详细的 inTEST 半导体芯片温度测试应用案例,欢迎拨打客服热线:021-5046-3511!上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。上海伯东版权所有,翻拷必究!
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  • 价格货期电议inTEST 热流仪车载芯片 / 车规级芯片高低温冲击测试不同于传统消费电子产品, 车规芯片前期的开发及验证期可能长达3年, 相关研发费用和时间成本高昂, 从而需要更快地响应不断变化的车辆架构和严苛的产品上市时间. 上海伯东美国 inTEST ThermoStream 热流仪满足汽车半导体行业更严格及更高效的测试要求, 可以对微控制单元 MCU, 传感器和存储器 DRAM 等车载芯片进行快速高低温冲击测试, 极大节约了客户研发成本!在车规级芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机有着不同于传统高低温冲击试验箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温18°C, 实时监测待测元件真实温度, 亦可随时调整冲击气流温度, 可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC, 单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件.车规级芯片高低温测试案例: 上海伯东客户某半导体芯片设计公司自主研发车载芯片, 要求在温度范围 - 50 ℃~ 150 ℃ 时搭配模拟和混合信号测试仪, 在电工作下检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常. 经过伯东推荐使用 inTEST 高低温测试机 ATS-545, 测试温度范围 -75 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题, 使产品符合汽车安全的电子产品标准!车规级芯片高低温测试方法1. 将被测芯片或模块放置在测试治具上, 将 ATS-545 的玻璃罩压在相应治具上 ( 产品放在治具中 ).2. 设置需要测试的温度范围.3. 启动 ThermoStream ATS-545, 利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温, 气流通过玻璃罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度.4. 在汽车电子芯片测试平台下, 高低温测试机 ATS-545 快速升降温至要求的设定温度, 实时检测芯片在设定温度下的在电工作状态等相关参数, 对于产品分析, 工艺改进以及批次的定向品质追溯提供确实的数据依据.在芯片测试中, 可为测试计划确定相应的要求, 如温度循环实验, 不同等级的温变范围及温差循环数等. inTEST 热流仪可根据预先设定的温度范围, 实现快速的温度冲击, 如温度范围 -40℃~125℃, 可分别设置低温 -40℃, 常温 25℃ 及高温 125℃, 热流仪将按照先后顺序自动进行相应测试. 针对不同的测试应用, inTEST 可通过每秒快速升温或降温 18°C, 为车载模块或电路板中的某一单个器件提供精确且快速的环境温度.鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解车规级芯片高低温测试, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究
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板芯片温度冲击专用测试机相关的资讯

  • 伯东 inTEST 高低温测试机应用于车规级芯片测试
    车规级芯片的特殊要求,决定研发企业在芯片设计之初就要考虑多层面问题:芯片架构,IP选择,前端设计,后端实现,各合作伙伴的选择;从设计全周期考虑产品零失效率以及车规质量流程和体系的建立。一套芯片,从设计到测试、到前装量产的每一个环节都有着考验。获得车规级认证也需要花费很长的时间。而在车规级芯片可靠性测试方面,ThermoStream ATS系列高低温测试机有着不同于传统温箱的独特优势:变温速率快,每秒快速升温/降温15°C,实时监测待测元件真实温度,可随时调整冲击气流温度,针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块),单独进行高低温冲击,而不影响周边其它器件。伯东inTEST高低温测试机应用于车规级芯片测试案例国际某知名半导体芯片设计公司在汽车行业拥有30年的经验,为汽车电子市场的领先制造商,其产品包括动力系统、车身系统和安全驾驶系统等芯片。不同于一般的半导体或者消费级芯片,车载芯片的工作环境要更为严苛,因此在芯片流片回来后,要经受一系列的功能验证,性能和特性测试,高低温测试,老化测试,模拟长生命周期的压力测试等等,看芯片是否符合相关标准,确保其真正达到车规级。根据客户的要求,在温度上需要考虑零下 40 度到 150 度的极端情况, 同时搭配模拟和混合信号测试仪,设定不同的温度数值, 检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常.经过伯东推荐,合作客户采用美国inTEST高低温测试机ATS-545,测试温度范围 -75 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, 快速进行在电工作的电性能测试、失效分析、可靠性评估等。通过使用该设备,大幅提高工作效率,并能及时评估研发过程中的潜在问题。高低温测试机 inTEST ATS-545 测试过程:1. 客户根据各自的特定要求,将被测芯片或模块放置在测试治具上, 将 ATS-545 的玻璃罩压在相应治具上 (产品放在治具中)。2. 操作员设置需要测试的温度范围。3. 启动 ThermoStream ATS-545, 利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温,气流通过玻璃罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度。4. 在汽车电子芯片测试平台下,ATS-545快速升降温至要求的设定温度,实时检测芯片在设定温度下的在电工作状态等相关参数,对于产品分析、工艺改进以及批次的定向品质追溯提供确实的数据依据。Temptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.
  • 久滨仪器发布耐碎石冲击试验机、碎石冲击测试机、砂砾冲击试验机新品
    二、 设备工作原理: 一定重量的砂砾通过振动弹入进料器。由于进料器下部的高速气流高速运动形成了一个真空,因此碰撞介质就被吸入射枪组件中,而后被喷射气流射向测试样件。在介质撞击测试目标后,介质就掉入砂砾收集箱内。碎石冲击试验通过碎石冲击试验机使大量小的、带有锋利边缘的钢丸或碎石在短时间内撞击涂层表面,整个试验在可控温度下进行。冲击结束后,用胶带去除松散涂层,露出样板上残留的石击点痕迹,通过分析涂层的破坏程度判断其抗石击性能的优劣。 三、 测试标准及试验方法: ISO 20567 --1《色漆和清漆 涂层的耐石击性的测定 第1部分:多次冲击试验》DIN55996-1:2001《涂层材料的碎石冲击强度检验第1部分:多重冲击试验》SAE J400《汽车表面涂层的抗碎石测试汽车工程师协会(SAE)美国测试与材料协会(ASTM)德国汽车工业协会(VDA)符合SAE J400、ASTM D3170、VDA、GM 9119P/9508P / 9619P、Ford、Mazda MES MN 601C、JIS M0141、GMW 1407、TL211-6,GME 60 268、Nissan、Chrysler 463PB-39-01、GMW14668-3.4.9、Chrysler 463PB-52-01、Volkswagen及Toyota等的测试要求。 三、主要技术参数 1、工作压力范围:0 ~ 5.0 kgf/cm2/等级1.6 ,可根据客户实际气源压力情况进行调节,最高可到8.0kgf/cm22、压缩空气管内径:19mm 或更大3、空气槽容积:180L能够满足:当打开磁阀时预先规定的400kpa(4bar)的工作压力能够持续保持至少10秒钟4、进料方式:自动进料,进料速度可调5、VDA 喷枪:30.0±0.5 mm6、SAE 喷枪:52.6±0.5 mm7、工作时间:0—999S 可调8、振动时间:0—999S 可调9、循环次数0—99S可调10、碰撞箱体配置:角度可调试验台一套 ,0—180度角度任意可以调节,更配有高精度移动式角度显示器,方便客户调节冲击角度。11、 标准试验台冲击窗口:300*300 mm (有活动的支撑架可调节窗口大小以适合不同大小的试样试样厚度不超过30 mm )。 12、试验箱外尺寸:约1800 L*950 W*1500H mm;碰撞箱主体结构采用≧6mm的钢板+烤漆;击打窗口采用10mm的钢板,抗振、耐磨性好。13、试验冲击材料:4mm—5mm硬度:61HRC-65HRC有棱角钢颗粒、或8-16mm水磨石、或JIS A5001规定的石子均可14、试验压力: 100±5kPa、200kPa±10kPa15、试验次数:1-5次均可16、喷射时间:8-12S/500g或30-35S/2000g17、喷射角度:54°±1o (特殊90°±1o)18、喷射距离:10-500mm(可调)19、喷枪内径: 30.0±0.5 mm或 52.6±0.75 mm20、试样尺寸:80×80 mm或200×100 mm21、试验温度:-20±2℃、22±5℃(室温)创新点:原来市场都是表显的,我们现改为触屏式操作,更方便,精确!
  • 用落镖冲击测试仪检测药用pvc硬片的耐冲击性能相较于落球冲击测试仪,哪个更好
    药用PVC硬片的耐冲击性能检测是一个关键的质量控制步骤,以确保药品包装的完整性和保护药品免受运输和处理过程中的冲击。落镖冲击测试仪和落球冲击测试仪都是用于评估材料耐冲击性能的设备,但它们在设计和应用方面存在差异。落镖冲击测试仪落镖冲击测试仪通常用于评估软包装材料如薄膜、复合膜等的抗冲击穿透能力。它使用一个或多个特定重量和形状的落镖,从一定高度落下冲击试样。这种测试方法更多地侧重于材料的抗穿透性能,适用于检测软包装材料在实际使用中抵抗尖锐物体冲击的能力。落球冲击测试仪落球冲击测试仪则通常用于测试硬质塑料材料如药用PVC硬片的冲击强度。它使用一定质量的球体从预设高度自由落体,冲击试样,以此来模拟实际使用中可能遇到的冲击情况。落球冲击试验可以检测药用PVC硬片的耐用性、硬度、强度和韧性等性能。比较与选择在选择落镖冲击测试仪还是落球冲击测试仪时,需要考虑以下因素:材料特性:药用PVC硬片作为一种硬质塑料材料,更适合使用落球冲击测试仪进行测试。测试目的:如果测试目的是评估材料的耐冲击能力以及硬度和强度,落球冲击测试仪可能更为合适。标准遵循:应参考相关的医药包装材料测试标准或国际标准,如YBB00212005-2015等,这些标准可能指定了特定的测试方法。设备能力:确保所选设备能够满足药用PVC硬片的测试要求,包括试样尺寸、冲击高度和能量等。结论根据上述信息,对于药用PVC硬片的耐冲击性能检测,落球冲击测试仪 更为适合,因为它专门设计用于评估硬质塑料材料的冲击强度,并且符合药用PVC硬片的测试标准和要求。

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板芯片温度冲击专用测试机相关的论坛

  • 什么是温度冲击试验机

    什么是温度冲击试验机,温度冲击试验机用于电子电子器零组件、自动化零部件、通迅组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片Ic、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化测试其材料对高、低温反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的Ic到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。  温度冲击试验机的性能特点:  1、气动式阀门方便开启,保证气密及断热保护。  2、冲击试验机试验槽完全静止,可由测试孔外加负载配线。  3、蓄能方式可避免使用者职业伤害。  4、采用彩色液晶显示人机接口控制器,温度操作简单,学习容易。  5、温度制御精度高,全部采用PID自动深处制御。  6、可选择始动位置,高温或低温开始循环。  7、具有预约起功能。  8、可设定循环次数及自动除霜。  9、运动状态显示。

  • 芯片高低温测试机运行原理说明

    芯片高低温测试机运行是具有制冷和加热的仪器设备,无锡冠亚芯片高低温测试机采用专门的制冷加热控温技术,温度范围比较广,可以直接进行制冷加热,那么除了加热系统,制冷系统运行原理如何呢?  压缩空气制冷循环:由于空气定温加热和定温排热不易实现,故不能按逆向循环运行。在压缩空气制冷循环中,用两个定压过程来代替逆向循环的两个定温过程,故可视为逆向循环。工程应用中,压缩机可以是活塞式的或是叶轮式的。  压缩蒸汽制冷循环:压缩蒸汽的逆向制冷循环理论上可以实现,但是会出现干度过低的状态,不利于两相物质压缩。为了避免不利因素、增大制冷效率及简化设备,在实际应用中常采用节流阀(或称膨胀阀)替代膨胀机。  压缩蒸汽制冷循环采用低沸点物质作制冷剂,利用在湿蒸汽区定压即定温的特性,在低温下定压气化吸热制冷,可以克服上述压缩空气、回热压缩空气循环的部分缺点。  芯片高低温测试机吸收式制冷循环:吸收式制冷循环利用制冷剂在溶液中不同温度下具有不同溶解度的特性,使制冷剂在较低的温度和压力下被吸收剂吸收,同时又使它在较高的温度和压力下从溶液中蒸发,完成循环实现制冷目的。  芯片高低温测试机是可供各种行业使用,比如:制药、化工、工业、研究所、高校等行业中使用,当然,无锡冠亚的其他制冷加热控温设备使用的范围也比较广。

  • 半导体芯片高低温测试机中真空泵的使用说明

    半导体芯片高低温测试机在运行的过程中,每个配件的性能都是很关键的,无锡冠亚的半导体芯片高低温测试机中真空泵一旦发生故障的话,就需要及时维修以及保养,这些都是不可少的。  半导体芯片高低温测试机真空泵完好标准是机体整洁,零部件完整齐全,质量符合要求。真空表、电流表等仪表齐全、灵敏、准确,并有定期检验标志。基础稳固可靠,地脚螺栓和各部螺栓连接紧固、齐整,丝扣外露长度符合规定。管线、阀门等安装合理,标志分明,符合要求。各零部件的安装间隙应达到规定要求。半导体芯片高低温测试机真空泵运行性能要求要注意半导体芯片高低温测试机的润滑良好,油质符合要求,实行“五定”,设备运转平稳无杂音,其振动和噪声不应超过有关规定,设备负荷运转时,温度、压力、流量、电流等参数应符合相关标准。  半导体芯片高低温测试机真空泵设备及环境要求需要注意泵体清洁,外表无尘灰、油垢。基础底座表面及周围无积水、废液及其他杂物等。阀门及管件接头等处不得有泄漏。填料密封处泄漏不超过规定。  半导体芯片高低温测试机真空泵日常维护需要注意半导体芯片高低温测试机周围环境应保持清洁、干燥,通风良好,检查冷却水路是否畅通,检查各润滑部位的润滑油是否符合规定。每班必须检查各部紧固螺栓,不得有松动现象,经常检查真空罐中的液位是否正常有效,并进行必要紧固。随时检查真空表、电流表的读数是否正常。随时注意观察半导体芯片高低温测试机运转有无异常声响或振动,必要时可报告有关部门进行状态。操作人员必须严格按《操作规程》进行操作,巡回检查发现问题必须及时处理。  半导体芯片高低温测试机中真空泵的故障解决也是影响整个半导体芯片高低温测试机运行的效果的,以及后期真空泵的保养也是很重要的,这些都是不可忽视的,望悉知。

板芯片温度冲击专用测试机相关的耗材

  • 冲击试验箱,热冲击试验箱
    冲击试验箱,热冲击试验箱,冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,冲击试验箱,热冲击试验箱,吊篮移动式温度冲击试验箱,高低温冲击箱产品用途温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验,作为提高可靠性,提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN(宏展公司)生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。产品特点热冲击试验箱有两个或者三个独立的,并可单独控制的试验箱,产品在这些箱体之间自动移动,从而来实现产品的温度冲击。这样冲击的结果对判断部件的好坏非常有用。温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验,作为提高可靠性,提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN(宏展公司)生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。立式两箱式试验箱有独立可控制的冷箱和热箱。一个装载试验产品的吊篮,可以在两个箱体之间移动,使产品感受温度变化。卧式三箱式试验箱有三个温度控制区域,分别是热箱、室温箱、冷箱。这种类型试验箱吊篮的的移动方式为从室温箱移动到热箱或冷箱的任意一个箱内。这样,产品可在室温箱内停留一段时间,经受较少的热冲击。双工位系统有三个试验箱,中间是冷箱,两边是热箱。两厢式产品吊篮内的产品由冷箱移动到热箱的同时,使另一个吊篮内的产品由热箱移动到冷箱,这种结构提高了制冷系统的效率,可以在同一台设备内,相同时间内作进行更多的试验。以上所有三种类型热冲击试验箱都由HONGZHAN的Q8-700编程控制器自动控制,它是针对热冲击试验设计的。ATS-195-V 两箱式热冲击箱ATS-320-V 两箱式热冲击箱ATS-320-DD 双工位热冲击箱控制系统*OYO Q8-700温度控制器(日本原装进口)高分辨率 彩色触摸屏接口交互式参数输入方式支持英文,中文提供内置SMPS的I/O RELAY BOARD-接线简化和节省成本高精確、高信任度基于PC的方便监控方便设定多达33种的输出(内置计时器)方式支持利用USB存储器-可代替记录器内置基于先进的PID算法的自动调谐功能提供强有力的通讯环境和支持99台多分支结构卓越的Fuzzy功能和ARW启动-抑制超程標準RS-232C、 RS-485通訊介面立式 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-100-V12"宽 x 12"深 x 12"高(30cmx30cmx30cm)40 磅ATS-195-V15"宽 x 15"深 x 15"高(38cmx38cmx38cm)80 磅ATS-320-V25"宽 x 15"深 x 15"高(64cmx38cmx38cm)80 磅ATS-900-V25"宽 x 25"深 x 25"高(64cmx64cmx64cm)120 磅卧式 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-320-H15"宽 x 25"深 x 15"高(38cmx64cmx38cm)80 磅ATS-900-H25"宽 x 25"深 x 25"高(64cmx64cmx64cm)120 磅立式双工位 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-320-DD25"宽 x 15"深 x 15"高(64cmx38cmx38cm)120 磅ATS-1040-DD30"宽 x 25"深 x 24"高(76cmx64cmx61cm)240 磅
  • 标记试剂盒-DNA芯片
    标记试剂盒-DNA芯片AminoAllyl Labeling kit已经优化,可使用1至2微克的mRNA作为起始材料,可以生成200至500毫微克的染料标记的cDNA。标记试剂盒支持所有基质和芯片表面化学作用,并提供染料大量有效地掺入。协议简单,AminoAllyl Labeling kit试剂盒是现成使用的,不需要任何缓冲液或柱制备。染料去除减少了芯片杂交的背景。标记试剂盒AminoAllyl Labeling kit可与总RNA提取试剂盒盒MiniAmp 扩增试剂盒一起使用。标记试剂盒规格编号名称AFK间接氨基烯丙基荧光标记试剂盒(20标记反应)
  • 美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA
    美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA产品名称:美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA应用点: 芯片或者元器件粘接产品特点:ME8456-DA 是一种柔性、纯银填充、导电导热的环氧糊状粘合剂,适用于芯片粘接应用。它在粘接 CTE 值高度不匹配的材料(如氧化铝与铝、硅与铜)时具有出色的柔韧性。它已被证明能很好地用于陶瓷、铜或铝基板上的超大面积芯片。铝基板上的大批量芯片粘接已被证明能承受热循环和冲击超过 1000 次。即使在最恶劣的测试条件下,湿度敏感性也得到了提高。 应用点图片:规格参数:产品图片:美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA
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