波前测试系统

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

哈特曼波前测试仪　　WFS150系列Shack-Hartmann波前测试仪，提供了精确、快速的波前测量和光束的强度分布。该仪器是通过分析经微透镜阵列成像于CCD的光斑场的位置和强度进行测量的。使用Thorlabs提供的Shack-Hartmann波前测试仪，可以动态的优化激光波前、测量光学元件波前差，为自适应光学控制提供实时的反馈。　　Shack-Hartmann波前测试仪由前端带微透镜阵列的高精度的USB2.0（1.3M 像素）CCD相机和软件包组成。全功能的控制和分析软件具有良好的用户界面，菜单包括相机设置、标定、分析和显示项等。CCD相机SM1螺口可方便固定ND滤光片以防CCD像素饱和，及透镜套管以减少散射光，并可用于其他元件的固定。WFS150系列特点：实时照射和相位测量CW或脉冲光源CCD相机指标：型号：DCU224M分辨率：1280× 1024快门速度：83-1460ms最大帧率：15帧/秒尺寸：34× 32× 48.3mm接口：USB2.0软件特点：计算参量照射和相位分布模式或区域的重建波前波前RMS斜度、聚焦、像散，慧差、球差及高阶像差等Zernike和傅立叶表示显示/输出：初始点场成像强度分布重建3D波前表列高度输出微透镜阵列特征 型号 微透镜阵列 有效焦距 特点 WPS150MLA150-7AR.7mm AR膜（400-900nm） WPS150CMLA150-5C5.2mm 铬掩模（200-1100nm）　　Thorlabs提供两种型号的Shack-Hartmann波前分析仪。WPS150，带400-900nm增透膜微透镜阵列，适合对反射敏感的应用领域。WPS150C，由铬掩模微透镜阵列组成，阻止透镜间光传输，具有很宽的光谱范围（200-1100nm），但表现出较强的光反射。

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词：分析仪，PHASICS波前分析仪，波前传感器，波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。特点：u 高分辨率（250x250）u 通光孔径大（8.0mmx8.0mm）u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高（0.5um）u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点：? 波长范围：400-1100nm? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑，体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。特点：u 波长范围：400-1100nmu 高性能的相机，信噪比高u 实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点：2 高分辨率（160x120） 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点：u 光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。 u 光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等u 高分辨率（96x72） u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸（mm2）3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合，可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比： 技术参数对比：PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时，已经申请技术专利，是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似，误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高，波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难，需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点（多个微透镜）PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA：0.5NA：0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活，可以测试宽波段，而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器

SID4 HR 为要求最为苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 µm PV）。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束，而无需添加任何中继镜或准直光学系统。主要特点416 x 360超高相位取样分辨率9.98 x 8.64 mm² 大分析靶面可接收最高至NA=0.8高数值孔径发散光束产品应用• 激光，自适应光学及等离子体检测• 光学元件及光学系统计量• 微观材料检测SID4 SWIR HR光谱 短波红外 (900 - 1700 nm)SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。主要特点覆盖 0.9 to 1.7 µm 短波红外波段160 x 128 高相位分辨率高感光灵敏度 - 可适用于低功率红外光源测试应用• 激光，自适应光学及等离子体检测 • 光学元件及光学系统计量SID4 DWIR光谱 中红外 (3 - 5 µm) 远红外 (8 - 14 µm)SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。主要特点160 x 120 高相位分辨率中远红外双波段2合1高数值孔径测量无需过渡镜产品应用• 激光，自适应光学及等离子体检测 • 光学元件及光学系统计量KALEO套件光谱 紫外(190 - 400 nm) 可见光 - 近红外 (400 - 1100 nm) 短波红外 (900 - 1700 nm) 中红外 (3 - 5 µm)Kaleo套件是用于光学计量的模块化系统。 它由多种相互兼容的模块组合而成，可让用户搭建一个经济有效，体积紧凑且易于使用的完整光学测试系统。该系统可适应各种测量场景，确保从研发至生产等不同阶段样品的光学品质鉴定。该系统单次采集即可获得待测样品的所有光学特征，包括：波前像差，MTF，PSF等。主要特点多功能性：覆盖从紫外到红外多个波段的独立解决方案及兼容模块强大独特的波前技术：兼顾高分辨率、高动态范围及纳米级相位灵敏度操作简易：系统紧凑且便于快速对准产品应用• 光学元件及光学系统计量

美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪（CLAS-2D™ , CLAS-XP™ , CLAS-HP™ , CLAS- NearIR-320™ , CLAS-NearIR-640™ ）能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数，例如波前倾斜，峰谷误差，均方根波前误差，像散，球差，聚焦误差/准直。LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪，光束质量分析仪，自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。波前分析仪产品特点：CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。波前分析仪应用范围：? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域 CLAS-2DTM产品型号汇总 COMPLETE CLAS-XP System型号81000-0081000-4681000-4781000-4881000-4981000-50焦距（mm）2.02.0474.758.1915.4825.08灵敏度λ/30λ/30λ/50λ/100λ/150λ/200动态范围120λ120λ80λ60λ40λ30λ透镜尺寸（mm）0.0720.0720.1080.1440.1980.252透镜阵列102*102102*10268*6851*5137*3729*29 COMPLETE CLAS-HP System型号81000-2081000-2181000-2381000-24焦距（mm）4.987.7819.9229.62灵敏度λ/100λ/150λ/200λ/250动态范围211λ169λ105λ115λ透镜尺寸（mm）0.1120.1400.2240.280透镜阵列128*128102*10264*6451*51 COMPLETE CLAS-Near IR 320 System型号81000-3281000-3381000-3481000-3581000-3681000-27焦距（mm）25.6936.9911.4417.8725.749.3灵敏度λ/83λ/100λ/46λ/58λ/70λ/50动态范围44λ37λ78λ63λ53λ55λ透镜尺寸（mm）0.4000.4800.3200.4000.4800.225透镜阵列24*1920*1630*2424*1920*1671*56

ＳＩＤ４　ＵＶ－ＨＲ（紫外光） 基于相位的专利技术, 在190纳米到400纳米波段，SID4 UV-HR波前分析仪（在紫外光谱范围内）具有超高的分辨率(250 x250)和极高的灵敏度(0.5 nm RMS)。因此SID4 UV-HR是完全适应光学组件描述(用于光刻、半导体)和表面检测(镜头,晶片……)主要特点．超高分辨率　２５０×２５０．高灵敏度　　０．５ｎｍ RMS．大型分析孔　８．０×８．０ｍｍ.可以直接对光学器件表面进行测量　推荐用途．紫外激光器：光束的测量和校正．光学：紫外线光学（半导体）测试和表面测量。ＳＩＤ４　ＵＶ－ＨＲ的详细规格ＳＩＤ４　UV-HR单位数据波长范围nm190-400框口尺寸mm^28.0*8.0空间解析度Um32相位和强度抽样250*250分辨率nmRMS0.5精密度nmRMS10采集率fps 30实时处理频率fps1尺寸(w*h*l)mm95*105*84重量g900

法国Phasics公司波前分析仪 公司成立于2003年，从法国科学研究中心LULI实验室分拆出来，技术源于法国国家航天实验室。其独特四波横向剪切干涉技术，克服了夏克-哈特曼技术的限制，具有高分辨率、高动态范围、高稳定性、易使用、零色差等特点。 Phasics公司的波前分析仪结构紧凑，在没有中继光学器件的情况下可对激光进行直接测量：位相、泽尼克/勒让德系数、斯特列尔比、PSF、光斑直径、束腰位置、M2等全方位的激光参数信息。Phasics以客户为中心，关心满足所有需求：其强大的研发团队不断开发创新功能和探索新应用，并根据客户要求定制标准配置。 1、主要应用 激光 自适应光学及等离子体检测 光学元件及光学系统计量 微观材料检测 2、技术参数型号波段口径空间分辨率相位分辨率取样分辨率绝对精度采样速率实时处理速率SID4-UV-HR190-400nm13.8×10.88mm38.88um1nmRMS355x28010nmRMS30fps＞3fpsSID4-UV250-400nm7.4×7.4mm29.6um2nmRMS250x25010nmRMS30fps＞2fpsSID4-sC8400-1050nm16.61×14.04mm19.5um＜1nmRMS852x720NA40fps10fpsSID4-Bio400-1100nm11.84×8.88mm取决显微镜放大倍率＜1nmRMS400x300NANANAfpsSID4-HR400-1100nm11.84×8.88mm29.6um2nmRMS400x30015nmRMS10fps3fpsSID4400-1100nm4.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS40fps＞10fpsSID4-UHR400-1100nm15.16×15.16mm29.6um（可拓展至22.2um）2nmRMS512x512 (可拓展至666x666）15nmRMS8fps1fpsSID4-V400-11004.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS60fps＞10fpsSID4-SWIR900-1700nm9.6×7.68mm120um＜2nmRMS80x6415nmRMS30fps7fpsSID4-eSWIR900-2350nm9.6×7.68mm120um＜6nmRMS80x64＜40nmRMSNA10fpsSID4-SWIR-HR900-1700nm9.6×7.68mm60um2nmRMS160x12815nmRMS30fps7fpsSID4-DWIR3-5um 8-14um10.88×8.16mm68um25nmRMS160x12075nmRMS50fps＞10fpsSID4-LWIR8-14um16×12mm100um25nmRMS160x12075nmRMS24fps10fps3、Phasics还可以基于现有的波前分析仪根据客户要求定制各种测量系统。1）多色动态干涉仪Kaleo MultiWAVE主要特点：最高可以集成8个波长波长可以覆盖紫外到中远红外透射波前误差和反射波前误差均可测量纳米级相位分辨率＞500条纹数超高的动态范围 最高130mm的有效口径RMS重复精度＜0.7nm(＜λ/900)精度80nm PV动态范围500条纹数可测反射率范围4%-100%光学结构双通道波长数量1-2，最高至8波长范围193-14um有效口径130mm视场角对准±2°可调对角范围±2.5m2）全自动镜头质量检测工作站Kaleo MTF主要特点：同轴（＜1%）和离轴（＜2%）MTF精确测量大视场角测量（广角镜头、鱼眼… … ）汽车/移动物镜的轻松镜头定位适应生产环境全自动测量，一次采集可以得到完整的测试参数共轴OPD精度＜20nmRMS共轴重复精度＜0.5%离轴重复精度＜1%MTF最大截止频率1000lp/mmEFL重复精度0.5%共轴OPD重复精度＜5nmRMS光学设置有限到无限配置波长405-940nm,最高8波长入射直径最高8.8mmf#＞1.7焦距5-40mm法兰焦距8-33mmFOV可至±90°主射线角可至50°更多信息，请与我们联系！

瞬态(近红外)激光波前畸变检测干涉仪是将空间位相调制的共路剪切干涉技术与数字化波面高新计算技术相结合研制的新颖干涉系统，是浙江大学光电系现代光学仪器重点实验室、杨甬英等教授集多年基础、数年攻关完成的目前国内首台利用干涉方法仅需单幅干涉图就可以高分辨率检测各类高、低功率的脉冲激光、连续光波前畸变、检测各类高精度大口径精密表面的面形、动态检测各种流体的变化等。仪器抗噪、抗干扰性好特别适合于现场的实时检测。波前及面形的检测分辨率高，可高精度测量较大的波前畸变量，可以用于瞬态图象高速采集及检测。波前检测软件输出信息量丰富、可适用于不同波段的可见光、红外波段的检测。经权威单位与ZYGO干涉仪比对测试，近红外脉冲激光波前畸变检测的波前均方根已优于1/15波长。瞬态激光波前畸变检测干涉仪已达到国际先进、国内领先的先进水平。仪器技术指标：1、应用波长：从紫外、可见光至中远红外波段（波长可根据用户不同要求确定）；2、光束接收口径：F10mm ～用户任定口径；3、仪器精度及重复性：波前均方根优于1/15波长；4、测量范围：波前畸变检测量可达50 mm；5、可用于脉冲光、连续光、各类精密表面面形测量：测量脉冲激光的脉宽可达1ns；6、光学系统具有高激光损伤阈值；7、高分辨率数据采集系统:科学级CCD相机，空间分辨率至1024× 1024以上或用户定；8、仪器利用共路剪切干涉技术，抗振动性好,可放于任何工作台现场使用；9、光束波前诊断软件包：给出检测波前位相（可以是光束波前、面形或流体的形变等）的三维图形、等高图、波前畸变的PV 值、均方根值、波面梯度值等；给出表征光束能量分散度的Streh1比；光学系统象差的评价参数OTF和PSF；软件具有友好的图形工作界面，工作于Windows 2000以上平台，软件有各类数据图象及数据输出功能。应用范围：本仪器是动、静态皆可检测的系统，可应用于航空、航天、航海及国民经济诸多领域：1. 配备高速的CCD与图象转换系统，可以检测具有较大畸变、快速变化的气体折射率密度场、高速绕流流场，获取高速飞行体在各个瞬间状态的三维流场的相关参数。并且可以应用于流体显示技术、空气动力学方面的研究。2. 良好的抗振性特别适合于在车间、现场进行各类精密表面面形的分析测量、不同尺寸的光学元件、硅片、金属表面面形、非球面等各类元件的精密检测。3. 可以检测各类高能激光系统的静态、动态波前畸变，特别为1053nm的近红外脉冲波前检测提供一个高精度、高分辨率的检测结果。系统配备标准近红外光源，可以检测1053nm 波段的各类光学材料的透射特性参数。图2是系统软件输出界面。图3是已实际用于纳秒级高能脉冲波前检测的干涉图。图4是纳秒级高能脉冲波前重构的三维图。

Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR【Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要特点160 × 120 高相位取样分辨率1550 nm 高性价比解决方案体积轻小便于光学系统内集成二、SID4-NIR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。 三、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR应用领域激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统对准四、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要规格波长范围1.5-1.6 μm靶面尺寸4.73 x 3.55 mm2空间分辨率29.6 μm取样分辨率160 x 120相位分辨率 11 nm RMS绝对精度15 nm RMS取样速度 60 fps实时处理速度 10 fps (全分辨率下)*接口种类FireWire IEEE1394B五、更多参数选型

法国Phasics推出真空环境兼容波前分析仪SID4-V 为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量，气流，等离子体密度测量分析，以及光学系统装配的需求。法国phasics推出了新型高精度波前分析仪sid4-v，是目前市场上仅有一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪，广泛应用于高功率激光测试中。产品特点：可适用于＞10-6mbar真空环境高分辨率160×120相位像素光谱范围从400 nm到1100 nm可测量发散光束热和机械真空不改变测试结果真空循环下无任何性能下降真空和常压下均可使用 产品参数：真空相容性10-6mbar波长范围400 - 1100 nm通光孔径3.6 x 4.8 mm2空间分辨率29.6 μm采样点（相位/强度）160 x 120 ( 19 000 points)相位相对灵敏度 2 nm rms相位精度10 nm rms动态范围 100 μm采样频率 100 fps实时分析频率 10 fps (full resolution)数据接口giga ethernet尺寸(w x h x l)54 x 46 x 75.3 mm重量~250 g关于phasics：法国phasics公司自主研发的波前传感器是基于其专利的四波横向剪切干涉技术。相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析等提供了全新的解决方案。 法国phasics波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统oa-sys，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求。波前分析仪主要应用领域：1. 激光光束参数测量：相位（2d/3d），m2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形3. 元器件表面质量分析：表面质量（rms，ptv，wfe），曲率半径4. 光学系统质量分析：mtf, psf, efl, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制5. 热成像分析，等离子体特征分析6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像SID4 V VacuumPhasics is innovating by proposing the first off-the-shelf vacuum compatible wavefront sensor on the market. The SID4 Vis designed to perform wavefront measurements under high vacuum. the wavefront measurement is realized in-situ in the same condition as the experiment. Our new SID4 V vacuum wavefront sensor is also used to characterize laser beams after compression inside the compressor vessel. Finally, gas jet and plasma density are now measured as close to the target as possible.BENEFITS: With Phasics’s unique strategy it’s now possible to correct the aberrations of every single optical element up to the target location inside the vacuum chamber.Key FeaturesVACUUM COMPATIBLE & HIGH RESOLUTION | DESIGNED FOR VACUUM DOWN TO 10-6 mbarVacuum compatibility 10-6 mbarHigh resolution 160 x 120 phase pixelsSpectral range from 400 nm to 1100 nmDiverging beam compatibleInvariant to thermal and mechanical vacuum constraintsTolerates vacuum-cycles without any performance decreaseBoth functional under vacuum and atmospheric pressureLow outgassing SpecificationsVacuum compatibility 10-6 mbarWavelength range400 - 1100 nmAperture dimension4.73 x 3.55 mm2maximum NA (optional software necessary)0.2Spatial resolution29.6 μmPhase & intensity sampling160 x 120Accuracy15 nm RMSResolution (Phase)2 nm RMSAcquisition rate60 fpsReal-time processing frequency7 Hz (full resolution)InterfaceGiga EthernetMTBF 10 yearsDimensions (w x h x l)54 x 46 x 75.3 mmWeight~ 250 g SID4 Density softwareIntroductionSID4 DENSITY software package supports the whole process to measure gas and plasma electron density. It calculates density maps from phase acquisition. It also offers various options for acquisition and data analysis.SpecificationsWORKING CONDITIONSApplicationAny axisymmetric monoatomic gas jet/plasma for inverse-Abel transform analysisProbe sourceWhite light (halogen), LED, laser or fs-laserPressureFrom 2 to 300 barsPlasma lengthDepends on the imaging system (typically 2 mm long and diameter of 0.2 mm)SOFTWAREAcquisitionReal Time, programmed, triggerSettingsWavelength, magnification, jet direction, gas typeAnalysisDensity map & profiles, Symmetrization, filtersPerformances such as the spatial resolution or the density resolution entirely depend on both the optical set-up (imaging system, probe source) and the injected gas (molar refractivity). Please contact us for an estimation of specifications for your set-up. As an example, for an laser produced plasma using an Argon gas jet at working pressure between 2 and 300 bars, the lowest measured Argon density in a single shot is: 1017 particles/cm3 with a nozzle of 1.5 mm diameter.

Phaseform是从德国弗莱堡大学微系统工程系(IMTEK)的微光学实验室衍生出来的一家高科技公司。Phaseform的目标是使得AO变得经济实用，并将数十年的尖端AO研究成果与创新的产品和技术结合起来。Phaseform立志成为自适应光学技术领域的领军企业，在自适应光学新时代实现持续创新的清晰愿景。Phaseform基于创新的硬件和软件组件开发折射自适应光学(Adaptive optics 简称AO)系统。AO方法的核心是一种新型的光流体微系统技术，称之为可变形相板(Deformable Phase Plate 简称DPP)。其独特的功能将可变形反射镜和透射式液晶空间光调制器的优点结合在精巧的结构中，从而为新型超紧凑，高效，透明波前调制器铺平了道路。Phaseform的可变形相位板(DPP)是一种新型的全透射式微型波形调制器，它可以进行动态、实时的像差校正，而且就像普通透镜一样，可以直接放置在光束路径中。 DPP技术关键特点-透射：DPP采用折射方式工作，它偏振无关且透明，使得新型连续片波面调制器无需折束光学器件即可插入任何光束路径。-紧凑：DPP 允许超小尺寸设备和全新的自适应光学系统设计。-高分辨率：DPP 在可见光范围内的多个波长上提供高空间频率校正（包括球差）。-可扩展：DPP采用MEMS微纳加工、高精度组装和光流体封装方法（一种强大且可扩展的技术）创建。DPP技术应用-生命科学与显微镜-视觉科学与眼科学-材料科学与半导体-3D 微纳米打印-AR、VR、MR-天文学高空间频率波前校正DPP 可以在水平和垂直方向上以开环方式复制 Zernike 模式，最高可达 7 阶径向模式。同时注意一阶和二阶球面模式的保真度和振幅，在许多成像场景中都至关重要。Phaseform DPP的大部分电极位于清晰的瞳孔内，在透射、紧凑和高效的设备中提供了连续片可变形反射镜的多功能性。DPP数字模型Phaseform提供了使用DPP技术的数字模型的机会。利用该模型，可以分析和优化DPP引入的相位调制对波前像差、光束整形和自适应光学应用等各种光学参数的影响。DPP和光线追踪模拟之间的这种集成使得能够在虚拟环境中探索、改进和完善光学设计，从而大大减少了对昂贵的物理原型的需求。产品规格光学参数外壳尺寸

天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus产品型号：ClearWave Plus关键字：LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus关键字描述：这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度（CT），矢状高度（SAG），直径，曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。产品介绍：ClearWave Plus是隐形眼镜制造商的计量解决方案，可同时测量以下各项：球体，圆柱体，轴Zernike WaveFront像差直径，CT，凹陷标签功率所有这些操作都只需一个按钮即可实现。ClearWave Plus将改良的ClearWave与行业标准OptiGauge厚度测量系统结合使用。这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度（CT），矢状高度（SAG），直径，曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。由于ClearWave和OptiGauge系统已在全球的隐形眼镜制造商的研发实验室和生产设施中实施，因此Lumetrics是眼科相关测量解决方案的提供商。 ClearWave Plus在单一的操作员友好型解决方案中提供了这些产品中更好的产品，从而减少了对隐形眼镜的处理。ClearWave Plus设计用于快速，准确地检查隐形眼镜。参数：高分辨率ClearWave波前传感器（标准）：101x101小透镜阵列网格视野：10.4 x 10.4毫米空间分辨率：0.104毫米球面范围：-74至+37 D（典型湿镜）干球范围为+8至-16屈光度圆柱体范围：典型湿镜±27 D干圆柱范围为6（+/- 3）屈光度球面像差精度0.004（干）球差重复精度0.002 um（干）棱镜测量：棱镜测量0至3棱镜屈光度，适用于干镜棱镜精度0.1棱镜屈光度棱镜重复性0.05棱镜屈光度尺寸测量：直径max.20mm，±25μm厚度和CT-方法论-低相干干涉法-精度0.1μm-重复性0.1μm-测量波长1310nm天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国家原装进口的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理 法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR产品负责人：姓名：沈工(Max)电话：（微信同号）邮箱：【Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics高分辨率紫外波前传感器/ 波前分析仪SID4-UV-HR主要特点低至190nm波长感光灵敏1 nm RMS高相位灵敏度355 x 280超高相位取样分辨率二、SID4-UV-HR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。 三、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR应用领域紫外光学测量| 光刻或半导体应用紫外激光表征| 透镜和晶圆的表面面型检测| 自适应光学四、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR主要规格波长范围190 - 400 nm靶面尺寸13.8 x 10.88 mm2空间分辨率38.88 μm取样分辨率355 x 280相位分辨率1 nm RMS绝对精度10 nm RMS取样速度30 fps实时处理速度 3 fps (全分辨率下)*接口种类CameraLink五、更多参数选型

一, 单模/保偏全光纤移相器 1550nm (相位调制器)全光纤移相器是一种结构紧凑、操作简单、全光纤的宽带操作设备。对引脚施加电压，可以对通过该装置的相移进行可控的修改。移相器提供相位改变量高达50rad。没有在线接口，允许利用光纤的全功率处理能力，并提供几乎为零的额外损耗和PDL。单模/保偏全光纤移相器 1550nm (相位调制器),单模/保偏全光纤移相器 1550nm (相位调制器)通用参数产品特点：全光纤简单电流控制50rad 的相移量 低插入损耗 低驱动电压产品应用：干涉仪稳定器 干涉传感器 光纤相位控制技术参数参数单位指标波长范围1nm1300 - 1610插入损耗2dB0.01总相移radians50 150 or on request时间常数（10%至90%）ms800回波损耗dB70驱动电流mA0 - 65最高电压V0 - 5工作温度范围0C-5 to 70储存温度-40 to +85光纤类型SMF28, PANDA输入和输出光纤的长度mm 1000规范说明1设备将在全波长范围内运行。也可定制其他波长范围。2损耗不包括连接器 二, 透射式波前调制器透射式波前调制器Delta7，它配备了专用的驱动器和控制软件。这款创新性的透射式波前调制器基于可变形相位板Deformable Phase Plate (DPP)技术，其独te的特点将可变形镜和透射式液晶空间光调制器的优点以紧凑的形式结合起来，成为一种新型的超紧凑、高效、透明的透射式波前调制器。透射式波前调制器,透射式波前调制器通用参数产品特点折射式光流波前调制器63致动器可变形相位板（DPP）径向Zernike模式修正到7阶孔径10 mm可共用的 带30 mm光笼系统包括驱动电子设备和开环控制软件下图分别是：可变形镜，液晶空间光调制器，透射式波前调制器波前调制器(WM)是一种用于局部改变光路长度(OPL:几何长度和折射率的乘积)的有源器件。目前主导该领域的WM有两种流行类型:液晶空间光调制器(LC-SLM)和可变形镜(DM)。前者使用密集填充的LC元件来局部修改OPL。因此，它们具有很高的空间分辨率，可以再现离散的相位跳跃，但容易产生衍射损失。此外，相位调制与偏振调制是耦合的，只有通过滤掉偏振分量才能避免这一点，这会导致光效率的显著损失。可变形镜(DM)提供高速、大振幅、波长和偏振无关的波前调制，从根本上解决了LC-SLM的主要缺点。然而，对于许多应用来说，可变形镜的反射特性带来了系统规模大、复杂性和成本方面的缺点。可变形相位板(DPP)是一种新型的全透射超小型化波形调制器。它可以进行动态、实时的像差校正，但就像普通透镜一样，可以直接放置在光束路径中。DPP技术的关键技术特点可归纳如下:透射式：它是偏振无关和透明的，这种新型波前调制器可以插入到任何光路中，而不需要光束反射折叠。紧凑：它有非常小的尺寸，允许非常紧凑的系统设计。高分辨率：DPP可在可见范围内的多个波长范围内提供高空间频率校正(包括球差)。可扩展：晶圆级制造、光流控封装和高精度组装使其成为一种强大的可扩展技术。

意大利SpotOptics夏克-哈特曼波前传感器Spot Optics 夏克-哈特曼波前传感器可覆盖超宽光谱多波长，包括紫外（157nm-400nm）、可见近红外（400-1064nm）、短波红外（900-1700nm）、中波红外（2-5.4μm）和长波红外（8-14μm）。测量时不受口径限制（如果扩束系统受限，用准直物镜确保与传感器NA匹配）；实现轴上和轴外波前测量，甚至扫描全视场，以及多视场同时测量；可测量多种出瞳形状：圆形、椭圆形、带中心遮拦（中心孔）、六边形等；提供Single Pass、Double Pass两种测量光路来已满足不同应用要求；IOPTINO系列波前传感器+电子自准直仪双通道，结构紧凑，尺寸仅150x100x50mm, 重量400g；电子自准直仪可用于光路调试。Spotoptics波前传感器中的微透镜阵列可自行更换，以满足不同波长的测量需求。 Spotoptics OMI系列波前传感器灵活多变用于研发、还有Optino、OPAL300、5 Stars、STELLA系列等波前测量系统应用于快速量产； 应用范围激光方面：可进行激光光束波前及光束质量分析，mW～MW，支持10.6um CO2激光；可替代光束质量分析仪使用，获得比光束质量分析仪更完整的激光波前信息；天文望远镜：用于大型天文望远镜共位相误差测量，自带主动温度补偿；美国6.5米毫米波望远镜使用puntino测量波前；高速测量：实时显示测量结果，较高速波前采集频率达到8000 Hz，可应用于分析ms级响应的液体镜头；还可进行变温下FFL变化量测试；变温下MTF测量；其他应用：用于主动光学系统、自适应光学系统；光学元件均匀性测量，非球面等；非破坏性光学元件折射率测量，非球面测量等。 对比试验数据（测试波长：632.8 nm）：

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

型号波长μm孔径mm2空间分辨μm采样点精度/绝对精度nm RMS分辨率/灵敏度nm RMS动态范围μm采样频率fpsSID4 UV0.25-0.47.4 x 7.429.6250x25010210030SID4 UV-HR0.19-0.48.0x8.032250x250100.510030SID40.4-1.13.6x4.829.6120x16010210060SID4 HR0.4-1.18.9x11.829.6300x40015250010SID4-sC80.45-116.6 x 14.019.5852 x 72010110040SID4 NIR1.5-1.63.6x4.829.6120x160151110060SID4 SWIR0.9-1.77.68x9.6012064x80152100120SID4 SWIR-HR0.9-1.77.68x9.6060128x160152100120SID4-eSWIR1.0-2.359.6x7.6812080x6464010060SID4 DWIR3-5&8-148.16x10.8868120x160752510050SID4 LWIR8–1412x16100120x160752510024SID4 V Vacuum0.4-1.13.55x4.7329.6120x16015210060For high vacuum: Vacuum compatibility 10-6 mbar maximum NA:0.2 MTBF10 years产品介绍：法国PHASICS 的波前分析仪，基于其波前测量专利——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种独特的专利技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。主要应用领域：激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数自适应光学：焦斑优化，光束整形元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制热成像分析，等离子体特征分析生物应用：蛋白质等组织定量相位成像产品特点：高分辨率：最多采样点可达120000个可直接测量：消色差设计，测量前无需再次对波长校准消色差：干涉和衍射对波长相消高动态范围：高达500μm防震设计，内部光栅横向剪切干涉，对实验条件要求简单，无需隔震平台也可测试一，四波横向剪切干涉技术背景介绍Phasics四波横向剪切干涉：当待测波前经过波前分析仪时，光波通过特制光栅（图1）后得到一个与其自身有一定横向位移的复制光束，此复制光波与待测光波发生干涉，形成横向剪切干涉，两者重合部位出现干涉条纹（图2）。被测波前可能为平面波或者汇聚波，对于平面横向剪切干涉，为被测波前在其自身平面内发生微小位移发生微小位移产生一个复制光波；而对于汇聚横向剪切干涉，复制光波由汇聚波绕其曲率中心转动产生。干涉条纹中包含有原始波前的差分信息，通过特定的分析和定量计算梳理（反傅里叶变换）可以再现原始波前（图3）。技术优势高采样点：高达400*300个采样点，具备强大的局部畸变测试能力，降低测量不准确性和噪声；同时得到高精度强度分布图。消色差：干涉和衍射相结合抵消了波长因子，干涉条纹间距与光栅间距完全相等。适应于不多波长光学测量且不需要重复校准，可直接测量高动态范围波前：可见光波段可达500μm的高动态范围；可测试离焦量，大相差，非球面和复曲面等测。

Shack-Hartmann 波前传感器产品特点：●对机械噪声和振动不敏感●宽波长范围●可测连续、脉冲辐射，包括飞秒脉冲●可测波前形状、光斑强度，同时估算光斑质量●传感器可以容易地集成到自适应光学系统（AOS）产品应用：●科学研究中心，教学和研究实验室●生产激光系统和激光设备工具的公司●使用激光辐射作为设备的生产企业，特别是需要精密光束控制的企业●研发光学测试设备的生产企业●医学治疗和诊断中心性能参数：型号11WFS-prime波长范围，nm400-1100传感器口径（格式），mm1/3”(1/2”)-4.5x2.8(6.4x4.8)相机分辨率744x480像素（基础版本1/3”相机）微透镜阵列参数（间距-焦长，mm）0.15-6（基础版本）微透镜个数30x18（42×32）帧速60Hz波前精度Wavelength/10倾斜波前动态范围Wavelength*50尺寸55×55×70mm测量结果显示：表格显示：PV，RMS。根据Zernike模型的波前像差系数（最高36），赛德尔像差系数（倾斜、散焦、像散、慧差、球差），激光光斑特性参数。图形窗口：哈特曼图形光束相位和强度分布的多种3D、2D图像（灰度图或彩图），合成条纹和梯度图根据数据的获取而改变。光束的点分布函数提供焦点的强度分布。不同的光束口径（圆形、椭圆、矩形、多边形）。验证选项。报告以多种格式保存，可以打印图片。 软件：用户友好图形化界面，有菜单、热点按钮、帮助。附件：1）光学接口：用于光束准直的调整系统，最高100mm2）中性密度滤光片（30%，1%，0.1%，?25mm，光学质量λ/10）带装配3）平面参考波阵面源（准直器，单波长光纤耦合激光器，支架）4）STANDA面包板和光机械

德国METROLUX的ML4560波前传感器 波前传感器由传感器头部和新软件raylux ML1240组成，它具有高动态范围及高精度。传感器头部为预校准的，基准波前已置于软件之内。无需再校准即可进行高精度的测量。该软件包括激光波前的分析，并且光束质量分析软件beamlux ML1200符合ISO标准。运用ML3743摄像头，可随意的对光束进行分析。CCD-Sensor2/3”Dynamic12bitPixel #1392 x 1040 Wavelength rangewith optional converter350 nm - 1100 nm 190 nm - 350 nmPupil size8.97 x 6.71 mmMax. frame rate15 fpsSpatial Resolution200 μmNumber of Sub Apertures45 x 34Dynamic Range (Tilt) ± 1,6° (730 lamda)Wavefront Accuracy 16 μradDynamic Range (Focus)72 mm (370 lamda)Accuracy 5 x 10-4 /mSystem Accuracy10 nmRepeatability100 nmWavefront Accuracy50 nmMetrolux 激光M平方计 具有完备的激光光束分析软件 可进行单脉冲M2测量 wavelength400-700nm//700-1100 nmothers on requestLaserbeam diameter6mmothers on requestEnergy Density 5 J/cm² with additional attenuatorPower Density 1000 W/cm² with additional attenuator Single pulse detection 1000 Hz M² 1..20accuracy +-3%Measuring frequency5 Hz Attenuation1...1.000.000automatic

法国ALPAO的WFS-VIS &WFS-SWIR是两款基于Shack-Hartmann原理的波前传感器，主要用于实时测量大气湍流引起的波前失真。两款产品分别适用于可见光波段和近红外波段，其中，WFS-SWIR使用优异的InGaAs传感器。Alpao波前传感器具有高灵敏度和高工作频率的显著优点，而且专门针对延迟进行了优化，以满足用户在严苛条件下的要求。 哈特曼波前传感器WFS-SWIR核心特点：l 高灵敏度：量子效率QE70%@1500nml 高工作频率：高达3kHzl 优化大气校正 哈特曼波前传感器型号及参数：ModelSWIR WFS-69SWIR WFS-97SWIR WFS-277SWIR WFS-468Sensor typeInGaAsAcquisition frequency3kHz2kHz1kHzSensor maximum quantum efficiency90% at 600nmNumber of microlenses8x810x1016x1623x23Microlens pitch240μm264μm240μm167μmSpectral range0.9μm - 1.7μmInterfaceCamera LinkDynamic in tip-tilt / focus (PtV)1 0μm10μm15μm10μmResidual WFE error on closed loop *20nm RMSAbsolute precision *λ/20 RMSRepeatability *10nm RMSTypical noise (RMS) 700 electron(low gain)Typical noise (RMS) 150 electron(high gain)Operating temperature0°C to 30°CRecommended DMDM69DM97DM277DM468备注*: 在良好的光量条件下且没有波前扰动。

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

技术参数： Specifications Sensor Head ML4010波前传感器 CCD-Sensor 2/3&rdquo Dynamic 12bit Pixel # 1392 x 1040 Wavelength range with optional converter 350 nm - 1100 nm 190 nm - 350 nm Pupil size 8.97 x 6.71 mm Max. frame rate 15 fps Spatial Resolution 200 &mu m Number of Sub Apertures 45 x 34 Dynamic Range (Tilt) ± 1,6° (730 lamda) Wavefront Accuracy 16 &mu rad Dynamic Range (Focus) 72 mm (370 lamda) Accuracy 5 x 10-4 /m System Accuracy 10 nm Repeatability 100 nm Wavefront Accuracy 50 nm 主要特点：raylux software ML1205 &bull 快速在线波前计算&bull Computation of Zernike polynomial terms (tilt, defocus, astigmatism,...) &bull Automatic gain and shutter control &bull Automatic synchronization with pulsed lasers &bull Noise and background control &bull Decrease measurement errors by averaging &bull Numerical data files of wavefront &bull 2D/3D display of wavefront viewable from any angle or elevation with zoom &bull Progression view (time dependent view of all important parameters) &bull M2 and beam divergence analysis &bull Additional beam analysis in compliance to ISO &bull Far field analysis &bull Near field analysis &bull Store and recall screens in single or video fashion &bull Fully flexible screen format including save configuration

SID4 DWIR & SID4 LWIR-640 & SID4 IR-MCT(红外光) a. 基于专利技术的SID4 DWIR是一个独特的波前分析仪，它覆盖中红外波段和远红外波段(3-5um& 8- 14um), 对于MWIR和LWIR，它提供了高分辨率的测量(160 x 120)范围，是完全适合红外目标，镜头测试或光束测量的红外激光器(二氧化碳、光参量来源…) b.SID4 LWIR是一个超高分辨率波前传感器，在长波红外区域(8-14um)相位的专利技术以及非制冷焦平面阵列技术使它简洁且易于使用, 因此很容易集成到光具座，远红外线镜头测试或激光光束测量链(二氧化碳激光器, LWIR来源……)。 c.这种独特的波前分析仪拥有极高分辨率和超高灵敏度，并且它在短波红外成像的范围从1.2um到5.5um，因此它完全适在低光红外源,如以黑体或镜头为目标的测试或红外光谱的激光光束测量。 主要特点及推荐应a. SID 4 DWIR 特点高分辨率 160*120 双频 MWIR&LWIR波段消色差 兼容黑体高数值孔径测量 没有中继透镜 应用1. 光学测量, SID4 DWIR在描述红外目标(热成像和安全愿景)，红外镜头(CO2激光器)，MTF,PSF,以及Zernike畸变是非常完美的工具，它也可测试多个波长可能存在的色差2. 在表征激光束的CO2激光器或红外激光源，SID4 DWIR提供了一个全面的光束特性(畸变,M2,强度剖面图,光束参数…)b．SID4 LWIR 特点高分辨率 160*120 消色差 8-14um超长波段 1.2-5.5um高数值孔径测量 没有中继透便于集成应用 1. 对于光学计量,SID4 LWIR是一种独特的工具，用来描述光学的红外热成像,安全性或安全愿景等，并且它也是组成CO2激光器的光学部件，它提供了MTF和畸变。由于它的简洁性，因此可以在工作台或者生产线上进行简单的集成。2. 在激光计量方面,SID4 LWIR给出了全面的光束特性(M2,Strehl radio,强度剖面图,光束参数…)。它适用于远红外线光束测量如CO2激光器,LWIR光参量激光器等 c. SID4 IR-MCT特点超高灵敏度 3nm RMS@3uW/cm^2高分辨率 160*128 即使在低通量条件下依然具有高精确度超长波段 1.2-5.5um高数值孔径测量 在F/1前没有中继透镜上一代冷却MCT探测器应用1. 对于光学计量,SID4 IR-MCT是一种独特的工具，用于描述红外目标或镜头MTF以及畸变和WFE。其高灵敏度也可以和黑体一起进行高光谱测试2. 在激光计量方面,在低红外光范围，量子级联激光器或红外光谱激光器，SID4红外是现有唯一的工具。它提供了一个完整的光束特征参数(畸变,M2,强度剖面图,光束参数……) 具体详细参数参数单位SID4 DWIRSID4 LWIRSID4 IR-MCT波长范围um3-5and8-148-141.2-5.5孔径尺寸mm^210.88*8.1616*129.60*7.68最大孔径mm^2F/1空间分辨率um6810060精确度nm RMS7575相位和强度抽样160*120160*120160*128灵敏度nm RMS@uW/cm^225nm RMS25nm RMS3nm RMS@3uW/cm^2动态范围um300采集率fps5024140实时处理频率fps(full resolution)101020检测技术Cooled MCT尺寸(w*h*l)mm85*115*19396*110*90135*140*240重量kg~1.6~0.85~3.5