板芯片温度冲击专用测试机

PCB 板、电子芯片高低温测试上海伯东代理美国 inTEST 高低温循环测试机 ATS-545-M 应用于 PCB 板、电子芯片高低温测试。PCB板、电子芯片在出厂前需要进行环境测试，模拟PCB板在气候环境下操作及储存的适应性，已确保其在极端环境下也可正常工作。上海伯东代理的 Temptronic ThermoStream 高低温测试机可以精准快速的实现 PCB 板和电子芯片等电子元件的高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击试验 Thermal stock 、老化试验、可靠性试验等。Temptronic ThermoStream ATS-545 M 高低温测试机，温度测试范围：-80°C 至 +225°C，每秒可快速升温/降温 18°C，与传统高低温试验箱对比，inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1、变温速率更快2、温控精度：±1℃；3、实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4、针对PCB电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，可单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件5、对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击；传统高低温箱无法针对此类测试。6、对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。上海伯东版权所有，翻拷必究！

上海伯东 inTEST-Temptronic thermostream 高速温度测试机应用于半导体芯片温度测试上海伯东客户某国际半导体厂商选用 inTEST-Temptronic ATS-710-M高速温度测试机用于半导体芯片的温度冲击和温度循环测试，inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供循环测试温度：-80°C 至+225°C，每秒可快速升温/降温 18 °C，成功完成芯片的温度循环测试，疲劳失效测试。上海伯东作为 inTEST 中国地区总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务。inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode，温度显示精度：±1°C (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)上海伯东客户现场图片：鉴于信息保密，更详细的 inTEST 半导体芯片温度测试应用案例，欢迎拨打客服热线：021-5046-3511！上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。上海伯东版权所有，翻拷必究！

价格货期电议inTEST 热流仪车载芯片 / 车规级芯片高低温冲击测试不同于传统消费电子产品, 车规芯片前期的开发及验证期可能长达3年, 相关研发费用和时间成本高昂, 从而需要更快地响应不断变化的车辆架构和严苛的产品上市时间. 上海伯东美国 inTEST ThermoStream 热流仪满足汽车半导体行业更严格及更高效的测试要求, 可以对微控制单元 MCU, 传感器和存储器 DRAM 等车载芯片进行快速高低温冲击测试, 极大节约了客户研发成本！在车规级芯片可靠性测试方面, 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机有着不同于传统高低温冲击试验箱的独特优势: 变温速率快, 每秒快速升温 / 降温18°C, 实时监测待测元件真实温度, 亦可随时调整冲击气流温度, 可针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC, 单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件.车规级芯片高低温测试案例: 上海伯东客户某半导体芯片设计公司自主研发车载芯片, 要求在温度范围 - 50 ℃~ 150 ℃ 时搭配模拟和混合信号测试仪, 在电工作下检查不同温度下所涉及到的元器件或模块各项功能是否正常. 经过伯东推荐使用 inTEST 高低温测试机 ATS-545, 测试温度范围 -75 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, 通过使用该设备, 大幅提高工作效率, 并能及时评估研发过程中的潜在问题, 使产品符合汽车安全的电子产品标准!车规级芯片高低温测试方法1. 将被测芯片或模块放置在测试治具上, 将 ATS-545 的玻璃罩压在相应治具上 ( 产品放在治具中 ).2. 设置需要测试的温度范围.3. 启动 ThermoStream ATS-545, 利用空压机将干燥洁净的空气通入高低温测试机内部制冷机进行低温处理, 然后空气经由管路到达加热头进行升温, 气流通过玻璃罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度.4. 在汽车电子芯片测试平台下, 高低温测试机 ATS-545 快速升降温至要求的设定温度, 实时检测芯片在设定温度下的在电工作状态等相关参数, 对于产品分析, 工艺改进以及批次的定向品质追溯提供确实的数据依据.在芯片测试中, 可为测试计划确定相应的要求, 如温度循环实验, 不同等级的温变范围及温差循环数等. inTEST 热流仪可根据预先设定的温度范围, 实现快速的温度冲击, 如温度范围 -40℃～125℃, 可分别设置低温 -40℃, 常温 25℃ 及高温 125℃, 热流仪将按照先后顺序自动进行相应测试. 针对不同的测试应用, inTEST 可通过每秒快速升温或降温 18°C, 为车载模块或电路板中的某一单个器件提供精确且快速的环境温度.鉴于客户信息保密, 若您需要进一步的了解车规级芯片高低温测试, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究

集成电路 IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一：上海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至+225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：Temptronic ATS-505利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度+230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。集成电路 IC 卡温度测试客户案例二：上海伯东客户是一家 IC 卡生产企业，经过技术选型，采购 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低温测试机，ATS-535 内置空压机，温度测试范围：-60°C 至 +225°C，适用于实验室内无空压系统的客户，方便移动。集成电路 IC 卡温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：1、将待测 IC卡和温度传感器放置在测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-535 ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-535 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话：inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST 收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST 收购，使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理，全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

广皓天芯片高低温冲击试验箱TSD-100F-2P冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。1、GB/T2423.1-2001低温试验方法 2、GB/T2423.2-2001 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N 广皓天芯片高低温冲击试验箱TSD-100F-2P 箱体结构：全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。两箱式分为高温室和低温室，是通过电机带动提篮运动来实现高低温的切换，产品放在提篮里，是随提篮一起移动的。试验箱门与循环风机，提篮传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。广皓天芯片高低温冲击试验箱TSD-100F-2P 原理冷热冲击试验机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。广皓天芯片高低温冲击试验箱TSD-100F-2P 技术参数供参考选择型号TSD-36F-2PTSD-80F-2PTSD-100F-2PTSD-150F-2PTSD-252F-2PTSD-480F-2P箱体容量（L）36L49L100L150L252L480L内箱尺寸W350*D300*H350mmW400*D350*H350mmW400*D500*H500mmW600*D500*H500mmW700*D600*H600mmW850*D800*H600mm外箱尺寸W1630*D1650*H1820mmW1680*D1700*H1820mmW1680*D1850*H2120mmW1880*D1850*H2120mmW1980*D2100*H2320mmW2130*D2300*H2320mm高温室+60℃~+150℃升温时间升温+60℃~+150℃≦25min （注：升温时间为高温单独运转时的性能。）低温室-60℃~-10℃降温时间降温+20℃~+60℃≦60min（注：降温时间为低温室单独运转的性能。）温度冲击范围+60℃到+150℃ 冲击 -40℃到-10℃温度波动度±0.5℃温度偏差±2.0℃温度恢复时间≦5min切换时间≦10sec噪音≦65db外壳材料防锈处理冷轧钢板+2688粉体涂装 或SUS#304不锈钢内箱材料SUS#304不锈钢 CP种+2B抛光处理绝缘材料箱体用硬质聚氨酯泡沫塑料；箱门用玻璃棉制冷方式机械式双极压缩制冷方式（气冷冷凝器 或水冷换热器）制冷机法国泰康全封闭压缩机 或德国比泽尔半封闭压缩机制冷机容量3HP*24HP*24HP*26HP*27HP*210HP*2电源规格AC 3相380V 50Hz （若不同电压，请指出）电流20A23.5 A23.5 A26.5 A31.5 A35 A重量500kg525kg545kg560kg700kg730kg膨胀方式电子式自动膨胀阀 或毛细管方式冷却方式风冷 或水冷加热器镍铬合金电热丝式加热器加湿器SUS#316制护套式加热器（表面蒸发式）搅拌鼓风机长轴电机备注可根据客户要求尺寸来定制，满足客户的要求。实际用材和具体参数请已双方约定的技术协议或实际产品为准。

价格货期电议inTEST ThermoStream ATS-710 热流仪 高低温冲击测试机 上海伯东美国 inTEST ATS-710-M 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -80°C 至 +225°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. inTEST ATS-710 是旧款高低温测试机 Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 全新升级款！~inTEST ThermoStream ATS-710 技术参数型号温度范围 °C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-710-75至+225 50Hz-80至+225 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s+125至 -55°C 约 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232inTEST ThermoStream ATS-710 功能特点 自动升降温: 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却 预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量0.5至3scfm)自动待机: 空闲或加热模式下, inTEST 高低温测试机自动减少能耗 加热除霜: 快速去除冷冻机内部积聚的水汽 触摸屏幕控制面板: Windows 系统 温度显示精度: ±1℃(通过美国国家标准与技术研究院NIST校准)过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C, 操作员可根据实际需要设置高低温限制点。 支持 Ethernet, IEEE-488, RS232 数据存储 配置 USB, 键盘, 鼠标, 打印机端口 热流罩提供局限性的温度测试环境, 特别适合温度冲击测试 专利设计防止水气在DUT上凝结inTEST ThermoStream ATS-710-M 配置包含：1. 主机 ATS-710-M 2. 4.5或5.5 英寸热流罩3. 耐高低温专用密封垫* 客户可根据实际应用选择额外软管和测试腔ATS-710-M 高低温测试机尺寸和重量:尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm净重 236 kg, 毛重 365 kg与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃ 3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics Temptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.上海伯东版权所有, 翻拷必究！ 若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士,分机109

上海伯东 inTEST -Temptronic ATS-710 超高速高低温循环测试机温度范围：-80°C 至 +225°C不需要液态氮气（N2）或液态二氧化碳（CO2）冷却触摸屏式控制面板inTEST -Temptronic ATS-710 超高速高低温循环测试机特点：变温速率：-55°C 至 +125°C, 10 秒 +125°C 至 -55°C, 10 秒连续排气量：4 至 18 scfm ( 1.8 至 8.5 l/s)温度显示分辨率：±1°C温度显示精度：±1°C (通过美国国家标准与技术研究院 NIST 校准)2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode (DUT 温度传感器：T型或K型热电偶)远程接口: IEEE.488, RS232加热盖提供局限性的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结手持热管也可以随意的移动到被测组件上；也可选购工作支架，省去手持的操作LabView™ 驱动CE相容 不含 CFC加热除霜快速去除制冷机内部积聚的水分低温时热模式自动减少电力待机时自动节省电力可提供机械臂或测试腔配置机械臂（可选）可扩展高度达到检测高度提供 inTEST ATS-710-M 机械手臂版本和加长机械手臂版本 ATS-710-H 以及 ATS-710-T 测试腔版本供您选择! inTest-Temptronic 高低温测试机应用：电子元件高低温测试、半导体芯片高低温测试、PCB 电路板高低温测试、光通讯器件高低温测试等等任何您需要测试的地方！美国 inTEST-Temptronic thermostream 高低温循环测试机可与爱德万 advantest，泰瑞达 teradyne，惠瑞捷 verigy 工程机联用进行高低温循环冲击测试。inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热能工程和测试系统开发领域专家。inTEST Thermal Solutions 提供高低温循环温度控制设备，其中 inTEST ThermoStream 系列已全面取代 Thermonics 和 Temptronic。inTEST 凭借提供精密的温度测试环境，作为最优的高速热测试设备广泛应用于真空行业。上海伯东作为 inTEST 中国地区唯一总代理，全权负责其新品销售和售后维修服务。上海伯东版权所有，翻拷必究！

广皓天芯片冷热冲击试验箱TSD-150F-2P 解析冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。广皓天芯片冷热冲击试验箱TSD-150F-2P 满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。1、GB/T2423.1-2001低温试验方法 2、GB/T2423.2-2001 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N 4、国军标GJB150.3-86 5、国军标GJB150.4-86 6、国军标GJB150.5-86 7、GJB150.5-86温度冲击试验 8、GJB360.7-87温度冲击试验 9、GJB367.2-87 405温度冲击试验 10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式 11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式 12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 11、GB/T 2423.22-2002温度变化 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 13、EIA364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。箱体结构：全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。产品保温效果可以得到充分保证。试验箱门与循环风机，提篮传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。我们工厂有多款型号供您根据贵司自己的测试产品尺寸来选型号，您家适合哪款随时告诉我哦广皓天芯片冷热冲击试验箱TSD-150F-2P 操作流程一般来说，高低温冲击试验箱操作分为五部走：预处理、初始检测、试验、恢复、最之后检测。下面皓天和大家一起分享一下详细流程内容:1.预处理: 将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。2.初始检测: 将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入高低温冲击试验箱内即可。3.试验:1)试验样品应按标准要求放置在试验箱内,并将试验箱(室)内温度升到指定点，保持一定的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。⑵)高温阶段结束后，在5imin内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。3)低温阶段结束后，在5min内将试验样品转换到已调节到70℃的高温试验箱(室)内，保持1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。4)重复上述实验方法,以完成三个循环周期。根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差。4.恢复：试验样品从试验箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。5.最后检测：对照标准中的受损程度及其它方法进行检测结果评定。

FTS System是一家专业做高低温温度产品公司，ThermoJet是一个精确的温控系统，能提供高达20SCFM的气流量，快速改变被测物体的温度（DUT）.ThermoJet 有着无与伦比的温度转换速度，是业界的在气流量高达20SCFM时还能维持-80°C的低温系统.优势市面上的在20SCFM的超大气流量情况下依然能够 稳定地维持-80℃的系统。用户可以获得真正的超低温 测试.元器件可以更加快速的转变到低温状态，并可长久的停留在该低温境中。双制冷系统,非常稳定可靠，强大的气流循环，即使在24/7的工作条件中也是可以长久稳定的运行。可分离的便携式触摸屏控制器。设计结构紧凑，底部安装有滚轮便于移动。从 +125°C 降到–55°C小于20秒钟，用户可以节约大量的时间。

inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710E 实现高低温冲击测试上海伯东美国 inTEST 热流仪 ATS-710E-M 高低温冲击测试机中国总代理! 温度冲击范围: -80°C 至 +225°C: 触摸屏式控制面板, 防静电设计, 具备自动除霜功能. 使用 inTEST 自主研发的 New ThermoStream OCM 系统, 兼容 Ethernet, IEEE-488, RS232, 全新人机控制界面, 不在受制于因 Windows 软件而引发的系统过时问题！inTEST ATS-710E 是旧款高低温测试机 Temptronic TPO4300 和 Thermonics T-2500 全新升级款！~inTEST ThermoStream ATS-710E 技术参数型号温度范围 °C输出气流量变温速率温度精度温度显示分辨率温度传感器远程控制ATS-710E-75至+225 50Hz-80至+225 60Hz4 至18 scfm1.8至 8.5l/s-55至 +125°C 约 10 s+125至 -55°C 约 10 s±1℃±0.1℃T型或K型热电偶IEEE 488RS232inTEST ThermoStream ATS-710E 功能特点自动升降温: 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 有效保护环境 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却预防结霜: 干燥气流循环吹扫测试表面, 防止水汽凝结 (气体流量0.5至3scfm)自动待机: 空闲或加热模式下, inTEST 高低温测试机自动减少能耗加热除霜: 快速去除冷冻机内部积聚的水汽触摸屏幕控制面板: Windows 系统温度显示精度: ±1℃(通过美国国家标准与技术研究院NIST校准)过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C, 操作员可根据实际需要设置高低温限制点。支持 Ethernet, IEEE-488, RS232, 支持数据存储配置 USB, 键盘, 鼠标, 打印机端口热流罩提供局限性的温度测试环境, 特别适合温度冲击测试 专利设计防止水气在DUT上凝结inTEST ThermoStream ATS-710-M 配置包含：1. 主机 ATS-710-M2. 4.5或5.5 英寸热流罩3. 耐高低温专用密封垫* 客户可根据实际应用选择额外软管和测试腔ATS-710-M 高低温测试机尺寸和重量:尺寸: 宽61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm净重 236 kg, 毛重 365 kg与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度, 可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度inTEST 热流仪 ThermoStream ATS-710 实现电源管理芯片高低温冲击测试若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

价格货期电议inTEST 热流仪微控制器 MCU 芯片高低温测试微控制器 MCU 芯片广泛应用于消费电子 (手机, 打印机), 计算机网络, 工业控制, 医疗设备, 汽车电子以及智慧家庭等领域. 其中, 汽车是 MCU 芯片最大的应用市场, 传统汽车单车会平均用到 70个左右, 而新能源汽车则需要用到 300多个, 应用领域包括 ADAS, 车身, 底盘及安全, 信息娱乐, 动力系统等, 几乎无处不在. 上海伯东美国 inTEST 高低温测试机可以快速提供需要的模拟环境温度, 解决了因为环境受限的 MCU 芯片高低温测试难题.微控制器 MCU 芯片需要进行温度测试以工作温度为例, 车规级要求 MCU 可承受工作温度范围为 -40℃ 至 105℃ 或更高, 一般工业级为 -40℃ 至 85℃, 而消费级只要保证 0℃ 至 70℃ 能正常工作即可过关, 因此消费级产品在常温时工作状态与工业级 / 车规产品差异不大, 但在高低温时, 则容易出现问题, 严重的可能会导致整个系统停机. 因此工业级或车规级 MCU 在出厂之前需要专门针对严苛应用环境做针对性设计与筛查, 从而达到工业设备或汽车对于元器件高可靠与低缺陷的要求.MCU 芯片高低温冲击测试案例国内某本土 MCU 厂商从成立之初就将工控和车载作为研发方向, 经上海伯东推荐, 采用美国 inTEST ECO-710E 对其 MCU 产品进行高低温冲击测试, 并且满足汽车电子协会 Automotive Electronics Council 的通用标准, 例如目前广泛采用的集成电路失效机理的应力测试条件的 AEC-Q100.车载 MCU 芯片的工况环境决定其温度等级, 根据其测试标准, 芯片的温度测试要求如下:MCU 芯片温度等级等级工作温度范围备注Level 0- 40℃～150℃最高范围Level 1- 40℃～125℃一般等级Level 2- 40℃～105℃一般等级Level 3- 40℃～85℃最低范围针对客户提出的测试要求, 上海伯东提供微控制器 MCU 芯片高低温测试解决方案ECO-710E 测试的温度范围 -80 至 +225°C, 输出气流量 4 至 18 scfm, 温度精度 ±1℃, inTEST 高低温测试机 ECO-710E 搭配 delta design 测试机共同进行微处理器芯片测试, 有效提高了芯片测试的速度和准确性, 快速进行在电工作的电性能测试, 失效分析, 可靠性评估等. inTEST 高低温测试机的主要作用就是快速提供需要的模拟环境温度, 解决了因为环境受限的芯片高低温测试难题.微处理器芯片高低温测试方法:1. 将待测微处理器芯片放置在玻璃罩中2. 操作员设置需要测试的温度范围3. 启动 ThermoStream ECO-710E, 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理, 然后空气经由外部管路到达加热头进行升温, 气流通过热流罩进入测试腔. 玻璃罩中的温度传感器可实时监测当前温度.inTEST 热流仪技术规格型号ATS-545ATS-710EECO-710EATS-535温度范围 °C-75 至 + 225-75至+225-80 至 +225-60 至 +225变温速率-55 至 +125°C 约 10 S+125 至 -55°C 约 10 S-55 至 +125°C 约 10 s+125 至 -55°C 约 10 s-55 至 +125°C, ≤ 10S125 至 -55°C, ≤ 10S-40至+ 125°C 12 s+125至-40°C 40 s空压机额外另配额外另配额外另配内部集成空压机控制方式旋钮式触摸屏触摸屏旋钮式气体流量 scfm4 至 184 至 184 至18 SCFM5温度显示和分辨率+/- 0.1°C温度精度1.0°C（根据 NIST 标准校准时）电源200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase200-250VAC, 50/60Hz, 30A,1phase200-250VAC, 50/60Hz, 20A,1phase220±10%VAC, 50/60Hz, 30A微控制器 MCU 在生活中的应用非常广泛, 各种家电设备, 消费电子, 工业品和车载电子几乎都离不开 MCU 芯片, 工业级（或车规级）MCU 与消费级 MCU 最大的区别之一是可靠性要求不同, 工业与车载应用环境对产品可靠性要求更高, 需要更高的抗静电能力, 更高的抗浪涌电压与浪涌电流能力, 更宽的工作温度范围, 以及更长的寿命. 若您需要进一步的了解 MCU 芯片高低温测试详细信息或讨论, 请联络上海伯东叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

产品典型应用u 化工、制药、生物领域双层反应釜的温度控制u 蒸馏结晶净化系统控温u 高压反应釜温度控制u 半导体设备冷却u 搅拌罐温度控制u 结晶系统控温全密闭系统：采用全密闭式系统设计，整个循环管路只有加液盖上留出的呼吸孔，导热油不会直接与空气接触，延长了导热油使用寿命同时确保系统运行的稳定性，膨胀油箱始终保持在常温状态，高温时无油雾产生，低温不会结霜。高效换热系统：系统采用管道式加热冷却，参与循环的液体非常少，制冷采用板式换热器，，换热效率高、结构紧凑，加热采用管道式法兰加热器，整个系统的容积（板式换热器容积+管道式加热器容积+循环泵内容积+循环管路容积）。控制结果重复性：基于高级动态控制系统，每次都能实现一致的控制结果，大大提升产品生产的稳定性。产品外观：外观设计吸取国外进口产品的设计理念，采用大口径石英玻璃液位计，液位计与操作屏放在同一侧，观察方便，风格简约时尚，比列协调，专有的色彩搭配。超高温降温技术：采用超高温降温技术，可以满足在最高300℃高温直接开启压缩机制冷降温。质量保障车载芯片高低温冲击测试/车载芯片高低温温控测试设备/车载芯片温控测试设备/车规级芯片温度测试/车规级芯片高低温测试/车规电子温控测试设备/车规电子高低温测试设备/车规芯片高低温测试设备/汽车芯片高温测试/汽车芯片温度循环测试/汽车行业温控设备/新能源行业温控设备/汽车高低温一体水冷测试机/测试分选机温控设备/测试分选机控温设备/查询测试分选机高低温设备/车载充电机（OBC)性能测试台/雾化仪温度测试装置/电源模块及组件测试台/汽车冷却液循环泵(CCP)性能测试台/ECP电子元件性能试验台/安全气囊模块性能测试/新能源电池性能测试台/汽车热管理系统温度控制单元/汽车热管理系统温度控制系统/喷油器性能测试台/新型电动马达性能测试台/汽车无线电充系统性能测试台

LED 液晶显示屏环境温度测试上海伯东美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机可与德国 AUTRONIC DMS 803 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试。LED 液晶显示屏环境温度测试原因：一般液晶显示器的工作温度是 20-50度，液晶显示器内部有很多发热电子元件，为保障电子元件在低温和高温极端环境下正常运行，厂家在出厂前都需要进行 LED环境测试，主要测试项目包含冷热循环 Thermal cycle 与冷热冲击 Thermal stock。 LED 液晶显示屏客户案例：上海伯东客户是一家国际知名的显示屏生产企业，结合实际生产需要，采购 inTEST- ThermoStream ATS-545-M 用于显示屏高低温测试。ThermoStream ATS-545-M 移动式设计，测试温度范围：80°C 至 +225°C，操作直观。LED 液晶显示屏温度测试方法：客户采用美国 Temptronic ThermoStream 高低温测试机与德国 AUTRONIC DMS 803 液晶显示屏测量系统联用进行 LED 环境温度测试。采用 ThermoStream ATS-545-M Air Mode 模式测试：1、通过管路将高低温测试机 ATS-545-M 与 DMS 803 直接相连2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-545-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温4、高低温测试机 ATS-545-M 显示屏可实时监测当前循环冲击气流温度，而且自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。 若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!

因产品配置不同, 价格货期需要电议, 图片仅供参考, 一切以实际成交合同为准上海伯东美国 inTEST 高低温测试机中国总代理: ThermoStream ATS-545 温度范围 -75°C 至 +225°C 专利 ESD 防静电保护设计, 不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却. ATS-545 是旧款热流仪 Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升级款！inTEST 超高速高低温测试机适用于电子元件, 集成电路 IC, PCB 电路板的高低温测试.inTEST ThermoStream ATS-545 技术参数：型号温度范围 °C* 变温速率输出气流量温度精度温度显示分辨率温度传感器ATS-545-75 至 + 225(50 HZ)-80 至 + 225(60 HZ)不需要LN2或LCO2冷却-55至 +125°C约 10 S 或更少+125至 -55°C约 10 S 或更少4 至 18 scfm1.9至 8.5 l/s±1℃通过美国NIST 校准±0.1℃T或K型热电偶* 一般测试环境下 变温速率可调节inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机功能特点：与友厂对比, inTEST ThermoStream 自动复叠式制冷系统 (auto cascade refrigeration) 保证低温, 内置 AC 交流压缩机, 冷冻机 Chiller 特殊设计, 制冷剂不含氟利昂, 安全无毒, 不易燃, 保护环境 专利 ESD 防静电保护设计旋钮式控制面板, 测试数据存储过热温度保护: 出厂设置温度 +230°C加热模式下, 冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗干燥气流持续吹扫测试表面, 防止水气凝结inTEST 高低温测试方法：提供两种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode通过热流罩或测试腔将被测 IC 与周边环境隔离，然后对 IC 循环喷射冷热气流，使IC 温度短时间发生急剧变化，从而完成温度循环和温度冲击的测试。inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545-M 尺寸宽61x深72.4 x高 108 cm重量 365 kg手臂延展最大 160 cm标准最高操作高度 130.3 cm (可选188 cm)标准最低操作高度 69.1 cm (可选81.3 cm)噪音 65 dBA与传统高低温测试箱, 温湿度测试箱对比, inTEST ThermoStream 高低温测试机主要优势：1. 变温速率更快2. 温控精度：±1℃3. 实时监测待测元件真实温度，可随时调整冲击气流温度4. 针对 PCB 电路板上众多元器件中的某一单个IC(模块), 可单独进行高低温冲击, 而不影响周边其它器件5. 对测试机平台load board上的IC进行温度循环 / 冲击 传统高低温箱无法针对此类测试。6. 对整块集成电路板提供准确且快速的环境温度ATS-545 广泛应用于光纤收发器 Transceiver 高低温测试, SFP 光模块高低温测试inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年, 在 2000 年被 inTEST 收购, 成为在美国设立的超高速温度环境测试机的制造商. 而 Thermonics 创立于1976年, 在 2012 年被 inTEST 收购, 使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力. 在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出温度环境测试机, 将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品. 上海伯东作为 inTEST 中国总代理, 全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务.上海伯东版权所有, 翻拷必究！有意向者欢迎联络上海伯东 罗女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

汽车芯片温度循环测试是固定安装在电动汽车上的控制和调整蓄电池充电的电能转换装置。它是 完成将交流电转换为电池所需的直流电，并决定了充电功率和效率的关键部件。环境适应测试有：低温工作（存储）实验、高温工作（存储）实验、冷热冲击实验；冷却水模拟测试：-35℃ ~100℃（温度、泵压 / 流量可调）。 设备可提供快速和宽广的温度变化，模拟车辆的冷却回路和环境影响。

产品简介致真精密仪器自主研发的磁性芯片(磁存储芯片、磁传感芯片)测试机，包括磁场发生装置、工频磁场模块、多轴样品测试平台和测试仪表等组件。可对芯片的磁性能、电学性能进行批量无损的快速检测。适配无磁测试座,可对芯片实现面内平面与法向平面内的磁场扫描，用于磁性芯片抗磁性能评估。测试功能磁阻特性(霍尔、GMR、TMR)工作电压芯片功耗输出高/低电平推挽输出拉灌电流开漏输出关断电阻、导通电阻开关频率上电响应时间

产品典型应用u 化工、制药、生物领域双层反应釜的温度控制u 蒸馏结晶净化系统控温u 高压反应釜温度控制u 半导体设备冷却u 搅拌罐温度控制u 结晶系统控温设备特点全密闭系统：采用全密闭式系统设计，整个循环管路只有加液盖上留出的呼吸孔，导热油不会直接与空气接触，延长了导热油使用寿命同时确保系统运行的稳定性，膨胀油箱始终保持在常温状态，高温时无油雾产生，低温不会结霜。高效换热系统：系统采用管道式加热冷却，参与循环的液体非常少，制冷采用板式换热器，，换热效率高、结构紧凑，加热采用管道式法兰加热器，整个系统的容积（板式换热器容积+管道式加热器容积+循环泵内容积+循环管路容积）。控制结果重复性：基于高级动态控制系统，每次都能实现一致的控制结果，大大提升产品生产的稳定性。产品外观：外观设计吸取国外进口产品的设计理念，采用大口径石英玻璃液位计，液位计与操作屏放在同一侧，观察方便，风格简约时尚，比列协调，专有的色彩搭配。超高温降温技术：采用超高温降温技术，可以满足在最高300℃高温直接开启压缩机制冷降温。普泰克车载芯片设备系列，车载芯片高低温冲击测试，车载芯片高低温温控测试设备，车载芯片温控测试设备，车规级芯片温度测试车规级芯片高低温测试，车规电子温控测试设备，车规电子高低温测试设备，车规芯片高低温测试设备汽车芯片高温测试，汽车芯片温度循环测试，汽车行业温控设备，新能源行业温控设备，汽车高低温一体水冷测试机测试分选机温控设备，测试分选机控温设备，测试分选机高低温设备，车载充电机（OBC)性能测试台，雾化仪温度测试装置电源模块及组件测试台，汽车冷却液循环泵(CCP)性能测试台，ECP电子元件性能试验台，安全气囊模块性能测试新能源电池性能测试台，汽车热管理系统温度控制单元，汽车热管理系统温度控制系统，喷油器性能测试台，新型电动马达性能测试台转换器 / 逆变器性能测试台，汽车无线电充系统性能测试台

FTS System是一家专业做高低温温度产品公司，ThermoJet是一个精确的温控系统，能提供高达20SCFM的气流量，快速改变被测物体的温度（DUT）.ThermoJet 有着无与伦比的温度转换速度，是业界的在气流量高达20SCFM时还能维持-80°C的低温系统.优势市面上的在20SCFM的超大气流量情况下依然能够 稳定地维持-80℃的系统。用户可以获得真正的超低温 测试.元器件可以更加快速的转变到低温状态，并可长久的停留在该低温境中。双制冷系统,非常稳定可靠，强大的气流循环，即使在24/7的工作条件中也是可以长久稳定的运行。可分离的便携式触摸屏控制器。设计结构紧凑，底部安装有滚轮便于移动。从 +125°C 降到–55°C小于20秒钟，用户可以节约大量的时间。

产品典型应用u 化工、制药、生物领域双层反应釜的温度控制u 蒸馏结晶净化系统控温u 高压反应釜温度控制u 半导体设备冷却u 搅拌罐温度控制u 结晶系统控温设备特点全密闭系统：采用全密闭式系统设计，整个循环管路只有加液盖上留出的呼吸孔，导热油不会直接与空气接触，延长了导热油使用寿命同时确保系统运行的稳定性，膨胀油箱始终保持在常温状态，高温时无油雾产生。高效换热系统：系统采用管道式加热冷却，参与循环的液体非常少，制冷采用板式换热器，加热采用管道式法兰加热器，整个系统的容积（板式换热器容积+管道式加热器容积+循环泵内容积+循环管路容积） 控制结果重复性：基于高级动态控制系统，同时采用进口铂电阻温度传感器，每次都能实现一致的控制结果，大大提升产品生产的稳定性。产品外观：外观设计吸取国外产品的设计理念，采用大口径石英玻璃液位计，液位计与操作屏放在同一侧，观察方便，风格简约时尚，比列协调，专有的色彩搭配。超高温降温技术：采用超高温降温技术，可以满足在最高350℃高温直接通入冷却水实现快速降温。普泰克温控系列包含车载芯片高低温冲击测试/车载芯片高低温温控测试设备/车载芯片温控测试设备/车规级芯片温度测试/车规级芯片高低温测试/车规电子温控测试设备/车规电子高低温测试设备/车规芯片高低温测试设备/汽车芯片高温测试/汽车芯片温度循环测试/汽车行业温控设备/新能源行业温控设备/汽车高低温一体水冷测试机/测试分选机温控设备/测试分选机控温设备/查询测试分选机高低温设备/车载充电机（OBC)性能测试台/雾化仪温度测试装置/电源模块及组件测试台/汽车冷却液循环泵(CCP)性能测试台/ECP电子元件性能试验台/安全气囊模块性能测试/新能源电池性能测试台/汽车热管理系统温度控制单元/汽车热管理系统温度控制系统/喷油器性能测试台/新型电动马达性能测试台/汽车无线电充系统性能测试台

简单介绍Froilabo公司在温控领域已有百年经验，产品控温性能优异，精准稳定，其中*为突出的是捷龙高低温冲击系统。快速高低温循环冲击热流仪 的详细介绍捷龙高低温冲击系统热流仪Froilabo公司成立于1918年，总部位于法国的里昂，距今已有100多年的历史，是法国杰出的温控设备制造商。通过和广东宏展科技有限公司的合作，现Froilabo品牌已成功进驻中国、亚洲等多国市场。Froilabo公司在温控领域已有百年经验，产品控温性能优异，精准稳定，其中*为突出的是捷龙高低温冲击系统。产品介绍:捷龙是一种快速、控温**的高低温冲击系统，温控范围从-80℃到250℃，适用领域涵盖国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业。通过使用捷龙高低温冲击系统能够对电子元件和材料进行热试验和表征，进而提高它们的可靠性，方法应用非常简便。主要特点： 1.快速、精准的温度控制系统，控温范围从-80℃至250℃ 2. 空气流量控制：2.2至8.4升/秒 3. 快速升/降温速率：-55℃至+125℃=7s；+125℃至-55℃=14s 4. 温度调节精度：+/-0.1℃ 5. 3种工作模式：手动，自动和可编辑模式 6. 触摸屏控制，操作简便 7. 存储多达45个温度程序，每个温度程序*多可设定20个步骤 8. 可进行国际标准JEDEC和MIL-STD 883及750有关的温度循环测试应用

简单介绍Froilabo公司在温控领域已有百年经验，产品控温性能优异，精准稳定，其中*为突出的是捷龙高低温冲击系统。快速高低温循环冲击热流仪 的详细介绍捷龙高低温冲击系统热流仪Froilabo公司成立于1918年，总部位于法国的里昂，距今已有100多年的历史，是法国杰出的温控设备制造商。通过和广东宏展科技有限公司的合作，现Froilabo品牌已成功进驻中国、亚洲等多国市场。Froilabo公司在温控领域已有百年经验，产品控温性能优异，精准稳定，其中*为突出的是捷龙高低温冲击系统。产品介绍:捷龙是一种快速、控温**的高低温冲击系统，温控范围从-80℃到250℃，适用领域涵盖国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业。通过使用捷龙高低温冲击系统能够对电子元件和材料进行热试验和表征，进而提高它们的可靠性，方法应用非常简便。主要特点： 1.快速、精准的温度控制系统，控温范围从-80℃至250℃ 2. 空气流量控制：2.2至8.4升/秒 3. 快速升/降温速率：-55℃至+125℃=7s；+125℃至-55℃=14s 4. 温度调节精度：+/-0.1℃ 5. 3种工作模式：手动，自动和可编辑模式 6. 触摸屏控制，操作简便 7. 存储多达45个温度程序，每个温度程序*多可设定20个步骤 8. 可进行国际标准JEDEC和MIL-STD 883及750有关的温度循环测试应用

单芯片全自动测试机具备多项卓越功能，其具备出色的单片自动上下料能力，支持多种选项，包括蓝膜、膜盒、华夫盒和可定制载具，以满足不同需求。其双chuck并行测试、Pad点三维精确测量、多探针智能校正对位以及自动测试与分选功能，使其成为裸片、异构堆叠芯片和大功率载片类产品的批量自动探针测试的理想选择。这一创新解决了客户长期以来依赖人工操作和手动探针台的痛点，实现了自动化、高效率的测试过程。同时，这款设备也广泛适用于表贴封装器件，如QFN和BGA，提供了批量自动探针测试的完美解决方案。其独特的高精度温控系统，为产品的可靠性和稳定性提供了坚实的保障。

上海伯东代理美国 inTEST Temptronic 高低温冲击测试机成功应用于光模块温度测试光模块 Optical Module 由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分。其中的光收发一体模块 Transceiver，是光纤通信系统中重要的器件。光收发模块在电工作时本身就会产生高热，加上其安装的环境通常在户外，故温度过高或过低时，光模块是否可正常运作，是生产企业必须解决的问题！光模块高低温测试客户案例：上海伯东客户浙江某光收发模块制造商，生产 40G Transceiver 光模组，此次采购高低温测试机用于服务器内部光模组的高温冲击测试。因为光收发模块在电工作时本身就会产生高热，所以对高温的冲击测试要求很高，经过我司技术推荐采购 inTEST ThermoStream ATS-545-M 高低温测试机，可提供测试温度 -80°C 至 +225°C。inTEST 高低温测试机与传统温度试验箱对比，升降温速率更快；可针对众多元器件中的某一单个光模块，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件。光模块高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将待测光模块放置在测试腔中，根据操作员设定喷出和设定温度相差±1℃的冷热交替循环气流，从而进行光模块高低温测试。鉴于信息保密，更详细的光模块高低温测试方法欢迎拨打电话：021-5046-3511上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Brooks Polycold 冷冻机 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST(Temptronic)高低温循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。

光通信TO封装推拉力测试机，确保光通信器件可靠性！在光通信行业中，TO封装推拉力测试机是确保光通信器件可靠性的关键设备。我们的光通信TO封装推拉力测试机采用高精度的传感器和算法，能够对TO封装进行精确的推力和拉力测试。适用范围：光通信器件制造商、质量检测中心等。芯片推力测试机，为您提供精确、可靠的数据！在半导体行业中，芯片推力测试是一项至关重要的工作。我们的芯片推力测试机采用先进的技术和精准的传感器，能够对芯片和金球的推力进行准确测量，为您提供可靠的数据支持。适用范围：芯片制造商、封装厂、质量检测中心等。金线拉力测试机，确保电子产品可靠性！在电子产品制造过程中，金线拉力测试是确保电子产品可靠性的关键环节之一。我们的金线拉力测试机采用高精度的传感器和算法，能够对金线在各种条件下的拉力进行准确测量，为您提供可靠的数据支持。适用范围：电子产品制造商、质量检测中心等。4. 金球推力测试：金球推力测试主要用于检测BGA（Ball Grid Array）封装的焊接点。由于BGA封装的焊接点往往非常小且密集，所以金球推力测试能够精确地测量每个焊接点的质量。如果焊接点的质量不达标，这个测试将会失败，需要重新进行焊接。金球推力测试金球推力测试机，为您的设计提供精确数据！在光通信行业中，金球推力测试是一项至关重要的工作。我们的金球推力测试机采用先进的技术和精准的传感器，能够对金球的推力进行准确测量，为您提供可靠的数据支持。适用范围：光通信器件制造商、质量检测中心等。

储冷蓄热温度冲击箱简介样品在高温和低温下的保持时间、以及试验的循环次数等因素。.：本试验箱适用于考核产品（整机）、元器件、零部件等经受温度急剧变化的能力，该温度冲击试验能够了解试验样品一次或连续多次因温度变化而带来的影响。影响温度变化试验的主要参数为温度变化范围的高温和低温温度值、LED高低温冲击测试箱 技术参数换气式（三箱）冷热冲击试验箱；LED温度冲击试验箱；LED高低温冲击测试箱行业应用： LED灯具配附件LED反光杯灯具外壳驱动电源LED导光板LED灯罩灯具控制器 LED控制LED灯具控制器调光调色器LED控制系统品牌飞利浦欧司朗英飞特超频三灯具外壳日光灯外壳蜡烛灯外壳面板灯外壳天花灯外壳横插灯外壳球泡灯外壳投光灯外壳LED灯具散热器工矿灯外壳筒灯外壳路灯外壳洗墙灯外壳LED灯具外壳套件玉米灯外壳LED灯具外壳轨道灯外壳灯具配件LED灯罩LED电路板LED反光杯LED导光板LED连接件LED灯具透镜驱动电源恒流电源球泡电源筒灯电源恒压电源灯管电源LED室内电源LED户外电源路灯电源投光灯电源隔离电源非隔离电源LED器件及上游材料直插式灯珠LED芯片封装材料封装器件贴片灯珠COB灯珠 LED外延及芯片LED绿光芯片LED黄绿光芯片LED红外芯片LED紫光芯片LED紫外芯片LED外延片LED红光芯片LED蓝光芯片LED黄光芯片LED橙光芯片LED封装材料LED基板LED透镜LED填充胶LED固晶胶LED荧光粉LED金线LED支架品牌中赛照明长运通清华同方雷曼光电欧司朗凯乐斯本邦电器飞利浦鸿宝电业广东昭信木林森鸿利光电LED灯珠5730灯珠6070灯珠7020灯珠LED模组RGB灯珠1W灯珠紫外灯珠COB灯珠晶元2835灯珠高亮灯珠直插式灯珠欧司朗灯珠三安2835灯珠Cree灯珠2835灯珠3014灯珠2323灯珠2525灯珠普瑞灯珠3528灯珠三安灯珠3535灯珠晶元灯珠3020灯珠3030灯珠4014灯珠5050灯珠5630灯珠LED独立光源LED玉米灯LED蜡烛灯LED PAR灯LED球泡灯日光灯管LED灯杯 品牌鸿宝电业雷曼光电木林森广东昭信本邦电器勤上光电凯乐斯鸿利光电飞利浦欧司朗鸿雁电器佛山照明阳光照明上海亚明TCP强凌中赛照明清华同方长运通LED球泡灯冷白E14E17E26暖白正白E27E40日光灯管冷白T5T8T10乳白磨砂暖白正白透明0.9米0.6米1.5米1.2米其他独立光源LED灯丝灯LED横插灯LED玉米灯LED蜡烛灯LED米泡LED灯杯LED PAR灯LED室内灯具LED天花灯LED灯带LED吸顶灯LED面板灯LED筒灯LED轨道灯 品牌英飞特凯乐斯TCP强凌鸿利光电木林森本邦电器鸿雁电器中赛照明勤上光电雷曼光电清华同方飞利浦欧司朗广东昭信佛山照明鸿宝电业上海亚明阳光照明长运通LED家居照明LED落地灯LED台灯LED厨卫灯LED吊灯LED吸顶灯LED商业照明LED硬灯条LED轨道灯LED灯带LED格栅灯LED豆胆灯LED一体化支架灯LED射灯LED面板灯LED天花灯LED筒灯LED办公照明LED射灯LED筒灯LED日光灯LED豆胆灯LED面板灯LED格栅灯LED吸顶灯LED工业照明LED防爆灯LED工矿灯LED指示灯?LED工作灯LED应急灯?LED高棚灯LED户外与灯具LED路灯LED投光灯LED地埋灯植物生长灯LED庭院灯LED防爆灯 LED特种灯具LED紫外杀菌灯LED油站灯LED无影灯LED应急灯LED集鱼灯LED移动工作灯LED灭蚊灯LED探照灯LED指示灯LED舞台灯LED植物生长灯LED防爆灯LED交通照明LED路灯LED信号灯LED隧道灯?LED车灯LED警示灯LED高杆灯LED景观照明LED水底灯LED装饰灯LED草坪灯LED护栏管LED庭院灯LED户外灯具LED洗墙灯LED高杆灯LED壁灯LED太阳能灯LED地埋灯LED地砖灯LED地脚灯LED投光灯品牌欧司朗飞利浦佛山照明鸿宝电业雷曼光电木林森广东昭信阳光照明清华同方上海亚明长运通中赛照明本邦电器勤上光电凯乐斯鸿利光电超频三TCP强陵鸿雁电器

产品特点：高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击, 测试产品为静态式。采用触控式彩色液晶显示人机界面控制器，操作简单、学习容易。温度控制精度高，全部采用PID自动演算控制。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时，最大时间可达999H，最大循环周期可达9999次。系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为水冷式。试料槽完全静止，可由测试孔外加负载配线。蓄热方式可避免使用职业伤害。（注：液态气体所产生发气,吸入肺部致使肺部氧气量减少, 而产生工作倦怠,集中力降低）。可选择始动位置，高温或低温开始循环。具有预约起动功能。可设定循环次数及自动除霜。可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除霜。运转中状态显示及曲线，异常及故障点显示说明及排除方法。有异常或故障显示及排除方法说明。欧美原装高效率复叠压缩冷冻机组，运转噪音低，省能源之设备多重保护装置，有效的保障系统的安全可靠运行产品用途： 高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。该产品即适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用和军用产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子……等材料，可作为其产品改进的依据或参考。 蓄热式冷热冲击不需要使用液态气体（LN2　或 LCO2）辅助降温，待测物完全静止测试方式是当前电子部品测试、研究、以及半导体大量选用，可大量节省耗材测试费用，操作快捷、高信赖度，是本公司经多年研究开发的高性能试验机，为客户提供长期可靠的测试工具。高低温冲击测试机价格｜高低温冲击试验箱厂家执行满足标准及试验方法GJB150.5 温度冲击试验GJB360.7温度冲击试验GB/2423.22 温度冲击试验温度范围：低温（F：-40；X：-55；S：-65）~高温+150℃高温区：+60℃~+200℃低温区：-10℃~-75℃ 升温时间(蓄热区) ：RT~200℃约需35min降温时间(蓄冷区) ：RT~-70℃约需85min温度恢复时间/转换时间： ≤5min内 / ≤10sec内温度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃内外部材质：内箱为SUS 304#不锈钢板雾面处理，外箱为冷轧钢喷塑处理或不锈钢保温材质：耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料控制器：原装进口韩国“TEMI” 或日本“OYO”牌 通讯功能：RS-232接口　　　压缩机：法国"泰康"牌或德国"比泽尔"制冷剂：美国R23和R404环保制冷剂冷却系统：全密闭式双段压缩机(风冷式)或半密闭式双段压缩机(水冷式)系统：P.I.D+S.S.R+微电脑平衡调温控制系统冷凝器：不锈钢钎焊板式换热器加热器、冷却器：镍铬合金加热器、翅片式冷却器、蓄冷器气动气缸：高温、环境温度、低温暴露时的各个风门驱动用冷却循环水：水压：0.2～0.4Mpa 水温≤30℃压缩空气：0.6～0.8Mpa安全保护装置：无熔丝开关、压缩机高低压保护开关、压缩机过热、过载、过流保护，冷媒高压保护开关、故障警告系统、电子警报器、漏电保护器，风机过热保护，相序保护，超温保护，排气阀，压缩空气调节开关，保险丝。配件：上下可调隔层两片、电缆测线孔、脚轮、水平支架电源：AC380V 50HZ/60HZ重量(大约) 450Kg 500Kg 550Kg 600Kg 700Kg

摩信芯片卡滚压测试机MX-GYY介绍：三轮滚压测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试，适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试，将芯片卡放在机器测试滚轮之间，将芯片在三个钢制滚轮间循环测试100次，芯片前方滚动50次，芯片后方滚动50次，循环频率为0.5Hz，并在芯片上加一个8N的力，经过往复循环测试后验证ICC触点芯片功能是否正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。摩信芯片卡滚压测试机MX-GYY主要技术参数：1.型号：MX-GYY2.测试轮循环次数：前后循环各50次3.测试标准参考: Mcd4.CQM测试标准参考: P-225.测试方法参考: 10.3.226.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.27.电源: 110-220 V 50/60 Hz.8.执行标准：GB/T 17554. 3-2006摩信芯片卡滚压测试机MX-GYY技术服务承诺1、我公司保证系统完成设备的安装、调试直至正常运行；2、我公司负责在买方现场免费对买方操作、维修、编程人员进行不少于贰个工作日的技术培训，使操作员达到熟练使用程度。培训内容包括：机械原理、机械部件功能、试验标准、试验操作、常见现象处理；3、我公司可应使用方要求提供有关产品各个方面详细资料，并提前通知使用方做好安装前的技术准备工作；4、产品到货后，我公司应使用方时间安排要求迅速安排技术人员到达现场进行设备的安装、调试；5、设备正常运行后，终身提供广泛优惠的技术支持及设备备件供应。

产品典型应用u 化工、制药、生物领域实验室小型反应釜温度控制u 蒸馏结晶净化系统控温u 材料老化、疲劳及可靠性等实验应用u 双层反应釜冷热源动态恒温控制u 搅拌罐温度控制u 微通道反应器冷热源恒温控制u 结晶系统控温全密闭系统：采用全密闭式系统设计，整个循环管路只有加液盖上留出的呼吸孔，导热油不会直接与空气接触，延长了导热油使用寿命同时确保系统运行的稳定性，膨胀油箱始终保持在常温状态，高温时无油雾产生，低温不会结霜。控温系统：自主开发的温度控制模块，改变控制设定的方法，能够尽快的响应过程中系统的滞后，得到最小的温度过冲。控制由两组PID（每组PID是可变的）控制回路构成，这两组控制回路成为主回路和从回路，主回路的控制输出作为从回路的设定值。系统采用带有前馈PV，主控回路的PID运行结果的输出与前馈PV信号复合后作为主控回路的设定值，通过这样对温度变化进行梯度控制，保证系统的温度精度。高效换热系统：系统采用管道式加热冷却，参与循环的液体非常少，制冷采用板式换热器，，换热效率高、结构紧凑，加热采用管道式法兰加热器，整个系统的容积（板式换热器容积+管道式加热器容积+循环泵内容积+循环管路容积）。控制重复性：基于高级动态控制系统，每次都能实现一致的控制结果，大大提升产品生产的稳定性。产品外观：精致小巧，外观设计吸取国外进口产品的设计理念，采用大口径石英玻璃液位计，液位计与操作屏放在同一侧，观察方便，风格简约时尚，比列协调，专有的色彩搭配。超高温降温技术：采用超高温降温技术，可以满足在最高300℃高温直接开启压缩机制冷降温。

TOPS激光开封机 激光开盖机 IC开盖 激光开封系统能够在一分钟完成芯片的开封工作，几乎完胜传统开封方式，对于铜线有着特别显着的开封效果，酸法开盖容易和铜以及其他金属发生化学反应。新! 激光开封机.TL-1Plus新产品FA 系列激光开封系统。随着科技的发展，半导体业的铜引线封装越来越成为发展主流，传统的化学开封已无法完全满足铜引线封装的开封要求。FA LIT的诞生给分析领域带来了新的技术。封闭式机柜，安全，方便 铸铝台面、升降台，电机驱动升降 2.2优质板金折弯成型，整体烤漆工艺自动开封技术的世界先行者TOPS公司，专注于失效分析领域已长达十年，拥有最全面的技术储备，全方位的产品和技术支持。满足客户各种半导体器件的复杂开封需求激光刻蚀封装材料应用范围移除任何塑封器件的封装材料功率器件和ic托盘上多个开封的预开槽能够精确的形成多种简单和复杂的开封形状在不破坏铝铜银线的情况下暴露内部结构。酸只需要腐蚀极少的封装材料，能够用于低温、低腐蚀条件可选组件可以进行完全的开封，对于极高的开封复杂形状要求，激光开封可以轻松做到激光开封机专业设计对于芯片封装的开封，能够同时开封多个器件。核心激光发生器被严密保护在屏障腔体中，通过VBG 93、DIN EN和CE标准安全认证。激光开封机激光光学系统通过集成方式保证了稳定性，同时可以将X射线检测数据和超声波检测数据叠加于开封器件的图像上，使开封的精确性大增。通过画图标识来确定器件开封位置和形状，实际被去除的材料总量可以通过射线机聚焦景深技术或额外的机械仪表进行测量。软件的所有预设参数都可以以不同名称储存，实现一键调用，方便不同器件的开封。激光器 1.纯清洁能源，环保无污染 2.整体无耗材，寿命10万小时 3.散热快，耗损低 4.转换效率高，激光阀值低 5.高装配工艺，对灰尘、震荡、冲击、湿度、温度具有高容忍度综合电光效率高达20%以上，大幅节约工作时耗电，，节约运行成本免调节，免维护，高稳定性的优点。 工控电脑1.品牌工控电脑 2.工业级标准，防尘，防震 3.高配置，有效防止死机、卡顿、故障 4.工业运行环境，更流畅1.光学级镜面全反扫描振镜2高速精确，先进控制单元使扫描速度快，扫描角度和扫描频率稳定快速可调3.原装进口伺服电机，高效率零漂移4.超短响应时间5.-10°至60°工作温度区间托普斯科技-专业提供电子芯片开封设备：激光开封机 --- 适合金线、铜线、铝线封装化学开封机 --- 适合金线封装机械开封机 --- 适合陶瓷、金属封装详细询价请致电

冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机产品用途：高低温冲击试验箱用于测试材料瞬间极高温至极低温的连续环境下所能忍受的程度得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的物理变化。适用于金属、塑料、橡胶、电子机电产品、航空航天、能源材料、医疗化工等材料行业模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机特点：1、采用气动控制，提篮在高低温室内切换转移，2、转换时间短，温度恢复时间短，温变速度快，3、采用两箱法，新一代外观设计，整体结构紧凑，体积小，提高了工作室的温度均匀性。4、既可作冷热冲击试验，也可以做单独高温或单独低温使用。5、备有高档万向滚轮，方便在实验室内移动。6、真空双层加热观察窗，自带照明。7、多数据接口，SD卡储存，USB输出，电脑APP远程操作。冷热冲击试验箱厂家高低温冲击实验测试机技术参数1、提篮有效容积 27L2、规格尺寸：外宽深高：750×2100×1900mm，内520×600×600mm3、提篮尺寸：300×300×300mm4、高温预温度范围：60℃～+180℃5、低温预温度范围：-10℃～-60℃6、温度冲击范围：-40℃～+120℃7、提篮转换时间：≤10S8、温度恢复时间：≤5min9、温度波动度：≤±0.5℃10、温度均匀度：≤2℃11、温度偏差：≤±2℃12、高温预热时间：20℃～180℃≈30min、13、低温预冷时间：20℃～-60℃≈75min14、总功率：≈12kw15、运行功率：≈8KW16使用电压：AC220 50Hz规格提篮尺寸外形尺寸27L300×300×300750×2100×190080L400×400×5001200×2500×1800150L500×500×6001500×2600×1850210L600×500×7001700×2650×1900510L800×800×8002500×3200×21001000L1000×1000×10003000×3500×2100温度参数高温预温度范围60℃～+200℃低温预温度范围-10℃～-80℃冲击范围-40、-50、-65℃～120、150℃ 按要求选定温度恢复时间≤5min温度波动度≤±0.5℃温度均匀度≤2℃温度偏差：≤±2℃提篮运行运动方式气动提篮转换时间≤10S安全保护 漏电、短路、超温、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护/控制器停电记忆 满足标准及试验方法GB11158-2008高温试验箱技术条件GB10589-2008低温试验箱技术条件GB10592-2008高低温试验箱技术条件（温度交变）GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14)GJB150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：高温试验GJB150.4A-2009军用装备实验室环境试验方法第3部分：低温试验GJB150.5-1986温度冲击试验