激光垂准仪工作原理

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激光垂准仪工作原理相关的仪器

  • 机床校准激光干涉仪 400-860-5168转6117
    中图仪器SJ6000机床校准激光干涉仪是一种能够测量机床精度的高精度测量装置。具有测量精度高、测量范围大、测量速度快、高测速下分辨率高等优点,结合不同的光学镜组,可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量,具有高精度、高分辨率、快速测量等优点,在机床加工领域有着广泛的应用。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下,还可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测,以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析,如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。测量原理SJ6000机床校准激光干涉仪的测量原理主要包括相位测量和位移测量。相位测量是通过测量干涉条纹的相位差来计算被测量物体的形状、位置等参数;位移测量是通过测量干涉条纹的位移来确定物体的位移量。这两种测量原理在不同应用场景下有着各自的优势和适用性。产品优势1、激光干涉仪具有非常高的测量精度和重复性。2、激光干涉仪可以实现非接触式测量,不会对被测量物体造成损伤。3、激光干涉仪具有实时性测量能力,能够同时测量多个位置或参数,提高测量效率。产品应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件,直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差,从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过SJ6000机床校准激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹,可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态,并及时进行调整和修正,确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹,可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求,从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用,激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系,从而检测和纠正机床的装配误差。此外,激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况,及时发现机床的故障和异常状态,保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿部分技术规格稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值,单位:μm;M为测量距离,单位:m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1~3.0)m 长距离(1.0~15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项:平面度测量配置需求:平面度镜组+角度镜组平行度测量配置需求:依据轴向量程范围,选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求:短直线度镜组+垂直度镜组长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求:长直线度镜组+垂直度镜组直线度附件:主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。
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  • 塞曼效应实验,YMP-6101 简介YMP-6101塞曼效应实验以汞光源的546.1nm光谱线为研究对象,汞光源经过干涉滤光片后形成单色光,经过聚光透镜和偏振镜片,通过法布里-珀罗(F-P)标准具,形成干涉圆环,最后通过光学镜头和CMOS相机在电脑上形成干涉图像。本实验装置包含一个可调恒流电源和电磁铁,通过调节电流的大小控制磁场的强弱。在垂直于磁场方向,当磁场足够强时,汞原子内部的能级开始分裂,电子根据跃迁定则,产生新的谱线,在标准具产生干涉圆环,通过CCD相机和软件,我们就可以直观的观测到一个干涉圆环分裂成9个干涉圆环。而这些谱线是偏振的,通过旋转偏振器,可以在不同角度观测到不同数量的干涉圆环。而当平行于磁场方向进行观测时,可以观测分裂的谱线是圆偏振的。特点可进行垂直于磁场方向和平行于磁场的塞曼效应可调恒流源和电磁铁产生~1.2T的匀强磁场,保证运输和实验安全精度高达1/100λ的法布里-珀罗标准具,可获得K级至K-2级的9条分裂谱线,线条清晰锐利实验内容学习和掌握塞曼效应的原理和实验方法学习和掌握线偏振光概念和垂直于磁场方向的塞曼效应(Л分量 和σ分量)计算电子荷子比e/m学习和掌握圆偏振光概念和平行于磁场方向的塞曼效应学习和掌握特斯拉计的工作原理,使用特斯拉计和传感器测量电磁场与电流的关系通过塞曼效应测量电磁场强度激光原理实验实验,YTR-6301简介YTR-6301是一套全开腔结构的气体激光实验装置。通过调整谐振腔的光学元件,使它们处于同一光轴上,光将在谐振腔内振荡放大,从而输出激光。还可以验证激光的线偏振特性,以及通过F-P共焦球面扫描干涉仪观测不同长度谐振腔的纵模间隔。特点全开腔式结构设计,谐振腔的腔镜、激光管和谐振腔光程均可调,有助于学生们了解激光器的基本结构主激光管加装有机玻璃管,全面保护激光管和接线柱的安全按照工业级别要求设计生产的机械部件,保证输出激光和实验的稳定性光功率计用于调整和优化谐振腔,保证激光输出功率最大实验内容激光器的基本组成与结构的认识学会调节激光谐振腔并输出激光测量不同长度谐振腔下的纵模间隔激光偏振性的验证密立根油滴实验,YMP-6117简介YMP-6117密立根油滴实验通过控制均匀电场中的带电油滴,使用CCD成像系统,观察并测量带电油滴在均匀电场和重力场中的运动,从而计算得到整颗油滴的带电量。重复对许多油滴进行实验之后,密立根发现所有油滴的总电荷值皆为同一数字的倍数,因此认定此数值为单一电子的电荷:e = 1.602 x 10^-19 C。本实验装置按运动方式分类,油滴法测电子电荷分为平衡测量法和动态测量法。实验系统由主机、CCD成像系统、油滴盒、喷雾器等部件组成,其中主机包括可控高压电源、计时装置、A/D采样、数据通信等单元模块。特点采用高清高速的CCD成像系统实验主机和油滴盒分离,确保油雾与控制电路隔离实验软件可以显示电压、计时并自动处理实验数据实验内容学习用油滴实验测量电子电荷的原理和方法。验证电荷的不连续性以及测量基本电荷电量e。了解CCD光学成像系统的工作原理。通过对油滴的选择、耐心地跟踪和测量,培养学生严谨的态度和一丝不苟的科学实验方法。金属电子逸出功实验,YMP-6108简介YMP-6108型实验装置通过测量金属钨的电子逸出功,将钨丝作为“理想”二极管的阴极材料,阳极做成与阴极共轴的金属圆环,把阴极发射端限制在温度均匀的一定长度内而又可以近似的把电极看成是无限长的无边缘效应的理想状态。为了避免阴极的冷端效应(两端温度较低)和电场不均匀等边缘效应,在阳极两端各加装一个保护(补偿)电极,它们与阳极同电位但与阳极绝缘。当钨丝通电发光发热后,金属内部部分热电子获得大于逸出功的能量,从金属表面逃逸形成热电子发射电流。根据金属中电子能量遵从费米-狄拉克量子统计分布规律,获得热电子发射电流公式,从而计算逸出功(WorkFunction)。特点理想真空二极管透明直观阳极电流测量准确稳定,阳极电压输出高效精准增加螺线管线圈和配套电源可升级为理想真空二极管综合实验装置可升级为数字化实验实验内容了解费米—狄拉克量子统计规律理解热电子发射规律和掌握电子逸出功的测量方法用里查逊直线法分析阴极材料(钨)的电子逸出功拉曼光谱分析实验,YTR-6306简介拉曼光谱是分子振动的“指纹谱”,不同的物质分子具有不同的振动频率,因此常作为物质识别的重要依据。YTR-6306实验装置由多模窄线宽激光器出射激光,通过拉曼探头聚焦于样品,与样品作用后产生的拉曼信号由探头收集经光纤传输至光纤光谱仪后得到样品最终的拉曼光谱。特点模块化设计,更易于学生了解和掌握拉曼光谱系统的原理和组成按照工业和科研标准进行设计和生产,不但可以用于实验教学也可以用于科学研究专业的样品池和支架,易于学生操作专业的操作软件,引导式操作,简单易于掌握实验内容学习和掌握拉曼光谱的基本原理学习和掌握拉曼光谱测量的原理、基本组成和主要的工作原理和使用方法学习和掌握如何搭建和使用拉曼光谱测量系统学习和掌握如何测量CCl4溶液和乙醇样品的拉曼光谱学习和应用拉曼光谱对塑料样品进行鉴别测量和分析各类自备固体和液体样品的拉曼光谱更多详情,请关注!
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  • 一, ELWI-GER 3000自准直仪易于调整、测量和记录,自准直仪利用光学对准和ELWI-GER3000测量系统,实现直线度和“平面度”的二维精确快速测量。该柔性系统适用于技术面、线性导轨的对准和控制,以及大型部件和轨道系统的曲率测量。产品特点同时保持X和Y方向的直线度不限位置使用无源反射器能够在真空中使用小巧紧凑,提供检查服务长距离测量高达 100m比先前版本快10到100倍比其他自准直仪精确5到20倍分辨率 0.1μm / m 精度高达 0.5 μm / m 缩放功能,便于对齐11英寸触摸屏IP 65,坚固轻便电池运行8小时通过智能手机进行数据传输和远程控制可以通过局域网和无线局域网进行数据传输带有文档跟踪的自动协议带有附加元件的自动距离检测用电子水准仪进行转角测量产品应用无需电脑,直接进行直线度评估机械工程线性导轨和轨道工厂、铁路和隧道建设技术参数测量方法:在倾度计算法中,镜座上或线性导轨架上的测量镜以等距的步长放置在测试对象上。通过高度差的求和(积分),确定并显示直线度。该方法以尽可能低的测量不确定性获得高的精度。在高度法中,反射器也可以通过合适的底座或线性导轨或移动轴(机床工作台、导线等)连接,放置在任何位置。测量并直接显示与理想直线(光轴)的偏差。调整过程可以实时执行。软件在坚固的IP65平板电脑上进行直观的一触式操作图:触摸屏显示器(过程控制)1.附加转角测量装置的测量值2.显示下一个测量位置3.测量数据的图形或表格4.打开表格和图形参数的侧面菜单5.激活平均数6.切换图形/表格视图7.结束当前测量8.启动时间控制的自动装置9.选择前一个/下一个测量位置10.保存当前测量位置的测量值11.测量的评估和报告的创建12.标记下一个测量位置评估,ISO 1101 包含菜单指南和报告的图形评估。图形评估、菜单指南和报告1.返回上一个窗口2.结束测量3.把报告另存为.pdf格式4.报告预览5.调整日志数据6.图形和评估的配置技术规范(直线度标准*) ELWIMAT GER 3000直线度(倾度计算法)直线度/对准(高度计算法)AKF46/40AKF140/40AKF300/65200-13 K46-4,8 K90-5 K200-13 K300-20 K自由度编号2 x Angle2 x Angle2 x Angle2 x Angle2 x Position;1 x Distance尺寸长度/m0 – 30 – 100 – 200,6 - 500,2 - 5**0,3 - 10**0,6 - 50**2 - 100**视场/mm***1...151...151...151…5010…20010…30010…80020…1000再现性R ****1.5 μm/m0.5 μm/m0.25 μm/m0.25 μm/m5 μm/m3 μm/m1.5 μm/m1 μm/m准确度、线性度 0,1 % of value + 2R 0,5 % of value + 2R焦距/mm461403002004690200300交流传感器重量/kg0,81,12,91,50,70,91,51,6交流传感器尺寸? 40 f8;107 x 62 x 110mm3? 65 f8? 40 f8? 40 f8;107 x 62 x 110mm3接口/原型USB 3.0、LAN、HDMI、RS232 / JSONUSB 3.0、LAN、HDMI、RS232/ JSON推荐反射器Magnetic mirror D50、Mirror D65D80Reflectors P-/ R-/ D-3000订购编号801 331801 333801 337802 335802 331802 332802 334802 335 交付范围交流传感器,11英寸触摸模块,软件ELWI-GER,电源,传感器电缆,遥控器选项:软件应用程序,USB零模型电缆脚踏开关,各种反射器,安装配件 *根据应用/要求配备相应的传感器/反射器***根据工作距离(测量长度)和反射器类型而定**取决于单反射镜或双反射* * * *取决于其他环境条件二, WECL100 无线式光电自准直仪 658nm (样机免费试用)(Wireless Electronic Autocollimator)光电自准直仪是一种测量反射镜片的微小转角的设备。通过不同的安装方法,可以对机 械部件和导轨的直线度、垂直度、平行度、平面度、转角等进行高精度测量。 瑞荧仪器的 WECL100 光电自准直仪采用了全新的设计理念,尺寸小巧,极具性价比。 采用了内置电池和无线连接方案,一方面可避免线缆应力对测量的干扰,另一方面方便 用户在调装过程中,随时通过手机或平板电脑读取结果。WECL100 无线式光电自准直仪 658nm (样机免费试用),WECL100 无线式光电自准直仪 658nm (样机免费试用)通用参数工作距离0-10米通光口径22mm波长658nm激光等级Class 2R分辨率0.1 urad重复性1 urad示值漂移1 urad(25°℃,2h)量程(x,y轴)-3500~+3500 urad示值误差任意300 urad内:5 urad任意3000 urad内:15 urad准确度土5 urad(-1500~+1500 urad)±15 urad (-3500~+3500 urad)标准JJG 202-2007光电自准直仪3级采样速率10 Hz充电电压5v电池工作时间5hours通讯方式WIFI客户端Windows/Android工作温度15~ 40 ℃模拟输出0~2.5V双通道尺寸51x310mm重量1250g自准直仪,是一种利用光的自准直原理将角度测量转换为线性测量的一种计量仪器。它广泛用于小角度测量、平板的平面度测量、导轨的平直度与平行度测量等方面。它是一种利用光的自准直原理测量平直度的仪器。当狭缝光源位于物镜的焦平面上时,光线将通过物镜折射为平行光束,再经由一垂直于光轴的平面反射镜将光束循原路反射回来。若是平面反射镜有偏斜,则放射光束聚焦后成的像,将偏离狭缝光源的原始位置。通过目镜读数,可测出反射镜对光轴垂直面的微小倾角。其内部结构如下图所示:自准直仪内部结构图。三, 激光分析自准直仪 350-1600nmDUMA光电激光分析自准直仪利用最新的成像技术为我们提供集聚焦自准直仪和光束轮廓仪于一体的专用仪器。自准直仪将准直仪和光束轮廓仪的功能组合在一个单元中。我们的精密激光器分析自准直仪(LAAC)将自准直仪的功能与激光束轮廓相结合产生入射激光束的精确角度定向及其发散角的测量。为了增加功能性,该系统在滑动尺上内置5xND(ND2, ND64,ND200, ND1000, ND100000)过滤器,显著增加了系统的动态范围。过滤器覆盖VIS范围,用于633nm波长的激光器。我们的精密LAAC具有内置调整功能,例如:快速对准激光,调整云台旋钮以及启用非常的增强校准程序。自准直仪应用是测量反射镜相对于自准直仪光轴的角度激光分析自准直仪 350-1600nm,激光分析自准直仪 350-1600nm产品特点用于检测和测量小角度偏差0.01秒分辨率动态范围大内置激光器用于粗对准功能齐全的软件套件允许您记录和记录您的测量结果通过USB端口连接到计算机精心设计的全合一装置产品应用LAAC的应用主要涉及到小角度信号的检测和测量位移。例如:入射激光束的测量。镜面角度的测量。相对于激光方向的机械轴测量。激光束轮廓和发散角的测量。直线工作台的直线度测量。旋转阶段的表征。楔角、棱镜角和多边形角的测量。反射面平行度的测量。表面平整度的测量。光学装置的校准。机器校准。CD/DVD ROM对齐。热稳定性测量。振动分析。瞄准孔瞄准技术参数参数技术规格激光器类型连续或脉冲响应波长350 – 1600 nm (在望远镜模式下)增益控制1 – 24 dB快门速度39 µ sec to 20 secFoV自准直仪±25’ (V) x ±40’ (H)FoV望远镜和光束轮廓仪±50’ (V) x ±1°20’ (H)通光孔径36 mm分辨率0.01 sec精确度1.0 sec相机(宽光谱范围)2.4 MegaPixels, 12 bit光源LED-650, optional: 1060nm.Special order 1310/1600 nm用于校准的回复反射器Ø 64mm N.W 280g Thread Ø 16mm ,5°光束发散测量低至 0.2 mRad 或更高视线保持与聚焦功能成正比±2.5 sec最小聚焦距离小于30cm内置粗瞄准激光指针638nm power 1.0mW Class 2 laser product,IEC60825-1同步软件、硬件(外部触发信号*)接口USB3.0曝光控制通过GUI编程外壳尺寸(长x宽x高),单位:mm230 x 135 x 160电源~2.5瓦(通过USB 3.0接口)重量(典型)2.5kg,含电缆四,DUMA激光自准直仪,LOD-PRO-20: 横向偏移装置Pro版业界最通用的钻孔瞄准装置。利用相对旋转潜望镜消除光学视差距离。将视线之间平行度保持在10秒弧以上。基于超稳定单片设计。DUMA激光自准直仪,LOD-PRO-20: 横向偏移装置Pro版,DUMA激光自准直仪,LOD-PRO-20: 横向偏移装置Pro版产品应用&bull 瞄准孔位于瞄准器和激光设备之间&bull 检查直线导轨的平行度&bull 检查旋转滚筒的平行度&bull 调整折叠激光共振腔技术参数参数值视差消除距离高达0.5 米 最大值:中心到中心的距离– 200 mm通光孔径标准 – 38 mm, 镜面尺寸 – 42 mm平行度最大偏差10 弧秒技术整体式潜望镜设计波长从深紫外(UV)到远红外( FIR)潜望镜的旋转角度360°折叠式潜望镜,不带底座275 mm折叠式潜望镜,带底座370 mm
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  • 【资料】激光测距的测量原理

    1.利用红外线测距或激光测距的原理是什么? 测距原理基本可以归结为测量光往返目标所需要时间,然后通过光速c = 299792458m/s 和大气折射系数 n 计算出距离D。由于直接测量时间比较困难,通常是测定连续波的相位,称为测相式测距仪。当然,也有脉冲式测距仪,典型的是WILD的DI-3000需要注意,测相并不是测量红外或者激光的相位,而是测量调制在红外或者激光上面的信号相位。建筑行业有一种手持式的测距仪,用于房屋测量,其工作原理与此相同。2.被测物体平面必须与光线垂直么? 通常精密测距需要全反射棱镜配合,而房屋量测用的测距仪,直接以光滑的墙面反射测量,主要是因为距离比较近,光反射回来的信号强度够大。与此可以知道,一定要垂直,否则返回信号过于微弱将无法得到精确距离。3.若被测物体平面为漫反射是否可以? 通常也是可以的,实际工程中会采用薄塑料板作为反射面以解决漫反射严重的问题。4.超声波测距精度比较低,现在很少使用。

  • 【资料】激光原理及其应用

    激光是二十世纪六十年代出现的一种新型光源——激光器发出的光。激光一词的本意是受激辐射放大的光。1960年美国休斯研究实验室的梅曼制成了第一台红宝石激光器,1961年9月中国科学院长春光学精密机械研究所制成了我国第一台激光器。此后,在激光器的研制、激光技术的应用以及激光理论方面都取得了巨大进展,并带动了一些新型学科的发展,如全息光学、傅立叶光学、非线性光学、光化学等,激光还与当今的重点产业——信息产业密切相关。与激光有关的诺贝尔物理学奖获得者有:1964年,美国汤斯、原苏联巴索夫和普洛霍罗夫因在激光理论上的贡献而获奖。1981年美国肖洛因发展激光光谱学及对激光应用作出的贡献、美国布隆伯根因开拓与激光密切相关的非线性光学共同获奖。1997年美国朱棣文、科恩和飞利浦因首创用激光束将原子冷却到极低温度的方法共同获奖。 激光原理一.物质与光相互作用的规律光与物质的相互作用,实质上是组成物质的微观粒子吸收或辐射光子,同时改变自身运动状况的表现。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/11/200611202115_32995_1634962_3.gif[/img]微观粒子都具有特定的一套能级(通常这些能级是分立的)。任一时刻粒子只能处在与某一能级相对应的状态(或者简单地表述为处在某一个能级上)。与光子相互作用时,粒子从一个能级跃迁到另一个能级,并相应地吸收或辐射光子。光子的能量值为此两能级的能量差△E,频率为=△E/h(h为普朗克常量)。1. 受激吸收(简称吸收)处于较低能级的粒子在受到外界的激发(即与其他的粒子发生了有能量交换的相互作用,如与光子发生非弹性碰撞),吸收了能量时,跃迁到与此能量相对应的较高能级。这种跃迁称为受激吸收。2. 自发辐射粒子受到激发而进入的高能态,不是粒子的稳定状态,如存在着可以接纳粒子的较低能级,既使没有外界作用,粒子也有一定的概率,自发地从高能级(E2)向低能级(E1)跃迁,同时辐射出能量为(E2-E1)的光子,光子频率 =(E2-E1)/h。这种辐射过程称为自发辐射。众多原子以自发辐射发出的光,不具有相位、偏振态、传播方向上的一致,是物理上所说的非相干光。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/11/200611202116_32996_1634962_3.gif[/img]3. 受激辐射、激光1917年爱因斯坦从理论上指出:除自发辐射外,处于高能级E2上的粒子还可以另一方式跃迁到较低能级。他指出当频率为=(E2-E1)/h的光子入射时,也会引发粒子以一定的概率,迅速地从能级E2跃迁到能级E1,同时辐射一个与外来光子频率、相位、偏振态以及传播方向都相同的光子,这个过程称为受激辐射。可以设想,如果大量原子处在高能级E2上,当有一个频率 =(E2-E1)/h的光子入射,从而激励E2上的原子产生受激辐射,得到两个特征完全相同的光子,这两个光子再激励E2能级上原子,又使其产生受激辐射,可得到四个特征相同的光子,这意味着原来的光信号被放大了。这种在受激辐射过程中产生并被放大的光就是激光。二.粒子数反转爱因斯坦1917提出受激辐射,激光器却在1960年问世,相隔43年,为什么?主要原因是,普通光源中粒子产生受激辐射的概率极小。当频率一定的光射入工作物质时,受激辐射和受激吸收两过程同时存在,受激辐射使光子数增加,受激吸收却使光子数减小。物质处于热平衡态时,粒子在各能级上的分布,遵循平衡态下粒子的统计分布律。按统计分布规律,处在较低能级E1的粒子数必大于处在较高能级E2的粒子数。这样光穿过工作物质时,光的能量只会减弱不会加强。要想使受激辐射占优势,必须使处在高能级E2的粒子数大于处在低能级E1的粒子数。这种分布正好与平衡态时的粒子分布相反,称为粒子数反转分布,简称粒子数反转。如何从技术上实现粒子数反转是产生激光的必要条件。理论研究表明,任何工作物质,在适当的激励条件下,可在粒子体系的特定高低能级间实现粒子数反转。

  • 激光粒度仪测量原理及应用选型

    [align=center][size=18px][b]激光粒度仪测量原理及应用选型[/b][/size][/align][align=center][size=14px]会议时间[/size][size=14px]:[/size][size=14px]2020年[/size][size=14px]5[/size][size=14px]月[/size][size=14px]21[/size][size=14px]日1[/size][size=14px]4[/size][size=14px]:00[/size][/align][size=16px][b]内容[/b][/size][size=16px][b]介绍:[/b][/size]主要内容:1.颗粒相关样品的多种特性及表征方法;2.激光粒度仪的测量原理;3.如何根据质控的需要选择合适的测量仪器、测试方法;4.激光粒度仪的新发展趋势。[size=16px][b]讲师[/b][/size][size=16px][b]介绍:[/b][/size][size=14px][b]沈兴志[/b][/size][size=14px][b]:[/b][/size][size=14px]于2004年毕业于武汉大学,珠海欧美克仪器有限公司销售应用经理,中国颗粒学会青年理事会理事,主要从事粒度仪和[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱仪[/color][/url]在多种不同领域的测试应用解决方案研究、培训推广等方面工作。协助粒度测试需求者开发和优化合适的粒度测试方法,使粒度测试结果更可靠,粒度仪能真正为客户所用,发挥其最佳的功能。为近红外化学成份的定性定量预测需求者提供技术支持和化学计量学支持工作[/size][size=14px]。[/size]报名地址:[url]https://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_13679.html[/url]

激光垂准仪工作原理相关的耗材

  • 激光分析自准直仪 350-1600nm
    总览DUMA光电激光分析自准直仪利用最新的成像技术为我们提供集聚焦自准直仪和光束轮廓仪于一体的专用仪器。自准直仪将准直仪和光束轮廓仪的功能组合在一个单元中。我们的精密激光器分析自准直仪(LAAC)将自准直仪的功能与激光束轮廓相结合产生入射激光束的精确角度定向及其发散角的测量。为了增加功能性,该系统在滑动尺上内置5xND(ND2, ND64,ND200, ND1000, ND100000)过滤器,显著增加了系统的动态范围。过滤器覆盖VIS范围,用于633nm波长的激光器。我们的精密LAAC具有内置调整功能,例如:快速对准激光,调整云台旋钮以及启用前所未有的增强校准程序。自准直仪应用是测量反射镜相对于自准直仪光轴的角度技术参数产品特点用于检测和测量小角度偏差0.01秒分辨率动态范围大内置激光器用于粗对准功能齐全的软件套件允许您记录和记录您的测量结果通过USB端口连接到计算机精心设计的全合一装置产品应用LAAC的应用主要涉及到小角度信号的检测和测量位移。例如:入射激光束的测量。镜面角度的测量。相对于激光方向的机械轴测量。激光束轮廓和发散角的测量。直线工作台的直线度测量。旋转阶段的表征。楔角、棱镜角和多边形角的测量。反射面平行度的测量。表面平整度的测量。光学装置的校准。机器校准。CD/DVD ROM对齐。热稳定性测量。振动分析。瞄准孔瞄准技术参数参数技术规格激光器类型连续或脉冲响应波长350 – 1600 nm (在望远镜模式下)增益控制1 – 24 dB快门速度39 µsec to 20 secFoV自准直仪±25’ (V) x ±40’ (H)FoV望远镜和光束轮廓仪±50’ (V) x ±1°20’ (H)通光孔径36 mm分辨率0.01 sec精确度1.0 sec相机(宽光谱范围)2.4 MegaPixels, 12 bit光源LED-650, optional: 1060nm.Special order 1310/1600 nm用于校准的回复反射器Ø64mm N.W 280g Thread Ø16mm ,5°光束发散测量低至 0.2 mRad 或更高视线保持与聚焦功能成正比±2.5 sec最小聚焦距离小于30cm内置粗瞄准激光指针638nm power 1.0mW Class 2 laser product,IEC60825-1同步软件、硬件(外部触发信号*)接口USB3.0曝光控制通过GUI编程外壳尺寸(长x宽x高),单位:mm230 x 135 x 160电源~2.5瓦(通过USB 3.0接口)重量(典型)2.5kg,含电缆结构图示:
  • LMP激光雨滴谱仪
    LMP激光雨滴谱仪可以用来测量降雨和降雪。不仅对降雨降雪过程进行监测而且对降雨降雪的特性可以进行详细分析。可以监测区分下落中的毛毛雨、大雨、冰雹、雪花、雪球以及各种介于雪花和冰雹之间的降水。可以计算各种降雨类型的强度、总量、能见度,所有的数据都以RS485协议传输,再通过协议转换器转接到其它设备。LMP激光雨滴谱仪广泛应用于交通控制、气象监测与服务、科学研究、机场观测、公路气象监测、水文地理学、气象雷达数据校正等应用领域。LMP激光雨滴谱仪几乎不需要保养,它的光学配件性能优越,可以工作在各种恶劣的环境中。激光发射器可以保证长时间的正常使用。特殊的工艺设计排除了外在光源对测定的影响,通过多方面的精心设计对环境的温度和尘土对测定带来的误差作了可靠的补偿。系统具有额外接口,还可以连接风速传感器、风向传感器、温湿度传感器等,所有的数据可通过激光雨滴谱仪的数据接口一起输出。测量原理:应用激光原理对高速运动物体进行测定。可测定运动物体的总量,大小,强度,和运动速度。它的优越性能尤其表现在对微小物体的测定,测定对象最小直径达到0.16mm。技术参数LMP激光雨滴谱仪技术参数主要输出数据降雨量,降雨速度,降雨粒径大小,降雨强度,降雨等级(synop/r),雷达校正(z/rratio),能见度(mor)可选输出数据风速,风向,空气温度,相对湿度(需单独订购传感器)操作原理785nm激光,最大0.5mw,激光等级1m测定区域46cm2(23x2.0cm)操作环境-40~+70度;0~100%相对湿度防护等级IP65供电24vac/dc/750ma,或230vac(可选12vdc)外箱不锈钢制,270x170x540mm重量4.8kg数据输出RS485双路输出1200~115200波特率,全双工/半双工粒子速度范围0.2~20m/s粒子等级440种(22种直径x20种速度)降雨降雪等级区分度97%最小强度0.005mm/h毛毛雨最大强度250mm/h雨中能见度0~99999m雷达反射率-9.9~99.9dbz产地:中国
  • WECL100 无线式光电自准直仪 658nm (样机免费试用)
    (Wireless Electronic Autocollimator)光电自准直仪是一种测量反射镜片的微小转角的设备。通过不同的安装方法,可以对机 械部件和导轨的直线度、垂直度、平行度、平面度、转角等进行高精度测量。 瑞荧仪器的 WECL100 光电自准直仪采用了全新的设计理念,尺寸小巧,极具性价比。 采用了内置电池和无线连接方案,一方面可避免线缆应力对测量的干扰,另一方面方便 用户在调装过程中,随时通过手机或平板电脑读取结果。技术参数工作距离0-10米通光口径22mm波长658nm激光等级Class 2R分辨率0.1 urad重复性1 urad示值漂移1 urad(25°℃,2h)量程(x,y轴)-3500~+3500 urad示值误差任意300 urad内:5 urad任意3000 urad内:15 urad准确度土5 urad(-1500~+1500 urad)±15 urad (-3500~+3500 urad)标准JJG 202-2007光电自准直仪3级采样速率10 Hz充电电压5v电池工作时间5hours通讯方式WIFI客户端Windows/Android工作温度15~ 40 ℃模拟输出0~2.5V双通道尺寸51x310mm重量1250g自准直仪,是一种利用光的自准直原理将角度测量转换为线性测量的一种计量仪器。它广泛用于小角度测量、平板的平面度测量、导轨的平直度与平行度测量等方面。它是一种利用光的自准直原理测量平直度的仪器。当狭缝光源位于物镜的焦平面上时,光线将通过物镜折射为平行光束,再经由一垂直于光轴的平面反射镜将光束循原路反射回来。若是平面反射镜有偏斜,则放射光束聚焦后成的像,将偏离狭缝光源的原始位置。通过目镜读数,可测出反射镜对光轴垂直面的微小倾角。其内部结构如下图所示:自准直仪内部结构图。图中激光光源自2处狭缝释放,经3处分光棱镜反射后,通过1处透镜得到准直光输出。准直输出光被远处的反射镜反射回系统内部,并在CCD上成像。如果反射镜完全垂直光束,CCD上的成像点将会出现在正中央,表明反射镜相对光束的角度正好为90°,如果CCD上的成像点有一些偏离,表明反射镜相对光束的角度距离完全90°有一点偏差。筱晓光子的这款光电自准直仪采用了全新的设计理念,尺寸小巧,极具性价比。它采用了内置电池和无线连接方案,一方面可避免线缆应力对测量的干扰,另一方面方便用户在调装过程中,随时通过手机或平板电脑读取结果。

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  • 从纳米粒度仪、激光粒度仪原理看如何选择粒度测试方法
    1. 什么是光散射现象?光线通过不均一环境时,发生的部分光线改变了传播方向的现象被称作光散射,这部分改变了传播方向的光称作散射光。宏观上,从阳光被大气中空气分子和液滴散射而来的蓝天和红霞到被水分子散射的蔚蓝色海洋,光散射现象本质都是光与物质的相互作用。2. 颗粒与光的相互作用微观上,当一束光照在颗粒上,除部分光发生了散射,还有部分发生了反射、折射和吸收,对于少数特别的物质还可能产生荧光、磷光等。当入射光为具有相干性的单色光时,这些散射光相干后形成了特定的衍射图样,米氏散射理论是对此现象的科学表述。如果颗粒是球形,在入射光垂直的平面上观察到称为艾里斑的衍射图样。颗粒散射激光形成艾里斑3. 激光粒度仪原理-光散射的空间分布探测分析艾里斑与光能分布曲线当我们观察不同尺寸的颗粒形成的艾里斑时,会发现颗粒的尺寸大小与中间的明亮区域大小一般成反相关。现代的激光粒度仪设计中,通过在垂直入射光的平面距中心点不同角度处依次放置光电检测器进行粒子在空间中的光能分布进行探测,将采集到的光能通过相关米氏散射理论反演计算,就可以得出待分析颗粒的尺寸了。这种以空间角度光能分布的测量分析样品颗粒分散粒径的仪器即是静态光散射激光粒度仪,由于测试范围宽、测试简便、数据重现性好等优点,该方法仪器使用最广泛,通常被简称为激光粒度仪。根据激光波长(可见光激光波长在几百纳米)和颗粒尺寸的关系有以下三种情况:a) 当颗粒尺寸远大于激光波长时,艾里斑中心尺寸与颗粒尺寸的关系符合米氏散射理论在此种情况下的近似解,即夫琅和费衍射理论,老式激光粒度仪亦可以通过夫琅和费衍射理论快速准确地计算粒径分布。b) 当颗粒尺寸与激光波长接近时,颗粒的折射、透射和反射光线会较明显地与散射光线叠加,可能表现出艾里斑的反常规变化,此时的散射光能分布符合考虑到这些影响的米氏散射理论规则。通过准确的设定被检测颗粒的折射率和吸收率参数,由米氏散射理论对空间光能分布进行反演计算即可得出准确的粒径分布。c) 当颗粒尺寸远小于激光波长时,颗粒散射光在空间中的分布呈接近均匀的状态(称作瑞利散射),且随粒径变化不明显,使得传统的空间角度分布测量的激光粒度仪不再适用。总的来说,激光粒度仪一般最适于亚微米至毫米级颗粒的分析。静态光散射原理Topsizer Plus激光粒度分析仪Topsizer Plus激光粒度仪的测试范围达0.01-3600μm,根据所搭配附件的不同,既可测量在液体中分散的样品,也可测量须在气体中分散的粉体材料。4. 纳米粒度仪原理-光散射的时域涨落探测(动态光散射)分析 对于小于激光波长的悬浮体系纳米颗粒的测量,一般通过对一定区域中测量纳米颗粒的不定向地布朗运动速率来表征,动态光散射技术被用于此时的布朗运动速率评价,即通过散射光能涨落快慢的测量来计算。颗粒越小,颗粒在介质中的布朗运动速率越快,仪器监测的小区域中颗粒散射光光强的涨落变化也越快。然而,当颗粒大至微米极后,颗粒的布朗运动速率显著降低,同时重力导致的颗粒沉降和容器中介质的紊流导致的颗粒对流运动等均变得无法忽视,限制了该粒径测试方法的上限。基于以上原因,动态光散射的纳米粒度仪适宜测试零点几个纳米至几个微米的颗粒。5.Zeta电位仪原理-电泳中颗粒光散射的相位探测分析纳米颗粒大多有较活泼的电化学特性,纳米颗粒在介质中滑动平面所带的电位被称为Zeta电位。当在样品上加载电场后,带电颗粒被驱动做定向地电泳运动,运动速度与其Zeta电位的高低和正负有关。与测量布朗运动类似,纳米粒度仪可以测量电场中带电颗粒的电泳运动速度表征颗粒的带电特性。通常Zeta电位的绝对值越高,体系内颗粒互相排斥,更倾向与稳定的分散。由于大颗粒带电更多,电泳光散射方法适合测量2nm-100um范围内的颗粒Zeta电位。NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一个紧凑型装置仪器中集成了三种技术进行液相环境颗粒表征,包括:利用动态光散射测量纳米粒径,利用电泳光散射测量Zeta电位,利用静态光散射测量分子量。6. 如何根据应用需求选择合适的仪器为了区分两种光散射粒度仪,激光粒度仪有时候又被称作静态光散射粒度仪,而纳米粒度仪有时候也被称作动态光散射粒度仪。需要说明的是,由于这两类粒度仪测量的是颗粒的散射光,而非对颗粒成像。如果多个颗粒互相沾粘在一起通过检测区间时,会被当作一个更大的颗粒看待。因此这两种光散射粒度仪分析结果都反映的是颗粒的分散粒径,即当颗粒不完全分散于水、有机介质或空气中而形成团聚、粘连、絮凝体时,它们测量的结果是不完全分散的聚集颗粒的粒径。综上所述,在选购粒度分析仪时,基于测量的原理宜根据以下要点进行取舍:a) 样品的整体颗粒尺寸。根据具体质量分析需要选择对所测量尺寸变化更灵敏的技术。通常情况下,激光粒度仪适宜亚微米到几个毫米范围内的粒径分析;纳米粒度仪适宜全纳米亚微米尺寸的粒径分析,这两种技术测试能力在亚微米附近有所重叠。颗粒的尺寸动态光散射NS-90Z纳米粒度仪测试胶体金颗粒直径,Z-average 34.15nmb) 样品的颗粒离散程度。一般情况下两种仪器对于单分散和窄分布的颗粒粒径测试都是可以轻易满足的。对于颗粒分布较宽,即离散度高/颗粒中大小尺寸粒子差异较大的样品,可以根据质量评价的需求选择合适的仪器,例如要对纳米钙的分散性能进行评价,关注其微米级团聚颗粒的含量与纳米颗粒的含量比例,有些工艺不良的情况下团聚的颗粒可能达到十微米的量级,激光粒度仪对这部分尺寸和含量的评价真实性更高一些。如果需要对纳米钙的沉淀工艺进行优化,则需要关注的是未团聚前的一般为几十纳米的原生颗粒,可以通过将团聚大颗粒过滤或离心沉淀后,用纳米粒度仪测试,结果可能具有更好的指导性,当然条件允许的情况下也可以选用沉淀浆料直接测量分析。有些时候样品中有少量几微米的大颗粒,如果只是定性判断,纳米粒度仪对这部分颗粒产生的光能更敏感,如果需要定量分析,则激光粒度仪的真实性更高。对于跨越纳米和微米的样品,我们经常需要合适的进行样品前处理,根据质量目标选用最佳质控性能的仪器。颗粒的离散程度静态光散射法Topsizer激光粒度仪测试两个不同配方工艺的疫苗制剂动态光散射NS-90Z纳米粒度仪测试疫苗制剂直径激光粒度仪测试结果和下图和纳米粒度仪的结果是来自同一个样品,从分布图和数据重现程度上看,1um以下,纳米粒度仪分辨能力优于激光粒度仪;1um以上颗粒的量的测试,激光粒度仪测试重现性优于纳米粒度仪;同时对于这样的少量较大颗粒,动态光散射纳米粒度仪在技术上更敏感(测试的光能数据百分比更高)。在此案例的测试仪器选择时,最好根据质控目标来进行,例如需要控制制剂中大颗粒含量批次之间的一致性可以选用激光粒度仪;如果是控制制剂纳米颗粒的尺寸,或要优化工艺避免微米极颗粒的存在,则选用动态光散射纳米粒度仪更适合。c) 测试样品的状态。激光粒度仪适合粉末、乳液、浆料、雾滴、气溶胶等多种颗粒的测试,纳米粒度仪适宜胶体、乳液、蛋白/核酸/聚合物大分子等液相样品的测试。通常激光粒度仪在样品浓度较低的状态下测试,对于颗粒物含量较高的样品及粉末,需要在测试介质中稀释并分散后测试。对于在低浓度下容易团聚或凝集的样品,通常使用内置或外置超声辅助将颗粒分散,分散剂和稳定剂的使用往往能帮助我们更好的分离松散团聚的颗粒并避免颗粒再次团聚。纳米粒度仪允许的样品浓度范围相对比较广,多数样品皆可在原生状态下测试。对于稀释可能产生不稳定的样品,如果测试尺寸在两者都许可的范围内,优先推荐使用纳米粒度仪,通常他的测试许可浓度范围更广得多。如果颗粒测试不稳定,通常需要根据颗粒在介质体系的状况,例如是否微溶,是否亲和,静电力相互作用等,进行测试方法的开发,例如,通过在介质中加入一定的助剂/分散剂/稳定剂或改变介质的类别或采用饱和溶液加样法等,使得颗粒不易发生聚集且保持稳定,大多数情况下也是可以准确评价样品粒径信息的。当然,在对颗粒进行分散的同时,宜根据质量分析的目的进行恰当的分散,过度的分散有时候可能会得到更小的直径或更好重现性的数据,但不一定能很好地指导产品质量。例如对脂质体的样品,超声可能破坏颗粒结构,使得粒径测试结果失去质控意义。d) 制剂稳定性相关的表征。颗粒制剂的稳定性与颗粒的尺寸、表面电位、空间位阻、介质体系等有关。一般来说,颗粒分散粒径越细越不容易沉降,因此颗粒间的相互作用和团聚特性是对制剂稳定性考察的重要一环。当颗粒体系不稳定时,则需要选用颗粒聚集/分散状态粒径测量相适宜的仪器。此外,选用带电位测量的纳米粒度仪可以分析从几个纳米到100um的颗粒的表面Zeta电位,是评估颗粒体系的稳定性及优化制剂配方、pH值等工艺条件的有力工具。颗粒的分散状态e) 颗粒的综合表征。颗粒的理化性质与多种因素有关,任何表征方法都是对颗粒的某一方面的特性进行的测试分析,要准确且更系统地把控颗粒产品的应用质量,可以将多种分析方法的结果进行综合分析,也可以辅助解答某一方法在测试中出现的一些不确定疑问。例如结合图像仪了解激光粒度仪测试时样品分散是否充分,结合粒径、电位、第二维利系数等的分析综合判断蛋白制剂不稳定的可能原因等。
  • 张福根专栏|激光粒度仪应用导论之原理篇
    p style="text-indent: 2em "strong编者按:/strong如今激光粒度的应用越来越广泛,技术和市场屡有更迭,潮起潮落,物换星移,该如何全方位掌握激光粒度仪的技术和应用发展,如何更好地让激光粒度仪成为我们科研、检测工作中的好战友呢?仪器信息网有幸邀请在中国颗粒学会前理事长,真理光学首席科学家,从事激光粒度仪的研究和开发工作近30年的张福根博士亲自执笔开设专栏,以渊博而丰厚的系列文章,带读者走进激光粒度仪的今时今日。/pp style="text-indent: 2em text-align: center "strong激光粒度仪应用导论之原理篇/strong/pp style="text-indent: 2em "当前,激光粒度仪在颗粒表征中的应用已经非常广泛。测量对象涵盖三种形态的颗粒体系:固体粉末、悬浮液(包括固液、气液和液液等各类二相流体)以及液体雾滴。应用领域则包含了学术研究机构,技术开发部门和生产监控部门。第一台商品化仪器诞生至今已经50年,作者从事该方向的研究和开发也将近30年。尽管如此,由于被测对象——颗粒体系比较抽象,加上激光粒度仪从原理到技术都比较复杂,且自身还存在一些有待完善的问题,作者在为用户服务的过程中,感觉到对激光粒度仪的科学和技术问题作一个既通俗但又不失专业性的介绍,能够帮助读者更好地了解、选择和使用该产品。本系列文章的定位是通俗性的。但为了让部分希望对该技术有深入了解的读者获得更多、更深的有关知识,作者在本文的适当位置增加了“进阶知识”。只想通俗了解激光粒度仪的读者,可以略过这些内容。/pp style="text-indent: 2em "首先应当声明,这里所讲的激光粒度仪是指基于静态光散射原理的粒度测试设备。当前还有一种也是基于光散射原理的粒度仪,并且也是以激光为照明光源,但是称为动态光散射(Dynamic light scattering,简称DLS)粒度仪。前者是根据不同大小的颗粒产生的散射光的空间分布(认为这一分布不随时间变化)来计算颗粒大小,而后者是在一个固定的散射角上测量散射光随时间的变化规律来分析颗粒大小;前者适用于大约0.1微米以粗至数千微米颗粒的测量,而后者适用于1微米以细至1纳米(千分之一微米)颗粒的测量。激光粒度仪在英文中又称为基于激光衍射方法(Laser diffraction method)的粒度分析技术。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 176, 240) "【进阶知识1】严格地说,把激光粒度仪的原理说成是“衍射方法”是不准确,甚至带有误导性的。从物理上说,光的衍射和散射是有所区别的。“光的衍射”学说源自光的波动性已经被实验所证实,但是还没从理论上认识到光是一种电磁波这一时期,大约是19世纪上半叶。在更早的时候,人们认为光的行进路线是直线,就像一个不受外力作用的粒子作匀速直线运动那样。这一说法历史上被称为“光的粒子说”。后来人们发现光具有波动形。那个时候人们所知道的波只有水波,所以“衍”字是带水的。“光的衍射”描述的是光波在传播过程中遇到障碍物时,会改变原来的传播方向绕到障碍物后面的现象,故衍射又称做“绕射”。描述衍射现象的理论称为衍射理论。衍射理论在远场(即在远离障碍物的位置观察衍射)的近似表达称为“夫朗和费衍射(Fraunhofer diffraction)”。衍射理论不考虑光场与物质(障碍物)之间的相互作用,只是对这一现象的维像描述,所以是一种近似理论。它只适用于障碍物(“颗粒”就是一种障碍物)远大于光的波长(激光粒度仪所用的光源大多是红光,波长范围0.6至0.7微米),并且散射角的测量范围小于5° 的情形。/span/pp style="text-indent: 2em "麦克斯韦(Maxwell)在19世纪70年代提出电磁波理论后,发现光也是一种电磁波。光的衍射现象本质上是电磁场和障碍物的相互作用引起的。衍射理论是电磁波理论的近似表达。严谨的电磁波理论认为,光在行进中遇到障碍物,与之相互作用而改变了原来的行进方向。一般把这种现象称作光的散射。用电磁波理论能够描述任意大小的物体对光的散射,并且散射光的方向也是任意的。不论是早期还是现在,用激光粒度仪测量颗粒大小时,都假设颗粒是圆球形的。如果再假设颗粒是均匀、各向同性的,那么就能用严格的电磁波理论推导出散射光场的严格解析解(称为“米氏(Mie)散射理论”)。/pp style="text-indent: 2em "现在市面上的激光粒度仪绝大多数都采用Mie散射理论作为物理基础,因此把现在的激光粒度仪所用的物理原理说成是衍射方法是不准确的,甚至会被误认为是早期的建立在衍射理论基础上的仪器。/pp style="text-indent: 2em "世界上第一台商品化激光粒度仪是1968年设计出来的。尽管当时Mie理论已经被提出,但是受限于当时计算机的计算能力,还难以用它快速计算各种粒径颗粒的散射光场的数值。所以当时的激光粒度仪都是用Fraunhofer衍射理论计算散射光场,这也是这种原理被说成激光衍射法的缘由。这种称呼一直延用到现在。不过现在国际上用“光散射方法”这个词的已经逐渐多了起来。/pp style="text-indent: 0em text-align: center "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/d07b19f0-4c57-4748-9d53-229c65c56d4e.jpg" title="图1:颗粒光散射示意图.jpg"//ppbr//pp style="text-indent: 0em text-align: center "颗粒光散射示意图/pp style="text-indent: 2em "激光粒度仪是基于这样一种现象:当一束单色的平行光(激光束)照射到一个微小的球形颗粒上时,会产生一个光斑。这个光斑是由一个位于中心的亮斑和围绕亮斑的一系列同心亮环组成的。这样的光斑被称为“爱里斑(Airy disk)”,而中心亮斑的尺寸是用亮斑的中心到第一个暗环(最暗点)的距离计算的,又称为爱里斑的半径。爱里斑的大小和光强度的分布随着颗粒尺寸的变化而变化。一种传统并被业界公认的说法是:颗粒越小,爱里斑越大。因此我们可以根据爱里斑的光强分布确定颗粒的尺寸。当然,在实际操作中,往往有成千上万个颗粒同时处在照明光束中。这时我们测到的散射光场是众多颗粒的散射光相干叠加的结果。/pp style="text-indent: 2em "strong 编者结:/strong明了内功心法,下一步自然会渴望于掌握武功招式。本文深入浅出地介绍激光粒度仪的原理,激光粒度仪的结构自然是读者们亟待汲取的“武功招式”。欲得真经,敬请期待张福根博士系列专栏——激光粒度仪应用导论之结构篇。/pp style="text-indent: 0em text-align: right "(作者:张福根)/p
  • 激光粒度原理及应用
    p  粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。/pp  激光粒度仪是通过激光散射的方法来测量悬浮液,乳液和粉末样品颗粒分布的多用途仪器。具有测试范围宽、测试速度快、结果准确可靠、重复性好、操作简便等突出特点,是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的新一代粒度测试仪器。/pp  strong激光粒度仪的光学结构/strong/pp  激光粒度仪的光路由发射、接受和测量窗口等三部分组成。发射部分由光源和光束处理器件组成,主要是为仪器提供单色的平行光作为照明光。接收器是仪器光学结构的关键。测量窗口主要是让被测样品在完全分散的悬浮状态下通过测量区,以便仪器获得样品的粒度信息。/pp  strong激光粒度仪的原理/strong/pp  激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和极强的方向性,所以在没有阻碍的无限空间中激光将会照射到无穷远的地方,并且在传播过程中很少有发散的现象。/pp  米氏散射理论表明,当光束遇到颗粒阻挡时,一部分光将发生散射现象,散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ,θ角的大小与颗粒的大小有关,颗粒越大,产生的散射光的θ角就越小 颗粒越小,产生的散射光的θ角就越大。即小角度(θ)的散射光是有大颗粒引起的 大角度(θ1)的散射光是由小颗粒引起的。进一步研究表明,散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。这样,测量不同角度上的散射光的强度,就可以得到样品的粒度分布了。/pp  为了测量不同角度上的散射光的光强,需要运用光学手段对散射光进行处理。在光束中的适当的位置上放置一个富氏透镜,在该富氏透镜的后焦平面上放置一组多元光电探测器,不同角度的散射光通过富氏透镜照射到多元光电探测器上时,光信号将被转换成电信号并传输到电脑中,通过专用软件对这些信号进行数字信号处理,就会准确地得到粒度分布了。/pp  strong激光粒度仪测试对象/strong/pp  1.各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。/pp  2.各种金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。/pp  3.其它粉体:如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液。/pp  strong激光粒度仪的应用领域/strong/pp  1、高校材料/pp  2、化工等学院实验室/pp  3、大型企业实验室/pp  4、重点实验室/pp  5、研究机构/pp  文章来源:仪器论坛(http://bbs.instrument.com.cn/topic/5163115)/ppbr//p
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