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近红外仪器的阵列检测器属于前分光还是后分光?有大神知道么?给详细剖析一下
[url=http://www.f-lab.cn/hybridization/hybmix-s4.html][b]多阵列杂交工作站[/b][/url]是[b]微阵列玻片杂交[/b]和[b]多阵列玻片杂交[/b]的理想高效[b]杂交仪[/b],具有高效的杂交振荡系统和精确的杂交温度控制系统,是微阵列玻片和多个子阵列(多阵列玻片)杂交成功的有力[b]杂交工作站[/b]。集成了轨道振荡器,提供从300至900rmp的可调转速控制,有效提高杂交和结合反应成功率。[b]多阵列杂交工作站[/b]采用国际一流的用户友好界面,操作方便 用户可以设置温度,杂交持续时间和振荡速度。温度,时间和振荡速度显示于仪器前方的宽屏显示屏上,用户可以在任何时间调整参数。[img=多阵列杂交工作站]http://www.f-lab.cn/Upload/hybmix_.jpg[/img][b]多阵列杂交工作站特色[/b]Peltier温度控制技术精确控制温度精确温度调节集成了轨道振荡系统前部具有显示和控制面板用户友好的操作界面[b]多阵列杂交工作站参数[/b]温度范围:室温到105摄氏度加热/制冷系统:温控Peltier技术,温度分辨率 0.1 °C振荡系统:轨道振荡器速度300-1500RPM可调用户界面:高级荧光显示屏VFD, 8个编程控制操作键尺寸(LxDxH): 29.5 x 26.5 x 17.0 cm电力要求: 220 V, 50/60 Hz, 125 W重量:8.5kg更多分子杂交仪请浏览官网:[url]http://www.f-lab.cn/hybridization.html[/url]
红外焦平面列阵的发展朝两个不同的方向进行:一种是低温制冷工作的光子型红外探测器列阵,如HgCdTe、InSb和PtSi等;另一种是室温工作的非制冷探测器列阵。制冷型探测器列阵的制作难度大,且需要昂贵的制冷系统,由其构成的热像仪通常用于敏感的军事领域。 由于非制冷红外焦平面探测器列阵具有室温工作、无需制冷、光谱响应与波长无关、制备工艺相对简单、成本低、体积小巧、易于使用、维护、可靠性好等优点,因此形成了一个新的富有生命力的发展方向,其目的是以更低的成本、更小的尺寸和更轻的重量来获得极好的红外成像性能。近年来,已研制成功三种不同类型的非制冷红外焦平面探测器列阵:a. 热电堆:根据塞贝克效应检测热端和冷端之间的温度梯度,信号形式是电压。b. 测辐射热计:探测温度变化引起载流子浓度和迁移率的变化,信号形式是电阻。c. 热释电:探测温度变化引起介电常数和自发极化强度的变化,信号形式是电荷。 在这三种器件中,测辐射热计列阵的发展最为迅速,并且取得了令人瞩目的成就。它采用类似于硅工艺的硅微机械加工技术进行制作,为了实现有效的热绝缘,一般采用桥式结构。探测器与硅读出电路之间通过两条支撑腿实现电互连。测辐射热计的灵敏度主要取决于它与周围介质的热绝缘,即热阻。热阻越大,可获得的灵敏度就越高。目前测辐射热计列阵的温度分辨率可达0.1K,不久将达到0.03至0.05K。对于工业应用来说,这种性能已相当令人满意了。用它构成的热像仪在尺寸、重量和价格方面可与可见光摄录机相媲美,在不远的将来可望获得广泛的应用,是一个新的经济增长点。 非制冷测辐射热计列阵技术也许是红外热成像技术在过去20年取得的最重要的进展。90年代以来,非制冷测辐射热计列阵已形成产品进入市场。美国波音公司研制的U3000型320 X 240 元非制冷测辐射热计列阵和美国Amber公司研制的320 X 240 元非制冷测辐射热计列阵热像仪Sentinel,双双荣膺美国1997年光电子领域优秀奖。美国FLIR公司销售到中国的非制冷焦平面热像仪,就是采用此类探测器。2000年,法国Sofradir公司生产出了他们的第一只非制冷焦平面红外探测器,它是采用由多晶硅材料制备的单片式电阻型微测辐射热计技术,该项技术由法国国家红外实验室转移至Sofradir公司生产,探测器列阵规模320×240,像元中心距45µ m,填充因子大于80%,噪声等效温差(NETD)达到100mK(典型值),器件的性能指标达到了当今世界先进水平