局部放电测试仪原理

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局部放电测试仪原理相关的仪器

  • 鼎创电科局放测试仪优势局部放电检测仪可广泛应用于电力系统的局放检测,包括高压开关柜、环网柜、电压/电流互感器、变压器(包括干式变压器)、GIS、架空线路、电缆等设备的绝缘状态检测。☀ 配置不同传感器实现几乎所有的电气设备的局部放电检测;☀ 人性化的人机界面方便不同设备的数据管理;☀ 内置超声波传感器和暂态地电压(以下简称 TEV)传感器,可外接变压器、GIS、架空线路、电缆等专用传感器;☀ 采用非侵入式检测方式,测试过程中无需停电,无需额外配置高压源,比传统的脉冲式局部放电检测仪使用更加方便;☀ 测试带宽范围为30kHz ~ 2.0GHz,适用各种频段的检测原理。
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  • 局部放电检测仪参数表技术特性通道数独立2通道采样精度12bit量程切换-40dB,-20dB,0dB,20dB,40dB,60dB共6档测量频带3dB 带宽 10kHz~1MHz数字滤波10kHz~1MHz 任意选择程控滤波器分段低端频率:10kHz,20kHz,40kHz,80kHz 低端频率:10kHz,20kHz,40kHz,80kHz 本量程非线性误差10%测量范围0.1pC~100,000pC灵敏度0.1pC可测试品的电容量范围6pF~250μF试验电源频率范围50~500Hz显示显示屏12” TFT真彩色触摸液晶显示屏分辨率1024 × 768接口USB3路,可外接鼠标键盘,以及外接移动存储设备电源模式AC 220V;频率50Hz;功率300W电信号接口2路BNC接口,用于信号输入光信号接口2路,用于信号输入网口1路接地钮外部接地通用说明CPU主频1.60GHz内存2.0GB硬盘128GB固态硬盘系统Windows Xp工作环境环境温度:-10~45℃相对湿度:≤95%尺寸长×宽×高:474mm × 288mm × 370mm重量15.8kg1、局部放电检测系统为2通道、台式、TFT液晶显示,系统可靠,故障率低2、真正实现了局放测量、定位、在线监测多功能合为一体3、本系统采用现代电子和计算机综合技术,实现信号放大(模拟、电子、数字)、滤波、数据采集、数据处理、图形显示、试验报告自动生成,从而完成局部放电的测量及故障诊断JFD-2000A局部放电检测系统为2通道、台式、TFT液晶显示,系统可靠,故障率低。除了可以用于高压电气设备的局部放电测量外(标配),还拥有对故障设备故障点精准定位的功能(选配),同时也可用于大型电力变压器等高压电气设备的局部放电在线连续监测(选配)。真正实现了局放测量、定位、在线监测多功能合为一体。本局放仪是测量、分析电力设备绝缘性能的专用仪器。本系统采用现代电子和计算机综合技术,实现信号放大(模拟、电子、数字)、滤波、数据采集、数据处理、图形显示、试验报告自动生成,从而完成局部放电的测量及故障诊断。本局放仪适用范围、检测方法、试验回路、技术性能参数等符合国际标准IEC 60270-2000、国家标准GB/T 7354-2003《局部放电测量》和DL/T 417-2006《电力设备局部放电现场测量导则》标准要求。产品别称:局部放电检测仪、局部放电测试仪、局放仪、局部放电测试系统
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  • 价格仅作为参考,我司配置有很多种,具体根据需求咨询在线客服或者拨打电话,谢谢! 创新型气体泄漏电力局部放电监测--奥斯恩便携式手持式声学成像仪,采用声学算法,实现对目标物高准确度检测,实时转化可视化声学图像,查看泄露点位,判断泄漏量,支持录像、录音、照相等多种数据保存,记录故障点信息,并将其导入PC端分析软件,一键自动导出测试报告。 奥斯恩OSEN-ZCXY型手持式工业声学成像仪是一款通过声学可视化成像原理而设计研发的解决远距离气体泄漏定源检测的智能检测设备。该设备基于传声器阵列测量技术,通过测量一定空间内的声波到达各传声器的信号相位差异,依据相控阵原理确定声源的位置,测量声源的幅值,并以图像的方式显示声源在空间的分布,即取得空间声场分布云图-声像图,并以图像的颜色和亮度代表泄漏的强弱。 该泄漏声学成像仪能够排除现场嘈杂的工业环境干扰,迅速的定位到气体的泄漏和负压真空泄漏,阀门内漏、冷凝器泄漏等;同时也适用于工业现场的压力容器的气密性和密封性检测。另外在电气设备的局部放电、开关柜局部放电和电晕产生的高电压绝缘子缺陷造成的局放的检测具有非常好的效果。
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局部放电测试仪原理相关的方案

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  • 局部放电的特征和原理

    一、局部放电的特征局部放电是指发生在电极之间但并未贯穿电极的放电,它是由于设备绝缘内部存在弱点或生产过程中造成的缺陷,在高电场强度作用下发生重复击穿和熄灭的现象。它表现为绝缘内气体的击穿、小范围内固体或液体介质的局部击穿或金属表面的边缘及尖角部位场强集中引起局部击穿放电等。这种放电的能量是很小的,所以它的短时存在并不影响到电气设备的绝缘强度。但若电气设备绝缘在运行电压下不断出现局部放电,这些微弱的放电将产生累积效应会使绝缘的介电性能逐渐劣化并使局部缺陷扩大,最后导致整个绝缘击穿。局部放电是一种复杂的物理过程,除了伴随着电荷的转移和电能的损耗之外,还会产生电磁辐射、超声波、光、热以及新的生成物等。从电性方面分析,产生放电时,在放电处有电荷交换、有电磁波辐射、有能量损耗。最明显的是反映到试品施加电压的两端,有微弱的脉冲电压出现。如果绝缘中存在有气泡,当工频高压施加于绝缘体的两端时,如果气泡上承受的电压没有达到气泡的击穿电压,则气泡上的电压就随外加电压的变化而变化。若外加电压足够高,即上升到气泡的击穿电压时,气泡发生放电,放电过程使大量中性气体分子电离,变成正离子和电子或负离子,形成了大量的空间电荷,这些空间电荷,在外加电场作用下迁移到气泡壁上,形成了与外加电场方向相反的内部电压,这时气泡上剩余电压应是两者叠加的结果,当气泡上的实际电压小于气泡的击穿电压时,于是气泡的放电暂停,气泡上的电压又随外加电压的上升而上升,直到重新到达其击穿电压时,又出现第二次放电,如此出现多次放电。当试品中的气隙放电时,相当于试品失去电荷q,并使其端电压突然下降△U,这个一般只有微伏级的电源脉冲叠加在千伏级的外施电压上。所有局部放电测试设备的工作原理,就是将这种电压脉冲检测出来。其中电荷q称为视在放电量。二、局部放电的机理1.局部放电的发生机理局部放电的发生机理可以用放电间隙和电容组合的电气的等值回路来代替,在电极之间放有绝缘物,对它施加交流电压时,在电极之间局部出现的放电现象,可以看成是在导体之间串联放置着2个以上的电容,其中一个发生了火花放电。按照这样的考虑方法,将电极组合的等值回路如图所示。http://www.ai1718.com/Public/kindeditor/attached/image/20140813/20140813165644_51658.jpg图3-1电极组合的电气等值回路在图3-1中,Cg:是串入绝缘物中放电间隙(比如气泡)的电容;Cb:是和Cg串联的绝缘物部分的电容;Cm:除了Cb和Cg以外的电极之间的电容。设电极间总的电容为Ca,则http://www.ai1718.com/Public/kindeditor/attached/image/20140813/20140813165740_95692.jpg(3-1)在这样的等值回路中,当对电极间施加交流电压Vt(瞬时值)时,在Cg上不发生火花放电的情况下,加在Cg上的电压vt由下式表示http://www.ai1718.com/Public/kindeditor/attached/image/20140813/20140813165822_76607.jpg (3-2)在图中,随着外施电压Vt的升高,vt也随着增大,vt达到Cg的火花电压vp时,在Cg上就产生火花放电。这时,Cg间的电压和式中的vt逐渐发生差异,如设它为vg由于放电的原因,vg迅速地从vp下降到vr(剩余电压)。现设在Cg间,经过t秒后放出的电荷为Q(t),则http://www.ai1718.com/Public/kindeditor/attached/image/20140813/20140813165857_36836.jpg (3-3)式中,Cgr是从Cg两端看到的电容,它等于http://www.ai1718.com/Public/kindeditor/attached/image/20140813/20140813165937_17596.jpg (3-4)所以得到 http://www.ai1718.com/Public/kindeditor/attached/image/20140813/20140813165953_62532.jpg (3-5)这里,将vg从vp大致变成vr的时间称为局部放电脉冲的形成时间。当将这些量表示成时间的函数时,成为图3-2的曲线。http://www.ai1718.com/Public/kindeditor/attached/image/20140813/20140813170033_34556.jpg图3-2 Cg间的放电电荷和电压随时间变化的曲线局部放电脉冲的形成时间,除了极端不均匀电场和油中放电的情况之外,一般是在0.01s以下,而且认为vr大致是零。在上述前提下,观察一下各个电气量的情况(局部放电几个主要参量)。(1)视在放电电荷q。它是指将该电荷瞬时注入试品两端时,引起试品两端电压的瞬时变化量与局部放电本身所引起的电压瞬时变化量相等的电荷量,视在电荷一般用pC(皮库)来表示。(2)局部放电的试验电压。它是指在规定的试验程序中施加的规定电压,在此电压下,试品不呈现超过规定量值

  • 请教:局部放电测量中PC是什么单位?

    请教:局部放电测量中PC是什么单位?相关材料见附件:局部放电测试系统file:///C:/DOCUME~1/ADMINI~1/LOCALS~1/Temp/ksohtml/wps_clip_image-22983.pngfile:///C:/DOCUME~1/ADMINI~1/LOCALS~1/Temp/ksohtml/wps_clip_image-27172.pngfile:///C:/DOCUME~1/ADMINI~1/LOCALS~1/Temp/ksohtml/wps_clip_image-27669.png求助编辑百科名片局部放电测试系统(英文名称:Partial Discharge Test System),专门用于变压器、电机、互感器、电缆、GIS、开关、避雷器等电器设备的局部放电测量,是适合电力部门、生产制造厂和科研单位等广泛使用的一种实用的局部放电测试仪器。    file:///C:/DOCUME~1/ADMINI~1/LOCALS~1/Temp/ksohtml/wps_clip_image-28632.png 局部放电测试系统【仪器介绍】   局部放电检测系统其技术性能完全符合IEC-270标准及GB7354标准要求,是电器设备制造厂、发供电运行部门、电力建设安装调试部门的必备测试设备。是研究、开发新型高电压电工产品和提高产品质量的有力辅助工具,也是现场判断设备正常与否的有效测试仪器。   局部放电检测系统其独特的两通道同时测量功能,可方便地完成多台试品同时测量或单台试品的多点同时测量。这样使大型变压器放电部位的诊断成为可能,该方法已成功地用于大型变压器的检测及变电站的变压器局部放电在线监测。   【主要用途】   它基本保持了前几种仪器的优点和功能,又根据当今国内外局放仪研究领域的先进理论,参照国际电工委员会(IEC)标准,采用了先进电路,引用了先进技术,通过各地用户广泛试用后的不断改进而成的,BY2202局部放电检测仪比BY-8601、BY-9801局放仪在设计上更完善,使用上更方便,性能上更可靠。   专门用于变压器、电机、互感器、电容器、电缆、GIS、开关、避雷器等电器设备的局部放电测量,性能符合IEC-270标准及GB7354标准。全汉化软件,菜单式操作,测量与分析可任意存储,打印局部放电图形及数据,自动生成试验报告,2个测量通道,有椭圆、直线、二维、三维彩色显示方式。

局部放电测试仪原理相关的耗材

  • 粒度测试仪原理 汇美科HMK-200
    粒度测试仪原理简介HMK-200空气喷射筛是一款用来测量粉体粒度分布的实验室用气流筛分仪器,由操作面板、筛盘、标准筛、喷嘴、电机及吸尘器组成。通过7寸液晶显示屏进行控制,实时显示仪器的工作状态。本仪器可以通过RS-232接口与电子称相连。内置微处理器可以对结果进行自动计算。仪器生产厂家与供应商为丹东汇美科仪器有限公司。型号为HMK-200的空气喷射筛分法气流筛分析仪采用国际先进200LS-N空气喷射筛分技术设计制造,仪器的主要参数性能与外国进口设备保持一致,而且该仪器价格合理,配套服务完善。汇美科已经成为世界实验室粒度气流筛分析及采购好品牌。工作原理具有专利技术的喷嘴将吸尘器产生的负压转化成动能,驱动粉体上升并与筛盖相碰撞,去除聚合颗粒的粉体继而被负压吸向标准筛。较大颗粒被留在筛网上面,较小颗粒被吸入吸尘器,从而实现对粉体的理想筛分。技术参数测量范围:5-5,000 um筛分量:0.1-2,000 g标准筛直径:200 mm/75 mm喷嘴旋转速度:低、中、高或者0-35 rpm无级变速可调计时范围:固定模式2-10 min任选或者持续模式切换气压范围:0-10 Kpa喷嘴间隙:2 mm仪器尺寸:58x35x35 cm电压:220 V/50 Hz/25 W重量:14.8 Kgs产品特点7寸大屏,液晶显示,触屏点击精确控制筛分操作。负气压筛前标定,筛中实时监测,并可实时调节,保证筛分精度。喷嘴转速在合理区间内可任意设定,并可选中低高速,提高效率。筛分时间在常规时间内任选,并可设定循环筛分模式,方便操作。世界先进开筛(Open Mesh)功能,有效防止近筛颗粒堵塞筛网。筛分结束后自动计算出筛下物料百分比。国际先进的样品收集装置,使筛下颗粒收集率可达99.99%应用领域常规筛析无法分析的干粉体:粉体质量轻粉体易静电颗粒易团聚被广泛应用于筛分以下粉末:医药、面粉、调味料化学物质粉末水泥、石墨、煤灰、涂料、陶土粉树脂、橡胶、塑料等空气喷射筛 200LS-N空气喷射筛 中国药典2015粒度空气喷射筛 德国alpine空气喷射筛 气流筛分仪 德国阿尔派气流筛分仪 振动筛分仪 实验筛分仪 筛分粒度仪 振荡筛分仪汇美科简介 作为中国颗粒学会的会员,汇美科一直为颗粒相关物理特性的表征而努力探索着。 汇美科自1997年以AimSizer品牌开始运作,目标瞄准国际高端粒度测试仪器市场。以AS-2011激光粒度仪(AimSizer AS-2011 Laser Particle Size Analyzer)为主打产品,目前在世界市场上激光粒度仪的保有量超过10000台。 2004年以后,随着不断接触国际客户,汇美科不断得到国际用户在粒度方面的急切诉求。因为在粒度领域,有一些粉体是激光粒度仪所无法测量的。汇美科积极参照国际标准,与国际知名专家进行合作及技术升级,又开发出适应国际高端市场的HMK-22费氏平均粒度仪、HMK-200经济型与智能触屏型空气喷射筛分仪、SIEVEA 502电磁振动筛分仪等等。国际粒度用户的一直满意是推动汇美科前行的持续力量。为了应对多品种仪器大生产的趋势,汇美科创立 HMKTest 品牌。 在满足粒度市场的同时,汇美科在流动性测试方面投入了资本进行研究,成功开发出世界第1台AS-300A全自动霍尔流速计,国际保有台数达到10000台。除此之外,汇美科又相继开发出HMKFlow 329安息角测定仪、HMKFlow 6393卡尔指数综合特性测定仪等等,更全面地满足了用户在流动性测试方面的要求。 密度仪也是汇美科擅长的领域。汇美科的密度仪涵盖振实密度仪与松装密度仪。振实密度仪方面汇美科不断推陈出新,开发出了目前世界上最.先.进的LABULK 0335四代全智能触屏振实密度仪,扭转了振实密度测试领域长期使用不符合国际标准的或长期使用简单低效振实密度仪的局面。松装密度仪方面,汇美科创立LABULK品牌,坚持质量及标准方面从高、从严要求,小仪器,大心意。汇美科所生产的松装密度仪在全世界种类最多,质量zui好,客户zui多,国际市场保有量在20000台以上。 2018是个开始,汇美科全面进军中国国内市场,在国内设立丹东汇美科仪器有限公司(Dandong HMKTest Instrument Co.,Ltd.),开始以一般纳税人生产企业的身份为国际跨国公司在中国设立的工厂及广大国内客户提供各种仪器及产品。二十年前,汇美科走出去了,在国际市场上为中国仪器赢得了尊重,二十年后,汇美科领进来了,一大批国际专家与学者,国际先进的管理经验,完全依国际标准制做的各类仪器。 丹东汇美科仪器有限公司是一家在物质表征领域内的中国科学仪器生产商,是一家科技生产企业。是中国生产粉体物理特性测试仪器等高科技产品的科技企业之一。为了做大做强,公司的经营范围扩展到更多的粉体测试仪器。通过不断的技术研发与合作,汇美科的业务涉及到粉体工业领域的方方面面。凭着准确耐用的性能、与国际接轨的先进技术、依托诚实守信的商业操守,汇美科得到了用户的肯定和支持,使得公司业务连年持续扩展。由不知晓到初步了解,由相始之初到坦诚交流,由商业伙伴到密切合作,汇美科已经成为国内外物理特性设备采购领域中的大品牌。 汇美科生产销售粒度仪系列、流动性测定仪系列、松装密度仪系列、实验室样品制备系列、药片检测系列等五大系列近百种产品,每种产品都经国内外客户的现场检验,欢迎各界朋友前来洽谈合作。相关产品HMK-200智能型空气喷射筛分法气流筛分仪LABULK 0335智能触屏振实密度仪HMKFlow6393粉体综合特性测试仪HMKFlow329休止角测定仪与安息角测试仪HMK-2001旋转分样仪AS-300A全自动智能霍尔流速计HMK-22美国费氏法平均粒度测定仪AS-2011激光粒度分布仪
  • 硬度测试仪配件
    硬度测试仪配件和欧洲进口的便携式硬度测试仪,使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台,有效避免了玻璃平台易碎的缺点,硬度测试仪配件结构更紧凑、合理,操作简单。硬度测试仪配件特点专用于配套SHORE A,SHORE D型橡胶硬度计,其测试原理更科学,结构更紧凑、合理,使测试的稳定性和准确度进一步得到提高使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台,有效避免了玻璃平台易碎的缺点 。硬度测试仪配件参数E A/C型橡胶硬度计组合成专业的试验机;外形尺寸: 100*212*250(mm)便携式硬度测试仪参数可选配SHOR结构更紧凑、合理,操作简单 净重:10 Kgs孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括硬度计,硬度测量仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。关于便携式硬度测试仪参数,硬度测试仪参数的更多消息,孚光精仪将在第一时间更新并呈现,想了解更多内容,关注孚光精仪等你来体验!
  • 少子寿命测试仪
    少子寿命测试仪性能参数? 测量原理 QSSPC(准稳态光电导) 少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq. 注入范围:1013-1016cm-3 感测器范围 直径40-mm 测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm (或更小尺寸) 硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m 外界环境温度 20° C&ndash 25° C 功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器:200W 光源:60W 通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz -------------------------------------------------------------------------------- 少子寿命测试仪成功使用用户? 江苏,上海,北京,浙江,西安,四川,河北,河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶企业等等。 一、采购项目名称:硅片少子寿命测试系统、溶剂净化系统等 二、采购代理机构 :杭州求是招标代理有限公司 三、确定成交日期:2010年11月16日 四、本项目公告日期: 2010年11月4日、11月5日 五、项目成交单位: 硅片少子寿命测试系统(z9264):上海瞬渺光电技术有限公司 -------------------------------------------------------------------------------- 相关资料下载 少子寿命测试仪一款功能强大的少子寿命测试仪,不仅适用于硅片少子寿命的测量,更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1&mu s到6000&mu s,硅料电阻率下限达0.1&Omega .cm(可扩展至0.01&Omega .cm)。测试过程全程动态曲线监控,少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况,是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。 少子,即少数载流子,是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。   半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数,导电中起到次要作用,则称它为少子。如,在 N型半导体中,空穴是少数载流子,电子是多数载流子;在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。   多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子,当它顶替晶格中的四价硅原子时,每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合,而余下的一个就不受共价键束缚,它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子,因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子,尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子,但它束缚在晶格中,不能象载流子那样起导电作用。这样,与本征激发浓度相比,N型半导体中自由电子浓度大大增加了,而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大,其浓度反而更小了。  少子浓度主要由本征激发决定,所以受温度影响较大。 少数载流子寿命(简称少子寿命)是半导体晶体硅材料的一项重要参数,它对半导体器件的性能、晶体硅太阳能电池的光电转换效率都有重要的影响.分别介绍了常用的测量晶体硅和晶体硅太阳电池少子寿命的各种方法,包括微波光电导衰减法(MW-PCD),准稳态光电导方法(QSSPC),表面光电压(SPV),IR浓度载流子浓度成像(CDI),调制自由载流子吸收(MFCA)和光束(电子束)诱导电流(LBIC,EBLC) 少子寿命是描述半导体 材料特征方程的基本参数之一,对器件特性的精确描述起着重要作用,特别是对以PN结为基本结构的器件,额外载流子的产生与复合在PN结的状态转换过程中起着决定性的作用,因而少子寿命是决定PN结型器件工作特性的关键材料参数之一。   太阳电池的转换效率主要依赖于基区的少子寿命.少子寿命越长光照产生的过剩载流子越可能到达PN结,受PN结电场分离后对外产生光电流,同样由于暗电流的降低可增加太阳电池的开路电压,所以大部分生产商都在生产前检验原始材料的一些关键性参数,光伏工业生产中最常见的测试就是少子寿命的测试,通过对原始材料的寿命测量预测成品太阳电池的效率。   少子寿命测试仪采用微波光电导衰减法(ASTM国际标准-1535)的测试原理,提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试,主要是通过904nm波长的激光激发出硅片,硅棒或硅锭体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而判断该硅片,硅棒或硅锭的缺陷、沾污情况。该设备主要应用于硅棒,硅片的出厂、进厂检查,生产工艺过程的沾污检测等。特别是在太阳能领域,少子寿命将直接关系到成品电池的效率,是必备的检测手段。   少子寿命测量仪可测量半导体的少子寿命。少子寿命值反映了太阳电池表面和基体对光生载流子的复合程度,即反映了光生载流子的利用程度。少子寿命是半导体晶体硅材料的一项关键性参数,它对晶体硅太阳能电池的光电转换效率有重要的影响,可以说硅电池的转化效率和少子寿命成正向相关对应关系。   少子寿命测量仪采用微波光电导衰减法(SEMI国际标准-1535)的测试原理,即通过激光激发出硅体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而计算出少子寿命值,为半导体提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试。该仪器测量少子寿命的精度达到ns级,分辨率达1%,测试结果准确性好、重复性高,完全能满足太阳能级硅电池的少子寿命测试。目前该方法是最受市场接受的少子寿命测试方法 主要特点:   适应低电阻率样片的测试需要,最小样品电阻率可达0.1ohmcm   全自动操作及数据处理   对太阳能级硅片,测试前一般不需钝化处理   能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭   可以选择测试样品上任意位置   能提供专利的表面化学钝化处理方法   对各道工序的样品均可进行质量监控:   硅棒、切片的出厂、进厂检查   扩散后的硅片   表面镀膜后的硅片以及成品电池常见问题: WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导)而WT2000是微波光电导。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导) 准稳态光电导衰减法(QSSPC)和微波光电导衰减法(MWPCD)的比较? QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量,同时可以结合 SRH模型,得出各种复合寿命,如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号,而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值,MWPCD在加偏置光的情况下,结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线,而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度,因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线,并且得到PN结的暗饱和电流密度;MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个,甚至更小的尺寸,在照射过程中,只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子,也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值,这对于寿命分布不均匀的样品来说,结果并不具备代表性。

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  • 小菲课堂|声学成像技术在局部放电监测中的应用(一)
    高压局部放电局部放电是电力设备绝缘在足够强的电场作用下局部范围内发生的放电,每一次局部放电对绝缘介质都会产生一些影响,使绝缘强度下降,造成高压电力设备绝缘损坏,甚至会造成人安全隐患。目前,预防性维护人员已经开始使用声学成像技术定位局部放电,甚至能在设备过热之前就发现设备特有的声音特征。与FLIR红外热像仪配合使用,像FLIR Si124之类的声学成像仪是必不可少的设备,可以有效地发现局部放电,避免出现设备故障、代价高昂的损坏和意外停机等问题。局部放电的过程与危害根据IEC 60270的正式描述,局部放电指“只是局部地桥接导线间绝缘体的局部放电现象,可能发生在导线附近,也可能发生在其他地方。通常,局部放电是局部电应力在绝缘体或绝缘体表面集中的结果,一般表现为持续时间远远小于1毫秒的脉冲。电流总是趁人不注意时试图逃逸、跳离导线、徒劳地尝试桥接附近的电极。在寻找逃逸路线时,它首先会从老化的绝缘体上的裂缝开始。如果是架空电线,则是从因多年积污的电线表面开始。也许是在高压电缆的纸绕组上戳一个小孔,也可能隐藏在老化的液体电介质中形成的气泡附近。在电压正弦波的每个波峰和波谷,它都会持续不断地尝试(局部放电)。电流就这样日复一日地试图穿越到相邻的导线上,肉眼却无法看到这类局部放电。受持续性高压应力影响,附近的绝缘材料会在某个时刻失效,丧失对电流的约束。最终,电流会分流进入另一导线。这种情况发生时,导线会完全失效。这会对线路上连接的电气设备、开关设备、机械或设施造成了极大的破坏,代价高昂。局部放电有可能损坏工厂设备或灼伤敏感的电子设备。严重时,局部放电可能导致社区停电数小时,闲置设备,浪费宝贵的生产力。声学成像仪是预防性维护的必要工具局部放电检测是状态监测(CBM)或预防性维护(PdM)计划切实发挥作用的必要条件。越早发现,局部放电对绝缘体的损坏就越少,设备故障和后续停机风险也就越低。追踪局部放电问题有着简单的经济动机:发现问题,安排停机,然后在局部放电现场修复和更换绝缘体及电气接头,其成本和破坏性要低得多。为了准确定位局部放电,电气承包商、检查人员和专业维护人员可以使用多种诊断技术。绝缘测试仪提供了绝缘体的有效性或电阻的数值读数。FLIR红外热像仪可以定位并识别电气设备产生的阻热,通过逐像素的温度读数在可视图像中精确定位问题所在。还可以将热成像技术与声学成像技术结合起来,确定局部放电的严重程度。温度升高和声学特征可以表明绝缘设备的完整性遭到破坏。FLIR Si124满足声像仪的所有需求作为整个诊断生态系统的一部分,FLIR在红外热像诊断方案以外,还推出了声学成像解决方案。FLIR Si124工业声学成像仪是一款基于声学原理的解决方案,它可以定位和分析工业故障、老化以及缺陷如局部放电等。研究发现,在元件发热到能被红外热像仪检测到之前,局部放电会导致声音异常。这就为我们额外提供了一层提示,帮助我们提前检测到潜在的故障。虽然我们经常能在电线附近听到嗡嗡声,但人耳通常是听不到局部放电的,因此局部放电人耳很难定位,尤其是在过于嘈杂的工作场所。借助手持式声学成像仪(FLIR Si124),用户可以扫描一整个区域,在被检组件的声像图上看到局部放电产生超声波的位置,即使人耳听不到、背景噪声很大也没关系。虽然在声学成像方面,电工有许多工具可选,但从便携性到精度,需要考虑多种因素。首先,虽然大多数声学成像工具都很轻便,但要选择便于换场作业的款式。选择一台简单易用、单手可握、携带方便,符合人体工学设计且便于瞄准的手持式成像仪。很显然,FLIR Si124工业声波成像仪很好地满足了以上所有要求!麦克风更多,检测速度快10倍科技领域有一条通用法则:越多越好。从这个意义上讲,声学成像仪中增加麦克风的数量对形成细节丰富的声学图像至关重要。同样在科技领域,对于麦克风本身而言,(体积)大不一定好,因此使用MEMS(微机电系统)类型的麦克风。这类麦克风的性能达到了良好的平衡,能在不同环境下稳定地工作,功耗低,支持小体积电池,续航时间长。另外,体积小意味着更容易把它们紧凑地布置在手持工具上。更多的麦克风,都有哪些优势呢?灵敏度:FLIR Si124声学成像仪搭载了由124个MEMS麦克风精心布成的阵列,这些麦克风相互配合,使灵敏度达到高水平。麦克风越多越可以降低“空间混叠”的可能,也就是降低图像上声源错位的可能。检测范围与访问:增加麦克风的另一个优势是可以扩大检测范围。声音在空气中的传播距离每增加一倍就会衰减6分贝(距离声源15米处听到的声音比30米处听到的声音强6分贝),中型局部放电的分贝值约为40分贝。为了检测范围更广,声学成像仪制造商通过增加麦克风的数量来扩大检测范围。FLIR Si124声学成像仪将麦克风增加三倍,从而使检测范围扩大一倍。出于安全考虑,许多电气设备周围都有栅栏,或者离地较高,很难接近访问。这种访问限制也可能与时间有关,比如需要客户联系人在场时才能进入。鉴于这些访问限制,远距离也能精确定位局部放电的工具就显得至关重要。处理能力:FLIR Si124会产生124个音频数据流,这些数据流经过处理后可转换为视觉图像。这款声像仪搭载了自动音频频率筛选功能,既不牺牲性能,也简化了操作过程。数据和图形处理能力的进步使得将如此大量的声学数据,瞬间整合成屏幕上易于理解的图像成为可能。如果用户选用搭载较少麦克风或老款处理器的成像仪,结果只能得到较低品质图像、较低的分辨率、以及较慢的刷新率。就生产效率而言,像FLIR Si124这样先进的声学成像仪在发现问题的速度方面比其它可用工具快10倍。配备124个麦克风的FLIR声学成像仪不仅检测速度快人一步麦克风频率还会影响检查效果想知道关于声学成像仪的更多理论知识持续关注我们
  • 小菲课堂|声学成像技术在局部放电监测中的应用(二)
    声学成像仪在高压局部放电中的应用原理小菲在上周的文章中提到一部分没看到的小伙伴戳这里:小菲课堂|声学成像技术在局部放电监测中的应用(一)下面继续为大家详细解说声学成像仪:智能除噪,结果准确电气承包商选择检测局部放电的工具本身,也可能会导致人们对局部放电的识别效果产生误解。比如,局部放电以40 kHz的频率恒定地发出超声波,许多声学成像设备就只有这个频率的范围,尽管这些设备在某些情况下可能有用,但在大多数情况下,选择这些设备可能大大削弱检测的灵敏度。例如,在远距离工作时(如户外变电站),使用更宽的频率范围(10 kHz-30 kHz)可以产生更好的结果。目前,声学成像已迅速发展成对维护供电基础设施正常运行不可或缺的技术。越来越多的状态监测管理人员开始把FLIR Si124之类的声像仪加入工具箱。此类设备可以快速、轻松地发现问题,降低维修成本,减少意外停机,很快就能带来投资回报。 当高压设备内有悬浮导体时(比如用垫片隔开),就有可能产生悬浮放电,悬浮放电被认为是最常见的局部放电类型。导线(如输电线)周围作为绝缘材料的空气在高湿度或污染环境下会丧失部分绝缘能力,进而发生空气放电。这会导致电流进入空气中,进一步降低近处的空气质量和导线的性能。分析声学图像可能需要一定的培训和学习,尤其是在理解不同类型的局部放电时。了解问题及其严重性有助于制定更好的报告、维修建议和更明智的后续行动。FLIR Si124声学成像仪采用人工智能算法分析局部放电,可助电气承包商一臂之力。用户可以将声学图像上传到FLIR Acoustic Camera Viewer云服务,后者会自动将这些图像与数千张局部放电图像进行比较。先进的人工智能服务有助于减少误差,加快报告制作,成为客户检查业务的关键优势。简单易用的特性也有助于使更多工人加入声学成像检测队伍,共同开展状态监测或预防性维护工作。声学成像仪重点检测区域对于局部放电易发生的区域,主要包括:★ 导线和母线★ 发电机★ 输配电设备★ 变电站★ 定子、电机和线圈★ 开关设备★ 变压器声学成像可以检测到超声波的能力,已成为公用事业组织用于确定是否存在局部放电的有效方法。它使专业人士能够执行更多例行预防性维护,有助于提供对即将发生的会导致关键系统停机的电气故障的关键初步预警。所以,电气供应商们要与时俱进,选择更有效、更快捷的工具检测电气设备的局部放电哦~想要了解更多详情。
  • 全新FLIR Si2声学成像仪,让局部放电故障位置一目了然!
    全新FLIR Si2-PD和Si2-Pro声学成像仪配备了智能局部放电检测分析功能其可帮助用户检测、辨识和分析电气系统中象征着存在问题和故障隐患的局部放电提前定位故障点,避免出现重大事故那么它是如何做到精准又快速的呢?局部放电被听见的必要性顾名思义,局部放电(PD)指绝缘体局部故障,其可能在任何类型(固体、空气、气体、真空或液体)的绝缘体上发生。如果电荷经常穿过绝缘体,很可能导致绝缘体被彻底击穿,从而造成灾难性的故障,因此及时发现局部放电非常重要,它能有效规避重大事故的发生。局部放电分为多种不同类型,其特征因类型而异。在实际应用中,可分为四类:负电晕放电、正负电晕放电、浮动放电以及表面或内部放电。不同放电类型的局部放电相位分布(PRPD)图谱略有差异,想要详细解读的菲粉们可以点击下方图片,获取“FLIR Si2系列声学成像仪局部放电检测深度分析白皮书”,它能让您对局部放电有更深层次的理解!声学成像仪智能分类局部放电的类型不同类型的局部放电主要表现为50或60Hz周期的不同时段中的脉冲或脉冲簇。对局部放电进行电气测量,能够测出这些脉冲期间转移的电荷,并显示其与电压相位的相对关系。这就是所谓的局部放电相位分布(PRPD)图谱。局部放电相位分布(PRPD)图谱PRPD图谱具备数种特征,可用于推断存疑局部放电的类型。例如,PRPD图谱通常拥有两个明显的脉冲簇,一个靠近正电压峰值,另一个则靠近负电压峰值,这些脉冲簇的大小和形状可能不同。这两个脉冲簇在大小和形状上可能对称,也可能高度不对称。在某些情况下,可能只存在一个脉冲簇而非两个。因此,可以根据不同的PRPD图谱来判断局部放电的类型。下载白皮书,详细介绍典型的PRPD图谱FLIR声学成像仪将自动检测具有较强50或60Hz周期性的信号,并构建类似的PRPD图谱。但要注意,即使声学成像仪界面显示了PRPD图谱,也不代表声源一定是局部放电。例如,某些类型的低压电子设备也可能产生类似的周期性图谱,因此还要进一步分析。选择FLIR Si2声学成像仪的优势FLIR Si2系列声学成像仪内置124枚麦克风,接收频率范围在2kHz至130kHz,涵盖了局部放电的声波范围,在远距离或嘈杂环境中也能直观地显示超声波信息,生成精确的声像。声像实时叠加在可见光数码图像上,使用户可以准确地查明异常声音来源。对于局部放电检测,Si2声学成像仪内置局部放电严重程度评估和纠正措施建议功能,通过对局部放电进行分类,能让用户迅速做出决策,减少故障的影响。这样的检测,比传统方法要将近快10倍哦~Si2具备人工智能技术辅助分析和故障严重程度评估功能,可现场提供决策支持FLIR Si2系列声学成像仪其配备的插件还能让用户将声像导入FLIR Thermal Studio软件中,进行离线编辑、分析和创建高级报告。专业的报告和分析软件,让局部放电检测后的结果处理变得更加简单明了!利用超声波对局部放电进行检测不仅设备轻便,适应性好,性价比高还能保障操作人员的安全,精准定位故障点FLIR Si2系列声学成像仪作为其中的佼佼者可作为电力检测人员的“完美”工具。

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