保护导体电流测试仪

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保护导体电流测试仪相关的厂商

  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
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  • FISCHER — 让测量变得简便! 现今,FISCHER 的测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供最佳的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。 HELMUT FISCHER集团是一家受德国基金会控股、专业生产和销售涂镀层测厚仪、材料分析仪、微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)和材料测试仪的全球性集团公司。集团总部位于德国和瑞士,在德国、美国和英国各建有一个工厂、并设立了一个研究院和多个全球用户应用实验室,在全世界设有近50个分公司。??位于德国总部的基地,用于生产、物流、研发及客户应用??南通菲希尔测试仪器有限公司是HELMUT FISCHER集团在中国大陆地区设立的唯一子公司,全权负责FISCHER产品在中国地区的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务。FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪、电涡流法测厚仪、电磁感应测厚仪、库仑法(多层镍电位差)测厚仪,除此之外还有包括 微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)、电导率测试仪、铁素体含量测试仪、孔隙率测试仪 和 针孔测试仪 等在内的多种测试仪器。 FISCHER 公司生产的各类仪器,广泛应用于航天工业、航空工业、造船工业、港口机械、电镀工业、显像管流水线、电子工业(包括印制电路行业、半导体工业)、汽车工业、石油化工、黄金珠宝、手表、大专院校、科研单位、第三方测试机构等众多行业。 南通菲希尔测试仪器有限公司成立于1997年,位于中国上海,至今已在东莞建立了分公司;在北京、西安、青岛、厦门设立了办事处;并在成都、昆山、苏州、南京、宁波等地建立了售后服务点。FISCHER中国的应用实验室更是在2011年获得了ISO/IEC17025:2005认证。 “让用户满意”是公司的一贯宗旨,FISCHER将以一流的服务来赢得用户的信赖。选择FISCHER仪器,为您产品的超高品质提供保障。 认证在 FISCHER,产品和服务的认证和持续改进至关重要。这也是Helmut Fischer GmbH,Institut für Elektronik und Messtechnik 能够通过 ISO 9001 认证的原因。自 1997 年起,我们的质量管理体系已符合 DIN EN ISO 9001:2008 标准。 获得认证的校准实验室 获得认证的校准实验室2003 年,Helmut Fischer 成为了第一个根据 DIN EN ISO/IEC 17025 标准而获得的“表面尺寸”量值认证的德国公司。因此,公司有资格代表德国认证机构 DAkkS 来检验校准标准片,并为其出具证书供用户使用。校准标准片如可用于:例如,对 X 射线荧光仪器进行校准;从而极大地提高了测量的可靠性。 Germany: DIN EN ISO/IEC 17025 USA: ISO/IEC 17025:2005 & ANSI/NCSL Z540-1-1994 Switzerland: ISO 17025 SCS & STS DIN 成员(德国标准化学会) 自 2016 年 3 月 1 日起 FISCHER 成为 DIN 成员。公司自愿遵守标准化自律守则,提升总体经济竞争力。 应用实验室凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。在遍及欧洲、亚洲和美国的七个应用实验室中,我们的技术专家会为客户在正确选择仪器、开发测量方法及确定合适的测量程序方面提供支持。 凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。 所有 Fischer 集团内部的应用实验室之间都已建立联系,同时也与各高校、机构及企业建立了合作关系。这样稳定的知识交流体系能够确保获取到全球最前沿的专业知识,同时也能够应对特殊咨询。除提供客户定制培训(可以在我们的实验室进行也可以在您的公司进行)外,我们的技术专家也非常愿意协助您对测量结果进行分析。 Helmut Fischer 博物馆企业家 Helmut Fischer博士的专业知识、工作热情、发明家精神以及卓越的执行力是公司成功发展的源动力。他的成功故事从 1953 年在斯图加特创建的技术车间开始。现今,Fischer 作为业务遍及全球的大公司,已成为工业测量技术领域的领导者之一。持续改革与永无止境的创新是其从始至终一直坚守的明确目标。Helmut Fischer 研发的首款测量仪器 位于总部的博物馆展示了公司创始人,同时也是公司长期所有人 Helmut Fischer博士的成功人生。参观者们受邀来感受公司从小工厂成长为国际性解决方案提供商的发展历程,以及了解 Fischer产品从最初创意到最终投入市场的整个过程。Helmut Fischer 博物馆的常客:当地的在校学生 ????????更多详情请访问公司官网:http://www.helmutfischer.com.cn
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  • 山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司成立于2008年3月,是一家专业生产和销售分析检测仪器设备的高科技公司,总注册资金100万元,现有员工35人,其中工程技术人员14人,高级职称技术人员3人。公司积极引进国内外的先进技术,目前,我们开发的PRT系列农药残毒速测仪,采用国内先进技术,具有新颖的操作界面、精准的测量装置及池位自动识别功能等优点,已领先于国内同行业; FT系列土壤粉碎机是我公司具有多项技术专利的产品,其中FT-2000\FT-3000型粉碎机上运用的特殊除尘装置解决了普通粉碎机在粉碎土样时粉尘飞扬的情况,可有效地保护实验室环境和操作人员的身体健康,产品在全国23个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标,得到广大用户的好评,与国内同类产品相比优势明显;行星式球磨机系列产品主要应用于环境监测和土壤污染治理实验室以及土肥检测中的微量元素检测,具有效率高、无样品污染、噪音低等优点;针对测土配方施肥项目我们成功开发出土壤养分速测仪、土壤水分测试仪等一系列产品,解决了农民在农业生产中的实际问题;另外我公司成功开发出氮吹仪系列产品和实验室器皿消毒清洗机等产品,为实验室的玻璃器皿清洗问题提供更加优化的清洗方案。我公司有较强的开发与技术合作能力,主要致力于各类化验、检测设备的研究与开发,并且与国家重点科研院校建有长期合作关系,并聘请多位行业内著名学者、专家担任公司的技术顾问。公司与山东大学控制科学与工程学院签署产学研合作协议,依托高校的技术优势,结合我公司的社会资源共同开发相关产品,服务社会。
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保护导体电流测试仪相关的仪器

  • SPM300系列半导体参数测试仪设备概览基于拉曼光谱法的半导体参数测试仪,具有非接触、无损检测、特异性高的优点。可以对半导体材料进行微区分析,空间分辨率< 800nm (典型值),也可以对样品进行扫描从而对整个面进行均匀性分析。设备具有智能化的软件,可对数据进行拟合计算,直接将载流子浓度、晶化率、应力大小或者分布等结果直观的展现给用户。系统稳定,重复性好,可用于实验室检验或者产线监测。① 光路接口盒:内置常用激光器及激光片组,拓展激光器包含自由光及单模光纤输入;② 光路转向控制:光路转向控制可向下或向左,与原子力、低温、探针台等设备连用,可升级振镜选项③ 明视场相机:明视场相机代替目镜④ 显微镜:正置科研级金相显微镜,标配落射式明暗场照明,其它照明方式可升级⑤ 电动位移台:75mm*50mm 行程高精度电动载物台,1μm 定位精度⑥ 光纤共聚焦耦合:光纤共聚焦耦合为可选项,提高空间分辨率⑦ CCD- 狭缝共聚焦耦合:标配CCD- 狭缝耦合方式,可使用光谱仪成像模式,高光通量⑧ 光谱CCD:背照式深耗尽型光谱CCD相机, 200-1100nm 工作波段,峰值QE > 90%⑨ 320mm 光谱仪:F/4.2高光通量影像校正光谱仪, 1*10-5 杂散光抑制比SPM300系列半导体参数测试仪主要应用SPM300系列半导体参数测试仪选型表型号描述SPM300-mini基础款半导体参数分析仪,只含一路532nm 激光器,常规正置显微镜,光谱仪,高精度XYZ 位移台SPM300-SMS532多功能型半导体参数分析仪,含532nm 激光器,常规正置显微镜,光谱仪,高精度XYZ 位移台,可升级耦合最多4 路激光器SPM300-OM532开放式半导体参数测试仪,含532nm 激光器,定制开放式显微镜,光谱仪,高精度XYZ 位移台,可升级耦合最多4 路激光器系统参数项目详细技术规格光源标配532nm,100mW 激光器,其他激光可选,最多耦合4 路激光,可电动切换,功率可调节光谱仪320mm 焦距影像校正光谱仪,光谱范围90-9000cm-1,光谱分辨率2cm-1空间分辨率1μm样品扫描范围标配75mm*50mm,最大300mm*300mm显微镜正置显微镜,明场或者暗场观察,带10X,50X,100X 三颗物镜;开放式显微镜可选载流子浓度分析测试范围测试范围1017 ~ 1020 cm-3,重复性误差5%应力测试可直观给出应力属性(拉力/ 张力),针对特种样品,可直接计算应力大小,应力均匀性分析(需额外配置电动位移台), 应力解析精度0.002cm-1晶化率测试可自动分峰,自动拟合,自动计算出晶化率,并且自动计算晶粒大小和应力大小测试案例举例
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  • 德国EA(HCK)FIP 保护接地和绝缘性能两用测试仪 德国EA(HCK)FIP保护接地和绝缘性能两用测试仪,可测量有效导体横截面或导体阻值,符合EN60204方法。该设备可满足不同的试验需求。 产品特点:■ 行业推荐产品:德国联邦铁路局保护导体检测指定产品;可对电车、地铁车厢及铁轨进行测试。■ 符合标准:EN60204、EN50153。■ 技术指标高:四电极测试;精度高±1%;具有RS232、RS485两种传输模式,可外接设备;四种测试模式。■ 测试参数可调:测试电流17A - 100A可选;多种电阻测试参数可调;导体横截面积和电阻测试参数可选。 性能特点:■ 测试结果满足设定值,输出光信号。■ 测试结果超出设定值,伴有声光报警。■ 检查测试仪器的接地保护和绝缘性能。■ 绝缘测试工作电压直流500V,具有电压异常保护功能。■ 四电极测试,符合标准EN 60204。■ 可连接其他设备实现远程信号输出。所有设备件都通过DKD校准测量装置调试。技术参数:技术参数电源 230 V ±10%频率45 - 65 Hz保护导体检测开路电压3.5 V(AC)0.2 Ω时回路电流10 A短路电流17 A AC参数设置0.1 / 0.2 / 0.3 / 0.5 Ω精度 ±2.5%绝缘检测开路电压500V(DC)短路电流 8.5 MA参数设置1 / 2 / 4 / 7 MΩ精度±2.5%程序检测可调测试时间2 秒 或 10秒数据尺寸306 x 110 x 310mm重量4.7 kg
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  • 产品系列晶体管图示仪半导体分立器件测试筛选系统静态参数测试(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)动态参数测试(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)环境老化测试(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)热特性测试(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件ST-DP_S(2500A) 半导体器件IGBT 短路电流测试仪IGBTs,MOSFETs, Diode短路电流测试仪,短路电流2500A短路电流 Isc 1A~500A(VDS 电压>600V 条件下)短路耐量 Esc 1uJ~5000mJ(VDS 电压>600V 条件下)短路时间 Tsc 1us~150us(VDS 电压>600V 条件下)?产品简述 ST-DPX 系列产品是主要针对 半导体功率器件的动态参数测试 而开发设计。通过DUT适配器的转换,可测试各类封装外观的 IGBTs,MOSFETs,DIODEs等功率器件,包括器件、模块、DBC衬板以及晶圆。产品功能模块化设计,根据用户需求匹配功能单元。测试功能单元有DPT(双脉冲测试 Double Pulse Testing,以下简称DPT。包含开通特性、关断特性、反向恢复特性)栅电荷、短路、雪崩、结电容、栅电阻、反偏安全工作区等。测试方案完全符合IEC60747-9国际标准。 产品功能及输出功率进行了模块化设计,满足用户潜在的后期需求,*高测试电压电流可扩展至10KV/10KA,变温测试支持常温到200℃,支持生产线批量化全自动测试。?产品特点? 测试系统电压以1500V为一个模块,电流以2000A为一个模块,可扩展至10KA/10KV? 内置7颗标准电感负载可选用, 另有外接负载接口,可实现不同电感和电阻负载测试需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)? 另有程控式电感箱可供选择? 针对不同结构的封装外观,通过更换 DUT适配器即可? 可进行室温到200℃的变温测试,也可实现子单元测试功能? 测试软件具有实验模式和生产模式,测试数据可存储为Excel文件? 门极电阻可任意调整, 系统内部寄生电感为*小至50nH? 系统测试性能稳定,适合大规模生产测试应用(24hr 工作)? 安全稳定(PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁)? 系统具有安全工作保护功能,以防止模块高压大电流损坏时对使用者造成伤害,设计符合CE认证? 支持半自动和全自动测试? 采用品牌工控机,具有抗电磁干扰能力强,排风量大等特点? 自动化:单机测试时只需手动放置DUT,也可连接机械选件实现自动化测试线? 智能化,通过主控计算机进行操控及数据编辑,测试结果自动保存及上传指定局域网? 安全性,防爆,防触电,防烫伤,短路保护等多重保护措施,确保操作人员、设备、数据及样品安全。?参数指标
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保护导体电流测试仪相关的资讯

  • 212万!广东工业大学手套箱与电流电压测试仪等设备采购项目
    项目编号:M4400000707015234001项目名称:手套箱与电流电压测试仪等设备采购(四次)采购方式:公开招标预算金额:2,128,500.00元采购需求:合同包1(金相显微镜探针台等设备采购):合同包预算金额:2,128,500.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1其他专用仪器仪表金相显微镜探针台1(套)详见采购文件199,000.00-1-2其他专用仪器仪表高温分析探针台1(套)详见采购文件158,000.00-1-3其他专用仪器仪表探针台5(套)详见采购文件245,000.00-1-4其他专用仪器仪表电容电压特性测试仪5(套)详见采购文件180,000.00-1-5其他专用仪器仪表电流电压测试仪10(套)详见采购文件500,000.00-1-6其他专用仪器仪表少子寿命测试仪5(套)详见采购文件150,000.00-1-7其他专用仪器仪表霍尔效应测试仪5(套)详见采购文件27,500.00-1-8其他专用仪器仪表四探针测试仪5(套)详见采购文件115,000.00-1-9其他专用仪器仪表晶体管图示仪5(套)详见采购文件45,000.00-1-10其他专用仪器仪表数字荧光示波器16(套)详见采购文件496,000.00-1-11其他专用仪器仪表万用表10(套)详见采购文件13,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:自合同签订之日起至质保期满之日
  • 材料变温电阻特性测试仪
    成果名称材料变温电阻特性测试仪(EL RT-800)单位名称北京科大分析检验中心有限公司联系人王立锦联系邮箱13260325821@163.com成果成熟度□研发阶段 □原理样机 □通过小试 &radic 通过中试 &radic 可以量产合作方式□技术转让 &radic 技术入股 &radic 合作开发 □其他成果简介:本仪器专门为材料电阻特性变温测试而设计,采用专用高精度电阻和温度测量仪以及四端测量法减小接触电阻对测量的影响从而提高测量精度,样品采用氮气保护可连续测量-100℃~500 ℃条件下样品电阻随温度的变化。采用流行的USB接口将高精度的数据采集器与计算机相连,数据采集迅速准确;用户界面直观友好,能极大方便用户的使用。主要技术参数:一、信号源模式:大电流模式;小电流模式;脉冲电流模式。二、电阻测量范围: 1&mu &Omega ~3M&Omega 。三、电阻测量精度: ± 0.1%FS。四、变温范围:液氮温度~900 ℃。五、温度测量精度:热电阻0.1%± 0.1℃;热电偶0.5%± 0.5℃。 六、供电电源:220 VAC。七、额定功率:500W。八、数据采集软件在Windows XP、Windows 7操作系统均兼容。应用前景:本仪器可用于金属、合金及半导体材料的电阻变温测量。适合于高校科研院所科研测试及开设专业实验。知识产权及项目获奖情况:本仪器拥有完全自主知识产权和核心技术,曾在全国高校自制实验仪器设备评选活动中获得优秀奖。
  • TTE系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪研制
    table border="1" cellspacing="0" cellpadding="0"tbodytrtd width="83" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "成果名称/p/tdtd width="538" colspan="3" style="word-break: break-all "p style="text-align: center line-height: 1.75em "strongTTE/strongstrong系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪 /strong/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "单位名称/p/tdtd width="538" colspan="3"p style="line-height: 1.75em "北京工业大学新型半导体器件可靠性物理实验室/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "联系人/p/tdtd width="167"p style="line-height: 1.75em "冯士维/p/tdtd width="161"p style="line-height: 1.75em "联系邮箱/p/tdtd width="187"p style="line-height: 1.75em "shwfeng@bjut.edu.cn/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "成果成熟度/p/tdtd width="535" colspan="3" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "□正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产/p/td/trtrtd width="91"p style="line-height: 1.75em "合作方式/p/tdtd width="535" colspan="3" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "□技术转让 √技术入股 √合作开发 √其他/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all " align="center" valign="top"p style="line-height: 1.75em "strong成果简介: /strong/pp style="text-align:center"strongimg src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/017b0e04-691a-4c5a-826e-5879aa1d7a7a.jpg" title="1.jpg.png"//strong/pp style="line-height: 1.75em "TTE-400 LED灯具模组热阻测试仪 br//pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201607/insimg/1a6e4129-15a9-479d-84c9-cb11df28231c.jpg" title="54c453eb-3470-4a19-9f93-e8a1b5170517.jpg" width="400" height="203" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 203px "//pp TTE-500 多通道瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/06a37914-c0ba-48cf-9bb6-d25fdea82661.jpg" title="3.png" width="400" height="146" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 146px "//pp TTE-LD100 激光器用瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/887237ea-942e-46c5-8591-1dea99e6c712.jpg" title="4.png" width="400" height="143" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 143px "//ppTTE-M100 功率器件用瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/aded4b1e-7f39-41c2-9e79-8177484f76d7.jpg" title="5.png" width="400" height="185" border="0" hspace="0" vspace="0" style="width: 400px height: 185px "//pp TTE-H100 HEMT用瞬态热阻分析仪/pp style="text-align:center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201604/insimg/d45a2e5c-776e-4e71-9412-67d87c17f875.jpg" title="6.png"//ppTTE-S200 LED热特性快速筛选仪/pp style="line-height: 1.75em text-indent: 0em " TTE系列半导体器件瞬态温升热阻测试仪是用于半导体器件(LED、MOSFET、HEMT、IC、激光器、散热器、热管等)的先进热特性分析仪,依据国际JEDEC51的瞬态热测试方法,能够实时采集器件瞬态温度响应曲线(包括升温曲线与降温曲线),采样间隔高达1微秒,结温分辨率高达0.01℃。利用结构函数算法能方便快捷地测得器件热传导路径上每层结构的热学性能,构建等效热学模型,是器件封装工艺、可靠性研究和测试的强大支持工具,具有精确、无损伤、测试便捷、测试成本低等优点。该成果已在公司和科研院所等20多家单位应用,并可定制化生产。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "strong应用前景: /strongbr/ 本产品已投入市场应用五年时间,产品型号在不断丰富以适应庞大的市场需求,技术指标国内领先地位,可替代国外同类产品,拥有独立的自主知识产权。 br/ 应用范围:功率半导体器件(LED、MOSFET、HEMT、IC、激光器、散热系统、热管等)结温热阻无损测量和流水线快速筛选。 br/ 应用情况:国内已有20多家客户的生产线或实验室使用本产品,包括军工单位、芯片厂商、封装厂商、高等院校、高科技制造企业。成果适用于开展半导体晶圆及芯片设计、生产的高校、科研院所及企业。 br/ 预计国内市场年需求量在500台,市场规模约5亿元。/p/td/trtrtd width="648" colspan="4" style="word-break: break-all "p style="line-height: 1.75em "strong知识产权及项目获奖情况: /strongbr/ 拥有核心技术,国家发明专利24项,获中国发明博览会金奖1项。 br/ (1)专利名称:一种快速测量半导体器件电学参数温度变化系数的方法和装置(申请号:201410266126.3); br/ (2)专利名称:一种LED灯具热阻构成测试装置和方法(申请号:201310000861.5); br/ (3)专利名称:功率半导体LED热阻快速批量筛选装置(申请号:201120249012.X)。/p/td/tr/tbody/tablepbr//p

保护导体电流测试仪相关的方案

  • 少子寿命测试仪在半导体材料检测中的应用
    半导体材料少数载流子寿命不仅可以表征半导体材料的质量,还可以评价器件制造过程中的质量控制,如集成电路公司利用载流子寿命来表征工艺过程的金属沾污程度,并研究造成器件性能下降原因。 Freiberg Instruments公司长期致力于开发半导体检测技术,提供不同需求的少子寿命检测设备。
  • 电子元器件检测实验室专业测试仪器设备解决方案
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    对于资讯类产品避免在正常运作的情形下因产品本身的漏电流过大,而对使用者造成危险。要适应设备对产品进行测试,判断是否符合标准要求;仪器材料准备 :1.1 变频电源、接触电流测试仪(410B,图4-1)、接触电流测试切换盒;备注:本规范不考虑用228表测试。校准表明228表在高频下频响不合格,它只适合120Hz以下的低频场合,或有的标准明确要求时使用。1.2 万用表(量电压、频率、I类设备漏电流超过3.5mA时测地线电流) 1.3 示波器: 监测U2;1.4 锡箔(无背胶),剪刀,卡尺,橡皮筋、胶带或沙袋;1.5 电阻负载。[align=center][img=,609,253]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808311211385401_3453_2884514_3.png!w609x253.jpg[/img][/align][align=center]图4-1 赛宝410B接触电流测试仪[/align]测试台及测试条件:1.6 输入电压:接触电流测试仪接220V测试用电(允许短时连接220-240V的电压)。使用万用表确认电压。接触电流测试仪输出即被测产品的输入电压取额定电压上限考虑容差。1.7 输入频率:接触电流测试仪接产品额定上限频率。按频率分别接不同的测试用电。使用台式万用表或示波器确认频率。接触电流测试仪输出频率与输入频率相同。1.8 接触电流测试具有危险性,测试人员必须穿着绝缘鞋或站在铺有绝缘垫的地板上,双手要保持干燥,禁止操作人员接触被测设备的任何部位。1.9 测试前,确认样机完好。样机应放置于绝缘台面上测试。1.10 使用剪刀和卡尺将两面导电的锡箔裁成10cmx20cm的尺寸。1.11 带载情况:一般情况下空载测试。备注:如果是调频式(PFM)开关电源,或其拓扑特点表明负载大小明显影响其工作频率,或者测量值与限值余量不足10%,则加测满载状态。带载只能带电阻负载,不能带电子负载。1.12 端口连接:断开所有与其他连市电设备相连的功能端口,以免引入额外的漏电流。1.13 测试网络的搭建:如果使用接触电流测试仪供电,则该仪器内部已经有测试网络和选择开关,只需接上待测样品和示波器就可测试(见图5-1)。备注1:接触电流测试仪内部连接方式与图5A一致。图5A适合于仅连接到星形TN或TT配电系统的单相设备。如果功率超过400W且需要测满载的,则需要按标准图5A手动搭台,电流不超过10A时可以使用接触电流测试切换盒辅助搭台。备注2:对仅连接到星形TN或TT配电系统的三相设备,按图5B在三相测试台手动搭台。备注3:对于IT系统,双火线系统,请按IEC 60990或GB/T 12113的图7,9,10,12,13或者14 中适用的试验电路搭台测试。[align=center][/align][align=center][img=,628,295]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808311212028991_8521_2884514_3.png!w628x295.jpg[/img][/align][align=center]图5-1410B内部网络及其测量示意图[/align][align=center][img=,609,398]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808311212328708_58_2884514_3.png!w609x398.jpg[/img][img=,609,474]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808311212333258_7878_2884514_3.png!w609x474.jpg[/img] [/align]1.14 被测样品的连接方法:1.14.1 各自连接到交流电网电源的设备互连而成的系统,应当单独对每一台设备进行试验。通过公共连接端与交流电网电源连接的互连设备构成的系统,应当作为一台设备来进行试验。1.14.2 对设计成与交流电网电源有多路连接,但每次只要求一路连接供电的设备应当仅接上一路连接进行试验。1.14.3 需要由两路或两路以上交流电网电源同时供电的设备应当接上所有各路交流电网电源来进行试验。总的接触电流是将所有的保护接地导体互相连接在一起并连接到地进行测量。更多要求参见标准5.1.2.3和5.1.7.2。测试步骤和记录:备注:本规范只列出了使用接触电流测试仪(410B)时的详细步骤。使用其他仪器或使用漏电流测试盒自行搭台测试时请参照第5章测试条件和本章步骤进行。1.15检查样机和设备状态并记录。点检示波器。1.16如果有塑料外壳或可触及绝缘件,使用10cmx20cm锡箔纸将待测物的可触及外壳紧密包覆,可用橡皮筋、胶带、沙袋等方式固定锡箔。1.17待测样品连接到接触电流测试仪输出插座或排插。1.18接触电流测试仪U1/U2的连接线连到示波器。1.19I类设备的对地漏电流1.19.1 打开接触电流测试仪,顺时针调节其“电压调节”旋钮,使供样电源下面的电压显示为产品的额定电压上限加上正容差。1.19.2 按功能键直至显示“接触电流测试”。1.19.3 按设置键和左右键进行如下设置(如图6-1):测量选择:U2;相位选择:正相;零线选择:通;E端选择:断;B端选择:通。[align=center][img=,690,237]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808311212541248_7129_2884514_3.png!w690x237.jpg[/img] [/align][align=center]图6-1各设置状态示例[/align]1.19.4 手持接触电流测试仪A端探棒,接触待测物的主接地端子。1.19.5 调节示波器显示漏电流波形,探头倍数为1x,检查波形是否稳定,正常。用合适的量程读取U2的均方根(rms)。记录测试电压结果至comments列,单位mV。1.19.6 量完后再将相位选择:反相的情况再量测一次。1.19.7 对测量仪器的每种状态,一次电路中的和在正常使用时可能动作的任何开关应当以所有可能的组合打开和关闭。1.20 I类设备不接地部件,及II类设备的漏电流1.20.1 接触电流测试仪的电压和功能设置与6.5节I类设备的相同,但E端选择为“通”。备注:实际上对于II类设备,地线通断与否不影响测量结果。1.20.2 接触电流测试仪的A端探棒分别接于待测物的输出正、负,信号端口的每根针脚,或者包覆塑料外壳的锡箔纸上。将正相和反相的情况分别量测一次。记录测试结果。在施加每个试验条件后,应当将设备恢复到它的初始状态,即没有故障或随之发生的损坏的状态。1.20.3 对于I类设备输出接地的情况,测量输出未接地端的漏电流时应先将输出地与主接地断开,再测试。备注:如果输出地不与主接地断开,此时量到的是输出正负电压加在漏电流网络上的漏电流。1.21 如果6.5节断地接触电流超过3.5mA,产品又是标准5.1.7.1规定的几种例外情况的,还需要加测保护导体电流(地线电流):接触电流测试仪的E端选择为断,B端选择为通,B端探棒接万用表AC电流档并调至合适量程,万用表另一表笔接产品主接地端子。1.22 对三相设备,除非设备对相序敏感以外,试验应当倒换极性(图5B开关“P1”)重复进行。当对三相设备进行试验时,用于EMC目的并接在相线和地之间的任何元器件每次断开一个;为此目的,通过一个独立连接的并联的元器件组应当作为一个独立的元器件来处理。每次断开一个线到地的元器件并按顺序重复开关操作。1.23 对测两点之间的漏电流,或者不使用接触电流测试仪供电而自己搭台的情况,接触电流测试仪仅相当于标准图5.1的一个测量网络(MD),此时的方法为:1.23.1 接触电流测试仪设置为:测量选择:U2;B端选择:断。示波器接法不变。此时仪器的相位选择、零线选择、E端选择:均不起作用。此时要看图5A/5B或对应的接线图,靠外接漏电流切换盒、空开甚至手工换线等方式进行换相、通/断E等操作。1.23.2 如果测两点之间的漏电流,则将B端接近地端的点,A端接另一待测点进行测量。1.23.3 如果测对地的漏电流,则将B端探棒接到样机供电电源的PE上,A端接待测部位即可进行测量。备注:使用无源漏电流测试盒(仅含测量网络)进行测试时,方法与6.9.3类似,只是不需要借助接触电流测试仪(410B),示波器直接夹漏电流测试盒的U2端子即可。1.24 测试完成。整理实验台。1.25 整理测试结果。使用如下公式计算接触电流:[align=center][img=,101,23]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808311215110161_8366_2884514_3.png!w101x23.jpg[/img]=[img=,54,37]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808311215235101_6177_2884514_3.png!w54x37.jpg[/img][/align]结果判定:1.26 不超过表5A限值要求。注意I类设备的未接地部件也有0.25mA限值要求;另外驻立式设备符合5.1.7条件的,是对应标准1.6.2节输入电流测试最大值的5%。注意事项:[align=center][img=,609,332]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808311214164518_438_2884514_3.png!w609x332.jpg[/img][/align]1.27 安全注意事项:如果自行搭台测试时,不使用隔离变压器T,则EUT和试验电路不得接地,EUT应当安置在绝缘台架上。这样由于设备的机身可能带危险电压,因此应当采取适当的安全警告标记,且测试过程中人手禁止接触产品。如果使用隔离变压器T,注意变压器的输出地与输入地是断开的,输出地线直接连接到中线或相线(或按相应的连接图配置)。1.28 其他注意事项:1.28.1 样机的电容有报备不同规格的,要选最大容量的测试。1.28.2 如果金属箔的面积小于被试表面,则应当移动金属箔,以便能对被试表面的所有部分进行试验,如果使用胶粘的金属箔,则粘合剂应当是导电的。应当注意避免该金属箔影响设备的散热。1.28.3 如果在最不利的电源电压(见1.4.5)、频率下试验不太方便,则可以(但不推荐)在额定的电压(频率)范围内或额定电压的容差范围内任何能获得的电压(频率)下进行试验,然后再计算出最终结果。计算方法为:例如100-240V,50/60Hz电源,要求在264V, 60Hz测试,实际在220V,50Hz测试,则I=1.44I[sub]测[/sub]。又如:电压相同,则60Hz下测得漏电流为50Hz下的1.2倍。[b]参考文件:[/b]GB 4943.1, IEC/EN/UL 60950-1, AS/NZS 60950.1 第5.1条。IEC 60990:1999或GB/T12113:2003 图7,9,10,12,13,14。

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