赛默飞射线能谱仪操作及原理

为提高广大XPS用户在XPS的原理、仪器操作水平、软件的使用及应用开发等方面的水平，特开设赛默飞X射线光电子能谱学苑，邀请国内著名的XPS技术专家为大家授课。学苑开设一年两期，分夏季班和冬季班，每期5天。授课专家： 盛世善 中科院大化所 研究员 吴正龙 北京师范大学分析测试中心 教授 麻茂生 中国科技大学 教授 葛青亲 赛默飞XPS技术专家 赛默飞XPS售后团队 英国工厂资深应用专家 收费标准：赛默飞用户： 2000元/人次，非赛默飞用户：4000元/人次。 学员交通、食宿自理。时间：2014年11月03 -07日地点：北京报名截止日期：10月18日 希望参加学习的学员请上网注册报名，席位有限，报名从速。报名网址：http://www.thermo.com.cn/Invitation113.html 热忱欢迎广大材料表面分析研究人员参班学习研讨！ 2015年预告：2015年赛默飞X射线光电子能谱学苑夏季班 2015年05月25-29日 上海2015年赛默飞X射线光电子能谱学苑冬季班 2015年11月02-06日 北京联系人：张爱琴 010-84193588-3649， annie.zhang@thermofisher.com 赛默飞世科技（中国）有限公司2014年8月20日附：授课专家简介：盛世善1945年1月生于上海1962-1967 复旦大学化学系物理化学专业 之后，在中国科学院大连化学物理研究所工作1978年起涉及表面科学1986年 英国VG Scientific 表面科学仪器培训1993-1994年 德国 FhG-IGB（弗朗和费协会 界面技术与生物工程研究所）访问学者1990年被国家计委、国家教委与科学院授予“为国家重点实验室作出重大贡献的先进个人”称号(金牛奖)现为：中国科学院大连化学物理研究所 退休职工中国科学院大连化学物理研究所 催化基础国家重点实验室 返聘人员大连理工大学 化学与化工学院 特聘国家标准化委员会 表面分析分技术委员会委员国家自然科学基金委 基金申请项目同行评议专家曾从事微波吸收材料、燃料电池电极、电催化、多相催化反应、无机膜材料与应用、膜反应器及催化材料原位表征技术等研究 吴正龙 毕业于北京师范大学物理系凝聚态物理专业,获博士学位，研究离子发光晶体材料和闪烁晶体。自毕业20多年来一直致力于北京师大测试中心电子能谱分析、激光拉曼光谱分析、荧光光谱分析及相关教学工作。在电子能谱分析、光谱分析、大型仪器功能开发及运行管理中取得了较好的成绩，为北师大相关科研和实验教学作出了重要贡献，成为学校科研教学实验队伍中的中坚力量。在科研方面主要从事半导体材料、发光材料、功能薄膜材料的研究，在国内外发表40多篇科研论文。现担任国标委表面分析标准分技术委员会委员，制定和参与制定多项电子能谱分析方法国标。曾参加过《论表面分析及其在材料研究中的应用》（1998年分析科学现代方法丛书）和 《表面化学分析》 （2007上海市材料科学与工程研究生用书）编著。 出版过译著《表面分析（XPS和AES）引论》（2008年当代材料科学与工程翻译丛书）。麻茂生 1990年5月至现在，中国科学技术大学理化科学实验中心副研究员，主要从事电子能谱（XPS, AES和UPS）技术应用、材料表面分析和金属/半导体表面和界面性质和性能研究。负责管理和维护电子能谱仪（VG ESCALAB MKII, Thermo ESCALAB 250）的正常测试工作和校内外研发支撑服务。以及校内研究生和本科生的相关课程教学工作。2006年4月至2009年3月，兼职热电公司(Thermo-VG scientific)应用服务工程师，从事热电电子能谱仪新用户的应用技术支持和用户培训工作，以及VG用户的技术咨询服务。2000年5月至2001年11月，韩国首尔国立大学化学系访问学者，进行反应离子散射表面研究和新飞行时间二次离子质谱（ToF SIMS）研发和优化设计。 葛青亲博士，2013年毕业于复旦大学物理系凝聚态物理专业。博士期间从事复杂量子材料的光电子能谱研究。使用基于同步辐射与激光的电子能谱系统，研究对象涵盖高温超导，铁基超导，Mott绝缘体等关联体系，及人工异质界面和有机功能分子材料等低维体系的电子结构研究。拥有丰富的电子能谱系统操作、搭建和光电子能谱数据处理经验，博士期间多次赴美国、日本、德国、意大利等同步辐射中心进行交流合作，在Nature Physics、Physical Review X等国际一流杂志发表论文10余篇。毕业后加入赛默飞世尔科技（中国）有限公司，应用专家，为客户提供现场技术支持及应用解决方案。

随着我国材料科学、化学化工、半导体及薄膜、能源、微电子、信息产业及环境领域等高新技术的迅猛发展，表面分析技术在过去的几十年中有了长足进步，在科学研究领域作用日益增长。为了有效推动表面分析应用技术的发展，深入了解光电子能谱技术的仪器性能特点，充分发挥已购仪器在教学科研生产工作中的作用，提高广大表面分析用户的分析测试水平，充分发挥仪器的功效，同时搭建一个用户与表面技术专家之间，用户与厂家之间技术深入交流的平台，共同探讨测试技术，解决实际使用中的难题，特邀国内著名的XPS技术专家为大家授课。学苑从2014年冬季开设以来，得到广大XPS相关人员的大力支持和赞赏。现开始招募2020年赛默飞X射线光电子能谱学苑学员。 1.课程简介 本学苑旨在使学员熟悉仪器结构、XPS的原理、XPS应用等方面的知识，提升软件操作、数据分析、仪器维护等方面的能力。在课堂上，通过专家授课、经验交流、案例分享等方式，提高学员数据分析和图谱解析的能力，提升学员XPS理论水平，助力学员日后的科研工作，将XPS应用到更多行业。由于本课程需要一定的理论基础，有仪器使用经验的用户报名本课程效果最佳。2020年度培训班拟开班5次，每期招生15人，采用网上自主报名，满员即可开班。根据学员需求，特邀业内资深专家，定制相关培训内容。 2. 授课内容本学苑有全方位的培训课程，学员可根据自身需求，选择相关培训内容。丰富的培训课程如下表所示： 序号课程内容1XPS仪器原理和仪器结构功能介绍2XPS测试样品制备及谱图处理3XPS谱峰结构及其化学态分析4基于Avanatage软件的XPS图谱解析和数据处理技巧5XPS测试数据分析常见问题和案例解析6XPS实验技巧和数据分析经验7过渡金属XPS图谱解析和数据处理8碳材料XPS图谱解析和数据处理9有机高分子材料图谱解析和鉴别10准原位XPS催化技术和应用11角分辨XPS技术、数据处理和应用12REELS技术、数据处理和应用13UPS技术、数据处理和应用14XPS行业应用系列专题（钢铁、玻璃、能源电池等）15XPS能谱设备保养和维护系列专题（日常维护、优化性能、故障排除等） 3. 授课专家本学苑将邀请业内资深专家授课，授课专家团队如下表所示： 姓名职称单位程斌研究员北京化工大学分析测试中心刘芬研究员中国科学院化学研究所刘英教授武汉大学分析测试中心麻茂生研究员中国科学技术大学盛世善研究员中科院大化所吴正龙教授北京师范大学分析测试中心谢方艳博士中山大学分析测试中心姚文清教授清华大学葛青亲资深应用专家赛默飞世尔科技（中国）有限公司寿林资深技术专家赛默飞世尔科技（中国）有限公司孙文武应用专家赛默飞世尔科技（中国）有限公司史南南应用专家赛默飞世尔科技（中国）有限公司 4. 收费标准 本学苑收费标准如下：赛默飞用户2000元/人/期（该培训可使用仪器销售合同中购买的培训名额，若培训名额已经用完，需付费培训）；非赛默飞用户4000元/人/期。注：此费用包含培训教材、培训费、赛默飞培训证书，其他差旅食宿费需客户自理。 5. 日程安排 2020年度XPS学苑培训日程安排如下图： 希望想参加本学苑学习的学员提前报名选班，席位有限，报名从速， 额满后将通知学员开班信息。欢迎广大材料表面分析研究人员参班学习研讨！对赛默飞本年度XPS学苑相关情况及培训内容有什么问题或疑问，请联系如下联系人：葛青亲 albert.ge@thermofisher.com 13774363530孙文武 wenwu.sun@thermofisher.com 18501718273史南南 nannan.shi@thermofisher.com；15600380072 6. 注意事项1. 学员自行承担往返交通费及培训期间食宿费；交通、酒店均需学员自行预订（我们会在详细通知中提供周边酒店信息供学员参考）。2. 本培训谢绝旁听；学员不可带未成年人一同前往，请理解和配合。3. 请携带好身份证，以便门禁登记。4. 本XPS学苑通知函会提前制作并盖章，培训结束后学员可直接带回。如XPS学苑通知函不满足贵单位报销要求，请收到培训邀请函后自行编辑打印出符合贵单位格式的培训通知函，可提前寄给相关工作人员，工作人员会给贵单位材料申请盖章。5. 如果报名后因其它原因不能来参加XPS学苑的学员，请至少提前2星期通知相关联系人，以免影响其他学员在线占座报名，临时取消，则名额作废。 报名链接：http://thermofisher.mikecrm.com/5PRlZSa如果您还有任何其他问题或需求，欢迎给我们留言，期待您的参与！

p 　　如今，许多研究人员需要利用电子显微镜快速获得样本的化学组分，而这其中不少人的研究对象是电子束敏感材料，这使得获得所需的数据相当困难。日前，赛默飞推出的新型双X射线能谱仪为解决这些难题带来了福音。 /p p 　　为帮助研究人员在低束流条件下更快速地获得各类型样品(包括电子束敏感材料)的二维和三维化学信息，赛默飞在Talos F200i扫描透射电镜(S/TEM)中加装了一对对称设计的100 mm2 Racetrack能谱仪(双X射线)。这一更新突破了使用非对称EDS难以获得有效定量数据的瓶颈，并能让科研工作者以最快的方式在(亚)纳米尺度对材料进行表征。 /p p 　　据介绍，双X射线能谱仪有着迄今最强的分析能力，这让X射线能谱分析较之以往用时或将大大减少。如大面积的EDS元素分布图采集用时不超过一分钟。 /p p 　　该高速双X射线能谱仪可以配合高亮度X-FEG电子枪使用，以最大限度地保证成像和能谱性能。 /p p style=" text-align: center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 600px height: 298px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201908/uepic/82efd443-346e-4f6d-baa8-05602797d33e.jpg" title=" 001.jpg" alt=" 001.jpg" width=" 600" height=" 298" border=" 0" vspace=" 0" / /p p 　　双X射线能谱仪可在1分钟内生成大面积、高分辨率的金-镍纳米颗粒EDS图谱(图中样本由布尔诺材料物理研究所成员J. Bursik提供)。 /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　 strong 　双X射线能谱仪的优点归纳如下： /strong /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　1 双X射线能谱探头对称安装，可实现低束流条件下各类型样品的最高效化学分析 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　2 双X射线能谱仪已集成在Velox软件中，便于用户获取和分析多模态数据，凭借单个测试系统就可获取最完整的材料表征信息。 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　3 Velox软件拥有独特的EDS吸收校正功能，保证数据定量化分析的高准确性。无论试样的空间位置，用户均可获得最准确的元素信息。 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　4 双X射线能谱仪针对如下功能进行了深度集成和优化： /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　(1) 高速、自动、无人化的三维EDS断层扫描保证数据的高效获取 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 　　(2) STEM和EDS图谱软件可自动获取高分辨率、大面积图谱的相关统计数据。从不同成像和分析模式得到的数据可进一步通过Thermo ScientificTM AvizoTM软件进行实时处理和统计。 /span /p p 　　此外，双X射线能谱仪(Dual-X)可与现有 a href=" https://www.instrument.com.cn/netshow/sh100537/C11108.htm" target=" _blank" strong Talos /strong /a strong /strong 配合使用。这不仅有望帮助科学家突破以前难以解决的问题，并能将二维和三维的 EDS自动化分析带上新的平台。 /p p 　　更多详情请点击： a href=" https://www.instrument.com.cn/netshow/sh100537/C11108.htm" _src=" https://www.instrument.com.cn/netshow/sh100537/C11108.htm" https://www.instrument.com.cn/netshow/sh100537/C11108.htm /a & nbsp /p p br/ /p