数字集成电路功能测试仪

仪器信息网数字集成电路功能测试仪专题为您提供2024年最新数字集成电路功能测试仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括数字集成电路功能测试仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的数字集成电路功能测试仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合数字集成电路功能测试仪相关的耗材配件、试剂标物,还有数字集成电路功能测试仪相关的最新资讯、资料,以及数字集成电路功能测试仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

数字集成电路功能测试仪相关的厂商

  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
    留言咨询
  • 留言咨询
  • 东集技术股份有限公司成立于2002年。秉承自主创新的发展理念,公司持续投入研发并掌握了条码、视觉等识别技术,结合多年积累的无线射频、坚固性结构、安全性系统等核心设计能力,针对各行业复杂的应用场景,打造多种形态的工业级物联网现场耐用终端,为企业全流程数字化运营和大数据分析提供了有力支撑,促进企业实现更高效管理,提高生产力。当前东集产品线包括工业级手持终端、超高频UHF RFID和视觉识别产品,已成功推向市场200+款形态多样的产品及智能采集融合技术方案,成功应用于物流快递、零售电商、生产制造、医疗卫生、公共事业等行业领域的头部客户,持续为逾10万+国内外用户提供价值服务和解决方案。东集拥有百余项专利和自主知识产权成果,先后被认定为国家“高新技术企业”、“软件企业”、“国家火炬计划重点高新技术企业”等企业资质,荣获国家科学技术进步二等奖等荣誉,设立CNAS国家标准实验室,并通过ISO9001质量管理体系认证、ISO14001环境管理体系等国际认证。以“打造现场采集耐用工具,助力用户更高效管理”为使命,东集不断为各行业提供更先进的耐用工具,帮助用户提高生产力,推动社会更高效发展。公司官网:www.chinaautoid.com 联系电话:400-677-0876 公司地址:江苏省南京市江北新区星火路15号
    留言咨询

数字集成电路功能测试仪相关的仪器

  • 设备名称:电力电缆故障智能测试仪 设备型号:ZT9608-G 设备简介:ZT9608-G电力电缆故障智能测试仪是我公司应用最新科研成果和高科技电子技术,大规模数字集成电路技术研制开发的一种全新的智能化电力电缆故障测试仪。 设备特点: (1)硬件采用大规模数字集成电路,大幅度提高了仪器的可靠性,极大的减小了体积(与同类产品比较,体积最小)。 (2)可外接笔记本电脑,本机及笔记本电脑均可操作。 (3)通过超大液晶屏显示,画面清晰,人机对话舒适,克服了CRT(显示管)固有的弊病。 (4)专用抗干扰电路,彻底解决了笔记本电脑抗干扰差而引起的飞屏、死机等现象。 (5)高压闪络采样为电流采样,连接方便、可靠,易操作。 (6)采用先进的同步定点技术,能够显示测试点到故障点的距离,并同时显示声波和电磁波。
    留言咨询
  • 集成电路 IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因:集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试,用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能,inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃,特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一:上海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商,经过技术选型,采购 inTEST-Temptronic ATS-505用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计,体积轻巧,测试温度范围:-20°C 至+225°C,采用旋钮式控制面板,操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法:客户采用 Air Mode 模式直接测试:Temptronic ATS-505利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理,然后空气经由外部管路到达加热头进行升温;将被测电路IC卡放置在热流罩位置,根据操作员设定,喷出和设定温度相差±1℃的气流,从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统,出厂设置温度+230°C,操作员可根据实际需要设置高低温限制点,当温度达到设置温度时,测试机将自动停机。集成电路 IC 卡温度测试客户案例二:上海伯东客户是一家 IC 卡生产企业,经过技术选型,采购 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低温测试机,ATS-535 内置空压机,温度测试范围:-60°C 至 +225°C,适用于实验室内无空压系统的客户,方便移动。集成电路 IC 卡温度测试方法:客户采用 DUT Mode 模式测试:1、将待测 IC卡和温度传感器放置在测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-535 ,利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理,然后空气经由外部管路到达加热头进行升温;气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度,inTEST ATS-535 高低温测试机自带过热温度保护系统,出厂设置温度 +230°C,操作员可根据实际需要设置高低温限制点,当温度达到设置温度时,测试机将自动停机。 鉴于信息保密,更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话:inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年,在 2000 年被 inTEST 收购,成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年,在 2012 年被 inTEST 收购,使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机,将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理,全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!
    留言咨询
  • 电源管理芯片充电ic集成电路芯片电源适配器IC在所有的电子设备和产品中,都不乏电源IC的“身影”。随着数字高速IC技术和芯片制造工艺技术的共同高速发展,高性能电源IC“助阵”的作用显得愈加重要。而日新月异的电子产品应用、环保绿色节能需求的兴起也对电源IC提出了更高的要求,催生新一代高集成度、高性能和高能效电源管理IC的需求,亦成为电源管理IC厂商永恒的使命。电源管理半导体从所包含的器件来说,明确强调电源管理集成电路(电源管理IC,简称电源管理芯片)的位置和作用。电源管理半导体包括两部分,即电源管理集成电路和电源管理分立式半导体器件。电源管理集成电路包括很多种类别,大致又分成电压调整和接口电路两方面。电压凋整器包含线性低压降稳压器(即LOD),以及正、负输出系列电路,此外 不有脉宽调制(PWM)型的开关型电路等。因技术进步,集成电路芯片内数字电路的物理尺寸越来越小,因而工作电源向低电压发展,一系列新型电压调整器应运 而生。电源管理用接口电路主要有接口驱动器、马达驱动器、功率场效应晶体管(MOSFET)驱动器以及高电压/大电流的显示驱动器等等。电源管理分立式半导体器件则包括一些传统的功率半导体器件,可将它分为两大类,一类包含整流器和晶闸管;另一类是三极管型,包含功率双极性晶体管,含有MOS结构的功率场效应晶体管(MOSFET)和绝缘栅双极型晶体管(IGBT)等。在某种程度上来说,正是因为电源管理IC的大量发展,功率半导体才改称为电源管理半导体。也正是因为这么多的集成电路(IC)进入电源领域,人们才更多地以电源管理来称呼现阶段的电源技术。深圳市骊微电子科技有限公司从事家电电源,充电器,电源适配器,LED电源等电源产品芯片IC设计,测试,销售。产品主要覆盖5-100W以内各类电源产品,公司同时提供电源产品应用与电源设计服务。
    留言咨询

数字集成电路功能测试仪相关的资讯

  • “陕西光电子集成电路先导技术中试平台”通过验收
    2021年9月10日,由中国科学院西安光机所承担的“国家双创示范基地双创支撑平台建设项目——陕西光电子集成电路先导技术中试平台”顺利通过总体验收。验收专家组由陕西省政府参事、省政协常委、原知识产权局局长巨拴科等11位专家组成。中科院科发局知识产权处副处长陈浩全程参会指导工作 中科院西安分院副院长杨青春、陕西省工信厅二级巡视员梁桂莲、西安市高新区硬科技局副局长蒋仁国受邀参加会议 西安光机所副所长胡炳樑,财资处、条保处、综合档案室、所级中心、产业处,西光产业、西科控股、先导院公司相关负责人参加会议,会议由产业处副处长(主持工作)李燕主持。西安光机所于2017年获批国家 “第二批大众创业万众创新示范基地”,并于2019年5月获得“国家双创示范基地双创支撑平台建设项目——陕西光电子集成电路先导技术中试平台”批复。通过项目支持建设,平台现已建成了一条可支持以VCSEL芯片为主的化合物半导体芯片研发、小试工艺线,具备了快测和全流程工艺流片能力,目前VCSEL4&6英寸快测及全流程工艺已通线。验收会开始之前,梁桂莲讲话,她表示,地方政府长期以来一直在关注和支持西安光机所创新创业工作,“西光所创新发展模式”在地方形成了良好的模范带头作用,希望西安光机所通过本次项目验收总结阶段经验,不断提高平台建设能力,在“秦创原”这个平台上,引领光子产业链不断提升和完善。接下来,陈浩介绍了国家发改委关于双创示范基地双创支撑平台建设项目的背景和总体要求,验收会正式开始。专家组听取了建设单位项目负责人周祚峰的专题汇报,随后到检测大厅了解研究所整体科研基础情况、到硬科技社区了解创新创业生态体系建设情况、到先导院检查双创项目建设情况。经过实地考察、专家质询、工艺验收、财务验收和档案验收,专家组对西安光机所组织实施双创示范基地双创支撑平台建设项目整体工作给予了充分认可,并对其支撑和引领地方光子产业发展起到的积极作用表示肯定,一致同意通过总体验收。验收会后,杨青春代表西安分院对中科院和地方政府一直以来对西安光机所的关怀和支持表示感谢,并要求研究所进一步落实专家组和政府相关领导提的宝贵建议和意见,立足地方、辐射全国,成为全国光子领域技术创新高地和产业集聚地。陈浩充分肯定了项目建设成果,对验收会取得圆满成功表示祝贺,他希望西安光机所进一步按照我院“四个国家”要求,为国家国防建设和产业链安全,以及地方经济高质量发展作出更大贡献。最后,胡炳樑代表研究所对中科院、西安分院、各级政府、专家组对西安光机所的鼓励和支持表示感谢,并表示研究所将按照“不仅让国家和中科院满意,还要让地方和人民满意”的标准,聚焦光子领域主责主业,坚持高起点规划、高标准建设、高水平管理,努力成为光子科技国内创新和创业高地。
  • 集成电路ATE测试设备供应商鹏武电子获数千万人民币融资
    近日集成电路(IC)ATE测试设备供应商「鹏武电子」宣布完成数千万人民币Pre-A轮融资,由同创伟业领投,金雨茂物、动平衡资本、中新资本联合跟投,本次融资由接力科创担任独家FA机构。本轮资金将主要用于公司P系列测试机的市场推广、新产品的研发,以及团队扩张。鹏武电子成立于2015年,立足于设计高性能、高质量、高性价比的ATE测试设备,帮助客户提高检测精度、保障产品质量、降低检测成本。目前,公司在上海、嘉兴、苏州等地均设有办公室。随着5G、人工智能(AI)、物联网(IoT)等领域应用的快速发展,芯片测试环节面临着更高要求。据相关数据,2021年,我国IC专业测试潜在市场规模达数百亿元,且增速迅猛。但长期以来,全球ATE测试设备市场被美国泰瑞达(Teradyne)、日本爱德万(Advantest)、科休(Cohu)等行业巨头所垄断,占据市场份额超过90%。相比之下,国产ATE测试设备呈现以中低端为主,行业高度依赖进口的状态,同时传统测试设备的使用成本高,难以满足5G、AI、IoT、传感器等芯片的测试需求。全球半导体测试机分应用领域结构占比因此,如何早日实现可靠性强、检测精度高的IC测试设备的自主研发,填补国内高端IC测试设备技术空白,是我国集成电路行业打破国外垄断、推动国产替代的重要任务之一。从行业角度看,IC测试设备领域常见的被测芯片类型主要有三种,分别为模拟IC、纯数字IC、数模混合IC。其中,功率器件等模拟IC的测试设备国产化率较高,国内如华峰测控、长川科技等公司均在此布局。而在市场更为广阔、测试难度更高的存储芯片等纯数字IC和数模混合IC,因其较高的算法难度和超高的测试复杂度,使得这类设备的设计难度更大,这一领域的测试设备市场主要被泰瑞达和爱德万的中高端机型垄断。目前,鹏武电子主要关注数字和数模混合测试市场,以及高精度模拟芯片的测试需求。鹏武电子创始人、CEO谷陈鹏告诉36氪,公司制定了较为完备的产品路线图,覆盖P系列三个测试机型号的研发和升级,能满足从中低端到高端测试机产品的市场需求。鹏武P系列测试机在两大核心技术参数上取得了关键跨越。一是通道数,覆盖从几百通道到1024甚至2048以上通道的高端设备市场;二是测试机速度, P系列测试机测试速度已成功超过1G(1000M)。鹏武P系列ATE测试设备同时在软件层面,鹏武电子运用APP等理念来设计测试机软件,具有图形化和填表式的特点,在为客户提供专业测试开发和调试环境的同时,也降低了使用门槛,提高了客户粘性。谷陈鹏谈道,公司的技术和产品研发路线与未来集成电路设备的两大发展需求息息相关。一方面,目前5G应用仍主要停留在手机端,但未来会有更多的小型设备及移动式终端采用5G,这将对芯片的带宽效率提出更高要求。因此,公司开发了ODI光通讯测试架构,将搭载于P系列测试机上,这也是借鉴了5G基站采用的关键技术节点。另一方面,国内在5G、IoT、红外检测、医疗仪器等领域的芯片发展已处于行业领先地位,因此国内客户对于ATE测试机也会提出新的诉求。鹏武电子P系列测试机除了满足客户对于性价比的需求外,也更贴合大陆市场的客户需要,使其更具差异化和竞争力。当我们将视野拉长至全球IC设备市场,谷陈鹏认为我国IC测试设备行业最大的技术壁垒在于人才。长期以来国外在集成电路设备领域的相关技术始终对中国高度保密,导致国内缺乏人才培养的技术土壤,尽管近年来国内开设了芯片设计一级学科,但在IC设备领域的专家仍只能从行业获取。“但我们并不是从零开始,而是站在巨人的肩膀上发展的。”谷陈鹏说,在产品思路上,公司针对测试设备的设计会有所优化。例如,美日早期设计的测试设备具有鲜明的旧时代特征,新设备为了兼容难免存在许多冗余的设计,因此鹏武在产品研发过程中将这些过时设计取消,将主要资源分配到新的需求、功能和性能上。在核心团队方面,鹏武电子的核心团队均来自于泰瑞达、JTAG、泰克、赛灵思等集成电路和测试设备头部企业,拥有丰富的技术、产品及市场经验。其中,公司创始人、CEO谷陈鹏曾担任泰瑞达中国经理,负责带领中国团队设计第一台RF SoC芯片测试机的研发。“我们是中国大陆少有的,在成立之初就加入国际仪器仪表协会的会员企业。”谷陈鹏提到,得益于鹏武电子创始团队深厚的行业背景,公司在市场拓展方面得到了许多头部客户的支持。公司客户已覆盖国内外知名芯片设计公司、晶圆厂、封测企业以及科研单位。在2021年,鹏武电子的P系列测试机已成功出货超过100台,实现里程碑式的突破。今年,鹏武电子计划在扩充IC测试设备产品线的同时,将进一步细化设备在系统级测试方面的能力,覆盖更复杂的需求。
  • 全国首家省级集成电路产业计量测试中心通过验收
    完善计量支撑体系 服务制造强国建设近日,由中国船舶集团第七〇九研究所筹建的“湖北省集成电路产业计量测试中心”(以下简称“省中心”)通过了国家集成电路领域相关专家组考核验收,获批成立,成为全国第一家省级集成电路产业计量测试中心,标志着湖北省在集成电路领域计量基础能力建设走在全国前列,服务经济社会发展的能力水平有了新的突破。集成电路产业是支撑经济社会发展的战略性、基础性、先导性产业,是引领新一轮科技革命和产业变革的关键力量,也是突破卡脖子技术的关键领域。加快构建集成电路全产业链计量测试服务体系既是助力实现“中国式现代化”,攻克集成电路领域卡脖子工程不可或缺的关键环节,也是破解集成电路产业发展测量难题的重要抓手。七〇九所是集成电路领域国之重器信息化平台建设的国家队、高性能芯片国产化替代的设计单位,构建了较为完善集成电路测试服务体系,具有齐全集成电路测试验证配套能力,服务客户已覆盖全部十大军工集团及全国民用企业。通过省中心建设,七〇九所先后完成了8个重点项目,13项测量仪器设备配置,建成20项校准技术能力和关键参数测量技术能力,服务产业44家军工单位、34家民营企业,解决16项产业计量测试难题,新建3项核心芯片计量保障方案。省中心的验收进一步奠定了七〇九所在微电子计量、检测领域的优势地位。未来,七〇九所将以省中心验收为契机,持续提升计量测试技术能力,推动武汉“创建具有全国影响力科技创新中心”,充分发挥对湖北省周边省市辐射带动效应,为湖北省乃至全国集成电路产业高质量发展提供高水平计量测试服务。

数字集成电路功能测试仪相关的方案

数字集成电路功能测试仪相关的资料

数字集成电路功能测试仪相关的试剂

数字集成电路功能测试仪相关的论坛

  • 集成电路代换方法与技巧 (一)

    一、直接代换 直接代换是指用其他IC不经任何改动而直接取代原来的IC,代换后不影响机器的主要性能与指标。 其代换原则是:代换IC的功能、性能指标、封装形式、引脚用途、引脚序号和间隔等几方面均相同。其中IC的功能相同不仅指功能相同;还应注意逻辑极性相同,即输出输入电平极性、电压、电流幅度必须相同。例如:图像中放IC,TA7607与TA7611,前者为反向高放AGC,后者为正向高放AGC,故不能直接代换。除此之外还有输出不同极性AFT电压,输出不同极性的同步脉冲等IC都不能直接代换,即使是同一公司或厂家的产品,都应注意区分。性能指标是指IC的主要电参数(或主要特性曲线)、最大耗散功率、最高工作电压、频率范围及各信号输入、输出阻抗等参数要与原IC相近。功率小的代用件要加大散热片。其中 1 同一型号IC的代换一般是可靠的,安装集成电路时,要注意方向不要搞错,否则,通电时集成电路很可能被烧毁。有的单列直插式功放IC,虽型号、功能、特性相同,但引脚排列顺序的方向是有所不同的。 例如,双声道功放IC LA4507,其引脚有“正”、“反”之分,其起始脚标注(色点或凹坑)方向不同;没有后缀与后缀为"R"的IC等 例如 M5115P与M5115RP. 2 ⑴型号前缀字母相同、数字不同IC的代换。这种代换只要相互间的引脚功能完全相同,其内部电路和电参数稍有差异,也可相互直接代换。如:伴音中放IC LA1363和LA1365,后者比前者在IC第⑤脚内部增加了一个稳压二极管,其它完全一样。 ⑵型号前缀字母不同、数字相同IC的代换。一般情况下,前缀字母是表示生产厂家及电路的类别,前缀字母后面的数字相同,大多数可以直接代换。但也有少数,虽数字相同,但功能却完全不同。例如,HA1364是伴音IC,而uPC1364是色解码IC;4558,8脚的是运算放大器NJM4558 14 故二者完全不能代换。 ⑶型号前缀字母和数字都不同IC的代换。有的厂家引进未封装的IC芯片,然后加工成按本厂命名的产品。还有如为了提高某些参数指标而改进产品。这些产品常用不同型号进行命名或用型号后缀加以区别。例如,AN380与uPC1380可以直接代换;AN5620、TEA5620、DG5620等可以直接代换。

  • 仪器维修中集成电路的维修经验(大家交流)

    仪器维修中集成电路的维修经验(大家交流) (一)常用的检测方法 集成电路常用的检测方法有在线测量法、非在线测量法和代换法。1.非在线测量 非在线测量潮在集成电路未焊入电路时,通过测量其各引脚之间的直流电阻值与已知正常同型号集成电路各引脚之间的直流电阻值进行对比,以确定其是否正常。2.在线测量 在线测量法是利用电压测量法、电阻测量法及电流测量法等,通过在电路上测量集成电路的各引脚电压值、电阻值和电流值是否正常,来判断该集成电路是否损坏。3.代换法 代换法是用已知完好的同型号、同规格集成电路来代换被测集成电路,可以判断出该集成电路是否损坏。 (二)常用集成电路的检测 1.微处理器集成电路的检测 微处理器集成电路的关键测试引脚是VDD电源端、RESET复位端、XIN晶振信号输入端、XOUT晶振信号输出端及其他各线输入、输出端。在路测量这些关键脚对地的电阻值和电压值,看是否与正常值(可从产品电路图或有关维修资料中查出)相同。不同型号微处理器的RESET 复位电压也不相同,有的是低电平复位,即在开机瞬间为低电平,复位后维持高电平;有的是高电平复位,即在开关瞬间为高电平,复位后维持低电平。2.开关电源集成电路的检测 开关电源集成电路的关键脚电压是电源端(VCC)、激励脉冲输出端、电压检测输入端、电流检测输入端。测量各引脚对地的电压值和电阻值,若与正常值相差较大,在其外围元器件正常的情况下,可以确定是该集成电路已损坏。 内置大功率开关管的厚膜集成电路,还可通过测量开关管C、B、E极之间的正、反向电阻值,来判断开关管是否正常。3.音频功放集成电路的检测 检查音频功放集成电路时,应先检测其电源端(正电源端和负电源端)、音频输入端、音频输出端及反馈端对地的电压值和电阻值。若测得各引脚的数据值与正常值相差较大,其外围元件与正常,则是该集成电路内部损坏。对引起无声故障的音频功放集成电路,测量其电源电压正常时,可用信号干扰法来检查。测量时,万用表应置于R×1档,将红表笔接地,用黑表笔点触音频输入端,正常时扬声器中应有较强的“喀喀”声。4.运算放大器集成电路的检测 用万用表直流电压档,测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高)。用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号),若万用表表针有较大幅度的摆动,则说明该运算放大器完好;若万用表表针不动,则说明运算放大器已损坏。5.时基集成电路的检测 时基集成电路内含数字电路和模拟电路,用万用表很难直接测出其好坏。可以用所示的测试电路来检测时基集成电路的好坏。测试电路由阻容元件、发光二极管LED、6V 直流电源、电源开关S 和8脚IC插座组成。将时基集成电路(例如NE555)插信IC插座后,按下电源开关S,若被测时基集成电路正常,则发光二极管LED将闪烁发光;若LED不亮或一直亮,则说明被测时基集成电路性能不良。 集成电路代换技巧 一、直接代换直接代换是指用其他IC不经任何改动而直接取代原来的IC,代换后不影响机器的主要性能与指标。其代换原则是:代换IC的功能、性能指标、封装形式、引脚用途、引脚序号和间隔等几方面均相同。其中IC的功能相同不仅指功能相同;还应注意逻辑极性相同,即输出输入电平极性、电压、电流幅度必须相同。例如:图像中放IC,TA7607 与TA7611,前者为反向高放AGC,后者为正向高放AGC,故不能直接代换。除此之外还有输出不同极性AFT电压,输出不同极性的同步脉冲等[font=Calibr

  • 集成电路的特点

    集成电路一般是在一块厚0.2~0.5mm、面积约为0.5mm的P型硅片上通过平面工艺制做成的。这种硅片(称为集成电路的基片)上可以做出包含为十个(或更多)二极管、电阻、电容和连接导线的电路。一、集成电路中元器件的特点与分立元器件相比,集成电路元器件有以下特点:1. 单个元器件的精度不高,受温度影响也较大,但在同一硅片上用相同工艺制造出来的元器件性能比较一致,对称性好,相邻元器件的温度差别小,因而同一类元器件温度特性也基本一致;2. 集成电阻及电容的数值范围窄,数值较大的电阻、电容占用硅片面积大。集成电阻一般在几十Ω~几十 kΩ范围内,电容一般为几十pF。电感目前不能集成;3. 元器件性能参数的绝对误差比较大,而同类元器件性能参数之比值比较精确;4. 纵向NPN管β值较大,占用硅片面积小,容易制造。而横向PNP管的β值很小,但其PN结的耐压高。二、集成电路的设计特点由于制造工艺及元器件的特点,模拟集成电路在电路设计思想上与分立元器件电路相比有很大的不同。1. 在所用元器件方面,尽可能地多用晶体管,少用电阻、电容;2. 在电路形式上大量选用差动放大电路与各种恒流源电路,级间耦合采用直接耦合方式;3. 尽可能地利用参数补偿原理把对单个元器件的高精度要求转化为对两个器件有相同参数误差的要求;尽量选择特性只受电阻或其它参数比值影响的电路

数字集成电路功能测试仪相关的耗材

  • 单片微波集成电路MMIC放大器
    单片微波集成电路放大器是中国制造的GaN MMIC放大器产品的翘楚,具有可与美国同类产品媲美的产品性能,却具有全球竞争力的GaN MMIC Amplifiers价格和单片微波集成电路放大器价格。单片微波集成电路MMIC放大器广泛用于高功率微波放大器系统, 支持非常高的工作电压(比GaAs高三到五倍),并且每单位FET栅极宽度容许的电流大致是GaAs器件的两倍。 这些特性对PA设计人员有重要意义,意味着在给定输出功率水平可以支持更高的负载阻抗,从而获得更大带宽。单片微波集成电路MMIC放大器具有极高的可靠性,适用于高可靠性空间应用,结果表明单个器件的平均失效前时间(MTTF)超过一百万小时。 如此高的可靠性主要是因为GaN具有很高的带隙值(GaN为3.4,GaAs为1.4), 这使得它特别适合高可靠性应用。GaN MMIC amplifiers made by China provide high performance with lower price on market, MMIC output power over the 0.03 to 4.0GHz band. This MMIC is matched to 50 Ohms at the input but un-matched at the output above 0.5GHz.
  • 单片微波集成电路MMIC放大器 GaN MMIC Amplifiers
    单片微波集成电路放大器是中国制造的GaN MMIC放大器产品的翘楚,具有可与美国同类产品媲美的产品性能,却具有全球竞争力的GaN MMIC Amplifiers价格和单片微波集成电路放大器价格。单片微波集成电路MMIC放大器广泛用于高功率微波放大器系统, 支持非常高的工作电压(比GaAs高三到五倍),并且每单位FET栅极宽度容许的电流大致是GaAs器件的两倍。 这些特性对PA设计人员有重要意义,意味着在给定输出功率水平可以支持更高的负载阻抗,从而获得更大带宽。单片微波集成电路MMIC放大器具有极高的可靠性,适用于高可靠性空间应用,结果表明单个器件的平均失效前时间(MTTF)超过一百万小时。 如此高的可靠性主要是因为GaN具有很高的带隙值(GaN为3.4,GaAs为1.4), 这使得它特别适合高可靠性应用。单片微波集成电路MMIC放大器参数
  • HS6298C型多功能噪声测试仪
    HS6298C型多功能噪声测试仪 HS6298C型多功能噪声测试仪是一种袖珍式高智能化的噪声测量仪器,它集积分声级计、噪声统计分析仪、噪声采集器、数字式记录等几种仪器功能于一体,在设计和功能上都有许多创新,能满足多种测量要求。本仪器具有128× 64点阵式液晶片带背景光显示,显示内容丰富,有汉字提示功能,操作界面采用菜单方式,用户可很快掌握操作。测量结果可长期保存在仪器内,通过内置RS-232C接口在现场或事后用微型打印机打印出来或送到计算机中去。本仪器结构紧凑、造型美观、功能多、自动化程度高,可用于环境噪声的测量,也可用于劳动保护、工业卫生及各种机器、车辆、船舶、电器等工业噪声测量。二 HS6298C型多功能噪声测试仪主要技术性能1 传声器:&Phi 12.7mm(1/2&Prime )驻极体测试电容传声器,灵敏度约25mV/Pa,频率范围:20Hz~12.5kHz2 测量范围:30dB~130dB(A) 35dB~130dB(C) 35dB~130dB(Z)3 频率范围:20kHz~10kHz4 频率计权:A、C、Z计权5 时间计权:快(F)、慢(S)6 检波器特性:数字真有效值检波,峰值因数37 级量程分高、中、低三档,每档线性范围&ge 60dB。8 测量时间设定:10s、1min、5min、10min、15min、20min、30min 、1h、8h、24h。24h整时,Man (人工)。 时钟:年、月、日、时、分、秒自动运行。9 自动测量功能:Lp、Leq、LAE、LN(L5、L10、L50、L90、L95)、SD、Lmax、Lmin, Ld、Ln、Ldn等10 测量数据自动存储: 3000组。11 可采集瞬时声级,储存并输出到计算机进行处理,可计算机场噪声测量中的LEPN,显示和打印结果。12 显示器:128× 64点阵式液晶数显,具有模拟表针、测量方式、测量时间及时钟、背光源显示等功能。13 输出接口: 交流输出:0V~3V RS-232C接口输出14 电源:4× LR6(5#) 高能碱性电池,也可使用9V外接电源。15 外形尺寸:l× b× h(mm) 230× 72× 3016 质量:400g(连电池)17 工作使用温度:-10℃ ~ 50℃、相对湿度20% ~ 90%18 延伸电缆(视用户要求可配5米、10米、15米、20米)
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制