介孔二氧化硅比表面积总孔容及孔径标准

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介孔二氧化硅比表面积总孔容及孔径标准相关的仪器

  • 比表面积及孔径分析仪Climber系列 Climber系列比表面积及孔径分析仪,可实现快速、精准、稳定测试,支持高达6个样品同时分析,带来全新测试体验。联系我们测试固体、浆料、粉末材料的比表面积和孔径分布0.0005 m2/g及以上比表面积分析0.35~500 nm孔径分析五点BET测试可在20 min内完成技术亮点产品特点高通量快速测试精巧高通量气路设计结合智能精准控气程序,极大提升测试效率,6个样品五点BET测试可在20 min内完成。管路系统集装式管路精密设计最大限度减小歧管死体积,可长时间维持高真空度;采用低功耗电磁阀系统和传感器系统,保证内部系统温度稳定。空气隔离塞使用空气隔离塞可将预处理后的样品在隔绝空气的状态下转移至分析口,防止空气敏感样品受空气污染。智能六站独立预处理机6 个独立脱气站可同时进行不同温度的样品处理;全自动软件操作,实时显示各站脱气进度,可预约预处理开始时间,合理安排实验进程。防样品抽飞比例阀可控,抽速灵活调节,多级抽真空流程有效防止样品抽飞。产品参数测试性能测试通量2-6站任意选配,并行测试测试气体N2、Ar、CO2、Kr等其他气体测试范围比表面积:0.0005 m2/g及以上;孔径:2-500 nm孔径精准分析,0.35-2 nm孔径常规分析总孔体积:0.0001 cc/g及以上测试精度比表面积重复性(RSD)≤1.0%;最可几孔径重复偏差≤0.15 nm分压范围10-5 ~ 0.999脱气处理独立样品预处理设备,独立6组控温控温范围室温~400 ℃,控温精度:±0.1 ℃软件功能分析模型BET 比表面积、Langmuir 表面积、t-plot分析、BJH、HK、SF、DR/DA、MP 法、NLDFT 孔径分布硬件结构压力传感器1000 Torr,精度0.1%FSP0管每模组配置独立不锈钢P0管真空泵旋片式真空泵,极限真空度0.3 Pa杜瓦瓶2.75 L尺寸宽度63cm×深度51cm×高度72cm,重量53kg
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  • 仪器简介:安东帕康塔推出了新一代Quadrasorb 系列比表面仪——Quadrasorb evoTM全自动比表面和孔隙度分析仪。它继承了美国康塔仪器公司的高灵活性,高性能,高精度以及多功能性的设计理念,强化了批处理功能,增强了仪器整体真空保持性能,可以满足现在和未来常规实验室材料表征做样的需求。Quadrasorb evoTM孔径分析仪可以在不同的时间开始运行,并且独立分析多个样品。Quadrasorb evoTM标准型孔径分析仪提供了快速精确的BET比表面分析功能。为工业质量控制实验室增加了新的高输出BET Quick ModeTM模式,它可以快速的处理多个样品。用户可以根据今后实验的需求量随时升级仪器,也可以增加微孔分析功能。增强型微孔材料表征测试,提供了1torr低压传感器和分子泵,可以使用氪气测量微孔材料及低比表面积样品。主要特点 1、可以配备4个独立的专用Po站,独立杜瓦瓶及压力传感器,数据更准确2、各站分析完全独立,实验更快捷3、各分析站独立运行,可选择不同的分析和测量条件,分时实验更灵活 4、杜瓦瓶隔热盖与升降梯设计一体化,延缓液氮挥发,延长液氮使用时间。5、独立的Po传感器,不间断的进行样品饱和蒸汽压测量6、多种Po输入方式(测量,计算,输入,一天一次)7、定投气量、智能投气等多种投气方式可选,投气效率更高 8、快速比表面分析模式-BET QuickMode。专为工业常规质控分析设置,同时运行4个样品的BET分析,只需25分钟9、满足医药工业应用的21 CFR Part 11标准 10、兼容非腐蚀性吸附气 Quadrasorb evoTM-KR/MP 微孔型:专利无油隔膜泵/分子泵系统,可加装1Torr压力传感器,可进行氪吸附超低比表面测定和低压微孔分析,可满足沸石,活性炭和分子筛氩吸附微孔分析需要。强大的数据处理功能:?外比表面(STSA), 微孔面积, 微孔体积, 平均吸附能,统计厚度, 超临界吸附分析等?可计算分形维数,判断孔型?具有全部孔分析模型,包括SF,HK,DA,DR方法等以及超过20种孔径模型的最完整的“密度函数理论(DFT)”库等技术参数1、全自动4站物理吸附仪 2、比表面范围: 0.0001 m2/g以上,Kr吸附(无已知上限) 0.01 m2/g 以上,N2吸附(无已知上限) 3、孔分析可检测的孔体积下限: 小于0.0001cc/g 4、样品孔径适用范围: 3.5 - 5000?
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  • 二氧化铝比表面积及孔径分析仪BETA201A@比表面积及孔径测试仪BETA201A一、适用范围及功能1. 适用产品多:包括测量建材、石墨、电池材料、沸石、碳材料、分子筛、二氧化铝、土壤、有机化合物等粉体以及各种块材、片材、高分子纤维等。2. 功能强大,包含目前所有的数据处理方法:单点和多点比表面积。粒度估算和真密度测试、孔隙率及孔隙度分析。吸、脱附等温线分析。中孔和大孔的孔体积,孔面积对孔径的分布,总孔体积等。二、软件功能:1. 可以选择USB连接或网口连接方式,网口连接可以实现远程控制仪器、远程诊断故障,可以通过路由器实现一台电脑多台设备操控,为客户节省资源。2. 优化的真空泵启停管理系统,在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态,减小噪音,延长,真空泵寿命。3. 自动恢复大气压功能,方便样品拆卸,并保证不会出现样品飞溅。4. 自动高真空检测系统,确保测试均在高真空环境下进行,确保测试结果的准确性。5. 自动应急处理系统,能够保证突然停电、石英管破碎等突发偶然情况下仪器自动恢复正常。6. 强大的数据库,存储有多达几十种测试模式,客户也可以根据自身需要建立更符合自身产品的测试模式,对产品进行更精确的测试。7. 断电后,测试系统恢复功能。比表面积及孔径分析时,真空脱气过程相当漫长,在进行测试时,突然停电,中断测试是一件非常痛苦而无奈的事情。不仅损失掉数据、还会耽误科研进程,这项功能在此时显得特别重要。8. 可以进行PDF电子版打印及Excel数据导出,以及各种理论数据选择打印。还可以进行不同时间、相同样品、相同测试模式数据和分布曲线对照查看和打印功能。9. 可以进行中英界面操作测试和中英文界面打印测试报告。三、技术要求:1. 真空系统:中科院真空处理专家专门为HYA系列设计的真空系统,全不锈钢管路和国际真空电磁阀配套,真空度更高(可达10-8Torr),保持高真空度时间更长。基本配置真空泵10-2pa(10-4 Torr).P/P0可达10-7. 2. 智能选择多容量空间技术;3. 全不锈钢真空系统连接密封采用金属密封技术;4. 真空系统内壁采用镀银技术。5. 真空系统采用测试空间外面另加一层真空保护层技术。6. 检测系统:进口电容式绝压薄膜压力变送器,精度达到0.1%,(0-10 Torr---相当于0-1.33KP ,0-1000 Torr ------相当于0-133.3kp)高达24位AD采集电路确保数据的准确性。可以进行上千个点的测试。7. 优质控制阀使抽气和进气非常稳定,不会出现样品飞溅现象。特殊的气路处理,避免了样品管从脱气站到分析站转移过程中的二次污染。加热脱气和样品分析同位进行而不会对样品分析管路造成污染的先进技术。8. 样品测试和处理在相同位置,达到理想的脱气处理效果。同时避免样品拆来拆去,暴露在空气中,影响吸附能力。我们在样品室上方,利用一个三通阀,巧妙的把测试管路和加热脱气管路一分为二,使脱气时产生的杂质不会污染测试管路和真空计,这是我们核心的技术。9. 独立的P0管,确保P0值的准确无误。P/P0可达0.9995.10. BETA201A配置了大容量液氮杜瓦瓶,可保70小时无人介入操作。HYA还配置了液氮等温套,以确保整个分析过程中等温套以下的温度恒定。可加自动液氮补充系统,进行任意所需时长的样品测试。11. 真正的无人值守,仪器面板无任何手动按键,所有的操作程序均由计算机来控制。12. 分析范围广:比表面积0.0005m2/g(Kr测量)至无上限。孔径分析0.35nm-500nm。孔体积小检测: 0.0001 cc/g。(氮气吸附,可加配备高真空系统).测试精度可达重复性误差〈±1%。13. BETA201A装有2路传感器,一路对P0适时测试,确保P0的准确性,另1路对1个样品同时进行分析,可以同时测试1个样品的比表面积和孔径分布。 (注:可按需加装分子泵)。14. 只需要氮气进行测试,不需要氦气(氦气又贵且不好买),为客户节省资金。15. 比表面积1个25分钟,孔径常规1个3.5小时16. 可以进行N2,Ar,Kr,NH3,CO2,H2,CO,O2,甲烷,丁烷和其他非腐蚀性气体吸附分析。17. 可以选择USB连接或网口连接方式,网口连接可以实现远程控制仪器、远程诊断故障,可以通过路由器实现一台电脑多台设备操控,为客户节省资源。四、安全保护:本仪器具有比较完善的安全防护措施:本试验仪器电路保护控制:(1)超压保护 (2)过流保护(3)短路保护 (4)漏电保护 (5)软件误操作保护五、试验方式自动真空测试
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介孔二氧化硅比表面积总孔容及孔径标准相关的方案

  • 白炭黑中BET比表面积及孔径分析检测方案(孔径/隙度分析)
    白炭黑是白色粉末状无定形硅酸和硅酸盐产品的总称,主要指沉淀二氧化硅、气相二氧化硅、超细二氧化硅凝胶和气凝胶,也包括粉末状合成硅酸铝和硅酸钙等。主要成分为SiO2,由Si为中心、O为顶点构成无序排列的四面体结构,这种四面体的结构以及粒子团聚过程中形成的毛细孔道,使其具有较大的比表面积和丰富的孔隙结构;其独特的微观结构,也使其具有吸附能力强、纯度高、稳定性高、补强性、增稠性和触变性等优异性能,同时它在光吸收、磁性、热阻、催化性和熔点等方面也表现出独特的性能,因此白炭黑广泛应用于橡胶、牙膏、塑料、涂料、食品、医药和催化剂等领域。白炭黑,根据不同的用处,其比表面积一般在100-3000 m2/g范围,具有微孔(孔径:﹥2nm)、介孔(孔径:2~50nm)的孔径分布。采用气体吸附法测试比表面积、孔容及孔径分布是白炭黑性能的主要表征手段。国仪精测自主研发的静态容量法比表面及孔径分析仪V-Sorb X800系列产品对白炭黑材料进行了气体吸附测试并分析了材料的BET比表面积,孔容及孔径分布,总孔容的相对压力点P/P0达到0.998以上,操作简单方便,测试通量大,效率高,结果准确,仪器自动化程度高。
  • 通过BET方法分析多孔二氧化硅的比表面积(四型等温吸脱附曲线)
    随着孔隙的增加或者粒径的减小,粉末的比表面积(单位质量的表面积)会增加。通过BET理论可以从吸附等温曲线中获得比表面积(Brunauer-Emmett-Teller 理论: 多分子层吸附理论) ,该理论遵循以下3个假设:对于II 和 IV型等温线,在BET公式(公式1)中, p/p0在0.05-0.3 之间(形成单分子层的相对压力范围)的曲线为一条直线。由BET曲线中的斜率和截距分别可以得到C常数和单层吸附量(Vm)。单层吸附量 (cm3 (STP) g-1)表示转化成标准状态下的覆盖所有固体表面的气体分子体积。BET比表面积是通过单层吸附层上的吸附质分子的截面积乘以吸附量转化的覆盖分子数,计算得到的(公式 2)。吸附截面取决于吸附剂和吸附质之间的相互作用和吸附温度。σ =0.162 nm2一般用于N2分子截面积。

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  • 关于氮气等温吸脱附计算比表面积、孔径分布的若干说明

    目的:是让大家对氮气等温吸脱附有一个基本的理解和概念,不会讲太多源头理论,内容不多,力求简明实用。本人有幸接触吸脱附知识的理论和实践,做个总结一是长久以来的心愿,二则更希望能和大家共同学习、探讨和提高。由于内容是自己的总结和认识,很可能会有部分错误,希望大家能给予建议、批评和指导,好对内容做进一步的完善。★★注意★★我们拿到的数据,只有吸脱附曲线是真实的,比表面积、孔径分布、孔容之类的都是带有主观人为色彩的数据。经常听到有同学说去做个BET,其实做的不是BET,是氮气等温吸脱附曲线,BET(Brunauer-Emmet-Teller)只是对N2-Sorption isotherm中p/p0=0.05~0.35之间的一小段用传说中的BET公式处理了一下,得到单层吸附量数据Vm,然后据此算出比表面积,如此而已。◆六类吸附等温线类型  几乎每本类似参考书都会提到,前五种是BDDT(Brunauer-Deming-Deming-Teller)分类,先由此四人将大量等温线归为五类,阶梯状的第六类为Sing增加。每一种类型都会有一套说法,其实可以这么理解,以相对压力为X轴,氮气吸附量为Y轴,再将X轴相对压力粗略地分为低压(0.0-0.1)、中压(0.3-0.8)、高压(0.90-1.0)三段。那么吸附曲线在: 低压端偏Y轴则说明材料与氮有较强作用力(І型,ІІ型,Ⅳ型),较多微孔存在时由于微孔内强吸附势,吸附曲线起始时呈І型;低压端偏X轴说明与材料作用力弱(ІІІ型,Ⅴ型)。 中压端多为氮气在材料孔道内的冷凝积聚,介孔分析就来源于这段数据,包括样品粒子堆积产生的孔,有序或梯度的介孔范围内孔道。BJH方法就是基于这一段得出的孔径数据; 高压段可粗略地看出粒子堆积程度,如І型中如最后上扬,则粒子未必均匀。平常得到的总孔容通常是取相对压力为0.99左右时氮气吸附量的冷凝值。◆几个常数※ 液氮温度77K时液氮六方密堆积氮分子横截面积0.162平方纳米,形成单分子层铺展时认为单分子层厚度为0.354nm※ 标况(STP)下1mL氮气凝聚后(假定凝聚密度不变)体积为0.001547mL 例:如下面吸脱附图中吸附曲线p/p0最大时氮气吸附量约为400 mL,则可知总孔容=400*0.001547=400/654=约0.61mL※ STP每mL氮气分子铺成单分子层占用面积4.354平方米 例:BET方法得到的比表面积则是S/(平方米每克)=4.354*Vm,其中Vm由BET方法处理可知Vm=1/(斜率+截距)◆以SBA-15分子筛的吸附等温线为例加以说明 此等温线属IUPAC 分类中的IV型,H1滞后环。从图中可看出,在低压段吸附量平缓增加,此时N2 分子以单层到多层吸附在介孔的内表面,对有序介孔材料用BET方法计算比表面积时取相对压力p/p0 = 0.10~0.29比较适合。在p/p0 =0.5~0.8左右吸附量有一突增。该段的位置反映了样品孔径的大小,其变化宽窄可作为衡量中孔均一性的根据。在更高p/p0时有时会有第三段上升,可以反映出样品中大孔或粒子堆积孔情况。由N2-吸脱附等温线可以测定其比表面积、孔容和孔径分布。对其比表面积的分析一般采用BET(Brunauer-Emmett-Teller)方法。孔径分布通常采用BJH(Barrett-Joiner- Halenda)模型。◆Kelvin方程  Kelvin方程是BJH模型的基础,由Kelvin方程得出的直径加上液膜厚度就是孔道直径。弯曲液面曲率半径R‘=2γVm/,若要算弯曲液面产生的孔径R,则有R’Cosθ=R,由于不同材料的接触角θ不同,下图给出的不考虑接触角情况弯曲液面曲率半径R‘和相对压力p/po对应图:◆滞后环※滞后环的产生原因  这是由于毛细管凝聚作用使N2 分子在低于常压下冷凝填充了介孔孔道,由于开始发生毛细凝结时是在孔壁上的环状吸附膜液面上进行,而脱附是从孔口的球形弯月液面开始,从而吸脱附等温线不相重合,往往形成一个滞后环。还有另外一种说法是吸附时液氮进入孔道与材料之间接触角是前进角,脱附时是后退角,这两个角度不同导致使用Kelvin方程时出现差异。当然有可能是二者的共同作用,个人倾向于认同前者,至少直觉上(玄乎?)前者说得通些。※滞后环的种类 滞后环的特征对应于特定的孔结构信息,分析这个比较考验对Kelvin方程的理解。 H1是均匀孔模型,可视为直筒孔便于理解。但有些同学在解谱时会说由H1型滞后环可知SBA-15具有有序六方介孔结构,这是错误的说法。H1型滞后环可以看出有序介孔,但是否是六方、四方、三角就不知道了,六方是小角XRD看出来的东西,这是明显的张冠李戴; H2比较难解释,一般认为是多孔吸附质或均匀粒子堆积孔造成的,多认为是 “ink bottle”,等小孔径瓶颈中的液氮脱附后,束缚于瓶中的液氮气体会骤然逸出; H3与H4相比高压端吸附量大,认为是片状粒子堆积形成的狭缝孔; H4也是狭缝孔,区别于粒子堆集,是一些类似由层状结构产生的孔。※中压部分有较大吸附量但不产生滞后环的情况  在相对压力为0.2-0.3左右时,根据Kelvin方程可知孔半径是很小,有效孔半径只有几个吸附质分子大小,不会出现毛细管凝聚现象,吸脱附等温线重合,MCM-41孔径为2、3个nm时有序介孔吸脱附并不出现滞后环。◆介孔分析  通常采用的都是BJH模型(Barrett-Joiner- Halenda),是Kelvin方程在圆筒模型中的应用,适用于介孔范围,所得结果比实际偏小。  针对MCM-41、SBA-15孔结构分析的具更高精度的KJS(Kruk-Jaroniec-Sayari)及其修正方法,KJS出来时用高度有序的MCM41为材料进行孔分析,结合XRD结果,得出了比BJH有更高精度的KJS方程,适用孔径分析范围在2-6.5nm之间。后来又做了推广,使之有较大的适用范围,可用于SBA-15孔结构(4.6-30nm)的表征。◆关于t-Plot和αs方法  是对整条吸附或脱附曲线的处理方法,t-Plot可理解为thickness图形法,以氮气吸附量对单分子层吸附量作图,凝聚时形成的吸附膜平均厚度是平均吸附层数乘以单分子层厚度(0.354nm),比表面积=0.162*单分子层吸附量*阿伏加德罗常数。样品为无孔材料时,t-Plot是一条过原点直线,当试样中含有微孔,介孔,大孔时,直线就会变成几段折线,需要分别分析。αs方法中的下标是standard的意思,Sing提出用相对压力为0.4时的吸附量代替单分子层吸附量,再去作图,用这种方法先要指定一个标准,或是在仪器上做一个标样,处理方法和图形解释两种方法是类似的。两则之间可以相互转化,t=0.538αs◆微孔分析  含微孔材料的微孔分析对真空度,控制系统,温度传感器有不同的要求,测试时间也比较长,时间可能是普通样品的十倍甚至二十倍。由于微孔尺寸和探针分子大小相差有限,部分微孔探针分子尚不能进入,解析方法要根据不同的样品来定,需要时可借鉴相关文献方法来参考,再则自己做一批样品采用的是一种分析方法,结果的趋势多半是正确的。现在用一种模型来分析所有范围的孔径分布还是有些困难,非线性密度泛涵理论(NLDFT)听说是可以,但论文中采用的较少。★送样提醒★  明确测试目的:比表面积和孔结构对活性中

  • 如何准确解析比表面积和孔径分布

    作为固体材料最重要的物理性质之一,比表面积和孔径分布的性能表征在许多行业中都有着广泛的应用。材料吸附性能的优劣、吸附特点等与其孔隙结构有着密切的联系。本次微课从物理吸附理论出发,系统地介绍了多孔材料

介孔二氧化硅比表面积总孔容及孔径标准相关的耗材

  • 单分散星状介孔二氧化硅纳米球
    单分散星状介孔二氧化硅纳米球 Monodisperse Mesoporous Silica Nanosphere Stellate MSN制备方法:软化学单分散星状的介孔二氧化硅纳米球的的MSN平均尺寸:80 nm比表面积(BET):大于500平方米/克。总体积:~ 1.4毫升/克孔径(MSN星状圆锥孔):2.9 nm孔径(MSN之间颗粒空隙填充):50 nm
  • 单分散星状介孔二氧化硅纳米球
    参数:制备方法:软化学单分散星状的介孔二氧化硅纳米球的的MSN平均尺寸:80 nm比表面积(BET):大于500平方米/克。总体积:~ 1.4毫升/克孔径(MSN星状圆锥孔):2.9 nm孔径(MSN之间颗粒空隙填充):50 nmParameter:Preparation Method:soft chemistryMonodisperse Mesoporous Silica Nanosphere- Stellate MSNAverage Size:80 nmSpecific Surface Area (BET):500 m2/gVtotal:~1.4 mL/gPore Size (conical pores of the stellate MSNs):2.9 nmPore Size (inter particle voids between the packed MSNs):50 nm
  • 高比表面积氧化石墨烯
    参数:制备方法:改良的H法高表面积氧化石墨烯直径:1 ~ 5um厚度:0.8~1.2nm单层比:99%纯度:99%比表面积(BET):100平方米/克堆积密度:0.009g/cm3体积密度:0.0052g/cm3Parameter:Preparation Method: Modified HUMMER’S methodHigh Surface Area Graphene OxideDiameter:1~5 μmThickness:0.8~1.2 nmSingle layer ratio:~99%Purity:~99%Specific Surface Area (BET):100 m2/gTapped Density:0.009g/cm3Bulk Density:0.0052g/cm3

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  • 国产BET比表面积及孔径分析仪首进中东市场
    国产BET比表面积及孔径分析仪首次签约沙特国王大学2013年3月,金埃谱公司为沙特国王大学进行了免费的样品测试,测试结果的准确性得到了客户的肯定。之后的一周内顺利与沙特国王大学签约静态法BET比表面积及孔径分析仪。这表明金埃谱仪器向国际知名院校的实验室更迈进了一步! 沙特阿拉伯国王大学(King Saud University)是沙特阿拉伯最高学府、又称利雅德大学。建于1975年。设有教育等8个学院,以培养各方面高级人才为宗旨,尤以伊斯兰教教育占重要地位。其建立的主要目的是为了满足沙特缺乏技术工人的状况,现已成为阿拉伯区域高科技人才的重要输出地。目前该校有7万在校生,其中5000名为博士和硕士生。根据ARWU2012年的学术排名报告,沙特阿拉伯国王大学在阿拉伯区域排名第一,在全亚洲名列十九,由此可见在阿拉伯世界,乃至全球都有很大的影响力。 金埃谱科技是BET比表面测试,氮吸附比表面积仪,比表面积测试仪,比表面积测定仪,孔径分析仪,孔隙率测定仪,比表面仪和微孔分析仪,真密度仪,高压气体吸附仪,孔径分布测试仪,比表面及孔隙度分析仪国产实现真正完全自动化智能化测试技术的开拓者和引领者,多项独特技术已成为业内厂商仿效典范.金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中注册资本规模最大,最早通过ISO9001质量认证的生产型企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!  欲了解更多信息请致电我公司做进一步交流。免费电话:400-888-2667。www.app-one.com.cn
  • 金埃谱比表面积孔径测试仪获ISO9001质量认证
    金埃谱比表面仪首获ISO9001质量管理体系认证比表面及孔径分析测试行业首获国家质量管理体系认证 国产&ldquo 比表面及孔径分析仪&rdquo 获质量体系认证 首开行业认证先河获ISO认证 金埃谱&ldquo 氮吸附比表面及孔径分析仪&rdquo 为放心之选 近日,金埃谱科技公司顺利通过ISO9001质量管理体系认证审核,成为我国比表面及孔径分析测试行业第一家获质量管理体系认证企业。 2010年7月,中国质量认证中心对金埃谱科技产品质量管理体系进行了细致、深入的审核认证,经过专家严格评审,北京金埃谱科技公司的质量体系符合国家标准认证要求,顺利通过中国质量认证中心全面审核。 据了解,中国质量认证中心是国内最权威、最规范的认证机构,认证资质得到了国内和国际社会的普遍认可。金埃谱公司作为国内最早申请ISO9001:2008质量管理体系认证的企业,是我国全自动智能比表面及孔径分析仪的开拓者和领导者,也是国内最早参与比表面积标准物质研制及标定的机构。 金埃谱科技起源和服务于中国兵器系统,秉承兵器行业高标准、严要求的技术宗旨,建立了一整套完善的产品质量控制体系和售后服务保障体系,多年来,公司产品质量及服务赢得了良好的客户口碑。自开展贯标工作以来,公司全体员工更是积极参与配合,在严格把关公司产品质量的同时,进一步建立了符合国家标准的、完备的质量管理体系,成为我国比表面及孔径分析测试行业首家通过质量管理体系认证的企业,严谨细致的质量管理体系得到了中国质量认证中心审核专家的高度评价。 金埃谱科技始终倡导和坚持&ldquo 技术为先,质量为本&rdquo 的发展理念,长期致力于研发和生产高精度、高可靠性及高性价比的一流科研设备,在国内率先推出,并唯一集完全自动化、智能化、高精度、高稳定性及高性价比于一体的比表面及孔径分析仪,不仅F-Sorb(动态法)及V-Sorb(静态法)两大系列产品完全遵循国家标准及国际标准,其雄厚的技术实力和完善的质量及服务体系为金埃谱公司进一步领跑于比表面及孔径分析仪行业奠定了坚实的基础。 欲了解更多信息请致电我公司做进一步交流。免费电话:400-888-2667。www.jinaipu.com
  • 国际领先!理化联科iPore 400比表面积及孔径分析仪通过中国颗粒学会鉴定
    近期,由中国颗粒学会主持召开的“理化联科iPore400全自动比表面积及孔径分析仪技术鉴定会”在北京成功举办。iPore400得到了众位中国颗粒学会权威专家的高度评价,成功通过科技成果鉴定。鉴定会主席 岳光溪院士鉴定会主持人 陈运法理事长中国工程院院士、清华大学能源与动力工程系教授岳光溪担任会议主席,中国颗粒学会理事长、中国科学院过程工程研究所研究员陈运法主持了鉴定会。鉴定委员会专家组成员包括清华大学教授魏飞、中国计量科学研究院研究员王海、北京市理化分析测试中心研究员周素红、吉林大学研究员邹永存、中国科学院大连化学物理研究所邵建平以及中国科学院过程工程研究所研究员杨秀红、李长明。iPore400全自动比表面积及孔径分析仪“低比表面积/超低比表面积”样品的多孔性分析是一个具有挑战性的课题。近年来,锂电池行业发展迅猛,亟需精确地表征正负极材料的物理性能,将比表面积测试的长期稳定性控制在1%以内,对于锂电相关企业意义重大。理化联科(北京)仪器科技有限公司自组建以来,将公司骨干成员20多年来在颗粒和多孔材料表征领域的理论和经验转化为实践,立志面向国内外市场,根据中国用户的使用环境,克服小表面样品的测定难题,打造了BET比表面积测定重现性真正达到1%的物理吸附分析仪器——iPore 400型,并按照国际标准组织研发和生产物理吸附分析仪系列产品,取得了决定性突破。杨正红汇报项目研制过程和技术路线袁新华汇报检测报告及查新结果鉴定委员会实地考察仪器性能和使用会议期间,理化联科总经理杨正红就该项目的研制过程和技术路线做了详细报告;袁新华经理则汇报了仪器测试情况、第三方检测报告、既有用户的测定报告和查新结果等。与会专家还实地参观和考察了中科院过程所购置的iPore 400使用现场,并听取了用户意见。经过严格的审查和热烈地讨论,专家们给出如下鉴定结论:iPore 400全自动比表面积及孔径分析仪项目组针对传统氮气吸附物理吸附分析仪难以测量低比表面积及微量样品测量重现性差的技术难题,提出了全域恒温、压敏死体积恒定技术、本底扣除技术、等温体加热炉技术、32位电子电路系统新思路。经上述技术创新和改进,并经过实验多次验证,iPore 400比表面积及孔径分析仪性能达到:(1)脱气站精确控温到0.02℃,脱气温度高到600℃,并可以进行压力控制脱气;(2)仪器的比表面重复性偏差:0.1%;(3)仪器的比表面重现性偏差:优于1%;(4)氮吸附比表面测量标称下限值:0.005m2/g;(5)氮吸附测量下限:最低至P/P0 1×10-5。 鉴定委员会委员一致认为:理化联科iPore 400全自动比表面及孔径分析仪综合性能达到国际先进水平,在氮气静态物理吸附低比表面积的测量上达到国际领先水平。技术鉴定会现场
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