板芯片温度冲击专用测试机

冲击试验箱,热冲击试验箱,冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,冲击试验箱,热冲击试验箱,吊篮移动式温度冲击试验箱,高低温冲击箱产品用途温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN（宏展公司）生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。产品特点热冲击试验箱有两个或者三个独立的，并可单独控制的试验箱，产品在这些箱体之间自动移动，从而来实现产品的温度冲击。这样冲击的结果对判断部件的好坏非常有用。温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN（宏展公司）生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。立式两箱式试验箱有独立可控制的冷箱和热箱。一个装载试验产品的吊篮，可以在两个箱体之间移动，使产品感受温度变化。卧式三箱式试验箱有三个温度控制区域，分别是热箱、室温箱、冷箱。这种类型试验箱吊篮的的移动方式为从室温箱移动到热箱或冷箱的任意一个箱内。这样，产品可在室温箱内停留一段时间，经受较少的热冲击。双工位系统有三个试验箱，中间是冷箱，两边是热箱。两厢式产品吊篮内的产品由冷箱移动到热箱的同时，使另一个吊篮内的产品由热箱移动到冷箱，这种结构提高了制冷系统的效率，可以在同一台设备内，相同时间内作进行更多的试验。以上所有三种类型热冲击试验箱都由HONGZHAN的Q8-700编程控制器自动控制，它是针对热冲击试验设计的。ATS-195-V 两箱式热冲击箱ATS-320-V 两箱式热冲击箱ATS-320-DD 双工位热冲击箱控制系统*OYO Q8-700温度控制器（日本原装进口）高分辨率 彩色触摸屏接口交互式参数输入方式支持英文，中文提供内置SMPS的I/O RELAY BOARD-接线简化和节省成本高精確、高信任度基于PC的方便监控方便设定多达33种的输出（内置计时器）方式支持利用USB存储器-可代替记录器内置基于先进的PID算法的自动调谐功能提供强有力的通讯环境和支持99台多分支结构卓越的Fuzzy功能和ARW启动-抑制超程標準RS-232C、 RS-485通訊介面立式 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-100-V12"宽 x 12"深 x 12"高(30cmx30cmx30cm)40 磅ATS-195-V15"宽 x 15"深 x 15"高(38cmx38cmx38cm)80 磅ATS-320-V25"宽 x 15"深 x 15"高(64cmx38cmx38cm)80 磅ATS-900-V25"宽 x 25"深 x 25"高(64cmx64cmx64cm)120 磅卧式 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-320-H15"宽 x 25"深 x 15"高(38cmx64cmx38cm)80 磅ATS-900-H25"宽 x 25"深 x 25"高(64cmx64cmx64cm)120 磅立式双工位 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-320-DD25"宽 x 15"深 x 15"高(64cmx38cmx38cm)120 磅ATS-1040-DD30"宽 x 25"深 x 24"高(76cmx64cmx61cm)240 磅

标记试剂盒-DNA芯片AminoAllyl Labeling kit已经优化，可使用1至2微克的mRNA作为起始材料，可以生成200至500毫微克的染料标记的cDNA。标记试剂盒支持所有基质和芯片表面化学作用，并提供染料大量有效地掺入。协议简单，AminoAllyl Labeling kit试剂盒是现成使用的，不需要任何缓冲液或柱制备。染料去除减少了芯片杂交的背景。标记试剂盒AminoAllyl Labeling kit可与总RNA提取试剂盒盒MiniAmp 扩增试剂盒一起使用。标记试剂盒规格编号名称AFK间接氨基烯丙基荧光标记试剂盒（20标记反应）

美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA产品名称：美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA应用点: 芯片或者元器件粘接产品特点：ME8456-DA 是一种柔性、纯银填充、导电导热的环氧糊状粘合剂，适用于芯片粘接应用。它在粘接 CTE 值高度不匹配的材料（如氧化铝与铝、硅与铜）时具有出色的柔韧性。它已被证明能很好地用于陶瓷、铜或铝基板上的超大面积芯片。铝基板上的大批量芯片粘接已被证明能承受热循环和冲击超过 1000 次。即使在最恶劣的测试条件下，湿度敏感性也得到了提高。 应用点图片：规格参数：产品图片：美国AiT柔性单组份环氧导电银胶芯片粘接银胶ME8456-DA

您所在的位置：东莞市宏展环境科技有限公司 产品展示蓄热式高低温冲击试验箱放大图片产品名称：蓄热式高低温冲击试验箱产品型号：TS-3P系列产品价格：产品特点：冷热冲击试验箱,蓄热式冷热冲击试验箱,储温式冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,三箱气体式温度冲击试验箱,三箱高低温冲击试验箱.订购热线:0769-83730866.　详细介绍：TS系列蓄热式高低温冲击试验箱/可程式冷热冲击试验机/热冲击测试箱高低温冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。高低温冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区完全静止，采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用；2、可由测试孔外加负载配线测试部件；3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然；4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统；5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷；6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能；7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能；8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜；9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 高低温冲击试验箱执行与满足标准1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；4、GJB150.5-86温度冲击试验；5、GJB360.7-87温度冲击试验；6、GJB367.2-87405温度冲击试验。7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 一箱式8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 二箱式9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化10、GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则11、GB/T2423.22-2002温度变化12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则13、EIA364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估高低温冲击试验箱技术规格型 号 温度冲击范围:-40~+150 ℃温度冲击范围:-55~+150 ℃LTS-50LTS-80LTS-150LTS-252STS-50STS-80STS-150STS-252■ 性能 试验方式气动风门切换 2 温室或 3 温室方式高温室预热温度范围60 ～ + 200 ℃升温速率RT. &rarr + 200 ℃　约 3 5 分钟低温室预冷温度范围-55 ～ -10 ℃-65 ～ -10 ℃降温速率+ 20 &rarr -55 ℃ 约 6 0 分钟＋ 20 &rarr － 65 ℃ 约 7 0 分钟试验室温度范围-40 － +150 ℃-55 － +150 ℃温度偏差± 2 ℃温度恢复时间5 分钟以内恢复条件高温曝露低温曝露高温曝露低温曝露150 ℃： 30 分钟－ 40 ℃： 30 分钟150 ℃： 30 分钟－ 55 ℃： 30 分钟※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2. 恢复条件：室温为＋ 20 ℃。■ 主要部分、结构 材 料外壳纹路处理不锈钢板或优质冷轧钢板静电喷塑内体不锈钢板 (SUS304)绝热聚氨酯泡沫和玻璃纤维构成高温室加热器鳍片式散热管形不锈钢电热器风机高温环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机低温室加热器、冷却器鳍片式散热管形不锈钢电热器 、翅片式冷却器、蓄冷器风机离心风机驱动装置气动气缸高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用空气压缩机提供驱动气动风门的压缩空气（选件）制冷机组制冷方式机械压缩二元复迭制冷压缩机欧美原装进口全封闭或半封闭压缩机制冷剂环保冷媒 R-507/R-23冷凝器不锈钢钎焊板式换热器■ 温度控制器 操作界面7.5"TFT 彩色 液晶显示触 摸屏，中文菜单提示程序记忆容量96 个用户程序（可自行编制、修改）设定指示范围时间： 1 分钟～ 99 小时 59 分钟，循环： 1 ～ 999 次 循环分辨率± 0.1℃输入PT100 铂电阻控制方法PID 控制附属功能定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示■ 规格 内部尺寸 (cm)D3540506035405060W4050607040506070H3540506035405060外形尺寸 (cm)D132147192217132147192217W125135155165125135155165H157150160170157150160170内容积 （升）50801502505080150250电 源AC 380± 10%V 50± 0.5 Hz ， 三相四线 + 保护地线功 率 (kw)16kw25kw30kw40kw22kw30kw35kw47kw试样重量2.5kg5kg10kg15kg2.5kg5kg10kg15kg■ 标准配置 累计计时器 1 个，引线孔（ 25× 100mm 长圆型孔 箱体左侧面） 1 个，脚轮 6 个，调整脚 4 个■ 安全装置 漏电断路器，试验室温度过高、过低保护器（控制器内置），排气阀，试样电源控制端子，高、低温室超温保护（控制器内置），压缩机超压、过热保护，断水继电器，风机热继电器，电动机温度开关，电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝。■ 选配 温度记录仪

冲击试验箱,热冲击试验箱,冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,冲击试验箱,热冲击试验箱,吊篮移动式温度冲击试验箱,高低温冲击箱产品用途温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN（宏展公司）生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。产品特点热冲击试验箱有两个或者三个独立的，并可单独控制的试验箱，产品在这些箱体之间自动移动，从而来实现产品的温度冲击。这样冲击的结果对判断部件的好坏非常有用。温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN（宏展公司）生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。立式两箱式试验箱有独立可控制的冷箱和热箱。一个装载试验产品的吊篮，可以在两个箱体之间移动，使产品感受温度变化。卧式三箱式试验箱有三个温度控制区域，分别是热箱、室温箱、冷箱。这种类型试验箱吊篮的的移动方式为从室温箱移动到热箱或冷箱的任意一个箱内。这样，产品可在室温箱内停留一段时间，经受较少的热冲击。双工位系统有三个试验箱，中间是冷箱，两边是热箱。两厢式产品吊篮内的产品由冷箱移动到热箱的同时，使另一个吊篮内的产品由热箱移动到冷箱，这种结构提高了制冷系统的效率，可以在同一台设备内，相同时间内作进行更多的试验。以上所有三种类型热冲击试验箱都由HONGZHAN的Q8-700编程控制器自动控制，它是针对热冲击试验设计的。ATS-195-V 两箱式热冲击箱ATS-320-V 两箱式热冲击箱ATS-320-DD 双工位热冲击箱控制系统*OYO Q8-700温度控制器（日本原装进口）高分辨率 彩色触摸屏接口交互式参数输入方式支持英文，中文提供内置SMPS的I/O RELAY BOARD-接线简化和节省成本高精確、高信任度基于PC的方便监控方便设定多达33种的输出（内置计时器）方式支持利用USB存储器-可代替记录器内置基于先进的PID算法的自动调谐功能提供强有力的通讯环境和支持99台多分支结构卓越的Fuzzy功能和ARW启动-抑制超程標準RS-232C、 RS-485通訊介面立式 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-100-V12"宽 x 12"深 x 12"高(30cmx30cmx30cm)40 磅ATS-195-V15"宽 x 15"深 x 15"高(38cmx38cmx38cm)80 磅ATS-320-V25"宽 x 15"深 x 15"高(64cmx38cmx38cm)80 磅ATS-900-V25"宽 x 25"深 x 25"高(64cmx64cmx64cm)120 磅卧式 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-320-H15"宽 x 25"深 x 15"高(38cmx64cmx38cm)80 磅ATS-900-H25"宽 x 25"深 x 25"高(64cmx64cmx64cm)120 磅立式双工位 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-320-DD25"宽 x 15"深 x 15"高(64cmx38cmx38cm)120 磅ATS-1040-DD30"宽 x 25"深 x 24"高(76cmx64cmx61cm)240 磅

冲击试验箱,热冲击试验箱,冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱,冲击试验箱,热冲击试验箱,吊篮移动式温度冲击试验箱,高低温冲击箱 产品用途温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN（宏展公司）生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。 产品特点热冲击试验箱有两个或者三个独立的，并可单独控制的试验箱，产品在这些箱体之间自动移动，从而来实现产品的温度冲击。这样冲击的结果对判断部件的好坏非常有用。 温度冲击试验通常用于要求满足军标的芯片、集成电路、印刷线路电路板等产品的测试。现在很多民用企业也要求作快速温变极限试验，作为提高可靠性，提高产品质量程序的一部分。HONGZHAN（宏展公司）生产多种类型的热冲击箱以满足不同行业的试验要求。 立式两箱式试验箱有独立可控制的冷箱和热箱。一个装载试验产品的吊篮，可以在两个箱体之间移动，使产品感受温度变化。 卧式三箱式试验箱有三个温度控制区域，分别是热箱、室温箱、冷箱。这种类型试验箱吊篮的的移动方式为从室温箱移动到热箱或冷箱的任意一个箱内。这样，产品可在室温箱内停留一段时间，经受较少的热冲击。 双工位系统有三个试验箱，中间是冷箱，两边是热箱。两厢式产品吊篮内的产品由冷箱移动到热箱的同时，使另一个吊篮内的产品由热箱移动到冷箱，这种结构提高了制冷系统的效率，可以在同一台设备内，相同时间内作进行更多的试验。 以上所有三种类型热冲击试验箱都由HONGZHAN的Q8-700 编程控制器自动控制，它是针对热冲击试验设计的。ATS-195-V 两箱式热冲击箱 ATS-320-V 两箱式热冲击箱 ATS-320-DD 双工位热冲击箱 控制系统 * OYO Q8-700 温度控制器（日本原装进口） 高分辨率 彩色触摸屏接口交互式参数输入方式支持英文，中文提供内置SMPS的I/O RELAY BOARD-接线简化和节省成本高精確、高信任度基于PC的方便监控方便设定多达33种的输出（内置计时器）方式支持利用USB存储器-可代替记录器内置基于先进的PID算法的自动调谐功能提供强有力的通讯环境和支持99台多分支结构卓越的Fuzzy功能和ARW启动-抑制超程標準RS-232C、 RS-485通訊介面 立式 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-100-V12"宽 x 12"深 x 12"高(30cmx30cmx30cm)40 磅ATS-195-V15"宽 x 15"深 x 15"高(38cmx38cmx38cm)80 磅ATS-320-V25"宽 x 15"深 x 15"高(64cmx38cmx38cm)80 磅ATS-900-V25"宽 x 25"深 x 25"高(64cmx64cmx64cm)120 磅 卧式 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-320-H15"宽 x 25"深 x 15"高(38cmx64cmx38cm)80 磅ATS-900-H25"宽 x 25"深 x 25"高(64cmx64cmx64cm)120 磅 立式双工位 型号 产品吊篮尺寸 最大产品负载 ATS-320-DD25"宽 x 15"深 x 15"高(64cmx38cmx38cm)120 磅ATS-1040-DD30"宽 x 25"深 x 24"高(76cmx64cmx61cm)240 磅

TS系列蓄热式高低温冲击试验箱/可程式冷热冲击试验机/热冲击测试箱 高低温冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。 高低温冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区完全静止，采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用； 2、可由测试孔外加负载配线测试部件； 3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然； 4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统； 5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷； 6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能； 7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能； 8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜； 9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 高低温冲击试验箱执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法； 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法； 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验； 4、GJB150.5-86温度冲击试验； 5、GJB360.7-87温度冲击试验； 6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。 7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 一箱式 8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 二箱式 9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 11、GB/T 2423.22-2002温度变化 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 高低温冲击试验箱技术规格 型 号 温度冲击范围:-40~+150 ℃ 温度冲击范围:-55~+150 ℃ LTS-50 LTS-80 LTS-150 LTS-252 STS-50 STS-80 STS-150 STS-252 ■ 性能 试验方式 气动风门切换 2 温室或 3 温室方式 高温室 预热温度范围 60 ～ + 200 ℃ 升温速率 RT. &rarr + 200 ℃　约 3 5 分钟 低温室 预冷温度范围 -55 ～ -10 ℃ -65 ～ -10 ℃ 降温速率 + 20 &rarr -55 ℃ 约 6 0 分钟 ＋ 20 &rarr － 65 ℃ 约 7 0 分钟 试验室温度范围 -40 － +150 ℃ -55 － +150 ℃ 温度偏差 ± 2 ℃ 温度恢复时间 5 分钟以内 恢复条件 高温曝露 低温曝露 高温曝露 低温曝露 150 ℃： 30 分钟 － 40 ℃： 30 分钟 150 ℃： 30 分钟 － 55 ℃： 30 分钟 ※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2. 恢复条件：室温为＋ 20 ℃。 ■ 主要部分、结构 材 料 外壳 纹路处理不锈钢板或优质冷轧钢板静电喷塑 内体 不锈钢板 (SUS304) 绝热 聚氨酯泡沫和玻璃纤维 构 成 高温室 加热器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 风机 高温环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机 低温室 加热器、冷却器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 、翅片式冷却器、蓄冷器 风机 离心风机 驱动装置 气动气缸 高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用 空气压缩机 提供驱动气动风门的压缩空气（选件） 制冷机组 制冷方式 机械压缩二元复迭制冷 压缩机 欧美原装进口全封闭或半封闭压缩机 制冷剂 环保冷媒 R-507/R-23 冷凝器 不锈钢钎焊板式换热器 ■ 温度控制器 操作界面 7.5"TFT 彩色 液晶显示触 摸屏，中文菜单提示 程序记忆容量 96 个用户程序（可自行编制、修改） 设定指示范围 时间： 1 分钟～ 99 小时 59 分钟，循环： 1 ～ 999 次 循环 分辨率 ± 0.1℃ 输入 PT100 铂电阻 控制方法 PID 控制 附属功能 定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示 ■ 规格 内部尺寸 (cm) D 35 40 50 60 35 40 50 60 W 40 50 60 70 40 50 60 70 H 35 40 50 60 35 40 50 60 外形尺寸 (cm) D 132 147 192 217 132 147 192 217 W 125 135 155 165 125 135 155 165 H 157 150 160 170 157 150 160 170 内容积 （升） 50 80 150 250 50 80 150 250 电 源 AC 380± 10%V 50± 0.5 Hz ， 三相四线 + 保护地线 功 率 (kw) 16kw 25kw 30kw 40kw 22kw 30kw 35kw 47kw 试样重量 2.5kg 5kg 10kg 15kg 2.5kg 5kg 10kg 15kg ■ 标准配置 累计计时器 1 个，引线孔（ 25× 100mm 长圆型孔 箱体左侧面） 1 个，脚轮 6 个，调整脚 4 个 ■ 安全装置 漏电断路器，试验室温度过高、过低保护器（控制器内置），排气阀，试样电源控制端子，高、低温室超温保护（控制器内置），压缩机超压、过热保护，断水继电器，风机热继电器，电动机温度开关，电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝。 ■ 选配 温度记录仪

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TS系列蓄热式高低温冲击试验箱/可程式冷热冲击试验机/热冲击测试箱高低温冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。高低温冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区完全静止，采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用；2、可由测试孔外加负载配线测试部件；3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然；4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统；5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷；6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能；7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能；8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜；9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 高低温冲击试验箱执行与满足标准1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；4、GJB150.5-86温度冲击试验；5、GJB360.7-87温度冲击试验；6、GJB367.2-87405温度冲击试验。7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 一箱式8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 二箱式9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化10、GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则11、GB/T2423.22-2002温度变化12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则13、EIA364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估高低温冲击试验箱技术规格型 号 温度冲击范围:-40~+150 ℃温度冲击范围:-55~+150 ℃LTS-50LTS-80LTS-150LTS-252STS-50STS-80STS-150STS-252■ 性能 试验方式气动风门切换 2 温室或 3 温室方式高温室预热温度范围60 ～ + 200 ℃升温速率RT. &rarr + 200 ℃　约 3 5 分钟低温室预冷温度范围-55 ～ -10 ℃-65 ～ -10 ℃降温速率+ 20 &rarr -55 ℃ 约 6 0 分钟＋ 20 &rarr － 65 ℃ 约 7 0 分钟试验室温度范围-40 － +150 ℃-55 － +150 ℃温度偏差± 2 ℃温度恢复时间5 分钟以内恢复条件高温曝露低温曝露高温曝露低温曝露150 ℃： 30 分钟－ 40 ℃： 30 分钟150 ℃： 30 分钟－ 55 ℃： 30 分钟※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2. 恢复条件：室温为＋ 20 ℃。■ 主要部分、结构 材 料外壳纹路处理不锈钢板或优质冷轧钢板静电喷塑内体不锈钢板 (SUS304)绝热聚氨酯泡沫和玻璃纤维构成高温室加热器鳍片式散热管形不锈钢电热器风机高温环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机低温室加热器、冷却器鳍片式散热管形不锈钢电热器 、翅片式冷却器、蓄冷器风机离心风机驱动装置气动气缸高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用空气压缩机提供驱动气动风门的压缩空气（选件）制冷机组制冷方式机械压缩二元复迭制冷压缩机欧美原装进口全封闭或半封闭压缩机制冷剂环保冷媒 R-507/R-23冷凝器不锈钢钎焊板式换热器■ 温度控制器 操作界面7.5"TFT 彩色 液晶显示触 摸屏，中文菜单提示程序记忆容量96 个用户程序（可自行编制、修改）设定指示范围时间： 1 分钟～ 99 小时 59 分钟，循环： 1 ～ 999 次 循环分辨率± 0.1℃输入PT100 铂电阻控制方法PID 控制附属功能定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示■ 规格 内部尺寸 (cm)D3540506035405060W4050607040506070H3540506035405060外形尺寸 (cm)D132147192217132147192217W125135155165125135155165H157150160170157150160170内容积 （升）50801502505080150250电 源AC 380± 10%V 50± 0.5 Hz ， 三相四线 + 保护地线功 率 (kw)16kw25kw30kw40kw22kw30kw35kw47kw试样重量2.5kg5kg10kg15kg2.5kg5kg10kg15kg■ 标准配置 累计计时器 1 个，引线孔（ 25× 100mm 长圆型孔 箱体左侧面） 1 个，脚轮 6 个，调整脚 4 个■ 安全装置 漏电断路器，试验室温度过高、过低保护器（控制器内置），排气阀，试样电源控制端子，高、低温室超温保护（控制器内置），压缩机超压、过热保护，断水继电器，风机热继电器，电动机温度开关，电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝。■ 选配 温度记录仪

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&bull 提高蛋白芯片封闭效率&bull 明显降低抗体-抗体间的非特异性相互作用&bull 将对抗体-抗原的特异性相互作用的影响最小化&bull 在蛋白芯片操作过程中，达到最好的信噪比&bull 卓越的封闭能力降低蛋白-蛋白间的非特异性相互作用：单克隆捕获抗体点样于FAST片基上，用带有16个生物素的多克隆抗体的抗体鸡尾，后接链球菌抗生物素蛋白-Cy5组成的探针杂交检测。用同样的激光/PMT设备捕获图像。芯片的第一列是阳性检测对照。用蛋白芯片封闭缓冲液封闭：通过使用蛋白芯片封闭缓冲液减少抗体-抗体间的非特异性相互作用。上海楚柏实验室设备有限公司为您提供实验室整体解决方案（实验室设计、实验室家具、仪器、耗材、试剂等&hellip &hellip ）可电话咨询：021-67696665

三槽式冷热冲击试验机用途 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。三槽式冷熱沖擊試驗机蓄熱式冷熱沖击不需要使用液態气体(LN2,LCO2)辅助降温，待測物完全靜止测试方式是当前电子部品測試用、研究用、以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材測試費用。操作快捷、高信賴，是本公司经多年潜心、傾力研究，幵发高性能試驗机，提供您长期可靠的測試工具。 ■ TS系列特點介紹· 试料槽完全靜止，可由測試孔外加负載配线。· 蓄熱方式可避免使用者职业伤害。(注：液态气体所产生废氣，吸入肺部致使肺部氣量減少，而产生工作倦怠，集中力降低)。· 采用触控式彩色液晶显示人机介面控制器，操作简单、学习容易。· 溫度制禦精度高，全部採用PID自动演算制禦。· 可选择始动位置，高溫或低溫开始循环。· 具有預約起动功能。· 可设定循环次數及自动除霜。· 可选择二槽或三槽循环。· 运转状态显示。· 有异常或故障显示及排除方法說明。 触控式彩色液晶显示示控制器特点介紹■ 人机介面操作简单　容易学习· 可选择中文TFT 10.4寸彩色液晶显示,萤幕触控式画面,操作简单,程式编辑容易。■ 创新的图控式螢幕显示功能· 可显示完整的系統操作狀況、执行及设定程式曲线。· 运转中发生异常狀況，螢幕上即刻自动显示故障原因及提供图形显示排除方法。■ETAC830 控制器規格◇型号规格及主要技术参数温度控制系統日本原装进口ETAC830触控式10.4&rdquo TFT彩色液晶显示控制器记忆容量1000组程序2500段，全部循环999次分辨率温度：± 0.1 ℃传感器PT100热电阻控制方式PID控制通讯功能LAN网络接口选购件附属功能报警显示功能，停电保护功能，上限温度报警功能，定时功能(自动启动及自动停止)，自诊断功能，曲线记录显示功能设定范围高溫槽:60~200℃低溫槽:-65~-10℃時間设定: 0~99小時59 分溫度设定功能測試槽: 恒温曝露溫度设定高溫槽: 預熱温度設定低溫槽: 預冷溫度設定/除霜溫定设定输入信号T type热电偶传感器控制方式P.I.D. 控制其他功能待机及循环功能上下限温度警報資料鎖定功能热开机功能溫度自动补偿调整自动除霜裝置程式记忆 ■三槽式冷热冲击试验机 規格 型号　MODELLTS-56-3PLTS-80-3PLTS-150-3PLTS-252-3P 系统平衡調溫調湿控制系統 温度范围高溫槽+60℃~200℃ 低溫槽-55℃~-10℃ 0℃~200℃約需25分钟 降温时间0℃~-65℃約需70分钟 复归時間-40℃~+150℃約需5分钟 內箱尺寸cm45x35x4050x40x4060x50x5070x60x50 外箱尺寸cm151x173x166161x178x166183x178x188192x205x200 溫度稳定度± 2℃ 內箱材質不锈钢一級鏡面光板(SUS 304) 外箱材質不锈钢雾面线条处理(SUS 304) 保温材質玻璃棉 冷冻系統全密闭式或半密闭式压缩机 控制器TFT 液晶显示器,触控式面板输入 保护装置无熔丝开关，压缩机过載保护开关，冷媒高压保护开关，陶瓷保险丝，电磁开关，故障警告系統，警报器 配件上下可调隔层板兩片，測試孔&Phi 50mm 重量(kg)10001550168019001200 電源 AC 3&psi 380V/415V± 10% 50/60Hz

总览增益芯片是用作外腔半导体激光器或可调谐二极管激光器增益介质的半导体元件。增益芯片被用作TLS（可调谐光源），它可以使用波长选择滤波器（如衍射光栅）来改变振荡波长。增益芯片类似于激光二极管芯片，不同的是它在一个或两个端面上都有较深的抗反射涂层，大大提高或消除了自激阈值。通用参数使用衍射光栅的外腔激光器有两种：Littrow型和Littman/Metcalf型。Littrow型衍射光栅的初级衍射光直接反馈到半导体激光器中，通过与垂直端面的低反射膜（LR）共振来实现振荡。由于衍射只进行一次，因此获得比Littman型更大的光学输出。通过旋转光栅来扫描波长。一般来说，采用腔内消色差透镜对光栅上较大面积的扩展光束进行准直。零级衍射光束可以作为输出激光束。Innvolume 增益芯片的产品线可细分为两大类:• 单面光接入(类型A和B)• 双面光接入(类型C和D)在输出功率从外腔向外耦合的方案中，单边光纤接入增益芯片是理想的工作元件。通常，它们的封装形式是晶体管外形罐。双边光纤接入增益芯片可用于从增益芯片端面进行功率输出耦合以减少光损耗的方案中，或用于光放大方案中。A型增益芯片具有垂直于端面的直条纹，具有高反射和抗反射涂层。这是构造外腔二极管激光器最具性价比的解决方案。A型增益芯片具有对称的光束远场，使用高数值孔径的非球面透镜，提供与外腔和后腔的有效耦合。与其他类型相比，这种类型的增益芯片具有相对较低的增益谱纹波抑制，这是由于抗反射涂层的反射率在0.1%的水平上，并且可以通过弯曲条纹到端面的设计来进一步降低反射率。B型增益芯片具有弯曲条纹，正常侧为高反射率，倾斜侧为深反射率涂层。弯曲的条纹和抗反射涂层提供极低的反射率( 10E-5)，允许抑制自激光和最小化增益起伏。弯曲条纹的缺点是输出光束的畸变，这使准直变得困难，并降低了反向耦合的效率。故必须使用高数值孔径的光学器件。C型增益芯片在倾斜侧有弯曲条纹和抗反射涂层，在正常侧有百分之几的反射率。波长选择反馈必须设置在倾斜侧(与B型的优点和缺点相同)，而输出功率则从正常侧进行输出。这种设计使得输出功率高，输出光束较好。带正常条纹的端面反射必须根据系统配置和所需输出功率分别进行设计。D型增益芯片有一个倾斜条纹，两侧均有抗反射涂层，通常适用于需要内置放大单元的先进光学方案。创新的刻面涂层技术，包括刻面钝化，满足高可靠性要求。符合ISO9001:2008的生产标准，是基于精心设计制造和广泛测试的结果。每个设备都经过单独测试，并附带一组测试数据。尺寸图 产品型号中心波长的调谐范围调谐范围最大功率波长外腔功率输出快轴光束发散度慢轴光束发散度ASE电源无反馈(ASEpower w/ofeedback)条纹长度工作电流nmnmnmmWdegdegmWmmmAGC-780-40-TO-30-B780407803020851.5150GC-780-40-TO-100-B78040780110208202250GC-800-40-TO-100-B7954580011022852250GC-800-40-TO-130-B80040800130325252250GC-920-90-TO-200-B9059092020033871.5400GC-950-110-TO-200-B950110980240326351.5400GC-1030-150-TO-200-B10301501060200381031.5400GC-1030-160-TO-200-B10301601080220178501.5400GC-1060-150-TO-200-B10601501090210169501.5400GC-1105-130-TO-200-B110513011302004091.51.4400GC-1110-70-TO-300-A111070112035035483600GC-1160-90-TO-200-A115090116023040523600GC-1180-80-TO-200-A116080117022042433600GC-1180-100-TO-200-B115010011702104071103600GC-1220-110-TO-200-B12201101240230376153800GC-1260-60-TO-200-B12601101270210387203800GC-1270-60-TO-200-A127060127020033533800GC-1270-130-TO-200-B12701301230, 13202003864.53800GC-1270-140-TO-200-A12701301230, 13102203851.53800GC-1300-60-TO-200-B13006013202003864.53800GC-1310-60-TO-200-A13106013102203851.53800GC-1330-60-TO-200-A133060133020040453800GC-1330-70-TO-200-B1330701340200377173800*–@ CW，25C散热器温度，外腔采用Littman配置，反馈约为10%

三槽式冷热冲击试验机用途 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。三槽式冷熱沖擊試驗机蓄熱式冷熱沖击不需要使用液態气体(LN2,LCO2)辅助降温，待測物完全靜止测试方式是当前电子部品測試用、研究用、以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材測試費用。操作快捷、高信賴，是本公司经多年潜心、傾力研究，幵发高性能試驗机，提供您长期可靠的測試工具。■ TS系列特點介紹· 试料槽完全靜止，可由測試孔外加负載配线。· 蓄熱方式可避免使用者职业伤害。(注：液态气体所产生废氣，吸入肺部致使肺部氣量減少，而产生工作倦怠，集中力降低)。· 采用触控式彩色液晶显示人机介面控制器，操作简单、学习容易。· 溫度制禦精度高，全部採用PID自动演算制禦。· 可选择始动位置，高溫或低溫开始循环。· 具有預約起动功能。· 可设定循环次數及自动除霜。· 可选择二槽或三槽循环。· 运转状态显示。· 有异常或故障显示及排除方法說明。触控式彩色液晶显示示控制器特点介紹■ 人机介面操作简单　容易学习· 可选择中文TFT 10.4寸彩色液晶显示,萤幕触控式画面,操作简单,程式编辑容易。■ 创新的图控式螢幕显示功能· 可显示完整的系統操作狀況、执行及设定程式曲线。· 运转中发生异常狀況，螢幕上即刻自动显示故障原因及提供图形显示排除方法。■ETAC830 控制器規格◇型号规格及主要技术参数温度控制系統日本原装进口ETAC830触控式10.4&rdquo TFT彩色液晶显示控制器记忆容量1000组程序2500段，全部循环999次分辨率温度：± 0.1 ℃传感器PT100热电阻控制方式PID控制通讯功能LAN网络接口选购件附属功能报警显示功能，停电保护功能，上限温度报警功能，定时功能(自动启动及自动停止)，自诊断功能，曲线记录显示功能设定范围高溫槽:60~200℃低溫槽:-65~-10℃時間设定: 0~99小時59 分溫度设定功能測試槽: 恒温曝露溫度设定高溫槽: 預熱温度設定低溫槽: 預冷溫度設定/除霜溫定设定输入信号T type热电偶传感器控制方式P.I.D. 控制其他功能待机及循环功能上下限温度警報資料鎖定功能热开机功能溫度自动补偿调整自动除霜裝置程式记忆■三槽式冷热冲击试验机 規格型号　MODELLTS-56-3PLTS-80-3PLTS-150-3PLTS-252-3P系统平衡調溫調湿控制系統温度范围高溫槽+60℃~200℃低溫槽-55℃~-10℃0℃~200℃約需25分钟降温时间0℃~-65℃約需70分钟复归時間-40℃~+150℃約需5分钟內箱尺寸cm45x35x4050x40x4060x50x5070x60x50外箱尺寸cm151x173x166161x178x166183x178x188192x205x200溫度稳定度± 2℃內箱材質不锈钢一級鏡面光板(SUS 304)外箱材質不锈钢雾面线条处理(SUS 304)保温材質玻璃棉冷冻系統全密闭式或半密闭式压缩机控制器TFT 液晶显示器,触控式面板输入保护装置无熔丝开关，压缩机过載保护开关，冷媒高压保护开关，陶瓷保险丝，电磁开关，故障警告系統，警报器配件上下可调隔层板兩片，測試孔&Phi 50mm重量(kg)10001550168019001200電源AC 3&psi 380V/415V± 10% 50/60Hz

Intuvo 流路芯片是模块化的微流控组件，无需密封垫圈即可实现进样口、色谱柱和检测器间的连接，可在几分钟之内轻松完成更换。Intuvo 流路芯片包括经过第三代 Intuvo 超高惰性脱活处理的高纯硅流路通道，可确保形成惰性流路。所有流路芯片均配有智能钥匙，可通过数字通讯自动实现系统配置，从而使 Intuvo 根据其即时配置设置方法参数。Intuvo 已掌握了整个流路的尺寸、流速和温度，因此无需复杂的流量计算器。 进样口流路芯片可实现从芯片式保护柱到色谱柱的直接连接。D1、D2 和 D2-MS 流路芯片分别实现从色谱柱到检测器 1、检测器 2 或质谱仪的连接。其余流路芯片将反吹和/或双色谱柱/检测器的分流等所有采用微板流路控制技术的复杂连接结合在一台设备中。检测器尾部流路芯片将色谱柱直接连接到特定检测器上。 产品仅适用于 Agilent Intuvo 9000 系统 高惰性熔融石英流路芯片能够快速实现您所需的连接 几分钟内即可轻松安装 消除臆测 — 通过智能钥匙实现自动系统配置 简化微板流路控制技术，如反吹或双检测器分流

内容总览P1064 HP64 计算机可控高重复率微芯片 MOPA 激光器P1064 HP64 计算机可控高重复率微芯片 MOPA 激光器 1064.2 nm 150-300ps,P1064 HP64 计算机可控高重复率微芯片 MOPA 激光器 1064.2 nm 150-300ps产品特点 100ps-300ps 脉冲持续时间， 10 - 100 kHz 重复率 Max. 平均功率超过 600 mW 单横向和纵向模式 光纤耦合或自由空间输出通用参数参数可定制参数、单位HP64波长1064.2 nm (+/- 0.3 nm )触发输出光学/电气光谱宽度（FWHM）≤ 0.08 nm (+/- 0.02 nm)谱形高斯分布脉冲持续时间 (FWHM)，工厂固定150 – 300 psMax. 平均功率 600 mW脉冲重复率，可调10– 100 kHz光束形状圆形M2≤ 1.4偏振线性寿命≥ 2000 h预热时间≤ 10 min平均功率变化，12 小时（标准差）≤ 5 %脉冲幅度变化+/- 5 %脉冲能量变化+/- 5 %时序抖动 500 ns光输出空间光/光纤耦合尺寸140 x 95 x 75 mm公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司成立于2014年,是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，公司位于大虹桥商务板块，拥有接近2000m² 的办公区域，建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室，为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。十年来,依托专业、强大的技术支持，以及良好的商务支持团队，筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室，奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器（DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器）气体激光器（HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器）光纤激光器（连续激光器、超短脉冲激光器）光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪，激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机 。

高密度检测 血清生物标志物检测芯片可用于蛋白质组研究和人类血清中分子信号图谱检测。芯片通过高通量技术满足研究者对疾病预防，药物依赖性、安全性和有效性研究及临床疗效检测等。血清生物标志物检测芯片是基于FAST 片基双垫式样的单捕获抗体芯片，每张片基有两个独立的抗体点样阵列区。双色荧光检测确保了研究者对两种样品（例如病变样品和正常样品）进行120种人血清蛋白检测。荧光标记是经ULS生物素单色标记系统标记，可单独购买。要做半抗原和标记交换实验的客户也可以用双色标记。该芯片可以通过任何标准荧光扫描仪进行扫描。还需要一个可重复使用的片基架，无论是可负载4张片基的FAST框还是单片基的Chip Clip芯片夹均可。血清生物标志物芯片试剂盒包括2张2-垫 FAST片基，2个双槽孵育槽， 5 ml Whatman蛋白质芯片封闭缓冲液，以及125ml Whatman蛋白质芯片清洗缓冲液。上海楚柏实验室设备有限公司为您提供实验室整体解决方案（实验室设计、实验室家具、仪器、耗材、试剂等&hellip &hellip ）可电话咨询：021-67696665

用途 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。三槽式冷熱沖擊試驗机蓄熱式冷熱沖击不需要使用液態气体(LN2,LCO2)辅助降温，待測物完全靜止测试方式是当前电子部品測試用、研究用、以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材測試費用。操作快捷、高信賴，是本公司经多年潜心、傾力研究，幵发高性能試驗机，提供您长期可靠的測試工具。 ■ TS系列特點介紹· 试料槽完全靜止，可由測試孔外加负載配线。· 蓄熱方式可避免使用者职业伤害。(注：液态气体所产生废氣，吸入肺部致使肺部氣量減少，而产生工作倦怠，集中力降低)。· 采用触控式彩色液晶显示人机介面控制器，操作简单、学习容易。· 溫度制禦精度高，全部採用PID自动演算制禦。· 可选择始动位置，高溫或低溫开始循环。· 具有預約起动功能。· 可设定循环次數及自动除霜。· 可选择二槽或三槽循环。· 运转状态显示。· 有异常或故障显示及排除方法說明。 触控式彩色液晶显示示控制器特点介紹■ 人机介面操作简单　容易学习· 可选择中文TFT 10.4寸彩色液晶显示,萤幕触控式画面,操作简单,程式编辑容易。■ 创新的图控式螢幕显示功能· 可显示完整的系統操作狀況、执行及设定程式曲线。· 运转中发生异常狀況，螢幕上即刻自动显示故障原因及提供图形显示排除方法。■ETAC830 控制器規格◇型号规格及主要技术参数温度控制系統日本原装进口ETAC830触控式10.4&rdquo TFT彩色液晶显示控制器记忆容量1000组程序2500段，全部循环999次分辨率温度：± 0.1 ℃传感器PT100热电阻控制方式PID控制通讯功能LAN网络接口选购件附属功能报警显示功能，停电保护功能，上限温度报警功能，定时功能(自动启动及自动停止)，自诊断功能，曲线记录显示功能设定范围高溫槽:60~200℃低溫槽:-65~-10℃時間设定: 0~99小時59 分溫度设定功能測試槽: 恒温曝露溫度设定高溫槽: 預熱温度設定低溫槽: 預冷溫度設定/除霜溫定设定输入信号T type热电偶传感器控制方式P.I.D. 控制其他功能待机及循环功能上下限温度警報資料鎖定功能热开机功能溫度自动补偿调整自动除霜裝置程式记忆 ■三槽式冷热冲击试验机 規格 型号　MODELLTS-56-3PLTS-80-3PLTS-150-3PLTS-252-3P 系统平衡調溫調湿控制系統 温度范围高溫槽+60℃~200℃ 低溫槽-55℃~-10℃ 0℃~200℃約需25分钟 降温时间0℃~-65℃約需70分钟 复归時間-40℃~+150℃約需5分钟 內箱尺寸cm45x35x4050x40x4060x50x5070x60x50 外箱尺寸cm151x173x166161x178x166183x178x188192x205x200 溫度稳定度± 2℃ 內箱材質不锈钢一級鏡面光板(SUS 304) 外箱材質不锈钢雾面线条处理(SUS 304) 保温材質玻璃棉 冷冻系統全密闭式或半密闭式压缩机 控制器TFT 液晶显示器,触控式面板输入 保护装置无熔丝开关，压缩机过載保护开关，冷媒高压保护开关，陶瓷保险丝，电磁开关，故障警告系統，警报器 配件上下可调隔层板兩片，測試孔&Phi 50mm 重量(kg)10001550168019001200 電源 AC 3&psi 380V/415V± 10% 50/60Hz

微纳立方为您提供了各种应用场合的微流控芯片，及相关附件，如下：微流控 PDMS芯片微流控 玻璃芯片塑料芯片细胞培养芯片微纳立方为客户提供用途各异的细胞培养芯片，示例如下：MicronitCellixVena8 Fluoro+TM Biochips 微流体芯片；Vena8 Endothelial+TM Biochips 微流体芯片 ；VenaT4TM Biochips 微流体芯片 ； Vena8 Glass Coverslip Biochips 微流体芯片； VenaDeltaY1TM Biochips 微流体芯片 ； VenaDeltaY2TM Biochips 微流体芯片 ；电阻抗测试芯片 Electrical Impedance Spectroscopy 微流控芯片夹具类微流控芯片及附件毛细管，接头，插头等配件————————————————微流控产品：MFCS-EZ 微流体进样系统FRP流速监测系统恒流控制功能M-Swich通道切换解决方案微流控系统专用显微镜微流控分析系统… … 如上为微纳立方为微流控芯片系统提供的各种用途应用产品及附件，如有相关问题，欢迎关注微纳立方

Inter-Bio SPR芯片为自主研发的一体化棱镜芯片， 相比分体式结构，避免了芯片与棱镜多次结合与分离引起的定位误差，最大程度地减少光能损失，提高了检测灵敏度与动态范围。 根据各种用途的需要，英柏对芯片表面进行了改性，能满足多种实验和检测需求；同时，根据用户的使用需要，可以定制、加工各种芯片。

定制基于抗体的蛋白芯片Whatman芯片定制服务可以为拥有芯片扫描和数据分析仪器的科学家提供基于Whatman抗体清单或客户自备蛋白库的FAST Slide芯片制备服务。定制服务为科学家提供完整的可行性分析，芯片设计、加工，和数据分析等服务。我们可以根据需求，对客户提供的生物样本的某些确定的特异性项目进行定量或定性的检测。为客户提供的最终报告包括： 每个样品原始和修正后的数据、每个微点的总荧光信号（仅定量检测）、％ CV和标准差、比例柱状图、平均背景信号、外围识别。整个蛋白芯片的研发制作过程由经认证的研发项目领导负责，并根据涉及的领域、资源和时间确定需要的研究人员。专门的客户专员通过与研发团队紧密的合作，负责项目的执行、重大事件以及与客户的沟通。无论是来自Whatman还是由客户提供的蛋白被特异性的点加到FAST Slide片基上，使用的点样技术是接触式或非接触式，每个样品重复点样3次，除非另有说明。悬浮于Whatman蛋白芯片缓冲液中可长期保持蛋白的稳定。制作一个基于抗体的蛋白芯片第1步：你想要自己制作芯片吗？ 如果是的话，希望我们的FAST Slide产品和芯片缓冲液能帮助您得到出色的结果。第2步：你想从我们提供的清单中选择制作芯片吗？如果是的话，只要与我们联系，告知您的特殊需求和芯片的详细情况，我们的专家将为您设计最适合的芯片。我们的清单在不断扩充，我们很乐于满足您的需求。从抗体清单中选择您需要制作成芯片的蛋白，或者将您自己的蛋白库发送给我们。您的芯片将在订单日起的15~20个工作日内制作完成。第3步：如果您希望我们帮处理您的定制样品或现有的芯片，只需与我们联系并提供样品需要的详细数量和种类。3上海楚柏实验室设备有限公司为您提供实验室整体解决方案（实验室设计、实验室家具、仪器、耗材、试剂等&hellip &hellip ）可电话咨询：021-67696665

Whatman芯片孵育槽专为应用于FAST Slides上的蛋白芯片而设计。该槽为蛋白芯片上的结合反应提供了一个方便的途径。与FAST框或芯片夹一起使用，为孵育槽提供了一个安全衬垫，使之与FAST片基之间形成紧密、防漏封闭。反应结束后简单的移除孵育槽。这种可重复使用的槽，推荐用于室温至76℃孵育温度条件下。一次性槽盖可防止孵育过程液体的溅出和蒸发。上海楚柏实验室设备有限公司为您提供实验室整体解决方案（实验室设计、实验室家具、仪器、耗材、试剂等&hellip &hellip ）可电话咨询：021-67696665

TS系列蓄热式高低温冲击试验箱/可程式冷热冲击试验机/热冲击测试箱 高低温冲击试验箱用途 适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。 高低温冲击试验箱特点 1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区完全静止，采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用； 2、可由测试孔外加负载配线测试部件； 3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然； 4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统； 5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷； 6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能； 7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能； 8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜； 9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。 高低温冲击试验箱执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法； 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法； 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验； 4、GJB150.5-86温度冲击试验； 5、GJB360.7-87温度冲击试验； 6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。 7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 一箱式 8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱&mdash &mdash 二箱式 9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 11、GB/T 2423.22-2002温度变化 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 高低温冲击试验箱技术规格 型 号 温度冲击范围:-40~+150 ℃ 温度冲击范围:-55~+150 ℃ LTS-50 LTS-80 LTS-150 LTS-252 STS-50 STS-80 STS-150 STS-252 ■ 性能 试验方式 气动风门切换 2 温室或 3 温室方式 高温室 预热温度范围 60 ～ + 200 ℃ 升温速率 RT. &rarr + 200 ℃　约 3 5 分钟 低温室 预冷温度范围 -55 ～ -10 ℃ -65 ～ -10 ℃ 降温速率 + 20 &rarr -55 ℃ 约 6 0 分钟 ＋ 20 &rarr － 65 ℃ 约 7 0 分钟 试验室温度范围 -40 － +150 ℃ -55 － +150 ℃ 温度偏差 ± 2 ℃ 温度恢复时间 5 分钟以内 恢复条件 高温曝露 低温曝露 高温曝露 低温曝露 150 ℃： 30 分钟 － 40 ℃： 30 分钟 150 ℃： 30 分钟 － 55 ℃： 30 分钟 ※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2. 恢复条件：室温为＋ 20 ℃。 ■ 主要部分、结构 材 料 外壳 纹路处理不锈钢板或优质冷轧钢板静电喷塑 内体 不锈钢板 (SUS304) 绝热 聚氨酯泡沫和玻璃纤维 构 成 高温室 加热器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 风机 高温环境温度曝露时共用离心风机，预热用轴流风机 低温室 加热器、冷却器 鳍片式散热管形不锈钢电热器 、翅片式冷却器、蓄冷器 风机 离心风机 驱动装置 气动气缸 高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用 空气压缩机 提供驱动气动风门的压缩空气（选件） 制冷机组 制冷方式 机械压缩二元复迭制冷 压缩机 欧美原装进口全封闭或半封闭压缩机 制冷剂 环保冷媒 R-507/R-23 冷凝器 不锈钢钎焊板式换热器 ■ 温度控制器 操作界面 7.5"TFT 彩色 液晶显示触 摸屏，中文菜单提示 程序记忆容量 96 个用户程序（可自行编制、修改） 设定指示范围 时间： 1 分钟～ 99 小时 59 分钟，循环： 1 ～ 999 次 循环 分辨率 ± 0.1℃ 输入 PT100 铂电阻 控制方法 PID 控制 附属功能 定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示 ■ 规格 内部尺寸 (cm) D 35 40 50 60 35 40 50 60 W 40 50 60 70 40 50 60 70 H 35 40 50 60 35 40 50 60 外形尺寸 (cm) D 132 147 192 217 132 147 192 217 W 125 135 155 165 125 135 155 165 H 157 150 160 170 157 150 160 170 内容积 （升） 50 80 150 250 50 80 150 250 电 源 AC 380± 10%V 50± 0.5 Hz ， 三相四线 + 保护地线 功 率 (kw) 16kw 25kw 30kw 40kw 22kw 30kw 35kw 47kw 试样重量 2.5kg 5kg 10kg 15kg 2.5kg 5kg 10kg 15kg ■ 标准配置 累计计时器 1 个，引线孔（ 25× 100mm 长圆型孔 箱体左侧面） 1 个，脚轮 6 个，调整脚 4 个 ■ 安全装置 漏电断路器，试验室温度过高、过低保护器（控制器内置），排气阀，试样电源控制端子，高、低温室超温保护（控制器内置），压缩机超压、过热保护，断水继电器，风机热继电器，电动机温度开关，电动机反转防止继电器，压缩空气压力开关，保险丝。 ■ 选配 温度记录仪

TEM用液体原位芯片由于电镜需要真空环境的特点，正常情况样品只能做真空环境下静态电镜分析。运用新技术生产的液体芯片可将待测液体样品封闭起来，并通过氮化硅薄膜窗口做动态观测。基于氮化硅薄膜的液体原位芯片。它可以用作液体原位TEM观测。L-300液体芯片由上芯片和下芯片组合而成，芯片中间有10×50μm氮化硅薄膜观察窗口，下芯片左右两侧各有一个液体滴加口。上下两枚芯片由密封胶粘合在一起，中间有一个微型液体腔室。原位实验时首先在液体滴加口滴入待测液体，等待待测液体在浸润通过微型液体腔室并从另外一个液体滴加口渗出。再使用环氧树脂密封两个液体滴加窗口，待胶固化后即可进行原位液体观测。ZB-NS0300液体芯片使用说明ZB-NS0300液体芯片是用环氧树脂胶将上芯片和下芯片粘合在一起组合而成，中间形成微型液体腔室。芯片中间有10umx10umx30nm的氮化硅薄膜观察窗口，背面左右两侧各有一个液体滴加口。准备工作：待测液体、微量进样器、镊子、双面胶（固定芯片）、吸气装置（注射器针头带有橡胶圈）、胶（环氧树脂胶或指甲油）。待测液体封装流程：（示意图如第二页所示）1.取出芯片，翻转芯片，使用双面胶将芯片固定在实验台上；2.使用微量进样器向液体滴加口滴加待测液体；3.将抽真空注射器插入另一液体滴加口；4.向下按压橡胶使其尽量与芯片紧密贴合；5.缓慢吸拉注射器，观察左侧滴加口的液体是否减少，若没有减少，按住橡胶，继续缓慢吸拉注射器；6.使用胶密封液体滴加口，胶干燥后即可进行原位液体观测。ZB-NS0300原位TEM液体芯片剖面图ZB-NS0300原位SEM液体芯片剖面图

?小型半导体冷热冲击试验箱；中型冷热冲击试验箱用途Application小型半导体冷热冲击试验箱；中型冷热冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温和极低温的连续环境下所能承受的程度，借以在最短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害，适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子。。。等材料，可作为其产品改进的依据或参考。◆小型半导体冷热冲击试验箱；中型冷热冲击试验箱特点Features一、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分，测试样品完全静止于测试区。采用独特之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。二、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。◆执行与满足标准Standardsimplementedandmet.GB/T2423.1-2008低温试验方法TestmethodoflowtempemturetestGB/T2423.2-2008高温试验方法TestmethodofhightemperaturetestGB/T2423.22-2012温度变化试验TestoftemperaturechantgeGJB150.5-86温度冲击试验TestoftemperatureshockGJB360.7-87温度冲击试验TestoftemperatureshockGJB367.2-87温度冲击试验TestoftemperatureshockQC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等◆多种欧美名牌企业进口压缩机（Compressor）为达到顾客对产品做极低的温度测试，爱佩科技为设备配备了复叠式制冷系统。并采用低温级为R23或R508B，高温级为R404或R507的“绿色环保”制冷剂，根据美国环保部门标准，该类制冷剂禁用日期还未确定；为使该制冷系统获取更佳的制冷效果，爱佩科技为机械配备了世界著名企业法国泰康（TECUMSEH）公司生产的全封闭式压缩机，对于设备制冷有更高要求的则采用德国比泽比（Bitzer）或德国谷轮公司（DWMCOPELAND）生产的半封闭式压缩机，顾客可以很方便的从制冷行业中购买到其配件乃整机，不用担心售后麻烦及维修成本。 2、温度范围及升降温恢复时间可安客户要求非标订制 ※注：1、另可供客户尺寸大小非标订制 3、温度分布均匀测试方法，依照内箱离各边1/10距离有效空间量测。安全装置漏电断路器（200.220.380VAC）配线用断路器（400/415VAC）高温试验箱温度过升防止用温度开关低温试验箱温度过升防止用温度开关试验区温度过升过冷防止器（控制器）试验区温度过冷过冷防止器（另外装备）高温试验箱温度过升防止器（控制器）低温试验箱温度过升防止器（控制器）

Intuvo 流路芯片Intuvo 流路芯片是模块化的微流控组件，无需密封垫圈即可实现进样口、色谱柱和检测器间的连接，可在几分钟之内轻松完成更换。Intuvo 流路芯片包括经过第三代 Intuvo 超高惰性脱活处理的高纯硅流路通道，可确保形成惰性流路。所有流路芯片均配有智能钥匙，可通过数字通讯自动实现系统配置，从而使 Intuvo 根据其即时配置设置方法参数。Intuvo 已掌握了整个流路的尺寸、流速和温度，因此无需复杂的流量计算器。进样口流路芯片可实现从芯片式保护柱到色谱柱的直接连接。D1、D2 和 D2-MS 流路芯片分别实现从色谱柱到检测器 1、检测器 2 或质谱仪的连接。其余流路芯片将反吹和/或双色谱柱/检测器的分流等所有采用微板流路控制技术的复杂连接结合在一台设备中。检测器尾部流路芯片将色谱柱直接连接到特定检测器上。特性— 高惰性熔融石英流路芯片能够快速实现您所需的连接— 几分钟内即可轻松安装— 消除臆测 — 通过智能钥匙实现自动系统配置— 简化微板流路控制技术，如反吹或双检测器分流性能指标流路芯片说明目的部件号流路芯片，Intuvo，进样口将芯片式保护柱连接到色谱柱G4581-60031流路芯片，Intuvo，进样口分流器芯片从芯片式保护柱向两根色谱柱分流G4588-60601流路芯片，Intuvo，D1将色谱柱连接到检测器 1G4581-60032流路芯片，Intuvo，D2将色谱柱连接到检测器 2G4583-60621流路芯片，Intuvo，D2-MS将色谱柱连接到质谱仪G4581-60033流路芯片，Intuvo，柱中反吹至 D1将色谱柱连接到检测器 1，柱中反吹功能G4588-60701流路芯片，Intuvo，柱中反吹至 D2将色谱柱连接到检测器 2，柱中反吹功能G4588-60721流路芯片，Intuvo，D1 柱后反吹将色谱柱连接到检测器 1，柱后反吹功能G4588-60302流路芯片，Intuvo，D2-MS 柱后反吹将色谱柱连接到质谱检测器，柱后反吹功能G4588-60322流路芯片，Intuvo，D1-D2 分流器芯片，1:1在两个气相色谱检测器之间将色谱柱洗脱物平均分流G4588-60402流路芯片，Intuvo，D1-MS 分流器芯片，1:1在气相色谱检测器和质谱仪之间将色谱柱洗脱物平均分流G4588-60502流路芯片，Intuvo，D1-MS 分流器芯片，7:1在气相色谱检测器和质谱仪之间按 7:1 的比例将色谱柱洗脱物分流G4588-60522检测器尾部流路芯片，Intuvo，已装配的 HES 质谱仪尾部G4590-60109流路芯片，Intuvo，FID-TCD 尾部G4583-60331流路芯片，Intuvo，ECD 尾部G4583-60333流路芯片，Intuvo，NPD 尾部G4583-60334流路芯片，Intuvo，FPD 尾部G4583-60335流路芯片，Intuvo，XCD 尾部G4583-60336

1100/1200 系列芯片液相色谱的备件订货信息：1100/1200 系列芯片液相色谱的备件说明部件号转子，内部阀，3 个凹槽，芯片液相色谱仪G4240-23705转子，外部阀，5 个凹槽，芯片液相色谱仪G4240-25206PEEK 接头，芯片液相色谱仪专用G4240-43200熔融石英/PEEK 毛细管，15 μm，90 cmG4240-87300纳流泵到 chip cube熔融石英/PEEK 毛细管，25 μm，105 cmG4240-87301微量多孔板进样器到 chip cube熔融石英/PEEK 毛细管，100 μm，100 cmG4240-87302Chip cube 到废液瓶熔融石英/PEEK 毛细管，75 μm，100 cmG4240-87303注射泵到 chip cube熔融石英/PEEK 毛细管，50 μm，50 cmG4240-87304在线微量过滤器工具包，0.5 μm，PEEK5067-1582用于 Chip Cube 液相色谱系统接头，带 0.5 μm PEEK 滤芯，10/包5067-1584PEEK 接头，适用于外径 1/32 英寸的毛细管，10/包5067-1585PEEK 样品转移毛细管，25 μm，100 cmG4240-87309微型在线过滤器至 chip cube（磷酸化芯片应用）PEEK 毛细管，25 m，10 cmG4240-87310微量多孔板进样器至微型在线过滤器（磷酸化芯片应用）

Intuvo 流路芯片是模块化的微流控组件，无需密封垫圈即可实现进样口、色谱柱和检测器间的连接，可在几分钟之内轻松完成更换。Intuvo 流路芯片包括经过第三代 Intuvo 超高惰性脱活处理的高纯硅流路通道，可确保形成惰性流路。所有流路芯片均配有智能钥匙，可通过数字通讯自动实现系统配置，从而使 Intuvo 根据其即时配置设置方法参数。Intuvo 已掌握了整个流路的尺寸、流速和温度，因此无需复杂的流量计算器。 进样口流路芯片可实现从芯片式保护柱到色谱柱的直接连接。D1、D2 和 D2-MS 流路芯片分别实现从色谱柱到检测器 1、检测器 2 或质谱仪的连接。其余流路芯片将反吹和/或双色谱柱/检测器的分流等所有采用微板流路控制技术的复杂连接结合在一台设备中。检测器尾部流路芯片将色谱柱直接连接到特定检测器上。 产品仅适用于 Agilent Intuvo 9000 系统 高惰性熔融石英流路芯片能够快速实现您所需的连接 几分钟内即可轻松安装 消除臆测 — 通过智能钥匙实现自动系统配置 简化微板流路控制技术，如反吹或双检测器分流

Intuvo 流路芯片是模块化的微流控组件，无需密封垫圈即可实现进样口、色谱柱和检测器间的连接，可在几分钟之内轻松完成更换。Intuvo 流路芯片包括经过第三代 Intuvo 超高惰性脱活处理的高纯硅流路通道，可确保形成惰性流路。所有流路芯片均配有智能钥匙，可通过数字通讯自动实现系统配置，从而使 Intuvo 根据其即时配置设置方法参数。Intuvo 已掌握了整个流路的尺寸、流速和温度，因此无需复杂的流量计算器。 进样口流路芯片可实现从芯片式保护柱到色谱柱的直接连接。D1、D2 和 D2-MS 流路芯片分别实现从色谱柱到检测器 1、检测器 2 或质谱仪的连接。其余流路芯片将反吹和/或双色谱柱/检测器的分流等所有采用微板流路控制技术的复杂连接结合在一台设备中。检测器尾部流路芯片将色谱柱直接连接到特定检测器上。 产品仅适用于 Agilent Intuvo 9000 系统 高惰性熔融石英流路芯片能够快速实现您所需的连接 几分钟内即可轻松安装 消除臆测 — 通过智能钥匙实现自动系统配置 简化微板流路控制技术，如反吹或双检测器分流

产品信息：订购信息：1100/1200 系列芯片液相色谱的备件说明部件号转子，内部阀，3 个凹槽，芯片液相色谱仪G4240-23705转子，外部阀，5 个凹槽，芯片液相色谱仪G4240-25206PEEK 接头，芯片液相色谱仪专用G4240-43200熔融石英/PEEK 毛细管，15 μm，90 cm纳流泵到 chip cubeG4240-87300熔融石英/PEEK 毛细管，25 μm，105 cm微量多孔板进样器到 chip cubeG4240-87301熔融石英/PEEK 毛细管，100 μm，100 cmChip cube 到废液瓶G4240-87302熔融石英/PEEK 毛细管，75 μm，100 cm注射泵到 chip cubeG4240-87303熔融石英/PEEK 毛细管，50 μm，50 cmG4240-87304在线微量过滤器工具包，0.5 μm，PEEK用于 Chip Cube 液相色谱系统5067-1582接头，带 0.5 μm PEEK 滤芯，10/包5067-1584PEEK 接头，适用于外径 1/32 英寸的毛细管，10/包5067-1585PEEK 样品转移毛细管，25 μm，100 cm微型在线过滤器至 chip cube（磷酸化芯片应用）G4240-87309PEEK 毛细管，25 μm，10 cm微量多孔板进样器至微型在线过滤器（磷酸化芯片应用）G4240-87310