可靠性分析

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可靠性分析相关的耗材

  • 固定容量移液器4652080赛默飞经久耐用,可靠性久经考验
    4652000F2固定单道移液器1ul(微型管咀)46520105ul(微型管咀)465202010ul465213020ul465203025ul465204050ul4652050100ul4652140200ul4652060250ul4652070500ul46520801000ul46520902000ul46521003000ul46521105000ul465212010000ul4642010F2单道可调移液器0.2-2ul(微型管咀)46420200.5-5ul(微型管咀)46420301-10ul(微型管咀)46420401-10ul46420502-20ul(微型管咀)46420602-20ul46421205-50ul(微型管咀)46421305-50ul464207010-100ul464208020-200ul4642090100-1000ul46421000.5-5ml46421101-10ml4662000F2 8道可调移液器1-10ul(微型管咀)46620105-50ul466202010-100ul466203030-300ul4662040F2 12道可调移液器1-10ul(微型管咀)46620505-50ul466206010-100ul466207030-300ul4662080F2 16道可调移液器1-10ul(微型管咀)46620905-5ul(微型管咀)4700870F2单道可调套装1-1000µ l10ul、100ul、1000ul4700880F2单道可调套装0.2-1000µ l2ul、20ul、200ul、1000ul4700885F2单道可调套装10-10000µ l100ul、1000ul、10000ul4701070F2单道可调套装2-1000µ l20ul、200ul、1000ul
  • 经济型分析用高压输液泵
    ◎该产品采用电子压力脉动抑制技术。取代了传统的机械缓冲器,有效的控制了流速的波动,使仪器的可靠性得到了进一步的提升,同时使系统的死体积降到了最小。◎该产品采用高精度直流伺服电机及编码器。给电子压力脉动抑制技术的实施提供了有力的保障,同时泵部件的体积与重量比步进电机减小很多,噪音基本得到消除。◎该产品的输液结构模式为串联式。较并联式结构少两只单向阀,进而由单向阀故障所导致的系统故障率会减少50%,至于并联式结构交替供液所产生的流速波动同样需进行进一步的抑制,就并联式结构本身来讲并不能彻底根除流速的波动。◎该产品在不同的色谱柱阻尼下流动相的输送效率问题(单向阀的启闭、流动相的压缩性等)由相应的参数进行自动调整补偿,以保证色谱系统流速的稳定性。◎该产品的可扩展功能极为丰富,如二元高压梯度、四元低压梯度等。◎该产品的流速范围可通过更换泵头及相应的系统参数进行调整。即可由10mL的分析型轻松转换为50mL的半自备型。◎该产品可通过RS232接口由色谱工作站进行控制。
  • 硅胶色谱分析柱
    纳微拥有业界领先的色谱填料研发、规模化生产能力与可靠的装柱技术,其填料粒径和孔径的精确控制和独特固定相键合工艺,确保了分析柱的高可靠性和高品质,提供硅胶基质的色谱分析柱、聚合物反相色谱柱、手性色谱柱、多糖分析色谱柱、特殊功能色谱柱,以及专为生物分子分析用的抗体亲和柱和离子交换柱等,均具有高柱效、低柱压、选择性好,寿命长等显著优势,还可提供为专属客户定制的产品和服务。硅胶色谱分析柱采用单分散均一粒径UniSil硅胶填料确保品质可靠性和重现性反相硅胶色谱分析柱 纳微提供多种硅胶色谱柱,由于金属杂质含量低,封端良好,拥有卓越的选择性、宽范围pH适用范围、峰对称性好和长使用寿命。反相硅胶色谱分析柱规格一览表*更多规格型号或定制,请联系业务代表 正相硅胶色谱分析柱 纳微科技提供多种规格粒径与孔径的Diol和硅羟基的正相色谱柱,具有高柱效、低反压和寿命长的优点,广泛应用于各种有机化合物及天然产物的色谱分析中。正相硅胶色谱分析柱的规格一览表*更多规格型号或定制,请联系业务代表氨基和氰基色谱分析柱 纳微科技提供多种规格粒径与孔径的NH 2 和CN色谱柱,具有高柱效、低反压和寿命长的优点,应用范围很广,是非常经济的选择。氨基和氰基色谱分析柱的规格一览表*更多规格型号或定制,请联系业务代表Hilic亲水硅胶色谱分析柱 纳微科技提供多种精确填料粒径与孔径的新一代HILIC亲水硅胶色谱柱,拥有更卓越的选择性、稳定性和更长的寿命,尤其是对强极性碱性化合物的保留能力增强,与反相柱互补,可帮助提高LC/MS分析灵敏度。Hilic亲水作用色谱分析柱的规格一览表 *特殊规格可定制订货信息–硅胶色谱分析柱 *更多规格型号或定制,请联系业务代表

可靠性分析相关的仪器

  • 锁接头可靠性试验仪 400-860-5168转6216
    YYT10401.2015锁接头可靠性试验仪 YYT10401.2015锁接头泄漏试验仪主要用途22 mm 锁接接头锁接可靠性 外 圆锥试验件应是尺寸符合 22 mm 外圆锥接头 ,但所有公差减小至±0. 005 mm、表面粗糙度 0. 4μm。注 : 施加试验力的方法有很多。只是其中之一,其他方法包括用重物或液体容器施加重力载荷。对仪器的基本要求应保证拉力确实从轴向施加 ,而且施加扭力时不会改变拉力。为使仪器受磨擦 的影响减至最小 ,22 mm 锁接接头和外圆锥试验接头之间的拉力应直接测量。测试标准YY/T10401.—2015和ISO5356-1:2004含泄漏试验测试YY 0461-2003麻醉机和呼吸机用呼吸管路主要技术指标1、7寸触摸屏威纶通2、PLC控制系统3、 轴向力范围:0-80N,出厂设置50N可任意设置4、 4、时间范围:0-9999秒5、 5、工作电源:AC220V,50Hz6,扭矩力范围:0-30N.CM步骤1,将被测锁接接头固定于仪器的自动定中心夹持器上 , 确保夹持方法不会使 22 mm 锁 接接头与外圆锥试验接头的连接处产生变形。2,将 22 mm 锁接接头与试验仪器在(35±3)℃ ,相对湿度至少 80%条件下停放 1h。如果测试多个 22 mm 锁接接头 ,其余接头可在相同温度和湿度条件下放置而不夹于仪器上。夹持 于仪器后需再放置至少 5 min。3,按制造商使用说明将 22 mm 锁接接头与外圆锥试验接头锁接。4, 1 min后 ,连接好测力装置 , 以不超过 20 N/s加力速率施加至(50±5)N 的分离力 , 在无起动 脱开机构的情况下维持该力 10 s,观察锁接的 22 mm 锁接接头与外圆锥试验接头是否脱开。5, 在不去除拉力载荷 ,也不起动脱开机构的情况下 ,施加(25±5)N cm 旋转力矩 , 或使试验接 头旋转 20°,取先实现者。维持该力矩或该位置 10 s,观察锁接的 22 mm 锁接接头是否与外圆锥试验接 头脱开。6,使用空气,在组件内建立高于大气压(8±0.5)kPa的静压力,测定组件的泄漏率
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  • 可靠性湿热试验箱 400-860-5168转3546
    可靠性湿热试验箱该设备用途广泛,用于对成品、半成品、材料、零部件进行高温、低温、湿度、湿热、湿热交变、高低温循环、高低温恒定、高温高湿、高温低湿、低温高湿等不同温湿度环境条件试验,恒温恒湿箱是工厂品质部门及产品研发必备的检测设备。用于行业包括:电子、电器、电脑、电池、电容器、电阻、电子元器件、线路板、晶体、电感、手机、光电、光伏组件、太阳能组件、数码产品、通讯设备、光纤、半导体、电路板、化工、涂料、油漆、油墨、胶粘、粘合剂、建材、陶瓷、仪器、仪表、塑胶、橡胶PPR、PVC、PC、OLED、LED、LCD、PCB、FPC、IC、金属、五金、医疗、军工、汽车、车辆、汽车等行业。电子专用小型恒温恒湿测试机|平板电脑专用恒温恒湿试验箱技术参数:1、型号:AP-HX-802、内箱容积:80L3、内箱尺寸:宽400×高500×深400mm4、外形尺寸:宽650×高1520×深1010mm5、温度范围:低温-20℃~高温150℃6、湿度范围:标准型(20%~98%RH)详细请参考湿度控制能力范围图:7、温度波动度:≤±0.5℃8、湿度波动度:≤±2.5%RH9、温度均匀度:≤±2.0℃10、湿度偏差:75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH11、升温速率:约1.0℃~3.0℃/min12、降温速率:约0.8℃~1.5℃/min13、电源要求:AC220V/50HZ可靠性湿热试验箱符合标准:IEC68-2-1 试验AIEC68-2-2 试验B 高低温交变IEC68-2-14 试验NGB/T10589-1989低温试验箱技术条件;GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件;GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件;GB2423.1-89低温试验Aa,Ab ;GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验Ca;MIL-STD810D方法502.2;GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;GJB150.9-8 湿热试验;GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验。可靠性湿热试验箱体材质:1、外壳均采用优质SUS304拉丝不锈钢板/冷轧钢板静电喷塑(订货时需说明)2、内胆采用优质SUS304镜面不锈钢板 3、保温材质选用高密度聚氨酯发泡保温层厚度为100mm 4、风道系统采用长轴电机,耐高低温不锈钢多翼风轮,以达强度对流垂直扩散循环 5、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭 6、采用无反作用防爆门把手,操作更容易 7、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮加水平脚杯8、观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜(可清楚观察试验过程) 9、测试孔(机器右侧)可外接测试电源线或信号线使用(孔径或孔数须增加需指示) 80L恒温恒湿试验箱,小型恒温恒湿测试机,工业材料专用恒温恒湿试验箱控制系统:1、采用自护研发KW-890或韩国原装进口TEMI1500彩色触摸屏温湿度控制器2、湿度为直观显示控制,摒弃原有温湿度相对照的缺陷 3、精度:±0.1℃(显示范围);4、解析度:±0.1℃ 5、感温传感器:PT100铂电阻测试器 6、控制方式:热平衡调温方式 加热系统:1、采用远红外镍合金高速加温电热器 2、高温、湿热完全独立系统 3、温湿度控制输出功率均由微电脑演算,以达高精度及高效率之用电效益 加湿系统: 1、内置式锅炉蒸气式加湿器具有节能降耗功能,可节约70%能耗 2、具有水位自动补偿、多路缺水报警保护系统 3、远红外不锈钢高速加温钛合金加热器 4、湿度控制均采用P.I.D +S.S.R,系统同频道协调控制 制冷系统:1、压缩机:全封闭原装进口法国泰康制冷机组。2、制冷方式:单(双)机制冷。3、冷凝方式:强制风冷冷却。4、除湿采用蒸发器盘管露点温度层流接触除湿方式。5、电磁阀、油分离器、干燥过滤器、修理阀、冷媒流量视窗、贮液筒均采用进口原装件。 保护系统:1、整体设备超温报警 2、漏电自动跳闸 3、缺水自动停机报警;4、故障报警后自动停机等保护 5、防干烧保护6、压缩机过热保护7、电机过流保护可靠性湿热试验箱售后服务◆ 负责将设备运输到客户指定地点的一楼,并承担相关费用◆ 工程师亲自上门,免费安装调试设备至正常运作◆ 工程师会免费培训贵公司设备使用人员,使其具备日常操作及维护之能力◆ 发货之日起,对设备进行免费保固壹年(天灾、电力异常、操作及保养不当、自行检修或改装而造成的损坏除外);半年一次到厂定期保养;技术支援终生免费◆ 我司技术力量雄厚,对其他厂家的环试产品(包含国外同类产品)也能提供维修、改造、升级和长期的维护服务,欢迎来电咨询。
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  • HR 系列是用于关键任务应用的新型高可靠性低温温度传感器。Lake Shore以成熟的温度传感器技术为起点,开发了一系列现成的传感器,这些传感器已经过严格的测试步骤,可确保用户获得超高的可靠性。主要特征 ☛ 15年材料全程可追溯☛ 所有传感器均可获得电阻和灵敏度数据☛ 减少交货时间☛ 从我们的测试协议中获得信心☛ 无隐藏成本,只需支付传感器费用需要优质温度传感器的情况 在低温温度控制或监测构成系统关键组成部分的情况下,传感器故障的成本远远超过传感器的成本,因此对传感器进行更高水平的检查就变得至关重要。一些项目的成果价值远远超过其各部分的总和,如下项目案例: ☛ 太空望远镜☛ 超级对撞机☛ 聚变反应堆☛ 研究卫星☛ 磁悬浮列车降低关键项目的风险 ☛ 快速交付 按照标准化的测试程序,这些传感器按正常生产计划制造,并备有库存以快速交付,因此交付周期与标准商用传感器相当。预定义的测试协议还可减少文书工作--无需为每个项目定义不同的详细传感器要求。 ☛ 无需额外鉴定费用 传统上,关键项目的传感器采购需要为每个批次购买额外的传感器进行破坏性鉴定测试,这增加了项目的总成本,却没有增加可安装传感器的数量。HR系列传感器则不同,Lake Shore 对每个批次进行鉴定测试,并免费向传感器购买者提供筛选和鉴定测试报告。使用 HR系列传感器,用户只需为使用的传感器付费。测试协议包括出厂验收步骤 ♢ 至少 15 年的完整批次可追溯性♢ 密封前对传感器进行独立检查♢ 恒定加速度(20,000 gs)♢ 粒子撞击噪声检测 (PIND) 测试♢ X 射线(内部缺陷和导线间隙)♢ 烧伤(1 周)♢ 热循环(在 298 至 4.2 K 之间反复进行)♢ 精细密封♢ 全密封♢ 按照 MIL 标准进行目视检查合格性测试 ♢ 裸芯片剪切强度♢ 引线键合强度♢ 引线键合横截面♢ 外部焊盘接合性♢ 独立破坏性物理分析♢ 排气♢ 热冲击(100次冲击)♢ 振动测试♢ 机械冲击♢ 寿命测试(最长2000小时)HR系列高可靠性温度传感器参数 基本信息温度计类型Cernox温度曲线类似CX-1080 - Cernox器件的温度曲线以 CX-1080 型为中心,但也会超出这些限制推荐激励10 mV适用温度范围20 K ~ 420 K封装类型SD-HTCU-HT标定选项未标定(需要客户自己标定)20 K ~ 325 K20 K ~ 420 K 引线选项封装类型SD封装CU封装线缆选项无引线(裸金焊盘)两条镀金铜导线,32 AWG,未绝缘四芯引线,36 AWG,Formvar绝缘,带状线四绞线,36 AWG,聚酰亚胺绝缘,两对双绞线线缆长度N/A3 mm2 m 或 5 m2 m 或 5 m说明适合与焊线机一起使用可进行线缆定制,对交货时间和价格的影响小。
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  • 【原创大赛】手持式X荧光分析仪在贵金属检测中的可靠性分析

    【原创大赛】手持式X荧光分析仪在贵金属检测中的可靠性分析

    [align=center]手持式X荧光分析仪在贵金属检测中的可靠性分析[/align][align=center] 西安国联质量检测技术股份有限公司[/align][align=center][/align][align=center]材料室:鲁飞彪[/align]随着经济的发展,执法部门在市场监督抽查的过程中,对贵金属领域的抽样检测需求迅速增加。但由于贵金属价值较高,直接购样检测或者采取检毕退样的方式都可能会造成一些风险,采用手持式X荧光分析仪能够在现场快速对样品进行检测,但检测结果和真值存在一定偏差,本文通过对一批样品的检测比对来阐述手持式X射线荧光分析仪的可靠性。一、 检测仪器[align=center][img=,277,334]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807010549148853_7574_2904018_3.png!w277x334.jpg[/img][/align]手持式X射线荧光分析仪贵金属检测仪电感耦合等离子体光谱仪(ICP)二、检测样品[align=center][img=,441,151]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807010549584743_5894_2904018_3.png!w441x151.jpg[/img][/align]三、检测方法1、快检法(布鲁克手持式X射线荧光分析仪)2、首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法3、贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱四、检测过程 1、采用布鲁克手持式X射线荧光分析仪对纯银饰品检测结果如下表 表1 手持式X射线荧光分析仪对纯银饰品检测结果[table][tr][td]编号[/td][td]1[/td][td]2[/td][td]3[/td][td]4[/td][td]5[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.63[/td][td]97.65[/td][td]98.44[/td][td]97.56[/td][td]99.43[/td][/tr][tr][td]编号[/td][td]6[/td][td]7[/td][td]8[/td][td]9[/td][td]10[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.55[/td][td]98.42[/td][td]96.40[/td][td]96.42[/td][td]96.48[/td][/tr][/table]表2手持式X射线荧光分析仪对铂金戒指(pt950)品检测结果[table][tr][td]编号[/td][td]1[/td][td]2[/td][td]3[/td][td]4[/td][td]5[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]92.05[/td][td]91.04[/td][td]90.88[/td][td]93.04[/td][td]94.05[/td][/tr][tr][td]编号[/td][td]6[/td][td]7[/td][td]8[/td][td]9[/td][td]10[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]92.03[/td][td]92.45[/td][td]92.45[/td][td]93.05[/td][td]92.04[/td][/tr][/table] 表3 手持式X射线荧光分析仪对千足金检测结果[table][tr][td]编号[/td][td]1[/td][td]2[/td][td]3[/td][td]4[/td][td]5[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.63[/td][td]97.65[/td][td]98.44[/td][td]97.56[/td][td]99.43[/td][/tr][tr][td]编号[/td][td]6[/td][td]7[/td][td]8[/td][td]9[/td][td]10[/td][/tr][tr][td]结果[/td][td]98.55[/td][td]98.42[/td][td]96.40[/td][td]96.42[/td][td]96.48[/td][/tr][/table]2、采用ICP光谱仪依据贵金属合金首饰中贵金属含量的测定 ICP光谱法 GB/T 21198.5-2007 对其中一个饰品消解后测试杂质元素铂、钯、金、铋、镉、钴、铜、铁、铱、镍、铅、铑、钌、锑、锡、碲、钛和锌,然后进行差减法计算出银含量为99.2%3、纯银饰品送至贵金属检测中心,按照首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013,结果全部显示为“足银”。4、铂金戒指送至贵金属检测中心,按照首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013,结果全部显示为符合Pt950。5、黄金吊坠送至贵金属检测中心,按照首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 18043-2013,结果显示为千足金通过分析比对,纯银饰品用手持式X射线荧光分析仪检测最低值为96.40%,pt950戒指检测最低值为90.88%,千足金检测最低值为96.42%。由此基本可以看出,手持式X射线荧光分析仪在贵金属检测方面存在一些误差,且检测数据基本偏低,误差范围在5%以内,因此手持式X射线荧光分析仪可以用于贵金属的现场抽样快速检测,检测结论在5%以内的基本都可以按照符合要求快速处理。

  • 【原创】中国赛宝实验室~可靠性专题讲座

    [em0703] [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=66782]培训报名表[/url]可靠性专题讲座邀请函课程目的:本课程旨在针对信息电子产品制造业质量工作和技术人员培训的需求,通过培训将:(1)、掌握可靠性基本理论和知识,了解电子产品质量/可靠性管理的基本方法;(2)、了解失效分析程序和方法;(3)、掌握筛选/老化、环境试验和可靠性评价方法。课程对象:从事信息电子产品制造业的管理、生产、使用、供销等工作的管理和技术人员课程提纲:第一讲 先进的失效分析技术:可靠性基础、电子元件的失效模式和失效机理、电子器件的失效模式和失效机理、失效分析方法与程序;第二讲 老化、环境及可靠性试验:可靠性试验、筛选与老化试验、环境试验。培训费用:2000元/人(二天,含培训费、证书费、午餐费)   每单位参加人数2人以上可享有折扣 培训地点: 广州培训时间: 2007年11月29日、30日(二天)培训证书: 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训证书讲师简介:冯敬东中国赛宝实验室(信产部电子第五研究所)可靠性分析中心高级工程师,在信息产业部电子第五研究所元器件可靠性分析中心从事可靠性研究工作25年,对可靠性环境试验方法和可靠性环境试验设备有较深入的了解,期间“硅压力传感器综合评价技术研究”获国防科学技术工业委员会“国防科学技术二等奖”、“使用状态中元器件失效预测技术”获电子工业部“科学技术进步三等奖”。曾多次为培训机构和整机厂所开设“老化、筛选和环境试验”。获得了非常好的效果和极高的评价。李少平 高级工程师,我国电子产品失效分析领域权威专家。1984年毕业电中国电子科技大学固体器件专业,一直在信息产业部电子第五研究所从事电子产品可靠性技术研究工作,曾经主持、参加众多军用电子元器件可靠性研究课题,多次获得各级科研成果奖项。近10年来主要从事电子产品失效分析,完成大量元器件失效分析任务,具有丰富的分析经验。现在是电子产品失效分析项目的项目负责人,继续承担失效分析任务,并组织失效分析新技术的研究。还为华为、中兴、海尔、美的、厦华、飞通、广东核电等上百家企业授课,学员累计数千人。课时安排:日期时间授课内容讲师11月29日9:00-12:00老化、环境及可靠性试验冯敬东14:00-17:0011月30日8:30-12:00先进的失效分析技术李少平14:00-16:30联系方式:联系人:熊娥英 电话:020-87236986-212 传真:020-87237185网址:www.rac.ceprei.com EMAIL: xiongey@ceprei.com报名回执单位名称 专业领域 参加课程 联系人 工作部门/职位 Email 联系电话 传真 参加人数 备注 说明: 1、请详细填写报名表格,发传真或Email给我们。2、收到您的报名表后,本中心客户代表会致电给您进一步确认培训细则。3、缴费方式:A. 可以以银行转帐方式支付,汇款请注明“培训费”B. 可以以现金或支票方式支付收款单位汇款(汇票):信息产业部电子第五研究所支 票 :信息产业部电子第五研究所开户银行民生银行广州分行越华支行银行帐号873770222401010003424、食宿自理。(需要在广州住宿的客户,我室可以帮忙联系酒店:赛宝公寓:020-61074800 标准双人间:120元/天。)

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  • 《SiC MOSFET可靠性分析》团体技术报告立项
    近日,第三代半导体产业技术创新战略联盟发布关于团体技术报告《SiC MOSFET可靠性分析》立项的通知。通知如下:关于团体技术报告《SiC MOSFET可靠性分析》立项的通知各有关单位:复旦大学等单位提交了《SiC MOSFET可靠性分析》。秘书处初步形式审核,认为该技术报告的制定将衔接SiC MOSFET产业链上中下游,助力产业对该器件可靠性的统一认识,且无商业宣传、框架逻辑清晰,符合CASAS技术报告的立项条件,故审核通过,分配编号T/CASA/TR 002。特此通知。北京第三代半导体产业技术创新战略联盟2022年3月11日
  • 在线分析仪器稳定性可靠性专题报告论坛召开
    仪器信息网讯 2012年10月30日,第五届中国在线分析仪器应用及发展国际论坛分论坛之“在线分析仪器稳定性可靠性专题报告论坛”召开,浙江大学系统与控制研究所吕勇哉、重庆凌卡分析仪器有限公司金义忠、北京北分麦哈克分析仪器有限公司郭肇新和南京分析仪器厂有限公司朱卫东等来自科研院所和企业的专业人士就提高国产仪器的稳定性、可靠性方面发布了报告。  与会发表报告的专家普遍表达了对国产仪器提升稳定性、可靠性的重视,并与与会者分享了自己在研发中总结的经验。  本次论坛由中国仪器仪表行业协会分析仪器分会秘书长曹乃玉主持。中国仪器仪表行业协会分析仪器分会秘书长 曹乃玉浙江大学系统与控制研究所 吕勇哉报告名:信息技术在过程分析仪(PA)系统可靠性分析中的应用重庆凌卡分析仪器有限公司总工程师 金义忠报告名:解决分析仪稳定性、可靠性难题的探讨北京北分麦哈克分析仪器有限公司郭肇新报告名:分析仪器稳定性可靠性的实现南京分析仪器厂有限公司朱卫东报告名:在线分析系统的可靠性与可靠性设计技术探讨
  • 科学岛团队在复杂时序失效系统可靠性快速分析方法研究中取得新进展
    近期,中科院合肥研究院核能安全所戈道川副研究员、博士生王韶轩等在复杂时序失效系统可靠性快速分析方法研究中取得进展,研究成果在线发表在领域内权威期刊《IEEE可靠性汇刊》(IEEE Transactions on Reliability )上。   安全是我国核电发展的生命线,开展概率安全评价技术研究,能够及时发现系统潜在的薄弱环节从而采取防范措施以降低风险,对于提高核电厂的安全性和经济性具有重要意义。鉴于核电系统因冗余设计普遍存在复杂时序失效行为,近年来随着系统可靠性理论的不断发展,以动态故障树为基础的系统可靠性评估方法逐渐成为核电厂安全评价体系中重要的研究方向。由于核电厂系统规模庞大且具有复杂失效场景,如何提高核电厂大型复杂时序失效系统动态故障树的计算效率是当下研究面临的主要难题。   针对这一问题,研究人员提出一种基于系统生存特征(survival signature)理论的快速分析方法(如图1所示)。Survival signature理论是近年来可靠性领域内重要的研究热点之一,它将系统结构从用于描述系统部件随机故障的概率模型中分离出来,从而提高系统可靠性分析效率。研究人员利用部件布尔状态向量与失效条件样本点对时序失效系统survival signature进行高效仿真(如图2所示),并基于survival signature实现时序失效系统可靠性的快速计算。研究结果表明:针对实际工程中的大型耦合系统,所提方法能够有效减少仿真过程中的无效样本点与时序失效事件,在计算效率以及精度上都比传统蒙卡方法更加优异。   相关研究成果将有助于进一步推动核能系统概率安全评价技术的深入发展,同时可为其他工业过程中大型复杂时序失效系统可靠性计算技术提供参考,具有广泛的应用前景。   上述研究工作得到了国家自然科学基金项目,中国博士后面上基金项目和国家重点研发计划项目的资助和支持。图1 基于系统survival signature的仿真方法示意图图2 在不同仿真次数下所提方法的相对误差(系统survival signature仿真随着仿真次数的增加,相对误差明显减小)
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