近红外原位分析仪

产品简介通过MEMS芯片对样品施加力学、电场、热场控制，在原位样品台内构建力、电、热复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随温度、电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。我们的优势力学性能1．高精度压电陶瓷驱动，纳米级别精度数字化精确定位。2．实现1000℃加热条件下压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。3．nN级力学测量噪音。4．具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。5．具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能，适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。优异的热学性能1．高精密红外测温校正，微米级高分辨热场测量及校准，确保温度的准确性。2．超高频控温方式，排除导线和接触电阻的影响，测量温度和电学参数更精确。3．采用高稳定性贵金属加热丝（非陶瓷材料），既是热导材料又是热敏材料，其电阻与温度有良好的线性关系，加热区覆盖整个观测区域，升温降温速度快，热场稳定且均匀，稳定状态下温度波动≤±0.1℃。4．采用闭合回路高频动态控制和反馈环境温度的控温方式，高频反馈控制消除误差，控温精度±0.01 ℃。5．多级复合加热MEMS芯片设计，控制加热过程热扩散，极大抑制升温过程的热漂移，确保实验的高效观察。优异的电学性能1．芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性，电流测量精度可达皮安级。2．MEMS微加工特殊设计，同时加载电场、热场、力学，相互独立控制。智能化软件1．人机分离，软件远程控制纳米探针运动，自动测量载荷-位移数据。2．自定义程序升温曲线。可定义10步以上升温程序、恒温时间等，同时可手动控制目标温度及时间，在程序升温过程中发现需要变温及恒温，可即时调整实验方案，提升实验效率。3．内置绝对温标校准程序，每块芯片每次控温都能根据电阻值变化，重新进行曲线拟合和校正，确保测量温度精确性，保证高温实验的重现性及可靠性。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金控制方式高精度压电陶瓷倾转角α≥±20°，倾转分辨率＜0.1°（实际范围取决于透射电镜和极靴型号）适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持应用案例600°C高温下铜纳米柱力学压缩实验以形状尺寸微小或操作尺度极小为特征的微机电系统 (MEMS)越来越受到人们的高度重视 , 对于尺度在 100μm 量级以下的样品 , 会给常规的拉伸和压缩试验带来一系列的困难。纳米压缩实验 , 由于在材料表面局部体积内只产生很小的压力 , 正逐渐成为微 / 纳米尺度力学特性测量的主要工作方式。因此 , 开展微纳米尺度下材料变形行为的实验研究十分必要。为了研究单晶面心立方材料的微纳米尺度下变形行为 , 以纳米压缩实验为主要手段 , 分析了铜纳米柱初始塑性变形行为和晶体缺陷对单晶铜初始塑性变形的影响。结果表明铜柱在纳米压缩过程中表现出更大程度的弹性变形。同时对压缩周围材料发生凸起的原因和产生的影响进行了分析 , 认为铜纳米柱压缩时周围材料的凸起将导致纳米硬度和测量的弹性模量值偏大。为了研究表面形貌的不均匀性对铜纳米柱初始塑性变形行为的影响 , 通过加热的方法 , 在铜纳米柱表面制备得到纳米级的表面缺陷 , 并对表面缺陷的纳米压缩实验数据进行对比分析 , 结果表明表面缺陷的存在会极大影响铜纳米柱初始塑性变形。通过透射电子显微镜 ,铜纳米柱压缩点周围的位错形态进行了观察 , 除了观察到纳米压缩周围生成的位错 , 还发现有层错、不全位错及位错环的共存。表明铜纳米柱的初始塑性变形与位错的发生有密切的联系。

无线近红外光谱仪来了。MicroNIR OnSite-W无线手持近红外光谱仪产品设计符合人体工程学原理，结构紧凑，坚固抗震。无论生产现场还是野外应用，OnSite-W均是理想的近红外解决方案，其软件功能强大，用户界面直观，可在平板电脑或笔记本电脑上方便使用。操作人员仅需极少的培训即可在现场完成快速检测及分析。MicroNIR OnSite-W是目前世界上最小的全集成近红外光谱仪，该产品的核心技术是美国VIAVI Solutions公司的线性渐变技术（LVF），其优势是整机无任何移动部件，符合IP65 / IP67防尘防水等级要求。MicroNIR OnSite-W可广泛应用于食品，农业，医药和安防领域的现场快速检测。技术特点? 快速，实时，无损的近红外光谱分析技术；? 无线传输，超紧凑，符合人体工程学的手持式近红外光谱仪；? 具有用于一键式数据采集的多功能按钮；? 内置可充电电池，工作时间大于10小时；? IP65和IP67等级，适用于潮湿和多尘的复杂环境；? 可通过蓝牙或USB接口与平板电脑或者笔记本电脑连接，操作方便；? 与原装MicroNIR OnSite配件兼容；? 用户界面直观，方便用户使用。

PRO 近红外在线分析仪是基于高分辨率二极管阵列技术的在线分析系统。此设备可以在生产线中直接对颗粒、粉末、泥浆或不透明样品进行无损分析，无需单独设定旁路，因此是真正意义上的原位分析系统。 分析仪安装在位于生产相关区域内的牢固机柜中。测量结果可以在控制室显示，并反馈到闭路自动控制管理系统中。此解决方案有助于优化原材料的使用，并使生产始终接近目标规范。仪器间的高度一致性将模型开发过程简单化，并且确保不同仪器之间模型转移准确无误。仪器特性及优势▼ 高分辨率二极管阵列技术，可通过反射或透射方式实现样品的快速连续分析▼ 内置仪器标准化，快速、简捷地实现不同仪器间模型转移▼ 完善的运行保护系统，很大限度减少仪器维护量▼ 针对不同样品状态选择特定的样品接口，实现准确快速的测定▼ 全波长瞬态扫描，对生产线中快速移动的样品实时测量▼ 可实现定性定量分析，更好地实现生产过程控制▼ 内置双灯源，自动启动备用灯源，仪器可连续不间断监测样品，同时保证测量准确性▼ 集成的智能 Metrohm 建模工具-----ISIcal&trade 软件轻松建模▼ Metrohm标准 OPC 界面，可实现与本地控制系统集成化，以确保生产过程的自动化管理备注：此产品的参考报价区间为标准配置。如需了解详细配置和报价，请联系瑞士万通中国当地销售人员，感谢您支持瑞士万通！