半导体材料与器件检测

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半导体材料与器件检测相关的仪器

  • 半导体分立器件特性参数测试是对待测器件(DUT)施加电压或电流,然后测试其对激励做出的响应;通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成,如数字表、电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析,过程既复杂又耗时,还占用过多测试台的空间。而且使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作,有更大的不确定度及更慢的总线传输速度等缺点。 实施特性参数分析的最佳工具之一是数字源表(SMU)。普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、率先国产化的源表系列产品,集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器,波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统,支持四象限工作。普赛斯“五合一”高精度数字源表(SMU)可为高校科研工作者、器件测试工程师及功率模块设计工程师提供测量所需的工具。不论使用者对源表、电桥、曲线跟踪仪、半导体参数分析仪或示波器是否熟悉,都能简单而迅速地得到精确的结果。 普赛斯“五合一”高精度数字源表 普赛斯源表轻松实现二极管特性参数分析 二极管是一种使用半导体材料制作而成的单向导 电性元器件,产品结构一般为单个PN结结构,只允许电流从单一方向流过。发展至今,已陆续发展出整流二 极管、肖特基二极管、快恢复二极管、PIN二极管、光电 二极管等,具有安全可靠等特性,广泛应用于整流、稳压、保护等电路中,是电子工程上用途最广泛的电子元器件之一。IV特性是表征半导体二极管PN结制备性能的主要参数之一,二极管IV特性主要指正向特性和反向特性等; 普赛斯S系列、P系列源表简化场效应MOS管I-V特性分析 MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是 一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体器件,可以广泛应用在模拟电路和数字电路当中,MOSFET可以由硅制作,也可以由石墨烯,碳纳米管 等材料制作,是材料及器件研究的热点。主要参数有输入/输出特性曲线、阈值电压 VGS(th)、漏电流IGSS、 IDSS,击穿电压VDSS、低频互导gm、输出电阻RDS等。 普赛斯数字源表快速、准确进行三极管BJT特性分析 三极管是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体 基片上制作两个相距很近的PN结,两个PN结把整块 半导体分成三部分,中间部分是基区,两侧部分是发射 区和集电区。设计电路中常常会关注的参数有电流放大系数β、极间反向电流ICBO、ICEO、集电极最大允许电流ICM、反向击穿电压VEBO、VCBO、VCEO以及三极管的输入输出特性曲线等参数。 普赛斯五合一高精度数字源表(SMU)在半导体IV特性测试方面拥有丰富的行业经验,为半导体分立器件电性能参数测试提供全面的解决方案,包括二极管、MOS管、BJT、IGBT、二极管电阻器及晶闸管等。此外,普赛斯仪表还提供适当的电缆辅件和测试夹具,实现安全、精确和可靠的测试。欲了解更多半导体分立器件测试系统的信息,欢迎随时来电咨询普赛斯仪表!
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  • 1.恒奥德仪器手持式四探针测试仪四探针检测仪 配件型号HAD-3 HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.HAD 标准。仪器成套组成:由HAD-3主机、选配的四探针探头等二分组成,也可加配测试台。仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入;具有零位、满度自校能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。详见《四探针探头特点与选型参考》点击入仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。 三、基本术参数1. 测量范围、分辨率电 阻: 0.010 ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ~ 10 Ω电 阻 率: 0.010~ 20.00kΩ-cHAD, 分辨率0.001 ~ 10 Ω-cHAD方块电阻: 0.050~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ~ 10 Ω/□ 2. 可测材料尺寸手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:直 径:HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130HADHAD。HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。长()度:测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.测量方位: 轴向、径向均可. 量程划分及误差等 2.声波泥水界面计污泥水界面计声波泥水界面仪 型号DQF-QFWJ-100 测量原理传感器发出声波遇到泥层会反射,测出发射波和反射波之间的时间,就可以得出传感器到泥层的距离H;传感器到池子底面的距离是用户设置的L;这样就可以得到泥层的厚度D=L-H。参数:测量范围:0.5~10m准确度:±1.0%分辨率:1mm标 定:出厂标定,可现场校验 显 示:液晶显示 模拟输出:4~20mA、大负载750W继电器输出:报警继电器输出 继电器容量:AC230V、5A数字接口:可选RS485供电电源:AC220V±10%材 质:PC防护等:IP65作温度:-20~60℃材 质:316不锈钢、PVC连接方式:G1管螺纹 传感器线缆:10米(其他长度可在订货中说明) 防护等:IP68作温度:0~60℃环境湿度:相对湿度≤90%过程压力:0.6MPa 3.红外辐照计/红外辐照度计 型号:HAD-IR850 标 1、波长选择:本仪器有如下两种波长的红外探测器可供选择: (1)中心波长850nm; (2)中心波长940nm;2、测量范围:1uw/cm2~999.9k uw/cm2;3、测量度:5%;4、显示刷新率:1次/秒;5、供电电源:9V叠层电池;6、耗:<20mW 7、作环境条件:温度0~40℃、湿度:<90%;8、仪表尺寸:130mm×65mm×25mm 4.多能土壤腐蚀速度测量仪 型号 HAD-ZKW180 术特点】 采用五个相同材质电环组合联结成组合式电化学探头,有效地降低了测量腐蚀电流密度时土壤介质IR降的影响;其中辅助电(CE )研究电(WE )和 参比电(RE)的连接方式以(CE-WE-RE)表示,组合式电化学探头连接方式为(1-5,2-4 ,3 )。研究电(WE )和参比电(RE) 的面积为5cm2 ; 运用四电探针,采用相对较低的测量电压,准确测定土壤电阻率,避免压测量带来的读数困难和土壤电解成理化性能破坏; 采用标准铂电、硫酸铜电用于测量土壤氧化还原电位; 在探头聚四氟缘棒上固定度测温元件测量土壤温度; 运用预孔器方法,测量时对土壤原有结构的破坏很小且不用开挖; 前端采用锥形设计以保证探头和土壤间有良好的接触; 探头通过打磨可重复利用。 1 土壤腐蚀性评定 多能土壤腐蚀速度测量仪 应用域 Ø 输油、气埋地管线、城市埋地管线外腐蚀评价 Ø 混凝土腐蚀性评定 Ø 水溶液腐蚀介质腐蚀性评定 Ø 等等 多能土壤腐蚀速度测量仪 术标 Ø 仪器正常使用的环境条件: • 温度:0 ℃至40 ℃. • 相对湿度:≤80%RH Ø 土壤温度测量范围:零下10℃至100℃,误差:2 ℃ Ø 土壤氧化还原电位测量范围:±2000mV,误差:≤1% Ø 土壤电阻率测量范围:0至10KΩm,误差:≤2% 土壤化电阻测量范围:40Ω至300KΩ,误差:≤3% 土壤腐蚀速度测量范围:1 ×10-4至2 mm/a 蓄电池充电时间6小时,充电时可正常作。次充电后可持续作24小时 5.初粘性和持粘性测试仪/斜面滚法、胶粘带瞬间粘合力测试仪/初粘性测试仪 型号:CZYG 适用于压敏胶带等相关产品行初粘性测试试验,具A斜面滚法B斜槽滚法两种试验方法,转换方式简单易行。特点: 采用斜面滚法的测试原理,测试试样的瞬间粘附性能 按照家标准设计的测试钢,确保了测试数据的准性 测试倾斜角度可以按照用户的需求行自由调整 应用: 基础应用 胶粘制品 适用于各种胶粘类制品的初粘性测试,如压敏胶带、用贴剂、不干胶标签、保护膜等 作原理:采用A法斜面滚法和B法斜槽滚法 1. A法通过钢和压敏胶粘带试样粘性面之间以微小压力发生短暂接触时,胶粘带对钢的粘附作用来测试试样初粘性。将钢滚过平放在倾斜板上的胶粘带粘性面,根据规定长度的粘性面能够粘住的钢尺寸,评价其初粘性大小。 2. B法将规定大小的钢滚过倾斜槽,测量其在水平板上的胶粘带粘性面上滚动的距离来评价其初粘性的大小。 术参数:可调倾角: 0-60° 台面宽度: 120mm 试区宽度: 80mm 标准钢: 1/32-1英寸 药典46枚钢 外形尺寸: 14(B)×32(L)×18(H)cm 重 量: 13 kg 配置:主要由倾斜板、放器、支架、可调水平底座及钢盒等分构成 6.单体支柱测压仪 测压仪 型号HAD-40Z HAD-40Z单体支柱测压仪也称为外平衡仪表,用以检测单体液压支柱初撑力(作阻力)的增压式。 HAD-40Z单体支柱测压仪术参数: ⑴ 量程: 0 ~ 40MPa ;⑵ 显示方式:微表式;⑶ 度: 2.5%FS ;⑷ 作介质:含 2% 乳化液或乳化油;⑸ 重量: 1.3 ㎏;⑹ 每桶液体充液次数: 90 ~ 100 7.测力环/ 土用测力环 测力装置 应力环 型号:HAD-100KN 测力环与路面材料强度试验仪主机及相应附件配套使用,可做无侧限抗压强度、承载比、马歇尔稳定度、劈裂试验、回弹簧模量等试验。规格:150KN、100KN、60KN、30KN、7.5KN、2KN能简介:测力环结构合理、操作方便,适用于各种型号路面材料强度试验仪、承载比试验仪、电动应变无侧限压力仪、土基试验仪等公路仪器标准力值的试验。术参数:示值重复性相对误差不大于0.3% 示值回程相对误差不大于1.5% 示值长期稳定度(三个月)不大于0.3% 回零偏差不大于0.2个分度 灵敏度所不大于0.2个分度对应的力值8.智能化γ辐射仪/智能化伽玛辐射仪 型号 HAD-2000 仪器特点 灵敏度、能量响应范围宽、耗低、稳定性好、操作方便,中文显示被测石材的A、B、C类别,亦可显示计数率和吸收剂量率。 术标 1.测量模式 常规测量:每3s测量次,显示每秒的平均值; 定时测量:可自行选择10s、30s、60s、300s、600s中的 档测量,仪器显示每秒钟的平均值 2.测量范围:(0.01~100)μGy/h 3.能量阈:40keV 4.测量线性:放射性强度γ与计数率CPS的相关系数≥0.999 5.长期稳定性:≤6%(连续作8h) 6.准确度:<20% 7.灵敏度:1μGy/h(103nGy/h)的计数≥350s-1 8.电源:3节1号电池 9.耗:≤100mW 10.使用环境 温度:(0~40)℃ 湿度:≤90%(40℃) 11.外形尺寸及重量(含包装箱):(350×200×250)㎜;6㎏ 仪器认证 中计量科学研究院检定并出具检定证书 9.活化仪/吸附管老化仪/老化仪 型号:HAD-TH-10 HAD-TH-10 型活化仪是在热解吸的基础上,为提作效率而研制设计的检 测配套件。其特点是具有立控温系统,不需外接其何控温设备,即可 立成 1 — 10 支吸附管的活化过程,自带流量计,显示直观,操作简单。 术参数: ◆ 电源:220VAC 50Hz ◆ 率:300VA ◆ 控温范围:室温~400℃ ◆ 控温度:±1℃ ◆ 定时范围:1分钟~99小时59分钟 ◆ 流量调节范围:0~1000ml/分钟 ◆ 次多活化数量:10支吸附管 ◆ 吸附管长度:110mm以上(却省) ◆ 外型尺寸:x宽x深 225 x 265 x 345 ◆ 净重:约7.5kg 10凝胶化时间测试仪/凝胶化时间检测仪/酚醛树脂凝胶化 型号:HAD-YGT-A 产品说明: 常温HAD-YGT-A型凝胶化时间测试仪术规范: ►温度:室温—230.0℃ 意调节 ►温度度:±0.5℃,四位LED显示 ►热盘尺寸:¢50×2.5 mm ►温度控制:欧姆龙固态继电器PID控制 ►时钟:0—999.9秒计时,带“启动/停止”和“归零”开关 ►温度和时间控制与热盘是二个并列的组合体(参考照片) ►外形尺寸(W×D×H):342×170×190mm ►机体重量(㎏):约18㎏ ►电 源:220V,50HZ,600W 本公司主营 不锈钢采水器,弯曲测量装置,鼓风干燥箱,色度计,化学试剂沸点测试仪,提取仪,线缆探测仪,溶解氧测定仪,活性炭测定仪,磁导率仪,比浊仪,暗适应仪,旋转仪,酸度计,硅酸根测定仪,过氧化值测定仪,腐蚀率仪,电阻率测定仪,耐压测定仪,污泥比组测试仪,粉体密度测试仪,机械杂质测定仪,运动粘度测试仪,过氧化值酸价测定仪,噪声源,土壤腐蚀率仪,直流电阻测试仪,厌氧消化装置,耐压测试仪,甲醛检测仪,硅酸根测试仪,PH酸度计,测振仪,消解仪,读数仪,空气微生物采样器,,双波长扫描仪,涂层测厚仪,土壤粉碎机,钢化玻璃表面平整度测试仪,腐蚀率仪,凝固点测试仪,水质检测仪,涂层测厚仪,土壤粉碎机,气体采样泵,自动结晶点测试仪,凝固点测试仪,干簧管测试仪,恒温水浴箱,汽油根转,气体采样泵,钢化玻璃测试仪,水质检测仪,PM2.5测试仪,牛奶体细胞检测仪,氦气浓度检测仪,土壤水分电导率测试仪,场强仪,采集箱,透色比测定仪,毛细吸水时间测定仪,氧化还原电位计 测振仪,二氧化碳检测仪,CO2分析仪,示波谱仪,黏泥含量测试仪,汽车启动电源,自动电位滴定仪,,干簧管测试仪,电导率仪,TOC水质分析仪,微电脑可塑性测定仪,风向站,自动点样仪,便携式总磷测试仪,腐蚀率仪,恒温水浴箱,余氯检测仪,自由膨胀率仪,离心杯,混凝土饱和蒸汽压装置,颗粒强度测试仪,斯计,自动涂膜机,,气象站,动觉方位仪,,气味采集器,雨量计,四合气体分析仪,乳化液浓度计,溶解氧仪,温度测量仪,薄层铺板器,温度记录仪,老化仪,噪音检测仪,恒温恒湿箱,分体电阻率测试仪,初粘性和持粘性测试仪,红外二氧化碳分析仪,氢灯,动觉方位仪,冷却风机,油脂酸价检测仪,粘数测定仪,菌落计数器,气象站,雨量计,凯氏定氮仪,荧光增白剂,啤酒泡沫检测仪,发气性测试仪,低频信号发生器,油液质量检测仪,计数器,漏电流测试仪,标准测力仪,毛细吸水时间测定仪,大气采样器,流速仪,继电器保护测试仪,体积电阻率测试仪,侧面光检测仪,照度计,体化蒸馏仪,涂布机,恒温加热器,老化仪,烟气分析仪 本产品价格仅为配件价格,由于检测参数不同对仪器的终要求也不同,所展示的价格并非产品终价格,如给您带来不便请谅解请您在购买前联系我们客服人员,我们会给你确认产品信息,术参数以及报价,我们会以优惠的价格,诚恳的态度为您服务,期待您的来电! 以上参数资料与图片相对应
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  • LEDLED是一种能将电能转化成光能的光半导体器件。和半导体激光相比,LED具有低功耗和长寿命的优点。滨松光子能够提供高能量输出的LED,广泛的应用于光开关、编码、光通信,及其他工业领域。 应用领域光通信自动控制系统光开关远程控制光编码湿度测量异物检查自由空间光学(FSO)测距仪产品列表产品名称封装峰值波长(nm)辐射功率(mW)截止频率(Hz)备注 L10596金属TO-46870315M L10596-02金属TO-46带透镜870315M L10596-03树脂TO-468706.515M L1915树脂TO-46890101M L1915-01金属TO-46带透镜8904.51M L1915-02金属TO-468904.51M L2388树脂TO-4694560.3M L2388-01金属TO-46带透镜9453.40.3M L2656树脂TO-46带反射镜890151M L2656-03金属TO-46带透镜89091M L2690树脂890141M L2690-02金属TO-46带透镜89091M L3989树脂TO-46带反射镜830830M L3989-01金属TO-46带透镜8303.630M L3989-02金属TO-468305.830M L6112树脂TO-46带反射镜6705.55M L6112-01金属TO-46带透镜6702.55M L6112-02金属TO-466702.55M L1939树脂890101M L1939-04金属TO-468902.81M L1909树脂TO-4689010mW1M L3882树脂带反射镜6601.84M L4100树脂带反射镜890141M L9337树脂带反射镜8702340M L9338树脂带反射镜945150.3M L11767树脂660136M L6108树脂6705.55M L2204塑料94560.3M L2204-01塑料94560.3M L2204-03塑料94560.3M L2402塑料89091M L2402-01塑料89091M L2402-02塑料89091M L3458塑料890131M L3458-01塑料890131M L3458-02塑料890131M L8957金属带透镜8702.1(光输出)40M编码器用L9437金属带透镜8701.6(光输出)40M编码器用L10660金属TO-4614502.415M水分(湿度)检测L10660-01金属TO-46带透镜14502.815M水分(湿度)检测L7558树脂带反射镜8501450M光通信用L7558-01金属带透镜850750M光通信用L10762金属660 70M光通信用L10881塑料带透镜650 70M光通信用L7560金属带透镜850 100M光通信用L8013金属870 50M光通信用L8045塑料带透镜650 50Mbps光通信使用L5276塑料(带透镜)8802.2 超小型L5586塑料(带透镜)9400.5 超小型L6286塑料(带透镜)9400.8 超小型L5766塑料(带透镜)660 红外微小型L6287塑料(带透镜)9401.4 微小型L6895-10塑料(带透镜)9401.2 高功率近红外
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  • 20余位行业大咖,与您相约首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议

    [font=&]当韩国“氟聚酰亚胺”、“光刻胶”、“高纯度氟化氢”等韩国半导体产业的关键材料被日本卡脖子的时候,中国很多人没太在意 当华为手机被美国制裁禁止使用谷歌相关软件时,中国半导体产业人很多没太在意 当华为芯片制造受到美国制裁时,或许许多中国半导体材料人依然没太在意 当对向中芯国际出口的部分美国设备、配件及原物料会受到美国出口管制规定的进一步限制时,中国半导体材料人或不能不在意了 当华为注册的“华为凤凰”商标“科学仪器分类”在列时,或许预示华为从软件、芯片设计、半导体制造、半导体原材料的自力更生还不够,甚至准备好进一步延伸到相关仪器设备中,中国半导体材料人就更不能不在意了![/font][font=&]  半导体材料作为半导体行业的最下游,从半导体制造材料(电子气体、光掩膜、光刻胶配套化学品、抛光材料、光刻胶、湿法化学品与溅射靶材等)到各类半导体材料,中国和国际先进水平差距巨大。但是,中国也有了较为全面的产业基础,以及庞大的半导体材料研究队伍,尤其在先进半导体材料研究方面,近些年发展迅速 在半导体集成电路和分立器件方面,中国市场强劲牵引下,也呈现快速发展的态势。[/font][font=&]  国务院密集出台各项政策,支持中国半导体产业发展,鼓励国内半导体材料产业自主创新 近期,国务院刚发布《新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展的若干政策》。为助力国内半导体产业发展,中国科学院半导体研究所、仪器信息网将于2020年10月15日-16日联合主办首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议(i Conference on Research and Application of Semiconductor Materials and Devices, iCSMD 2020)”,聚焦半导体材料与器件的产业热点方向,促进和推动半导体行业的发展。[/font][align=center][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCSMD2020/?bbs][img=,690,151]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/10/202010131056049558_673_3295121_3.jpg!w690x151.jpg[/img][/url][/align][font=&]  会议日程:[/font][table=484][tr][td=3,1,484][b]10[font=宋体]月[/font]15[font=宋体]日半导体材料研发、应用及分析检测技术(上)[/font][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center][font=宋体]报告时间[/font][/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]报告题目[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]报告人[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]09:00--09:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]钙钛矿纳米材料与[/font]SPP[font=宋体]激光器[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院半导体研究所研究员[/font] [font=宋体]王智杰[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]09:30--10:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]赛默飞色谱质谱产品在半导体行业中的的应用[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]赛默飞世尔科技应用专家[/font][font=宋体]钟新林[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]10:00--10:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center]PerkinElmer[font=宋体]在半导体制程中的检测方案[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司技术专家[/font] [font=宋体]华瑞[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]10:30--11:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]半导体材料生产与工艺质量监控的先进技术进展[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]布鲁克(北京)科技有限公司应用经理[/font] [font=宋体]黄鹤[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]11:00--11:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]梅特勒[/font]-[font=宋体]托利多公司半导体行业检测方案[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]梅特勒[/font]-[font=宋体]托利多产品专员[/font] [font=宋体]李玉琪[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]11:30--12:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center]InP[font=宋体]基光子集成材料与器件及标准代工平台[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院半导体研究所研究员[/font] [font=宋体]赵玲娟[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]12:00--13:30[/align][/td][td=2,1,361][align=center][font=宋体]午休[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]13:30--14:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center]Si[font=宋体]基[/font]GaN[font=宋体]材料的[/font]MOCVD[font=宋体]外延生长及杂质缺陷研究[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]北京大学高级工程师[/font] [font=宋体]杨学林[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]14:00--14:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]阴极发光成像技术的发展及其在表征半导体材料研究中的应用[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]荷兰[/font]Delmic[font=宋体]公司应用专家[/font]Sangeetha 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  • 20余位行业大咖,与您相约首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议

    [font=&] 当韩国“氟聚酰亚胺”、“光刻胶”、“高纯度氟化氢”等韩国半导体产业的关键材料被日本卡脖子的时候,中国很多人没太在意 当华为手机被美国制裁禁止使用谷歌相关软件时,中国半导体产业人很多没太在意 当华为芯片制造受到美国制裁时,或许许多中国半导体材料人依然没太在意 当对向中芯国际出口的部分美国设备、配件及原物料会受到美国出口管制规定的进一步限制时,中国半导体材料人或不能不在意了 当华为注册的“华为凤凰”商标“科学仪器分类”在列时,或许预示华为从软件、芯片设计、半导体制造、半导体原材料的自力更生还不够,甚至准备好进一步延伸到相关仪器设备中,中国半导体材料人就更不能不在意了![/font][font=&]  半导体材料作为半导体行业的最下游,从半导体制造材料(电子气体、光掩膜、光刻胶配套化学品、抛光材料、光刻胶、湿法化学品与溅射靶材等)到各类半导体材料,中国和国际先进水平差距巨大。但是,中国也有了较为全面的产业基础,以及庞大的半导体材料研究队伍,尤其在先进半导体材料研究方面,近些年发展迅速 在半导体集成电路和分立器件方面,中国市场强劲牵引下,也呈现快速发展的态势。[/font][font=&]  国务院密集出台各项政策,支持中国半导体产业发展,鼓励国内半导体材料产业自主创新 近期,国务院刚发布《新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展的若干政策》。为助力国内半导体产业发展,中国科学院半导体研究所、仪器信息网将于2020年10月15日-16日联合主办首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议(i Conference on Research and Application of Semiconductor Materials and Devices, iCSMD 2020)”,聚焦半导体材料与器件的产业热点方向,促进和推动半导体行业的发展。[/font][align=center][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCSMD2020/?bbs][img=,690,151]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/10/202010131056049558_673_3295121_3.jpg!w690x151.jpg[/img][/url][/align][font=&]  会议日程:[/font][table=484][tr][td=3,1,484][b]10[font=宋体]月[/font]15[font=宋体]日半导体材料研发、应用及分析检测技术(上)[/font][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center][font=宋体]报告时间[/font][/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]报告题目[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]报告人[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]09:00--09:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]钙钛矿纳米材料与[/font]SPP[font=宋体]激光器[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院半导体研究所研究员[/font] 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  • 20余位行业大咖,与您相约首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议

    [font=&]当韩国“氟聚酰亚胺”、“光刻胶”、“高纯度氟化氢”等韩国半导体产业的关键材料被日本卡脖子的时候,中国很多人没太在意 当华为手机被美国制裁禁止使用谷歌相关软件时,中国半导体产业人很多没太在意 当华为芯片制造受到美国制裁时,或许许多中国半导体材料人依然没太在意 当对向中芯国际出口的部分美国设备、配件及原物料会受到美国出口管制规定的进一步限制时,中国半导体材料人或不能不在意了 当华为注册的“华为凤凰”商标“科学仪器分类”在列时,或许预示华为从软件、芯片设计、半导体制造、半导体原材料的自力更生还不够,甚至准备好进一步延伸到相关仪器设备中,中国半导体材料人就更不能不在意了![/font][font=&]  半导体材料作为半导体行业的最下游,从半导体制造材料(电子气体、光掩膜、光刻胶配套化学品、抛光材料、光刻胶、湿法化学品与溅射靶材等)到各类半导体材料,中国和国际先进水平差距巨大。但是,中国也有了较为全面的产业基础,以及庞大的半导体材料研究队伍,尤其在先进半导体材料研究方面,近些年发展迅速 在半导体集成电路和分立器件方面,中国市场强劲牵引下,也呈现快速发展的态势。[/font][font=&]  国务院密集出台各项政策,支持中国半导体产业发展,鼓励国内半导体材料产业自主创新 近期,国务院刚发布《新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展的若干政策》。为助力国内半导体产业发展,中国科学院半导体研究所、仪器信息网将于2020年10月15日-16日联合主办首届“半导体材料与器件研究与应用”网络会议(i Conference on Research and Application of Semiconductor Materials and Devices, iCSMD 2020)”,聚焦半导体材料与器件的产业热点方向,促进和推动半导体行业的发展。[/font][align=center][url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCSMD2020/?bbs][img=,690,151]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/10/202010131056049558_673_3295121_3.jpg!w690x151.jpg[/img][/url][/align][font=&]  会议日程:[/font][table=484][tr][td=3,1,484][b]10[font=宋体]月[/font]15[font=宋体]日半导体材料研发、应用及分析检测技术(上)[/font][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center][font=宋体]报告时间[/font][/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]报告题目[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]报告人[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]09:00--09:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]钙钛矿纳米材料与[/font]SPP[font=宋体]激光器[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院半导体研究所研究员[/font] [font=宋体]王智杰[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]09:30--10:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]赛默飞色谱质谱产品在半导体行业中的的应用[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]赛默飞世尔科技应用专家[/font][font=宋体]钟新林[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]10:00--10:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center]PerkinElmer[font=宋体]在半导体制程中的检测方案[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司技术专家[/font] [font=宋体]华瑞[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]10:30--11:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]半导体材料生产与工艺质量监控的先进技术进展[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]布鲁克(北京)科技有限公司应用经理[/font] [font=宋体]黄鹤[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]11:00--11:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]梅特勒[/font]-[font=宋体]托利多公司半导体行业检测方案[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]梅特勒[/font]-[font=宋体]托利多产品专员[/font] [font=宋体]李玉琪[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]11:30--12:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center]InP[font=宋体]基光子集成材料与器件及标准代工平台[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院半导体研究所研究员[/font] [font=宋体]赵玲娟[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]12:00--13:30[/align][/td][td=2,1,361][align=center][font=宋体]午休[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]13:30--14:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center]Si[font=宋体]基[/font]GaN[font=宋体]材料的[/font]MOCVD[font=宋体]外延生长及杂质缺陷研究[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]北京大学高级工程师[/font] [font=宋体]杨学林[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]14:00--14:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]阴极发光成像技术的发展及其在表征半导体材料研究中的应用[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]荷兰[/font]Delmic[font=宋体]公司应用专家[/font]Sangeetha Hari[/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]14:30--15:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]电子级水在半导体行业中的应用及解决方案[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]默克化工技术(上海)有限公司高级应用专家[/font] [font=宋体]李子超[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]15:00--15:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]日立电子显微镜在半导体分析中的应用[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]日立高新技术(上海)国际贸易有限公司经理[/font] [font=宋体]周鸥[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]15:30--16:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]扫描探针技术在半导体材料及器件表界面分析中的应用[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]暨南大学教授[/font] [font=宋体]谢伟广[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]16:00--16:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]半导体纳米材料原子尺度结构性能关系的透射电子显微学研究[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]华中科技大学武汉光电国家研究中心副教授[/font] [font=宋体]李露颖[/font][/align][/td][/tr][tr][td=3,1,484][align=center][b]10[font=宋体]月[/font]16[font=宋体]日半导体材料研发、应用及分析检测技术(下)[/font][/b][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]09:30--10:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]氧化镓基半导体器件研究进展[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]复旦大学青年研究员[/font] [font=宋体]刘文军[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]10:00--10:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]高纯半导体材料的无机元素分析[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]安捷伦科技(中国)有限公司原子光谱应用工程师[/font] [font=宋体]应钰[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]10:30--11:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]待定[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center]HORIBA[/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]11:00--11:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]半导体光电子外延材料国产化[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]江苏华兴激光科技有限公司总经理[/font] [font=宋体]罗帅[/font][/align][/td][/tr][tr][td=3,1,484][align=center][b]10[font=宋体]月[/font]16[font=宋体]日半导体器件研发、应用及分析检测技术[/font][/b][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]13:30--14:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]双模微腔激光器及其应用[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院半导体研究所研究员[/font] [font=宋体]黄永箴[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]14:00--14:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]硅光通信与互连:一种变革性的技术[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院半导体研究所研究员[/font] [font=宋体]杨林[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]14:30--15:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]半导体微纳加工中的硅干法刻蚀技术[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院半导体研究所研究员[/font] [font=宋体]王晓东[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]15:00--15:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]待定[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院电工研究所副所长[/font][font=宋体]韩立[/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]15:30--16:00[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体][color=#333333]半导体产业现状及相关检测技术进展[/color][/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体][/font][color=#333333]国家半导体器件质量监督检验中心副主任 席善斌[/color][font=宋体][/font][/align][/td][/tr][tr][td=1,1,123][align=center]16:00--16:30[/align][/td][td=1,1,189][align=center][font=宋体]硅基[/font]III-V[font=宋体]族光电器件及其缺陷的表征[/font][/align][/td][td=1,1,172][align=center][font=宋体]中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所项目研究员[/font][font=宋体]樊士钊[/font][/align][/td][/tr][/table][font=&]  [/font][b]报名链接(点击下方链接皆即可报名)[/b][font=&]:[/font][font=&]  [/font][url]https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCSMD2020/?bbs[/url]

半导体材料与器件检测相关的耗材

  • 佰氟达半导体清洗设备配件PFA等径弯头
    半导体PFA等径弯头,作为半导体工艺中的关键元件,其在集成电路制造和封装过程中扮演着至关重要的角色。随着科技的飞速发展,半导体行业对元件的性能和精度要求越来越高,PFA等径弯头作为连接和传输的关键部件,其性能的提升对于提高半导体制造的效率和可靠性至关重要。  近年来,针对PFA等径弯头的研发与改进取得了显著进展。一方面,通过优化材料选择和制造工艺,PFA等径弯头的耐高温、耐腐蚀性能得到了显著提升,从而确保了其在高温、高湿等恶劣环境下的稳定运行。另一方面,通过精确控制弯头的弯曲半径和角度,使得PFA等径弯头在传输信号时能够保持较小的信号衰减和失真,从而提高了半导体器件的性能。  此外,随着智能制造和自动化技术的广泛应用,PFA等径弯头的生产过程也日益智能化和精细化。借助先进的自动化生产线和智能检测系统,可以实现对弯头尺寸、形状和性能的精确控制,大大提高了生产效率和产品质量。  展望未来,半导体PFA等径弯头将继续朝着高性能、高精度、高可靠性的方向发展。随着新材料、新工艺和新技术的不断涌现,我们有理由相信,PFA等径弯头将在半导体行业中发挥更加重要的作用,为集成电路制造和封装技术的进一步发展提供有力支撑。
  • 半导体清洗设备配件PFA扩口直通接头
    半导体清洗设备配件中的PFA扩口直通接头,无疑是现代高科技产业中不可或缺的一环。其优异的性能与广泛的应用,使得它在半导体制造过程中占据了举足轻重的地位。  PFA扩口直通接头以其独特的材料特性和设计优势,满足了半导体清洗设备对高精度、高洁净度和高耐腐蚀性的严苛要求。它的扩口设计不仅提高了接头的连接强度,还增强了其密封性能,有效防止了清洗液的泄漏。而直通式的结构则减少了流体在管道中的阻力,提高了清洗效率。  此外,PFA材料本身具有极佳的化学稳定性和耐高温性,能够抵抗各种强酸、强碱和有机溶剂的侵蚀,保证了接头在长期使用过程中的稳定性和可靠性。这种材料还具有良好的自润滑性,降低了接头在运转过程中的摩擦系数,延长了使用寿命。  在半导体清洗设备的运行过程中,PFA扩口直通接头发挥着至关重要的作用。它不仅能够确保清洗液的顺畅流通,还能够有效防止杂质和颗粒物的进入,从而保证了半导体器件的清洗质量和生产效率。  随着半导体技术的不断发展,对清洗设备及其配件的要求也越来越高。PFA扩口直通接头作为半导体清洗设备中的重要配件,其性能的提升和创新将直接影响到整个半导体产业的发展。因此,我们应该继续加大对该领域的研发力度,推动PFA扩口直通接头技术的不断进步,为半导体产业的繁荣发展贡献力量。
  • 佰氟达半导体清洗机配件PFA焊接三通管接头
    半导体清洗机作为现代电子制造工业中不可或缺的重要设备,其性能的稳定性和精度的准确性直接影响着半导体产品的质量和生产效率。在半导体清洗机的构造中,配件的选择与安装尤为重要,其中PFA焊接三通管接头便是关键的一环。  PFA,作为一种性能卓越的氟塑料材料,具有优异的耐腐蚀性、耐高温性以及良好的机械强度,因此在半导体清洗机中得到了广泛应用。特别是在需要承受高温、高压以及强腐蚀性液体的环境下,PFA材料展现出了其独特的优势。  PFA焊接三通管接头在半导体清洗机中扮演着重要的角色。它不仅连接着清洗机的各个部件,还承担着传输清洗液、保证清洗效果的重要任务。因此,对于PFA焊接三通管接头的品质要求极高,必须确保其具有良好的密封性和稳定性。  在制造过程中,我们采用先进的焊接技术,确保PFA材料在焊接过程中不会出现变形、开裂等问题,从而保证了接头的强度和稳定性。同时,我们还对焊接后的接头进行严格的质量检测,确保其符合相关标准和要求。  随着半导体行业的不断发展,对于半导体清洗机的要求也在不断提高。作为半导体清洗机配件的供应商,我们将继续致力于研发更加先进、更加稳定的PFA焊接三通管接头,为半导体行业的发展提供有力的支持。我们相信,在不久的将来,我们的产品将会在半导体清洗机领域发挥更加重要的作用。

半导体材料与器件检测相关的资料

半导体材料与器件检测相关的资讯

  • 明日开播!半导体材料、器件研究与检测技术系列讲座日程公布
    半导体产业作为现代信息技术产业的基础,已成为社会发展和国民经济的基础性、战略性和先导性产业,是现代日常生活和未来科技进步必不可少的重要组成部分。当前,全球半导体科技和产业的竞争愈演愈烈,各国围绕提升半导体领域竞争力,相继出台了一系列政策举措。半导体行业归根结底属于设备类行业,行业内素有“一代设备,一代工艺,一代产品”的说法。SEMI在SEMICON Japan 2022上发布了《2022年度总半导体设备预测报告》。报告指出,原设备制造商的半导体制造设备全球总销售额预计将在2022年创下1085亿美元的新高,连续三年创纪录,较2021创下的1025亿美元行业纪录增长5.9%。基于此,仪器信息网联合电子工业出版社于四、五月将启动“半导体主题月”活动。活动同期,仪器信息网与电子工业出版社特组织三场“半导体材料、器件研究与检测技术系列讲座”,旨在邀请领域内专家围绕相关论坛主题分享精彩报告,依托成熟的网络会议平台,为半导体产业从事研发、教学、生产的工作人员提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台,让大家足不出户便能聆听到精彩的报告。点击图片直达会议页面一、主办单位仪器信息网 & 电子工业出版社二、举办时间2023年4月11-26日,每周一期三、会议日程半导体材料、器件研究与检测技术报告时间报告题目报告嘉宾单位职称4月11日:第三代半导体材料器件研究与检测技术14:00-14:40车规级功率器件标准AQG324深入解读邓二平合肥工业大学教授14:40-15:20碳化硅功率器件可靠性测试与研究进展田鸿昌陕西半导体先导技术中心有限公司副总经理/高级工程师4月18日:光电材料、器件研究与检测技术10:00-10:40热活化延迟荧光发光电化学池器件张保华广州大学教授10:40-11:20待定杨妍中国科学院微电子研究所研究员4月26日:传感器/MEMS研究与检测技术14:00-14:40MEMS无线智能温振传感器及应用王建国苏州捷研芯电子科技有限公司副总经理14:40-15:20待定刘凤敏吉林大学教授三、报告嘉宾四、参会指南1、点击会议页面链接报名;会议页面:https://insevent.instrument.com.cn/t/RUs2、报名并审核通过后,将以短信形式向报名手机号发送在线听会链接;3、本次会议不收取任何注册或报名费用;4、会议联系人:3i讲堂—材料小周( 邮箱:zhouhh@instrument.com.cn;微信二维码如下,可加入会议交流群)会议联系人微信二维码
  • 关于举办“半导体材料与器件分析检测技术”培训班的通知
    为进一步加强半导体分析检测技术高技能人才队伍建设,使科技人员适应科学技术的发展,掌握该技术领域的新技能,新方法,开拓视野,提高科学实验技能和实验仪器的使用效能,“半导体材料与器件分析检测技术”培训班将于近期在上海举办。本次培训由中国科学院人事局资助、中国科学院上海硅酸盐研究所主办、上海无机非金属材料分析测试专业平台和上海材料与制造大型仪器区域中心协办。附件1:培训日程安排.docx附件2:报名回执.docx
  • 明日开播,抽奖送书!第四届“半导体材料与器件分析检测技术与应用”网络会议最终日程公布
    半导体行业是一个资金密集型、技术密集型的行业,其生产工艺复杂,设备精密度要求高,整体流程涉及到成百上千道工序。随着半导体制造工艺越来越高,其制造难度及品质管控也在呈指数级增长。因此,半导体行业呈现出来材料纯度要求高、制造精度要求高,制作过程复杂等特点。而这也对材料、器件的分析检测技术都提出了极高的要求。基于此,仪器信息网2023年10月18-20举办第四届“半导体材料与器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会,围绕光电材料与器件、第三代半导体材料与器件、传感器与MEMS、半导体产业配套原材料等热点材料、器件和材料分析、可靠性测试、失效分析、缺陷检测和量测等热点分析检测技术,为国内广大半导体材料与器件研究、应用及检测的相关工作者提供一个突破时间地域限制的免费学习平台,让大家足不出户便能聆听到相关专家的精彩报告。为答谢广大用户,本次大会每个专场都设有一轮抽奖送专业图书活动。一、主办单位:仪器信息网&电子工业出版社二、会议时间:2023年10月18-20日三、会议日程1.专场安排第四届“半导体材料器件分析检测技术与应用”主题网络研讨会时间专场名称10月18日全天半导体材料分析技术新进展10月19日可靠性测试和失效分析技术可靠性测试和失效分析技术(赛宝实验室专场)10月20日上午缺陷检测与量测技术2.详细日程(含拟邀请)时间报告题目演讲嘉宾专场1:半导体材料分析技术新进展(10月18日)专场主持人:汪正(中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员)9:30等离子体质谱在半导体用高纯材料的分析研究汪正(中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员)10:00有机半导体材料的质谱分析技术王昊阳(中国科学院上海有机化学研究所 高级工程师)10:30牛津仪器显微分析技术在半导体中的应用进展马岚(牛津仪器科技(上海)有限公司 应用工程师)11:00透射电子显微镜在氮化物半导体结构解析中的应用王涛(北京大学 高级工程师)11:30集成电路材料国产化面临的性能检测需求桂娟(上海集成电路材料研究院 工程师)午休14:00离子色谱在高纯材料分析中的应用李青(中国科学院上海硅酸盐研究所 助理研究员)14:30拉曼光谱在半导体晶圆质量检测中的应用刘争晖(中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 教授级高级工程师)15:00半导体—离子色谱检测解决方案王一臣(青岛盛瀚色谱技术有限公司 产品经理)15:30宽禁带半导体色心的能量束直写制备及光谱表征徐宗伟(天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 教授)16:00专业图书介绍及抽奖送书主持人:王天跃(电子工业出版社电子信息分社 编辑)专场2:可靠性测试和失效分析技术(10月19日上午)9:30碳化硅器件的新型电力系统应用与可靠性研究田鸿昌(中国电气装备集团科学技术研究院有限公司 电力电子器件专项负责人)10:00集成电路激光试验测试技术研究马英起(中国科学院国家空间科学中心 正高级工程师)10:30失效半导体器件检测技术及案例分享江海燕(北京软件产品检测检验中心 集成电路测评实验室项目经理)11:00半导体元器件材料分析、失效分析技术与案例解析贾铁锁(甬江实验室微谱(浙江)技术服务有限公司 失效分析工程师)11:30专业图书介绍及抽奖送书主持人:王天跃(电子工业出版社电子信息分社 编辑)专场3:可靠性测试和失效分析技术(赛宝实验室专场)(10月19日下午)专场主持人:吕宏峰(工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师)14:00高端集成电路5A分析评价技术师谦(工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师)14:30光学显微分析技术在半导体失效分析中的应用刘丽媛(工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师)15:00集成电路振动、冲击试验评价邓传锦(工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师)15:30光发射显微镜原理及在失效分析中的应用蔡金宝(工业和信息化部电子第五研究所 部门主任/高级工程师)16:00半导体集成电路热环境可靠性试验方法与标准陈锴彬(工业和信息化部电子第五研究所 工程师)16:30电子制造中的可靠性工程邹雅冰(工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师/工艺总师)17:00集成电路静电放电失效分析与评价何胜宗(工业和信息化部电子第五研究所 高级工程师)17:30专业图书介绍及抽奖送书主持人:王天跃(电子工业出版社电子信息分社 编辑)专场4:缺陷检测与量测技术(10月20日上午)9:30半导体芯片量检测技术及装备杨树明(西安交通大学 教授)10:00国家纳米计量体系与半导体产业应用施玉书(中国计量科学研究院纳米计量研究室主任 主任/副研究员)10:30面向集成电路微纳检测设备产业的自溯源纳米长度计量体系邓晓(同济大学 副教授)11:00专业图书介绍及抽奖送书主持人:王天跃(电子工业出版社电子信息分社 编辑)四、会议形式仪器信息网3i讲堂直播平台五、参会方式1. 本次会议免费参会,参会报名请点击:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsmd2023/或扫描二维码报名2. 温馨提示1) 报名后,直播前一天助教会统一审核,审核通过后,会发送参会链接给报名手机号。填写不完整或填写内容敷衍将不予审核。2) 通过审核后,会议当天您将收到短信提醒。点击短信链接,输入报名手机号,即可参会。六、会议联系1. 会议内容康编辑:15733280108,kangpc@instrument.com.cn2. 会议赞助周经理,19801307421,zhouhh@instrument.com.cn刘经理,15718850776,liuyw@instrument.com.cn仪器信息网2023年10月17日

半导体材料与器件检测相关的试剂

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