多离子束显微镜

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多离子束显微镜相关的厂商

  • 400-860-5168转3750
    企业概况英国工业显微镜有限公司是一家专业从事开发和生产人机工学的体视显微镜和非接触式测量系统的制造厂商。自1958年创立以来,英国Vision已成为世界上最具有创新活力的显微镜制造厂商,其分支机构遍及欧亚及北美。 世界各地的工程人员和科学家广泛地使用着我们的产品系统来从事他们在工业领域以及生物工程的日常的放大、检测和测量应用。迄今为止,已在全球各地安装 超过30万套设备系统。 英国Vision主要的生产基地设立在英国伦顿南部的沃京。商业运行及生产装配部门也设立在附近的厂房。英国Vision的北美生产分部设立在美国康州丹堡丽市,并在美国东岸和西岸的独立机构进行直销和分销网络运作。 本公司分别在日本、中国、法国、德国、意大利、以及比利时-荷兰-卢森堡经济联盟等国家建立了多个分支机构,此外加上由120多个拥有库存并经过专业技术培训的分销代理商所组成的服务网络,在所有其它发达国家里为企业提供解决问题的应用方案。同时我们根据发展,不断地扩大新代理的加盟机会。 出口和分销渠道英国Vision的产品出口占总产值的80%%以上,所以我们认识健全分销渠道的重要性。在1991 年,英国Vision荣获出口成就的英女皇奖。公司获得的其他荣誉还包括:1997年度科技创新的威尔士亲王奖和 1974 年度技术成就的英女皇奖。**的光学技术 英国Vision所拥有的世界**光学技术改变了在传统双目显微镜上安装目镜的必要。这些技术来源于采用英国Vision的高能光学(Dynascope)装置、扩大光瞳和宽阔成像光学系统、以及先进的人-机工学所带来的舒适使用、光学的清晰度、和减轻眼部疲劳。这一系列的功能改善了客户的生产效益和产品质量。Vision 的 Mantis 体视观察器在各行业得以广泛采用的实例可说明无目镜光学技术的优势效益。 在1994 年推出的第一代Mantis体视观察器主要是填补台式放大镜与显微镜之间的空白。 从此Mantis 就成了所有体视观察器的首选,超过13 万套的Mantis设备已在全球安装使用。 英国Vision的新一代Mantis系列产品于2005年开始在各行业里使用,它秉承原型产品的实用价值,并融合人机工学以进一步优化Mantis的设计。 产品研发近年来,大量的研发投入已成为取得 成功的关键,它确保了新产品和现有产品的持续的发展,以不断满足科学界和制造领域的需求。英国Vision不断地以研发新产品和新技术在光学革新和技术前沿引领全球。
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  • 原FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam?FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用最广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。更多信息可在公司官网上找到:http://thermofisher.com/EM 或扫描二维码,关注我们的微信公众号
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  • 400-878-6829
    帕克(Park)公司的创始人是世界上第一台原子力显微镜发明组的一员,1986年研制了世界首台商用原子力显微镜,一直致力于原子力显微镜技术的开发与应用,帕克(Park)在原子力显微镜的发展过程中一直占有重要的一席之地。本公司作为纳米显微镜和计量技术领域的领导革新者,一直致力于新兴技术的开发。我们的总部遍及中国大陆,宝岛台湾,韩国,美国,日本,新加坡和德国等地,我们为研究领域和工业界提供世界上最精确,最高效的原子力显微镜。我们的团队正在坚持不懈的努力,力求满足全球科学家和工程师们的需求。随着全球显微镜市场的迅速增长,我们将持续创新,不断开发新的系统和功能,确保我们的产品始终得到最有效最快捷的使用!Park产品主要有以下特点: 1.非接触工作模式:全球唯一一家真实实现非接触式测量模式的原子力显微镜厂家,非接触模式使原子力针尖磨损大大降低,延长了探针寿命,提高了测量图像的重复性; 2.高端平板扫描器:所有产品型号均采用的高端平板扫描器,远远优于传统的管式扫描器 3.全球最高的测量精度:Z轴精度可达0.02nm; 4.智能扫描Smartscan:仪器操作极其简单,可实现自动扫描,对操作者无特殊要求,并且有中文操作界面; 5.简单的换针方式:换针非常方便,采用磁拖直接吸上即可,不需调整激光光斑; 6.Park拥有全球最广泛的工作模式:可用于光学,电学,热学,力学,磁学,电化学等方面的研究与测试。
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多离子束显微镜相关的仪器

  • 第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为高端冷冻透射电镜断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。专为冷冻电镜设计 Thermo Scientific™ Aquilos™ 2 冷冻聚焦离子束显微镜让用户可以控制样品厚度,将生长在电镜载网上的细胞样品进行原位(in situ)的冷冻减薄制备成冷冻超薄切片(cryo-lamellas)。Aquilos™ 2 冷冻聚焦离子束显微镜集成了一个可完全旋转的冷冻载物台以及保护冷冻水合样品免受冰污染的相关硬件设施,从而确保脆弱的生命科学冷冻样品始终保持在玻璃化的温度下。核心优势为使用 Autoloader 的透射电镜制备冷冻断层扫描专用的冷冻超薄切片。仓室内专用的硬件可确保最低程度的样品冰污染,损坏和相关精度的损失。制备没有切割伪影的更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品,以进行透射电镜断层成像。使用冷冻聚焦离子束减薄可以有效地避免伪影的产生,而使用冷冻超薄切片机制备冷冻超薄切片过程中会形成机械压缩,因而不可避免地会产生伪影。提高样品制备的精度。具有向导式用户软件和 Maps 软件,即使毫无经验的用户也能轻松地操作 Aquilos 2 冷冻聚焦离子束显微镜。将光学显微镜数据导入到 Maps 软件中,可以识别感兴趣区域的特征、瞄准目标并在不同成像方式之间进行关联。自动减薄和冷冻提取系统。具备最先进的自动化冷冻减薄软件,与冷冻提拉系统相配合可处理具有挑战性大块冷冻样品。通宵运行。更长的冷冻工作时间使系统能够通宵运行,以进一步实现冷冻超薄切片制备过程的自动化。
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  • Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片,同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比,Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统,Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜(如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade )直接联用,省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求,Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中,冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像,有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的,其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误,并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids,整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境,确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换,有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如,可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品,同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全,生物安全等级较高的实验室(如生物安全三级实验室)可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积,操作环境异常干净,最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品,进一步提升了设计带来的清洁度,确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格(TomoGrids 或 AutoGrids)的自动上下样,方便转移到冷冻透射电镜,同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后,选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况,等离子体源可实现高铣削速率,以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中,可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。
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  • 国仪量子双束显微镜DB500DB500拥有自主可控的场发射电子镜筒和“承影”离子镜筒,是一款优雅全能的纳米分析和制样工具。高压隧道技术(SuperTunnel)、低像差无漏磁物镜设计,低电压高分辨率成像,保证纳米分析能力。“承影”离子镜筒采用液态镓离子源,拥有高稳定、高质量的离子束流,保证纳米加工能力。集成式的纳米机械手、气体注入器、拥有24个扩展口,配置全面,自主可控,扩展性强,为您打造全能纳米分析和加工中心。产品优势高压隧道技术和无漏磁物镜的电子镜筒,高分辨率成像,兼容磁性样品“承影”离子镜筒,高稳定、高质量的离子束流,用于高质量纳米加工和TEM制样样品仓内压电陶瓷驱动的机械手,集成式控制方式,操作精准到位自主可控,扩展性强,集成化设计的离子源更换时间快,极致的售后服务,提供免费的三年质保无忧服务技术介绍离子镜筒"承影"技术特点分辨率:3 nm@30 kV探针电流:1 pA~50 nA加速电压范围:500 V~30 kV使用寿命:≥1000小时长时间稳定性:72小时不间断工作纳米机械手技术特点仓内安装方式三轴全压电驱动步进精度≤10nm最大移动速度2mm/s集成式控制方式气体注入器单气体注入多种气源可选伸缩距离≥35 mm重复定位精度≤10 um加热温度控制精度≤0.1℃加热温度范围:室温~90℃集成式控制方式离子束-电子束协同产品参数
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多离子束显微镜相关的资讯

  • 1310万!中山大学电子束离子束双束电子显微镜和多普勒干涉原子力显微镜采购项目
    项目编号:中大招(货)[2022]680号、中大招(货)[2022]689号项目名称:中山大学物理学院电子束离子束双束电子显微镜采购项目、中山大学物理学院多普勒干涉原子力显微镜采购项目预算金额:1310.0000000 万元(人民币)采购需求:1、招标采购项目内容及数量:电子束离子束双束电子显微镜,1台(本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标;本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件)。项目预算及经费来源:项目预算 7600000.00 元人民币。经费来源为财政性资金。2、招标采购项目内容及数量:多普勒干涉原子力显微镜,1套(本项目允许产自中华人民共和国关境外的进口货物投标;本项目不属于专门面向中小企业采购项目。本项目所属行业为工业。具体内容及要求详见公告附件招标文件)。项目预算及经费来源:项目预算 5500000.00 元人民币。经费来源为财政性资金。合同履行期限:收到发货通知后240日内完成交货及安装。本项目( 不接受 )联合体投标。中大招(货)[2022]680号_中山大学物理学院电子束离子束双束电子显微镜采购项目(正稿).pdf中大招(货)[2022]689号_中山大学物理学院多普勒干涉原子力显微镜采购项目(正稿).pdf
  • 日程公布!iCEM 2024之扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用专场预告
    2024年6月25-28日,仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与中国电子显微镜学会(对外)(www.china-em.cn)将联合主办“第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)”。会议结合目前电子显微学主要仪器技术及应用热点,邀请业界知名电子显微学专家、电子显微学仪器技术专家、电子显微学应用专家等,重点邀请近来有重要工作成果进展的优秀青年学者代表线上分享精彩报告。iCEM 2024恰逢电子显微学网络会议创立十周年,会议专场将增设“十周年”主题内容,围绕过去十年我国电子显微学重要进展、未来展望等进行分享。第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)将设置八个分会场:1) 原位/环境电子显微学与应用;2)先进电子显微学与应用;3)扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用;4)电子能量损失谱/电镜光谱分析技术;5)低温电子显微学与应用;6)生物医学电镜技术与应用;7)电镜实验操作技术及经验分享;8)电镜开放共享平台及自主保障体系建设。诚邀业界人士线上报名参会。主办单位:仪器信息网,中国电子显微镜学会(对外)参会方式:本次会议免费参会,参会报名请点击会议官网:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2024/或扫描二维码报名“扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用”专场预告(注:最终日程以会议官网为准)专场三:扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用(6月26日上午)专场主持暨召集人:王晋 浙江大学材料学院高温合金研究所 副研究员 报告时间报告题目演讲嘉宾8:30-9:00【十周年主题报告】:纳米分辨可视化方法在变形高温合金热制造中的应用研究王晋(浙江大学材料学院高温合金研究所 副研究员)9:00-9:30赛默飞双束电镜在生命科学研究的应用介绍及选型推荐程路(赛默飞世尔科技 电镜业务拓展经理)9:30-10:00钛合金双相组织变形机制的原位SEM/EBSD研究王柯(重庆大学 教授)10:00-10:30TESCAN 电镜在材料领域的最新应用李景(泰思肯(中国)有限公司 资深应用工程师)10:30-11:00新品发布:飞纳台式扫描电镜的技术突破及全新智能型离子研磨制样平台介绍张传杰(复纳科学仪器(上海)有限公司 产品、应用专家)11:00-11:30ECCI结合HR-EBSD研究增材制造金属结构材料变形机理及稳定性研究安大勇(上海交通大学 助理教授)11:30-12:00锂电池材料表界面改性与工况条件下失效机制的原位扫描电镜研究程晓鹏(北京工业大学 助理研究员)嘉宾简介及报告摘要(按分享顺序)专场主持暨召集人:王晋 浙江大学材料学院高温合金研究所 副研究员【个人简介】主要从事电子显微镜原位测试表征仪器的开发、高温合金材料微观结构与力学性能、变形断裂机理等研究,并致力于国内自主科学仪器的转化与应用。先后参与国家自然科学基金委科学仪器设备专项,科技部国家重大科学仪器设备开发专项,国家863计划重大项目,国家自然科学基金基础科学中心项目等。在国内外SCI期刊发表论文22余篇,授权国家专利20余项,完成发明专利职务科技成果转化3项。报告题目:纳米分辨可视化方法在变形高温合金热制造中的应用研究【摘要】热锻造、热处理是金属材料加工制造领域的传统基础工艺,但是由于金属材料加工工艺烦琐,精确过程控制难度大等问题,目前我国高端金属热加工工艺优化和过程精确控制的智能化基础理论与关键工艺技术研究开发显著落后。我国制造业面临严峻挑战,只有深入发展智能化设计和加工制造基础理论与关键工艺技术,并借力于自主开发新的热加工工艺设计与表征方法,才能更为高效、经济、全面的一体化研究该合金热锻造工艺-微观组织-锻造工艺性能之间关系,缩短合金性能优化研制时间,降低研发成本,提高生产合格率,解决热加工制造领域的共性难题。程路 赛默飞世尔科技 电镜业务拓展经理【个人简介】硕士毕业于北京科技大学之后进入电镜行业,曾多次前往日本、奥地利和德国学习电镜操作和电镜制样技术,从事电镜和电镜制样应用工程师工作超过15年时间,积累了丰富的电镜应用技术经验。2022年入职赛默飞生物电镜部门,现负责赛默飞双束电镜、常温透射电镜和扫描电镜在生物应用领域的售前技术支持和业务拓展。报告题目:赛默飞双束电镜在生命科学研究的应用介绍及选型推荐【摘要】双束电镜结合了聚焦离子束(FIB/PFIB)的精确样品修饰和扫描电镜(SEM)的高分辨率成像功能,广泛应用于获取生物样品的超微结构,包括拍摄常温2D图像、获取高分辨率体电子显微3D图像,和为CryoET制备Lamella等,其分析尺度范围可以从亚纳米级到毫米级。报告将从介绍多种类型的生物样品应用案例出发,结合丰富类型的赛默飞双束电镜,推荐对应的最适合型号。王柯 重庆大学 教授【个人简介】王柯,博士,重庆大学教授,博士生导师,长期从事钛合金热加工工艺与组织性能调控研究,重点关注钛合金高温变形和热处理一体化工艺设计、组织遗传性机制、组织性能关系、强韧性协同优化调控技术等。主讲课程包括:《材料力学性能》、《材料热力学与动力学》、《轻质耐高温航空结构材料:钛合金》等。主持国家自然科学基金面上/青年项目,重点研发计划项目子课题、企业横向等项目10余项,以第一/通讯作者发表学术论文 50 余篇,授权发明专利 6 项。参编《锻压手册》第四版高温合金部分。2022年获评重庆市创新创业导师。获陕西省自然科学一等奖1项。报告题目:钛合金双相组织变形机制的原位SEM/EBSD研究【摘要】对于大多数近α和α+β钛合金,滑移是主要的变形机制。本报告主要汇报内容包括:(1)α相和β相之间滑移启动的先后顺序;(2)微观组织对滑移启动和传递、以及裂纹形核的影响;(3)基于微观变形机制分析了组织对力学性能的影响机制;(4)基于组织性能关系研究,研制出一种多尺度组织,实现了钛合金强塑性协同提升。李景 泰思肯(中国)有限公司 应用工程师【个人简介】李景是TESCAN中国公司的高级应用工程师、首席应用专家,2015年毕业于北京科技大学材料科学与工程专业。她长期专注于扫描电镜在材料领域的研究,并且具有丰富的扫描电镜、FIB-SEM双束电镜及相关联用仪器(TOF-SIMS、Raman、EBL等)的操作与应用经验。李景在TESCAN公司中,不仅专注于技术研究,多年来持续参与各种学术交流和培训活动,包括但不限于客户研究项目技术支持、电镜会议分享、高级应用培训讲座等,获得客户的一致好评与感谢。报告题目:TESCAN 电镜在材料领域的最新应用【摘要】随着科研的深入及学科的交叉,常规扫描电镜系统无法满足科研工作者日益增高的分析需求。借助其它分析系统所得的数据,和电镜系统的数据往往非同时同位。TESCAN提出了All-In-One的综合解决方案,在常规的FIB-SEM系统上,增加Raman Spectrum Image以及TOF-SIMS和AFM等多种表征系统,可以极大的提升扫描电镜系统的原位综合分析能力,做到所见即所得。张传杰 复纳科学仪器(上海)有限公司 产品、应用专家【个人简介】飞纳电镜应用专家,长期从事扫描电镜应用拓展,自动化开发等相关工作,相关发明专利授权4篇,参与《2021年度国家药品标准制修订研究课题 2021Y05》,参会与起草《2025 中国药典 -- 扫描电子显微镜法通则》。报告题目:新品发布:飞纳台式扫描电镜的技术突破及全新智能型离子研磨制样平台介绍【摘要】飞纳电镜焕新赋能中国科研。全新发布台式场发射扫描透射一体机—Pharos STEM,扫透模式下分辨率突破 1 nm。 发布 Maps 3 全新软件平台,支持自动化多尺度成像及拼接,关联能谱分析及拼接以及尺度和多模态关联表征功能。发布 Phase Mapping 相分布软件。并将发布TechnoorgLinda 全新智能型离子研磨制样设备!敬请期待!安大勇 上海交通大学 助理教授【个人简介】安大勇,2019年毕业于德国亚琛工业大学/德国马普钢铁所,研究方向聚焦于金属结构材料微观变形机理研究。主持NSFC青年基金、重庆市自然基金等项目10余项,作为骨干参加173项目、国家重点研发计划项目、NSFC航空发动机重点项目、GF基础科研计划项目等7项,获第九届中国科协青年人才托举计划;揭示了增材制造奥氏体不锈钢胞状结构中周期性位错偶极子是其强韧性的关键因素,发现了位错类型决定胞状结构的热稳定性。提出了热力耦合渐进成形工艺,成功制备出晶粒-位错反向梯度高性能复杂薄壁构件,研究成果以第一和通讯作者在Int J Plast、 J Mater Sci Tech、 Mater Res Lett、Mater Charact、J Mater Proc Tech等期刊发表论文10篇,应邀撰写MRS Bulletin综述1篇,发明专利受理10项;报告题目:ECCI结合HR-EBSD研究增材制造金属结构材料变形机理及稳定性研究【摘要】金属增材制造奥氏体不锈钢中常具有亚微米级的胞状结构,该结构中包含高密度位错胞、纳米析出相和元素偏析等,显著影响着材料的机械性能。研究发现,不同胞状结构中的位错的热稳定性不同。本论文利用先进表征技术,对激光粉床熔融技术打印的奥氏体不锈钢胞状结构热稳定性进行了系统性研究,并揭示影响热稳定性的内在机理。程晓鹏 北京工业大学 助理研究员【个人简介】程晓鹏,北京工业大学助理研究员,硕士生导师。2021年博士毕业于北京工业大学材料与制造学部并留校从事教学科研工作,获北京市优秀毕业生。主要从事原位电子显微学表征方法及技术开发、原子层沉积技术与应用、能源材料与先进金属材料微观结构与性能等研究。主持国家自然科学基金青年项目、北京市教委科技项目、中国博士后基金等多个项目,授权国家专利5项,目前在Nature Energy,ACS Energy Letters,Nano Letters,Corrosion Science等发表学术论文30余篇,他引2000多次,担任Journal of Energy Chemistry等多个期刊审稿人。报告题目:锂电池材料表界面改性与工况条件下失效机制的原位扫描电镜研究【摘要】原位扫描电子显微镜(in-situ SEM)拥有较大的内部腔室,可容纳更接近实际的原位电池系统,同时具有足够高的分辨率,能够在实际工作状态下表征电池材料的结构演化机制,进而提出性能优化策略。本报告将介绍利用原位扫描电镜揭示锂电池材料在工况循环过程中的微结构演变机制,以及原子层沉积技术在电池材料表界面改性中的应用研究进展。会议联系1. 会议内容仪器信息网杨编辑:15311451191,yanglz@instrument.com.cn中国电子显微镜学会(对外)汪老师:13637966635,cems_djw @163.com2. 会议赞助刘经理,15718850776,liuyw@instrument.com.cn
  • 美科学家研发出新型聚焦离子束显微镜
    由于仪器本身的限制,显微镜偶尔也会&ldquo 骗人&rdquo 。比如,电镜就无法很好的观察不能导电的材料,并且它的高能量还会损伤一些样品。为了努力从纳米材料和纳米结构的世界中获取更多的真相,美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)的研究人员建立了一套采用锂离子源的低能聚焦离子束显微镜。  尽管新型显微镜的分辨率不如扫描电镜或氦离子显微镜(HIM),但它可以更清楚的观察非导电材料,并能更清楚的观察样品表面的化学成分。通过观察散射离子的能量,研究人不仅能够分辨出相邻材料的化学成分是不同的,并且能够确认不同材料的元素种类。  早在2011年,Jabez McClelland和他的同事采用激光冷却技术研制出了第一台低能聚焦离子束显微镜。之后,他们一直努力改进技术以调高离子束的亮度和准直度,确保所有离子都能朝相同的方向运动以便的得到更好的成像结果。  新仪器通过激光束和磁光阱捕获原子,将中性锂原子气体冷却至600微开尔文。然后采用激光将原子离子化,并进入电场加速,调整飞行方向,针对目标物将离子聚焦成离子束。  NIST FIB可以生成能量为500eV至5000eV的锂离子束(氦离子束的能量约为3000eV)。研究人员称可以将离子束的能量降至更低。但是当加速电场强度比较低时,离子源的交互影响限制了聚焦离子束的大小。  在他们的论文中,研究人员展示了这台显微镜如何解决纳米压印光刻技术中的一些常见问题。McClelland说:&ldquo 以前生产商进行硅刻蚀,必须确保空间没有化学残留。通常他们利用等离子体刻蚀的方法清除残留物。但是他们得很仔细,以防过度清除损坏基底或芯片。我们的聚焦离子束显微镜可以很好的观察等离子体的工作情况,确保不损坏芯片。扫描电镜无法做到这些,因为它很难观察到很少的残留物,而且高能电子束很可能造成充电或将模板熔化等,将情况弄得更糟糕。&rdquo   该研究团队未来的一个计划是通过将锂离子注入材料当中,看他们是如何影响电池性能,从而解开锂电池的工作原理。研究团队中的一些成员还成立了自己的公司,研发低能铯聚焦离子束,以实现单一纳米量级的铣削和雕刻功能,如果成功将是纳米材料制备的巨大飞跃。编译:秦丽娟

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  • 扫描电镜聚焦离子束显微镜

    [font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]聚焦离子束显微镜FIB是将液态金属离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像,此功能与SEM相似,或用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工。[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]服务内容:切点分析[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]FIB/SEM/EDX[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]服务内容:1.材料表面形貌分析,微区形貌观察 [/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]2.材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 [/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]3.薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]4.纳米尺寸量测及标示[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]5.微区成分定性及定量分析[/color][/size][/font]

  • FIB 聚焦离子束分析

    [b]FIB介绍[/b][font=inherit]聚焦离子束技术[/font](Focused Ion beam,FIB)是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的离子束轰击材料表面,实现材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。随着纳米科技的发展,纳米尺度制造业发展迅速,而纳米加工就是纳米制造业的核心部分,纳米加工的代表性方法就是聚焦离子束。近年来发展起来的[font=inherit]聚焦离子束技术[/font](FIB)利用高强度聚焦离子束对材料进行纳米加工,配合扫描电镜(SEM)等高倍数电子显微镜实时观察,成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、离子注入、切割和故障分析等。、[b]应用领域[/b](1)线路修改-在IC生产工艺中,发现微区电路蚀刻有错误,可利用FIB的切割,断开原来的电路,再使用定区域喷金,搭接到其他电路上,实现电路修改,最高精度可达5nm。(2)产品表面存在微纳米级缺陷,如异物、腐蚀、氧化等问题,需观察缺陷与基材的界面情况,利用FIB就可以准确定位切割,制备缺陷位置截面样品,再利用SEM观察界面情况。(3)微米级尺寸的样品,经过表面处理形成薄膜,需要观察薄膜的结构、与基材的结合程度,可利用FIB切割制样,再使用SEM观察。[align=center][img=FEI V400,227,227]http://www.zenh.com/wp-content/uploads/2017/05/%E5%9B%BE%E7%89%8711.png[/img]FEI V400[/align]使用设备:FEI V400可以针对14nm,16nm,28nm, 40nm, 45nm, 65nm, .13um, .18um, .25um, .35um 制程进行线路改造。适用的封装形式BGA, QFN, CSP, WLBGA, Die and board Level, 8” wafer, packaged “flip-chip”[table][tr][td=2,1,568]FIB典型照片[/td][/tr][tr][td=1,1,279]观测[/td][td=1,1,288]线路修改[/td][/tr][tr][td=1,1,279][img=,227,209]http://www.zenh.com/wp-content/uploads/2017/05/%E5%9B%BE%E7%89%8712.png[/img][/td][td=1,1,288][img=,240,218]http://www.zenh.com/wp-content/uploads/2017/05/%E5%9B%BE%E7%89%8713.png[/img][/td][/tr][tr][td=2,1,568]FIB配合TEM进行复杂操作[/td][/tr][tr][td=2,1,568] [img=,554,254]http://www.zenh.com/wp-content/uploads/2017/05/%E5%9B%BE%E7%89%8714.png[/img][/td][/tr][/table]文章引用自正衡检测官网欢迎各位莅临正衡检测网站讨论咨询[url]http://www.zenh.com/[/url]

  • 离子显微镜

    各位,我想请问一下离子显微镜和电子显微镜之间的差别是什么呀?为什么我这里都是叫离子显微镜呢?

多离子束显微镜相关的耗材

  • 聚焦离子束离子枪专用电镜光阑
    STRIP,TOMAHAWK,#02光阑条,用于原厂聚焦离子束TOMAHAWK型号的离子枪,光阑条是一个条状薄片上有多个不同孔径的圆孔,通过不同的孔径限制离子束的电流强度。以实现不同离子束电流间的切换。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 电子显微镜专用用碳沉积
    CARBON FILL,MGIS碳沉积(多支气体注入系统专用)用于原厂电子显微镜多支气体注入系统,碳沉积(多支气体注入系统专用)是一种存放碳化合物的容器,将药品加热到一定温度,药品气化,在真空压差和可控阀门的作用下,将药品气体喷洒在样品表面,同时在离子束的诱导作用下将碳分子沉积在样品表面。以实现对样品表面形貌的保护,或对样品进行导电处理。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
  • 聚焦离子束SW离子枪专用抑制极
    SUPPRESSOR,SW CONSUMABLE抑制极极电极,用于原厂聚焦离子束设备SW型号的离子枪,抑制极是聚焦离子束加载抑制极电压的电极,与拉出极配合,可对聚焦离子束的发射电流进行调节。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
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