波前测试系统

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波前测试系统相关的厂商

  • DMS(国际)有限公司是一家专业从事动态信号分析系统的研发、生产、销售并提供测试解决方案和工程服务的高科技企业。公司总部在香港,在上海、北京、南京、武汉、西安、成都等设有办事处。 公司已和国内多所知名高校长期合作,组建了强大的技术研发团队和 强有力的销售团队,为国内企业和实验室提供优质可靠的动态信号分析系统以及相应的技术解决方案,并成功地引进了迄今国际先进水平的工程测试、检测设备及相关软件。公司产品广泛用于航空、航天、船舶、汽车、电子和通讯及国内各高等院校等众多行业,产品涉及系统集成、工程测试、适合多种应用的数据采集、动态信号分析仪、模态测试系统、振动台控制仪及机器人测试设备等多个方面,赢得了众多客户的赞誉。 “以服务求市场、质量求生存、科技求发展、创新求进步”,公司还是一个“年轻”的公司,其全体员工平均年龄在30岁左右;是一个高素质的公司,其员工大专学历以上者占95%%以上。就是这样一个年轻、高效、团结的集体,通过谦逊的工作作风,灵活的思维方式,不怕苦、不怕累、敢拚敢上的干劲,成为国内测试行业中一流的产品供应商。
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  • 400-860-5168转2499
    广州市固润光电科技有限公司是一家从事光电子高科技产品研发、生产及销售的科技型企业,面向国内各大高校、科研院所及国内外著名光电子企业提供优质的产品和专业的项目服务,产品种类涉及各种工业和通信光电子器件,光电子测试仪器、半导体生产及检测设备,射频测试仪器等,涉及工业自动化,信息自动化,光电子、光纤通讯、光纤传感,工业激光、微电子和雷达与微波通信等领域。我们一直专注于为每一个客户提供完善专业的解决方案。结合自身在光电测试行业多年的经验,积极跟踪前沿科学技术并和全球各大光电技术研究单位建立合作伙伴关系。我们选择的产品的可靠性来源鉴于该产品已经得到最严格的用户测试并成为行业最领先产品,经过多年的努力,我们的合作伙伴包括: 1. Herzan 品牌代理:高精度主动隔振台、被动隔振台、隔声隔振箱,声学附件2. JETI 品牌代理: 光谱辐射计,表面光谱色度计,光强及光通量测量系统等3. GL Optic 品牌代理:触摸屏智能光谱辐射计,便携积分球,亮度探头4. Mesaphotonics 品牌代理:频率分辨光学开关仪(FROG二维相位恢复)激光自相关仪5. Westboro Photonics 品牌代理:成像亮度计,成像亮度色度计,成像光谱辐射计,视角测试系统6. Quest-Innovations 品牌代理:多光谱相机,高光谱相机7. Nanofoot 品牌代理:LD在线实时老化测试系统,LED老化测试系统,LED&LD特性分析仪LED&LD光源远场测试仪8. J&M 品牌代理:光谱色度发分析仪,显微光谱仪等9. Metrolux 品牌代理:CW光束分析仪,紫外光束分析仪,X-RAY光束分析仪,多功能激光光束分析仪,激光衰减器,光学器件等10. Semiconsoft 品牌代理:薄膜测试仪11. GBS 品牌代理: 白光干涉仪,3D显微镜,便携式3D显微镜,3D 成像CCD12. Phasics 品牌代理:3D活细胞显微镜,台式3D数字显微镜,便携式数字显微镜,波前分析仪,透镜测试仪13. Scientech 品牌代理:高精度电子天平、光功率计14. WT&T 品牌代理:光纤激光模块,窄光谱超稳定激光模块,光纤探头15. OptoKnowledg 品牌代理:多光谱扫描仪 广州市固润光电科技有限公司联系人:徐先生 地址:广州市天河区翰景路1号金星大厦1101房自编D、H部位手机:13925135190电话:02085666701 传真:02085581700 邮箱:info@guruntech.com
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  • 苏州博兰特实验室系统工程有限公司是提供净化车间及实验室整体解决方案的专业公司。在苏州工业园区设有生产基地和产品展示厅。凭借严谨的科技与人性化的设计,缔造了博兰特产品的国际化品牌。 博兰特一站式服务包括:净化车间设计规划及施工、实验室规划设计、实验室家具工程、实验室台面、实验室装修工程、实验室通风系统、实验室洁净系统、实验室环保系统等。博兰特采用国际化的管理模式,汇集了一批高技术水平的国内外科研人员,配备了良好的产品开发和生产设备,并顺应国际市场的发展形势,开发研制了一系列具有世界先进水平的实验室家具及配套设备,产品种类千变万化,并获得建委批准的空调净化安装三级资质及实验室家具中级制造资质,通过了ISO 9001:2000 国际质量体系认证及ISO 1400国际环境体系认证。是中国实验室认可委员会所认可的供应商。 博兰特工程案例遍布全国各地,一个工程一个精品,演绎博兰特的创意与实力。
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波前测试系统相关的仪器

  • Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉,是在哈特曼基础上的进一步测试优化,这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围,可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用,其产品可用于激光光束质量分析,光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣,欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器,该仪器能够提供高分辨率的相位图,可直接测量高发散光束,光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率(高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160x120个采样点,最高分辨率可达400x300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差,并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力,并且无需额外的过渡镜(参见下图)。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差(如数值孔径高达0.75),仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统
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  • Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉,是在哈特曼基础上的进一步测试优化,这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围,可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用,其产品可用于激光光束质量分析,光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣,欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器,该仪器能够提供高分辨率的相位图,可直接测量高发散光束,光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率(高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160x120个采样点,最高分辨率可达400x300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差,并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力,并且无需额外的过渡镜(参见下图)。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差(如数值孔径高达0.75),仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统
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  • 波前测试仪 400-860-5168转3067
    哈特曼波前测试仪  WFS150系列Shack-Hartmann波前测试仪,提供了精确、快速的波前测量和光束的强度分布。该仪器是通过分析经微透镜阵列成像于CCD的光斑场的位置和强度进行测量的。使用Thorlabs提供的Shack-Hartmann波前测试仪,可以动态的优化激光波前、测量光学元件波前差,为自适应光学控制提供实时的反馈。  Shack-Hartmann波前测试仪由前端带微透镜阵列的高精度的USB2.0(1.3M 像素)CCD相机和软件包组成。全功能的控制和分析软件具有良好的用户界面,菜单包括相机设置、标定、分析和显示项等。CCD相机SM1螺口可方便固定ND滤光片以防CCD像素饱和,及透镜套管以减少散射光,并可用于其他元件的固定。WFS150系列特点:实时照射和相位测量CW或脉冲光源CCD相机指标:型号:DCU224M分辨率:1280× 1024快门速度:83-1460ms最大帧率:15帧/秒尺寸:34× 32× 48.3mm接口:USB2.0软件特点:计算参量照射和相位分布模式或区域的重建波前波前RMS斜度、聚焦、像散,慧差、球差及高阶像差等Zernike和傅立叶表示显示/输出:初始点场成像强度分布重建3D波前表列高度输出微透镜阵列特征 型号 微透镜阵列 有效焦距 特点 WPS150MLA150-7AR.7mm AR膜(400-900nm) WPS150CMLA150-5C5.2mm 铬掩模(200-1100nm)  Thorlabs提供两种型号的Shack-Hartmann波前分析仪。WPS150,带400-900nm增透膜微透镜阵列,适合对反射敏感的应用领域。WPS150C,由铬掩模微透镜阵列组成,阻止透镜间光传输,具有很宽的光谱范围(200-1100nm),但表现出较强的光反射。
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波前测试系统相关的资讯

  • 波前检测技术和晶体加工技术取得重要进展
    日前,中科院高能所多学科中心光学团队基于北京同步辐射装置BSRF和晶体实验室实现了衍射极限水平的波前检测和晶体加工技术。高能同步辐射光源HEPS光束线建设的又一项关键技术取得了突破性进展。大块硅单晶体是硬X射线单色器及谱仪的核心光学元件,而晶体的表面形貌起伏、加工破坏层和晶格应力等诸多因素都会对X射线波前产生严重影响,从而破坏相干性和衍射极限聚焦。对于前几代同步光源,由于光束相干尺寸小,即使是高相干要求的纳米探针或者相干散射束线,也只要求晶体能够挑选出较小的局部范围保持波前即可。而作为衍射极限水平的第四代同步辐射光源,HEPS的相干尺寸较三代光源高出约2个量级,要求全光束范围里获得完美波前,这对晶体的加工能力提出了严峻的挑战,是国际上第四代光源共同面临的技术挑战之一。该团队在X射线晶体实验室已开发的晶体加工工序基础上,通过引入一种新的柔性化学机械抛光方法,实现了全光束口径近厘米范围内超高精度波前保持的晶体加工。同时,该团队还创新性地提出了双刃波前检测的方法,解决了相干性不足、稳定性不足以及入射波前畸变几项关键问题,在第一代同步辐射光源上实现了衍射极限水平的波前检测,为波前保持的晶体加工工艺探索提供了高精度检测手段。2022年7月BSRF专用光期间,该团队在1B3B测试束线上,验证了自研双刃波前检测装置的性能,并利用该装置以日本进口国际前沿水平的“晶格无扰乱”晶体作为参照样品,开展了自研晶体和参照晶体的波前检测对比实验。结果显示,在晶体上50μm横向空间分辨率下,该装置的单次扫描斜率检测精度达到25~50 nrad RMS,波前高度检测精度高达1.5pm RMS;自研晶体波前精度达到60~100 nrad RMS,与参照样品(70~100 nrad RMS)基本处于同一水平,满足HEPS光束线指标要求。团队成员承担PAPS光学系统、HEPS测试束线和光学设计系统等多个项目任务。接下来,团队还将进一步优化实验条件,提升波前检测能力,完善晶体加工工艺。图1 晶体双刃波前检测实验图2双刃法单次扫描波前检测误差25.8nrad 1.5 pm RMS图3 自研柔性化学机械抛光晶体,波前精度61.7nrad 6.0pm RMS图4 日本进口“晶格无扰乱”晶体,波前精度73.2nrad 7.8pm RMS图5 团队现场合影
  • 波前检测技术和晶体加工技术取得重要进展
    日前,中科院高能所多学科中心光学团队基于北京同步辐射装置BSRF和晶体实验室实现了衍射极限水平的波前检测和晶体加工技术。高能同步辐射光源HEPS光束线建设的又一项关键技术取得了突破性进展。大块硅单晶体是硬X射线单色器及谱仪的核心光学元件,而晶体的表面形貌起伏、加工破坏层和晶格应力等诸多因素都会对X射线波前产生严重影响,从而破坏相干性和衍射极限聚焦。对于前几代同步光源,由于光束相干尺寸小,即使是高相干要求的纳米探针或者相干散射束线,也只要求晶体能够挑选出较小的局部范围保持波前即可。而作为衍射极限水平的第四代同步辐射光源,HEPS的相干尺寸较三代光源高出约2个量级,要求全光束范围里获得完美波前,这对晶体的加工能力提出了严峻的挑战,是国际上第四代光源共同面临的技术挑战之一。该团队在X射线晶体实验室已开发的晶体加工工序基础上,通过引入一种新的柔性化学机械抛光方法,实现了全光束口径近厘米范围内超高精度波前保持的晶体加工。同时,该团队还创新性地提出了双刃波前检测的方法,解决了相干性不足、稳定性不足以及入射波前畸变几项关键问题,在第一代同步辐射光源上实现了衍射极限水平的波前检测,为波前保持的晶体加工工艺探索提供了高精度检测手段。2022年7月BSRF专用光期间,该团队在1B3B测试束线上,验证了自研双刃波前检测装置的性能,并利用该装置以日本进口国际前沿水平的“晶格无扰乱”晶体作为参照样品,开展了自研晶体和参照晶体的波前检测对比实验。结果显示,在晶体上50μm横向空间分辨率下,该装置的单次扫描斜率检测精度达到25~50 nrad RMS,波前高度检测精度高达1.5pm RMS;自研晶体波前精度达到60~100 nrad RMS,与参照样品(70~100 nrad RMS)基本处于同一水平,满足HEPS光束线指标要求。团队成员承担PAPS光学系统、HEPS测试束线和光学设计系统等多个项目任务。接下来,团队还将进一步优化实验条件,提升波前检测能力,完善晶体加工工艺。图1 晶体双刃波前检测实验图2双刃法单次扫描波前检测误差25.8nrad 1.5 pm RMS图3 自研柔性化学机械抛光晶体,波前精度61.7nrad 6.0pm RMS图4 日本进口“晶格无扰乱”晶体,波前精度73.2nrad 7.8pm RMS图5 团队现场合影
  • 谁来挑战我,一款您不可错过的波前传感器
    〖导读〗目前,国际通用的波前传感器主要是四波横向剪切干涉类型的波前传感器,这款波前传感器采用的是国际名企--法国Phasics的专利技术,并在实际应用中得到广大科研工作者的一致认可! 四波横向剪切干涉类型的波前传感器采用的是法国Phasics对传统的夏克-哈特曼波前传感器的改进的专利技术: 四波横向剪切干涉和夏克-哈特曼技术的区别:PHASICS:SID4SH区别技术四波横向剪切干涉夏克-哈特曼是对夏克-哈特曼技术的改进,PHASICS全球售出超过300个探测器。强度采用傅里叶变换方法,测量对强度变化不敏感由于需要测量焦点位置,测量对强度变化灵敏关于测量精度,波前测量不依赖于强度水平。使用方便界面直观,利用针孔进行对准安装困难,需要精密的调节台SID4 产品使用方便。取样SID4-HR达300x400测量点64x6测量点(微透镜数量)SID4-HR具有很高的分辨率。这使得测量更可靠,也更稳定。数值孔径 NA:0.5NA:0.1SID4-HR动态范围更高。空间分辨率29.6μm115μmSID4-HR具有更好的空间分辨率。重复性2nm RMSλ/200( 5nm @1053 nm)更好的重复率,更稳定。获取频率10fps7.5fps分析速度快照明SID4的技术可以消色差。系统对不同波长和带宽响应一致。无需对每个波长进行校准。夏克-哈特曼技术基于微透镜,其特性依赖于波长(由于玻璃色散)。仪器需要对每个波长校正。PHASICS更灵活:可以测试宽波段,而不需要额外校准。Phasics波前传感器与传统哈特曼波前传感器测量结果对比: Phasics公司波前传感器具有高分辨率、消色差测量 、高动态范围 、高灵敏度、设计简洁紧凑、高性价比、测量可重复性高等优良特性 ,可广泛应用于光传输变换中波前特性分析中。谁来挑战我,法国Phasics公司的波前传感器,一款您不可错过的波前传感器:为了能让广大科研工作者更加直观的了解法国Phasics公司的波前传感器,我们瞬渺团队将出席4月14-16日在南京展览中心举办的---2017年中国(南京)国际教育装备暨科教技术展览会。届时,将展出该款波前传感器,瞬渺团队的技术工程师和销售精英亲临现场,为广大科研工作者全面解析法国Phasics公司的波前传感器!瞬渺团队对于瞬渺人来说,客户的支持是对我们团队最大的认可,面对日益激烈的国内市场,瞬渺将一直秉持客户为先的团队理念,为广大科研工作者带来专业的技术和售后支持!2017年4月14-16日,瞬渺团队将亲临南京-展览中心381展位(靠近交流会一区),届时,欢迎您前来咨询!

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波前测试系统相关的论坛

  • 【原创】微波前处理技术应对消费品安全改进法案(H.R.4040)

    近期中国玩具业大规模召回事件屡次发生,据悉,2007年美国CPSC共召回88起,数量约1800 万件的我国产含铅超标产品,2008年8月14日签署了《2008消费品安全改进法案》(H.R. 4040),其中明确规定了儿童产品中铅和邻苯二甲酸酯的含量要求,这一方案的实施成为玩具出口新壁垒,中国玩具业应如何面对?答案毫无疑问关键是加强自身产品的检测力度,建立良好的内部监控系统,实现简便、快速、精确的定量分析铅与邻苯二甲酸酯具有非常重要的实际意义。 基于此,公司协同合作实验室和部分客户对玩具类产品中铅和邻苯二甲酸酯进行了微波前处理和后续分析检测的研究。用微波消解处理玩具类样品用于铅的测定,根据样品的性质我们实验了HCl、 HNO[sub]3[/sub]、 HF、H[sub]2[/sub]O[sub]2[/sub] 等多种酸消解体系考察对玩具类样品的消解情况,并摸索出了一套优化的实验方案,该方法的平均回收率为93.6%-108.3%,RSD为1.9%-4.5%。用微波萃取处理玩具类样品用于邻苯二甲酸酯的测定,对萃取溶剂、微波萃取时间和微波萃取温度选做了考察,摸索出了优化的实验方案,该方法平均回收率为91.6%-103.3%,RSD为2.5%-4.8%。以上实验皆取得了满意的结果,满足企业及检测机构的要求。

  • 【原创】微波前处理技术应对消费品安全改进法案(H.R.4040)

    近期中国玩具业大规模召回事件屡次发生,据悉,2007年美国CPSC共召回88起,数量约1800 万件的我国产含铅超标产品,2008年8月14日签署了《2008消费品安全改进法案》(H.R. 4040),其中明确规定了儿童产品中铅和邻苯二甲酸酯的含量要求,这一方案的实施成为玩具出口新壁垒,中国玩具业应如何面对?答案毫无疑问关键是加强自身产品的检测力度,建立良好的内部监控系统,实现简便、快速、精确的定量分析铅与邻苯二甲酸酯具有非常重要的实际意义。基于此,我们公司协同合作实验室和部分客户对玩具类产品中铅和邻苯二甲酸酯进行了微波前处理和后续分析检测的研究。用微波消解处理玩具类样品用于铅的测定,根据样品的性质我们实验了HCl、 HNO3、 HF、H2O2 等多种酸消解体系考察对玩具类样品的消解情况,并摸索出了一套优化的实验方案,该方法的平均回收率为93.6%-108.3%,RSD为1.9%-4.5%。用微波萃取处理玩具类样品用于邻苯二甲酸酯的测定,对萃取溶剂、微波萃取时间和微波萃取温度选做了考察,摸索出了优化的实验方案,该方法平均回收率为91.6%-103.3%,RSD为2.5%-4.8%。以上实验皆取得了满意的结果,满足企业及检测机构的要求。如果需要具体的应用方法,请拨打电话:021-54427057 / 54427605 / 54426558转市场部马小姐咨询,或发Email至marketing@eu-chem.com索取。

波前测试系统相关的耗材

  • 波前分析仪系统配件
    波前分析仪系统配件受机械噪声和振动的影响小,可以分析宽范围内的波长,也可以测量连续波,飞秒级的脉冲辐射,是实时测量的。可以用来测量波长、光束强度同时估算光束质量。该传感器(分析仪)可以轻易地置入自适应光学系统中使用!波前分析仪测量结果显示:桌面:PV, RMS.以泽尼克表示的波前像差系数最高是36和赛德尔像差(倾斜、离焦、像散、彗差、球面)。激光束表征参数。图形窗口:Hartmannogram图像。各种相位和光束强度(灰度或调色板)的3D,2D图形分布图,合成的条纹和梯度映射图根据获得的数据改变。光束的点扩展函数表示聚焦中的光强分布。不同类型的光束孔径(圆形,椭圆,矩形,多边形)。对齐选项。报告以多种格式储存,可以打印图像。 软件具有用户友好型图形界面,界面上有菜单,热键和帮助项。波前分析仪应用: 科学研究中心,教育和研究实验室。生产激光系统和激光机床的工业企业或商务公司。制造业,使用激光辐射为工具用在不同技术领域,特别是必须要精确控制光束的应用研究光学测试设备的制造业。医疗和诊断中心。范例,该照片显示了11WFS是如何置入自适应光学系统(AOS)。AOS是为了校正波前像差。入射光束从第一平面反射,然后从可变形反射镜发射,穿过分离器。一部分光束到达11WFS和另一部分穿过输出孔。波前分析仪配件:光学接口:调整系统,让光束准直可达100 mm。固定支架上是中性密度滤光器(30%,1%,0.1%,直径25mm,光学质量是λ/ 10)。平面参考波前源(准直器,一个波长的光纤耦合激光器,固定支架)。STANDA公司的线路板和机械工具。波前分析仪规格波长范围, mm 400...1100传感器的孔径(布局), mm 1/3"(1/2") - 4.5x2.8 (6.4x4.8)相机分辨率 744х480 pixels(1 / 3“相机的基础版本)微透镜阵列参数, (间距,mm-焦距,mm)0.15 - 6(基础版本)微透镜数 30x18 (42x32)帧速率 60 Hz波前精度 波长/ 10波前动态倾斜范围 波长*50尺寸 55 x 55 x 70 mm
  • Shack-Hartmann 波前分析仪 波前测试仪 波前传感器
    Imagine Optic公司致力于Shack Hartmann波前测试仪的设计,制造和销售,其应用于光学计量以及激光束计量领域: 在光学计量领域提供服务 提供用于激光应用、特殊显微镜方面相适应的光学解决方案 提供车辆铁路动能测量、雷达速度测量、惯性导航仪测量等一系列测量设备 Shack-Hartmann (SH) 波前传感器在自适应光学中广泛使用。它的基本原理是把波前划分为若干个子孔径,在各个子孔径上分别测量两个正交方向上的波前偏导值,即波前斜率,然后根据子孔径上的波前斜率进行波前复原计算,得到整孔径上的波前位相. http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_testimony_wavefront-sensor-and-adaptive-optics-for-femtosecond-lasers.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_sl-sys-neo_miniature-optics-and-objectives-characterization-system.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_sl-sys-liquid_liquid_lens_characterization-system.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_sh-ltp_shack-hartmann-long-trace-profiler.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_selection-guide_wavefront-sensors_adaptive-optics_components_solutions.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_press-release_US-2010.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_press-release_HASO-R-Flex_en.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_mirao52e_electromagnetic-deformable-mirror.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_hasov3_shack-hartmann_wavefront-analysis-software-for-haso-wavefront-sensors.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_HASO_R-Flex_auto-illuminated-wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_HASO3_precision_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-xeuv_x-ray_extreme-ultraviolet_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-wsr_wide-spectral-range_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-nir_near-infra-red_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-hp_high-performance_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-first_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-fast_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_casao_adaptive-optics-command-and-control-software.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_application-note_HASO-shack-hartmann-wavefront-sensor-and-beam-profiler.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_application-note_adaptive-optics-high-power-lasers.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_application-note_absolute-measurement-with-haso-shack-hartmann-wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_aokit-bio_adaptive-optics-kit-for-bioimaging.pdf
  • 波前传感器
    波前传感器ML4560.波前传感器由传感器头部和新软件raylux ML1240组成,它具有高动态范围及高精度。传感器头部为预校准的,基准波前已置于软件之内。无需再校准即可进行高精度的测量。该软件包括激光波前的分析,并且光束质量分析软件beamlux ML1200符合ISO标准。运用ML3743摄像头,可随意的对光束进行分析。规格:
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