数字集成电路相位检测器

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数字集成电路相位检测器相关的厂商

  • 冉赛检测专注力学、噪声、震动、温度、电学量、工业自动化控制、视觉检测技术的智能化设计与制造,结合数字化编程、集成电路开发、三维机械设计与辅助分析技术,为客户提供优质、可靠的测量系统。
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  • 济宁鲁科无损检测器材有限公司生产产品:超声波测厚仪、超声波探伤仪、X射线机、磁粉探伤机、硬度计、电火花检漏仪、涂层测厚仪、报警仪、光谱仪、观片灯、洗片机、黑白密度计及各种无损检测耗材!质量优,价格低,服务好,一次业务,终身合作。您的支持就是我们最大的动力,您的信任就是我们最好的欣慰。详细资料请参阅公司网站:www.lkndt.com业务:李先生 电话:0537-2613503传真:0537-2638499联系手机15206786887 QQ:67495153 数字式超声波探伤仪,山东,生产厂家,价格,超声波探伤仪超声波试块,山东济宁,厂家,价格,各种超声波试块生产超声波侧厚、探伤,射线机等无损检测器材耗材
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数字集成电路相位检测器相关的仪器

  • 电源管理芯片充电ic集成电路芯片电源适配器IC在所有的电子设备和产品中,都不乏电源IC的“身影”。随着数字高速IC技术和芯片制造工艺技术的共同高速发展,高性能电源IC“助阵”的作用显得愈加重要。而日新月异的电子产品应用、环保绿色节能需求的兴起也对电源IC提出了更高的要求,催生新一代高集成度、高性能和高能效电源管理IC的需求,亦成为电源管理IC厂商永恒的使命。电源管理半导体从所包含的器件来说,明确强调电源管理集成电路(电源管理IC,简称电源管理芯片)的位置和作用。电源管理半导体包括两部分,即电源管理集成电路和电源管理分立式半导体器件。电源管理集成电路包括很多种类别,大致又分成电压调整和接口电路两方面。电压凋整器包含线性低压降稳压器(即LOD),以及正、负输出系列电路,此外 不有脉宽调制(PWM)型的开关型电路等。因技术进步,集成电路芯片内数字电路的物理尺寸越来越小,因而工作电源向低电压发展,一系列新型电压调整器应运 而生。电源管理用接口电路主要有接口驱动器、马达驱动器、功率场效应晶体管(MOSFET)驱动器以及高电压/大电流的显示驱动器等等。电源管理分立式半导体器件则包括一些传统的功率半导体器件,可将它分为两大类,一类包含整流器和晶闸管;另一类是三极管型,包含功率双极性晶体管,含有MOS结构的功率场效应晶体管(MOSFET)和绝缘栅双极型晶体管(IGBT)等。在某种程度上来说,正是因为电源管理IC的大量发展,功率半导体才改称为电源管理半导体。也正是因为这么多的集成电路(IC)进入电源领域,人们才更多地以电源管理来称呼现阶段的电源技术。深圳市骊微电子科技有限公司从事家电电源,充电器,电源适配器,LED电源等电源产品芯片IC设计,测试,销售。产品主要覆盖5-100W以内各类电源产品,公司同时提供电源产品应用与电源设计服务。
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  • 集成电路 IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因:集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试,用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能,inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试 Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃,特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一:上海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商,经过技术选型,采购 inTEST-Temptronic ATS-505用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计,体积轻巧,测试温度范围:-20°C 至+225°C,采用旋钮式控制面板,操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法:客户采用 Air Mode 模式直接测试:Temptronic ATS-505利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理,然后空气经由外部管路到达加热头进行升温;将被测电路IC卡放置在热流罩位置,根据操作员设定,喷出和设定温度相差±1℃的气流,从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统,出厂设置温度+230°C,操作员可根据实际需要设置高低温限制点,当温度达到设置温度时,测试机将自动停机。集成电路 IC 卡温度测试客户案例二:上海伯东客户是一家 IC 卡生产企业,经过技术选型,采购 Temptronic ThermoStream ATS-535 高低温测试机,ATS-535 内置空压机,温度测试范围:-60°C 至 +225°C,适用于实验室内无空压系统的客户,方便移动。集成电路 IC 卡温度测试方法:客户采用 DUT Mode 模式测试:1、将待测 IC卡和温度传感器放置在测试腔中2、操作员设置需要测试的温度范围3、启动 ThermoStream ATS-535 ,利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理,然后空气经由外部管路到达加热头进行升温;气流通过热流罩进入测试腔4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度,inTEST ATS-535 高低温测试机自带过热温度保护系统,出厂设置温度 +230°C,操作员可根据实际需要设置高低温限制点,当温度达到设置温度时,测试机将自动停机。 鉴于信息保密,更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话:inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年,在 2000 年被 inTEST 收购,成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年,在 2012 年被 inTEST 收购,使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机,将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理,全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。若您需要进一步的了解详细产品信息或讨论 , 请参考以下联络方式 :上海伯东 : 罗先生 台湾伯东 : 王女士T: T: F: F: M: M: 伯东版权所有, 翻拷必究!
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  • 上海伯东代理美国 inTEST-Temptronic 高低温测试机用于集成电路IC卡高低温测试集成电路 IC 卡高低温测试原因:集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试,用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能,inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试、冷热冲击测试、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃,特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。集成电路 IC 卡高低温测试客户案例:上海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商,经过技术选型,采购 inTEST-Temptronic ATS-505用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计,体积轻巧,测试温度范围:-20°C 至+225°C,采用旋钮式控制面板,操作直观。Temptronic 集成电路高低温测试方法:客户采用 Air Mode 模式直接测试:Temptronic ATS-505利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理,然后空气经由外部管路到达加热头进行升温;将被测电路IC卡放置在热流罩位置,根据操作员设定,喷出和设定温度相差±1℃的气流,从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统,出厂设置温度+230°C,操作员可根据实际需要设置高低温限制点,当温度达到设置温度时,测试机将自动停机。鉴于信息保密,更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎拨打电话:021-5046-3511inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和ThermonicsTemptronic 创立于 1970 年,在 2000 年被 inTEST 收购,成为在美国设立的超高速温度环境测试机的首家制造商。而 Thermonics 创立于1976年,在 2012 年被 inTEST 收购,使 inTEST 更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用崭新的研发技术发展出独创的温度环境测试机,将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST 中国总代理,全权负责 inTEST 新品销售和售后维修服务。上海伯东版权所有,翻拷必究!上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备 美国 Polycold 深冷泵 美国 KRI 考夫曼离子源 美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机 日本 NS 离子蚀刻机等。
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数字集成电路相位检测器相关的资讯

  • 246.6万!西安电子科技大学重庆集成电路创新研究院相位噪声分析仪
    项目编号:TC229D064项目名称:西安电子科技大学重庆集成电路创新研究院相位噪声分析仪预算金额:246.6000000 万元(人民币)最高限价(如有):246.6000000 万元(人民币)采购需求:采购内容数量最高限价(万元)投标保证金(万元)中标人数量采购标的对应的中小企业划分标准所属行业相位噪声分析仪1台246.6 4 1名工业备注:1.本次采购可以采购进口产品,进口产品价格为最终交货价。 2.以上招标内容的具体需求,见第二篇相关内容。合同履行期限:交货期:合同签订之日起3个月内交货并完成安装调试,若中标产品为进口设备则以信用证开出之日起3个月内交货并完成安装调试,并通过验收,直至交付采购人正常使用。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • “陕西光电子集成电路先导技术中试平台”通过验收
    2021年9月10日,由中国科学院西安光机所承担的“国家双创示范基地双创支撑平台建设项目——陕西光电子集成电路先导技术中试平台”顺利通过总体验收。验收专家组由陕西省政府参事、省政协常委、原知识产权局局长巨拴科等11位专家组成。中科院科发局知识产权处副处长陈浩全程参会指导工作 中科院西安分院副院长杨青春、陕西省工信厅二级巡视员梁桂莲、西安市高新区硬科技局副局长蒋仁国受邀参加会议 西安光机所副所长胡炳樑,财资处、条保处、综合档案室、所级中心、产业处,西光产业、西科控股、先导院公司相关负责人参加会议,会议由产业处副处长(主持工作)李燕主持。西安光机所于2017年获批国家 “第二批大众创业万众创新示范基地”,并于2019年5月获得“国家双创示范基地双创支撑平台建设项目——陕西光电子集成电路先导技术中试平台”批复。通过项目支持建设,平台现已建成了一条可支持以VCSEL芯片为主的化合物半导体芯片研发、小试工艺线,具备了快测和全流程工艺流片能力,目前VCSEL4&6英寸快测及全流程工艺已通线。验收会开始之前,梁桂莲讲话,她表示,地方政府长期以来一直在关注和支持西安光机所创新创业工作,“西光所创新发展模式”在地方形成了良好的模范带头作用,希望西安光机所通过本次项目验收总结阶段经验,不断提高平台建设能力,在“秦创原”这个平台上,引领光子产业链不断提升和完善。接下来,陈浩介绍了国家发改委关于双创示范基地双创支撑平台建设项目的背景和总体要求,验收会正式开始。专家组听取了建设单位项目负责人周祚峰的专题汇报,随后到检测大厅了解研究所整体科研基础情况、到硬科技社区了解创新创业生态体系建设情况、到先导院检查双创项目建设情况。经过实地考察、专家质询、工艺验收、财务验收和档案验收,专家组对西安光机所组织实施双创示范基地双创支撑平台建设项目整体工作给予了充分认可,并对其支撑和引领地方光子产业发展起到的积极作用表示肯定,一致同意通过总体验收。验收会后,杨青春代表西安分院对中科院和地方政府一直以来对西安光机所的关怀和支持表示感谢,并要求研究所进一步落实专家组和政府相关领导提的宝贵建议和意见,立足地方、辐射全国,成为全国光子领域技术创新高地和产业集聚地。陈浩充分肯定了项目建设成果,对验收会取得圆满成功表示祝贺,他希望西安光机所进一步按照我院“四个国家”要求,为国家国防建设和产业链安全,以及地方经济高质量发展作出更大贡献。最后,胡炳樑代表研究所对中科院、西安分院、各级政府、专家组对西安光机所的鼓励和支持表示感谢,并表示研究所将按照“不仅让国家和中科院满意,还要让地方和人民满意”的标准,聚焦光子领域主责主业,坚持高起点规划、高标准建设、高水平管理,努力成为光子科技国内创新和创业高地。
  • 上海市计测院携手赛默飞共建集成电路检测技术示范实验室
    2023年3月23日,上海市计量测试技术研究院(以下简称:上海市计测院)与赛默飞世尔科技(中国)有限公司(以下简称:赛默飞世尔)共建的“集成电路检测技术应用示范实验室”揭牌仪式在上海张江举办。当前,集成电路已成为加速数字经济赋能升级、支撑新基建高质量发展的核心产业;随着芯片制程的不断缩小,集成电路相关材料检测的要求也达到了新的高度;长三角区域是我国集成电路产业实力最强、规模最为聚集的区域之一。   上海市计测院与赛默飞世尔凭借各自技术创新优势,聚焦集成电路材料检测,共建集成电路检测技术应用示范实验室,双方签订战略合作协议,围绕集成电路检测方法研究、技术交流等方面开展合作,共同开发集成电路材料的关键测量技术,将更好地服务集成电路产业的高质量发展。   揭牌仪式上,上海市计测院院长张丽虹表示,上海市计测院聚焦重点产业的发展,不断地提高集成电路材料检测的技术能级,技术水平逐步从成熟工艺制程延伸到先进工艺制程。共建的合作实验室将围绕集成电路材料的检测方法研究、技术交流,共同开发集成电路材料关键测量技术,共同推进集成电路产业发展。   赛默飞世尓色谱和质谱业务中国区商务副总裁沈严表示,赛默飞世尓与上海市计测院已开展了16年的友好合作,在集成电路检测领域, 赛默飞世尓能提供色谱质谱、光谱领域全面的分析解决方案,赛默飞世尓期待合作实验室的成立,能发挥双方在各自的优势领域,为客户带来全新价值!   上海市计测院是国家级分析测试中心、华东大区计量测试中心,围绕集成电路科技创新和产业发展需求建设的上海市电子化学品计量检测专业技术服务平台,以痕量和超痕量检测技术研究为支撑,致力于解决集成电路相关产业高精度测量难题,集研发服务、产品检测、设备计量、标准化研究、人员培训为一体,为集成电路全产业链提供一站式的计量检测整体服务。   赛默飞世尔能为集成电路及相关行业关键环节提供多层次的技术支撑,包括痕量和超痕量杂质检测解决方案,以及应对未知物探索和反应机理拓展的高端研发应用,覆盖从集成电路支撑材料、制造到封装测试等各个环节提供稳健可靠的分析方法,帮助半导体客户全面提升良率。

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数字集成电路相位检测器相关的论坛

  • 仪器维修中集成电路的维修经验(大家交流)

    仪器维修中集成电路的维修经验(大家交流) (一)常用的检测方法 集成电路常用的检测方法有在线测量法、非在线测量法和代换法。1.非在线测量 非在线测量潮在集成电路未焊入电路时,通过测量其各引脚之间的直流电阻值与已知正常同型号集成电路各引脚之间的直流电阻值进行对比,以确定其是否正常。2.在线测量 在线测量法是利用电压测量法、电阻测量法及电流测量法等,通过在电路上测量集成电路的各引脚电压值、电阻值和电流值是否正常,来判断该集成电路是否损坏。3.代换法 代换法是用已知完好的同型号、同规格集成电路来代换被测集成电路,可以判断出该集成电路是否损坏。 (二)常用集成电路的检测 1.微处理器集成电路的检测 微处理器集成电路的关键测试引脚是VDD电源端、RESET复位端、XIN晶振信号输入端、XOUT晶振信号输出端及其他各线输入、输出端。在路测量这些关键脚对地的电阻值和电压值,看是否与正常值(可从产品电路图或有关维修资料中查出)相同。不同型号微处理器的RESET 复位电压也不相同,有的是低电平复位,即在开机瞬间为低电平,复位后维持高电平;有的是高电平复位,即在开关瞬间为高电平,复位后维持低电平。2.开关电源集成电路的检测 开关电源集成电路的关键脚电压是电源端(VCC)、激励脉冲输出端、电压检测输入端、电流检测输入端。测量各引脚对地的电压值和电阻值,若与正常值相差较大,在其外围元器件正常的情况下,可以确定是该集成电路已损坏。 内置大功率开关管的厚膜集成电路,还可通过测量开关管C、B、E极之间的正、反向电阻值,来判断开关管是否正常。3.音频功放集成电路的检测 检查音频功放集成电路时,应先检测其电源端(正电源端和负电源端)、音频输入端、音频输出端及反馈端对地的电压值和电阻值。若测得各引脚的数据值与正常值相差较大,其外围元件与正常,则是该集成电路内部损坏。对引起无声故障的音频功放集成电路,测量其电源电压正常时,可用信号干扰法来检查。测量时,万用表应置于R×1档,将红表笔接地,用黑表笔点触音频输入端,正常时扬声器中应有较强的“喀喀”声。4.运算放大器集成电路的检测 用万用表直流电压档,测量运算放大器输出端与负电源端之间的电压值(在静态时电压值较高)。用手持金属镊子依次点触运算放大器的两个输入端(加入干扰信号),若万用表表针有较大幅度的摆动,则说明该运算放大器完好;若万用表表针不动,则说明运算放大器已损坏。5.时基集成电路的检测 时基集成电路内含数字电路和模拟电路,用万用表很难直接测出其好坏。可以用所示的测试电路来检测时基集成电路的好坏。测试电路由阻容元件、发光二极管LED、6V 直流电源、电源开关S 和8脚IC插座组成。将时基集成电路(例如NE555)插信IC插座后,按下电源开关S,若被测时基集成电路正常,则发光二极管LED将闪烁发光;若LED不亮或一直亮,则说明被测时基集成电路性能不良。 集成电路代换技巧 一、直接代换直接代换是指用其他IC不经任何改动而直接取代原来的IC,代换后不影响机器的主要性能与指标。其代换原则是:代换IC的功能、性能指标、封装形式、引脚用途、引脚序号和间隔等几方面均相同。其中IC的功能相同不仅指功能相同;还应注意逻辑极性相同,即输出输入电平极性、电压、电流幅度必须相同。例如:图像中放IC,TA7607 与TA7611,前者为反向高放AGC,后者为正向高放AGC,故不能直接代换。除此之外还有输出不同极性AFT电压,输出不同极性的同步脉冲等[font=Calibr

  • 【分享】仅用万用表作为检测工具的集成电路的检测方法

    编者按:虽说集成电路代换有方,但拆卸毕竟较麻烦。因此,在拆之前应确切判断集成电路是否确实已损坏及损坏的程度,避免盲目拆卸。本文介绍了仅用万用表作为检测工具的不在路和在路检测集成电路的方法和注意事项。文中所述在路检测的四种方法(直流电阻、电压、交流电压和总电流的测量)是业余维修中实用且常用的检测法。这里,也希望大家提供其他实用的(集成电路和元器件)判别检测经验。一、不在路检测这种方法是在IC未焊入电路时进行的,一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值,并和完好的IC进行比较。二、在路检测这是一种通过万用表检测IC各引脚在路(IC在电路中)直流电阻、对地交直流电压以及总工作电流的检测方法。这种方法克服了代换试验法需要有可代换IC的局限性和拆卸IC的麻烦,是检测IC最常用和实用的方法。1.在路直流电阻检测法这是一种用万用表欧姆挡,直接在线路板上测量IC各引脚和外围元件的正反向直流电阻值,并与正常数据相比较,来发现和确定故障的方法。测量时要注意以下三点:(1)测量前要先断开电源,以免测试时损坏电表和元件。 (2)万用表电阻挡的内部电压不得大于6V,量程最好用R×100或R×1k挡。 (3)测量IC引脚参数时,要注意测量条件,如被测机型、与IC相关的电位器的滑动臂位置等,还要考虑外围电路元件的好坏。 2.直流工作电压测量法这是一种在通电情况下,用万用表直流电压挡对直流供电电压、外围元件的工作电压进行测量;检测IC各引脚对地直流电压值,并与正常值相比较,进而压缩故障范围,找出损坏的元件。测量时要注意以下八点:(1)万用表要有足够大的内阻,至少要大于被测电路电阻的10倍以上,以免造成较大的测量误差。 (2)通常把各电位器旋到中间位置,如果是电视机,信号源要采用标准彩条信号发生器。 (3)表笔或探头要采取防滑措施。因任何瞬间短路都容易损坏IC。可采取如下方法防止表笔滑动:取一段自行车用气门芯套在表笔尖上,并长出表笔尖约0.5mm左右,这既能使表笔尖良好地与被测试点接触,又能有效防止打滑,即使碰上邻近点也不会短路。 (4)当测得某一引脚电压与正常值不符时,应根据该引脚电压对IC正常工作有无重要影响以及其他引脚电压的相应变化进行分析,才能判断IC的好坏。 (5)IC引脚电压会受外围元器件影响。当外围元器件发生漏电、短路、开路或变值时,或外围电路连接的是一个阻值可变的电位器,则电位器滑动臂所处的位置不同,都会使引脚电压发生变化。 (6)若IC各引脚电压正常,则一般认为IC正常;若IC部分引脚电压异常,则应从偏离正常值最大处入手,检查外围元件有无故障,若无故障,则IC很可能损坏。 (7)对于动态接收装置,如电视机,在有无信号时,IC各引脚电压是不同的。如发现引脚电压不该变化的反而变化大,该随信号大小和可调元件不同位置而变化的反而不变化,就可确定IC损坏。 (8)对于多种工作方式的装置,如录像机,在不同工作方式下,IC各引脚电压也是不同的。 3.交流工作电压测量法为了掌握IC交流信号的变化情况,可以用带有dB插孔的万用表对IC的交流工作电压进行近似测量。检测时万用表置于交流电压挡,正表笔插入dB插孔;对于无dB插孔的万用表,需要在正表笔串接一只0.1~0.5μF隔直电容。该法适用于工作频率比较低的IC,如电视机的视频放大级、场扫描电路等。由于这些电路的固有频率不同,波形不同,所以所测的数据是近似值,只能供参考。4.总电流测量法该法是通过检测IC电源进线的总电流,来判断IC好坏的一种方法。由于IC内部绝大多数为直接耦合,IC损坏时(如某一个PN结击穿或开路)会引起后级饱和与截止,使总电流发生变化。所以通过测量总电流的方法可以判断IC的好坏。也可用测量电源通路中电阻的电压降,用欧姆定律计算出总电流值。以上检测方法,各有利弊,在实际应用中最好将各种方法结合起来,灵活运用。顺便推荐几种万用表 http://www.3017.cn/product/search.asp

  • 集成电路的特点

    集成电路一般是在一块厚0.2~0.5mm、面积约为0.5mm的P型硅片上通过平面工艺制做成的。这种硅片(称为集成电路的基片)上可以做出包含为十个(或更多)二极管、电阻、电容和连接导线的电路。一、集成电路中元器件的特点与分立元器件相比,集成电路元器件有以下特点:1. 单个元器件的精度不高,受温度影响也较大,但在同一硅片上用相同工艺制造出来的元器件性能比较一致,对称性好,相邻元器件的温度差别小,因而同一类元器件温度特性也基本一致;2. 集成电阻及电容的数值范围窄,数值较大的电阻、电容占用硅片面积大。集成电阻一般在几十Ω~几十 kΩ范围内,电容一般为几十pF。电感目前不能集成;3. 元器件性能参数的绝对误差比较大,而同类元器件性能参数之比值比较精确;4. 纵向NPN管β值较大,占用硅片面积小,容易制造。而横向PNP管的β值很小,但其PN结的耐压高。二、集成电路的设计特点由于制造工艺及元器件的特点,模拟集成电路在电路设计思想上与分立元器件电路相比有很大的不同。1. 在所用元器件方面,尽可能地多用晶体管,少用电阻、电容;2. 在电路形式上大量选用差动放大电路与各种恒流源电路,级间耦合采用直接耦合方式;3. 尽可能地利用参数补偿原理把对单个元器件的高精度要求转化为对两个器件有相同参数误差的要求;尽量选择特性只受电阻或其它参数比值影响的电路

数字集成电路相位检测器相关的耗材

  • 光学微波平衡相位检测器(BOMPD)
    总览这款全自动光学微波平衡相位检测器(BOMPD)能够精确检测光脉冲序列和射频信号的零交叉点之间的时间抖动。它产生一个基带信号,该信号与两个输入之间的定时误差成正比,该信号又可用于锁相环,使激光与微波源紧密同步,反之亦然。 由于平衡相位检测,光学微波平衡相位检测器(BOMPD)不受光源和微波源的振幅波动的影响,并且极大地抑制了光电检测过程中的AM-PM转换噪声。我们还提供三款光学微波平衡相位检测器(BOMPD),以满足您的需求:测量设备:用于测量定时抖动同步设备:集成同步激光器所需的控制器和驱动器,以及一个射频(RF)产生选项,其中包括一个完全集成的可调晶体振荡器(VCO),产生基于光学时钟的射频信号。技术参数产品应用超快激光和微波信号之间的超灵敏抖动测量超快激光器和微波信号之间的精确同步微波源与稳定光纤链路输出的精确同步超快光学振荡器产生超低噪声微波信号特点优势灵敏度超过0.2 mV/fs低于0.5 fs基底噪声低至20 fs 有效值定时抖动采样同步设置规格参数参数值单位备注检测器灵敏度 0.2mV / fs检测器输出(未放大)检测器分辨率 0.5fs10 kHz带宽内的集成检波器基底噪声残余抖动(SD)1 20fs取决于主/参考源的噪声特性控制系统界面包括EPICS, TANGO控制系统自动锁包括尺寸(H×W×L)420 x 300x 171mm外加控制器(如果选择同步选项):19英寸机架重量10-20kg不同规格重量不同要求射频输入功率15dBm高达10 GHz,可定制光输入波长800 301030 301550 40nm光输入功率 20mW光学输入类型保偏光纤(PM)可定制单模光纤(SM)脉冲重复频率 10GHz可定制脉冲重复频率BOMPD的同步设备选项可调晶体振荡器包括可定制综合反馈包括优化PID参数射频输出功率 10dBm50Ω阻抗射频功率稳定性 0.1%1在最高0.1 K温度和3 %相对湿度波动的环境中。如有要求,可提供更高的精度。 测量数据 光学参考,使用标准1550nm 光学微波平衡相位检测仪(BOMPD),带同步设置选项:
  • 单片微波集成电路MMIC放大器
    单片微波集成电路放大器是中国制造的GaN MMIC放大器产品的翘楚,具有可与美国同类产品媲美的产品性能,却具有全球竞争力的GaN MMIC Amplifiers价格和单片微波集成电路放大器价格。单片微波集成电路MMIC放大器广泛用于高功率微波放大器系统, 支持非常高的工作电压(比GaAs高三到五倍),并且每单位FET栅极宽度容许的电流大致是GaAs器件的两倍。 这些特性对PA设计人员有重要意义,意味着在给定输出功率水平可以支持更高的负载阻抗,从而获得更大带宽。单片微波集成电路MMIC放大器具有极高的可靠性,适用于高可靠性空间应用,结果表明单个器件的平均失效前时间(MTTF)超过一百万小时。 如此高的可靠性主要是因为GaN具有很高的带隙值(GaN为3.4,GaAs为1.4), 这使得它特别适合高可靠性应用。GaN MMIC amplifiers made by China provide high performance with lower price on market, MMIC output power over the 0.03 to 4.0GHz band. This MMIC is matched to 50 Ohms at the input but un-matched at the output above 0.5GHz.
  • 单片微波集成电路MMIC放大器 GaN MMIC Amplifiers
    单片微波集成电路放大器是中国制造的GaN MMIC放大器产品的翘楚,具有可与美国同类产品媲美的产品性能,却具有全球竞争力的GaN MMIC Amplifiers价格和单片微波集成电路放大器价格。单片微波集成电路MMIC放大器广泛用于高功率微波放大器系统, 支持非常高的工作电压(比GaAs高三到五倍),并且每单位FET栅极宽度容许的电流大致是GaAs器件的两倍。 这些特性对PA设计人员有重要意义,意味着在给定输出功率水平可以支持更高的负载阻抗,从而获得更大带宽。单片微波集成电路MMIC放大器具有极高的可靠性,适用于高可靠性空间应用,结果表明单个器件的平均失效前时间(MTTF)超过一百万小时。 如此高的可靠性主要是因为GaN具有很高的带隙值(GaN为3.4,GaAs为1.4), 这使得它特别适合高可靠性应用。单片微波集成电路MMIC放大器参数
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